-
1998
Шевяков, Василий Иванович
-
1998
Леженин, Владимир Петрович
Все модели в большей или меньшей степени идеализируют моделируемый объект, в частности, в моделях МОП-приборов, как правило, не рассматриваются такие параметры, как зарядовые свойства границы раздела окисел-полупроводник и планарная неоднородность параметров изготовления, а их влияние учитывается полуэмпирически. В первую очередь это такие
-
1998
Леженин, Владимир Петрович
Все модели в большей или меньшей степени идеализируют моделируемый Зъект, в частности, в моделях МОП-приборов, как правило, не рассматриваются зкие параметры, как зарядовые свойства границы раздела окисел-полупроводник планарная неоднородность параметров изготовления, а их влияние учитывается элуэмпирически. В первую очередь это такие параметры
-
1998
Варзарев, Юрий Николаевич
-
1998
Вазарёв, Юрий Николаевич
При переходе к субмикронным размерам происходит вытеснение ктивных областей элементов интегральных схем в приповерхностный слой. I связи с этим обостряется проблема стабилизации геометрических араметров этих областей при термических обработках. Последнее требует овершенствования технологии микроэлектроники, которое ведется по пути нижения
-
1998
Киреев, Василий Анатольевич
Одними из наиболее перспективных и распространенных в настоящее время остаются электронно-зондовые методы. Возможность фокусировки электронного пучка до размеров порядка единиц нанометров удовлетворяет всем необходимым требованиям локальности, выдвигаемым современной технологией микроэлектроники, и в настоящее время эти методы широко используются
-
1998
Петров, Николай Петрович
Изучение свойств оксидных пленок циркония, получаемых электрохимическим и термическим окисление^ тонких пленок 7л и легированных различными веществами пленок циркония, а также исследование влияния высокотемпературных (800-1000°С) импульсных термических обработок слоев анодного ЪхОг, металлического 2г и 2г, легированного иттрием, показали
-
1998
Рыбачек, Елена Николаевна
-
1998
Волков, Юрий Петрович
Исследование с помощью сканирующей туннельной микроскопии диэлектрических объектов требует обязательного покрытия исследуемой поверхности проводящей пленкой. Это ставит ряд задач по подбору материала пленки, обладающей наименьшим размером кластеров, высокой стойкостью к окислению и адгезией. До сих пор систематическое исследование указанных
-
1998
Холод, Александр Николаевич
На сегодняшний день самым распространенным полупроводниковым материалом, для интегральной микроэлектроники остается кремний. Очевидно, что именно этот материал предпочтительно применять и для приборов и устройств каноэлекпроники. Практическое использование наноразмерных кремниевых структур обеспечило бы существенное продвижение вперед на пути
-
1998
Пашковский, Андрей Борисович
В разделе (.2 приводится вывод системы упрошенных аналогично И ) гидродинамических уравнений в пространственно неоднородное случае, позволяющих описывать динамику электронов с учетом как нелокальных, так и диффузионных эффектов. Показано, что хотя пл
-
1998
Пашковский, Андрей Борисович
-
1998
Лукин, Сергей Владимирович
-
1998
Амеличев, Владимир Викторович
В докладе, подготовленном одной из фирм США в начале 90-х годов , указывается, что "если предыдущее десятилетие было десятилетием микропроцессоров, то следующее может стать десятилетием датчиков". Это вызвано в первую очередь экономической эффективностью датчиков (отношение прироста национального продукта, связанного с их использованием, к
-
1997
Матвеева, Людмила Иосифовна
В связи с распространенностью лазеров инфракрасного диапазона вызывают интерес контрольно-измерительные термочувствительные датчики, позволяющие регистрировать с требуемым разрешением лучистые воздействия и преобразовывать ях в оптические изображения или электрические сигналы
-
1997
Конкин, Сергей Александрович
В настоящее время в зависимости от рассматриваемых задач используются либо одномерные аналитические и полуэмпирические модели, либо двух-,- трехмерные численные модели
-
1997
Забарило, Анатолий Юрьевич
Актуальність і ступінь дослідженості тематики дисертації. Розвиток сучасних вимірювальних і сенсорних іристроїв, зокрема для автоматизації виробничих процесів, •іедичної електроніки, засобів екологічного моніторингу, безпосередньо пов’язаний з розробкою нової елементної бази. Поряд з елементною базою загального призначення, в тому числ
-
1997
Морозов, Юрий Васильевич
Лктиалілпсть і ступінь досліджепоспй тематики дисертації. Значне підвищення параметрів системи гехніко-єкономічшіх показників елементної бази електронної апаратури, що має місце на протязі останніх десятиліть, практично забезпечило насичення ринку традиційної електроніки. На фоні наявних досягнень традиційної елементної бази, параметри та
-
1997
Литвиненко, Константин Леонидович
Оптика полупроводников стремительно развивается на протяжении последних лет. Обширные возможности для всех направлений оптической спектроскопии открыло создание сверхбыстрых перестраиваемых лазеров, когерентное излучение которых сейчас может быть получено практически в любой области оптического спектра. При этом особый интерес представляет
-
1997
Литвиненко, Константин Леонидович
Оптика полупроводников стремительно развивается на протяжении последних лет. Обширные возможности для всех направлений оптической спектроскопии открыло создание сверхбыстрых перестраиваемых лазеров, когерентное излучение которых сейчас может быть получено практически в любой области оптического спектра. При этом особый интерес представляет