автореферат диссертации по машиностроению и машиноведению, 05.02.11, диссертация на тему:Методы и средства инфракрасной оптической дефектоскопии диэлектрических материалов

Введение

1. Современное состояние оптических методов контроля и задачи исследований

1.1. Характерные особенности структуры и физических свойств объекта исследований

1.2. Анализ современного уровня развития методов и средств инфракрасного оптического неразрушающего контроля

1.3. Постановка задачи исследований

2. Исследование процесса инфракрасного оптического неразрушающего контроля ПКМ

2.1. Физическая модель процесса инфракрасного оптического контроля

2.2. Решение задачи прохождения лучистого потока светорассеивающей пластины с дефектом

2.3. Исследование влияния размеров дефектов на их выявляемость

2.4. Исследование влияния оптических характеристик материала на выявляемость дефекта

2.5. Исследование влияния шероховатости поверхности на отражение

2.6. Исследование влияния режимов ввода лучистого потока на выявляемость дефекта

2.7. Исследование влияния режимов приёма прошедшего лучистого потока на выявляемость дефекта

2.8. Исследование влияния параметров дефектов на их выявляемость

2.9. Краткие выводы по разделу

3. Результаты экспериментальных исследований процесса ИОНК

3.1. Методика экспериментальных исследований

3.2. Исследование оптических свойств ПКМ

3.3. Исследование возможности обнаружения дефектов в материалах с различными оптическими свойствами

3.4. Исследование рефлектометрического метода контроля шероховатости

3.5. Выбор оптимального режима ввода лучистого потока

3.6. Выбор оптимального режима приёма прошедшего лучистого потока

3.7. Метрологические характеристики ИОНК ПКМ

3.8. Рекомендации по практическому применению ИОНК ПКМ

3.9. Разработка требований к аппаратуре ИОНК

4. Исследование и разработка аппаратуры ИОНК качества изделий из ПКМ

4.1. Выбор принципа действия аппаратуры ИОНК

4.2. Ручной оптический дефектоскоп

4.3. Визуализация и обработка результатов неразрушающего контроля

4.4. Компенсация влияния состояния поверхности на выявляемость дефекта

4.5. Результаты дефектоскопии

4.6. Краткие выводы по разделу

5. Методы и средства контроля дефектов в биологическом объекте

5.1. Некоторые особенности биологического объекта (человеческого зуба)

5.2. Элементный состав и дефектность зуба

5.3. Методы и средства диагностики и контроля патологий человеческого зуба

5.4. Экспериментальные исследования биологического объекта

5.5. Результаты дефектоскопии биологических объектов

Диссертационная работа посвящена разработке оптико-электронных методов дефектоскопии неметаллических материалов. Суть работы в системном аналитическом обобщении известных методов дефектоскопии и исследовании условий применения их для ряда практических задач. Объекты контроля предполагаются различными, но конкретные исследования проводились по отношению к полимерным композиционным материалам и биологическим средам (например, зубная эмаль и тело зуба). Акцент на эти объекты обусловлен практическим спросом, но общность выводов они не снижают. Исследуются два метода оптической дефектоскопии: в проходящем свете и диффузно отраженном. Рассматривается задача контроля внутренних дефектов.

Данная задача может решаться на основе использования бесконтактных методов неразрушающего контроля, которые являются надежным инструментом в руках технологов, разработчиков и производственников и применяются в настоящее время практически во всех отраслях промышленности. Особенно широко распространен в настоящее время неразрушающий контроль металлов, сварных и паяных соединений, интегральных микросхем, резисторов и других изделий электронной промышленности [1-5]. Недостаточно интенсивно развивается неразрушающий контроль различных видов пластмасс, композиционных материалов и других неметаллов [6]. В то же время необходимо отметить, что производство пластмасс в стране увеличивается примерно в два раза каждое пятилетие, опережая при этом по темпам развития все другие сырьевые отрасли [7].

Тенденция замены большой номенклатуры материалов на пластмассы, интенсивное развитие промышленности по переработке пластмасс, создание новых материалов, комбинированных конструкций на их основе, определяют все возрастающие требования к аппаратуре и методам неразрушающего контроля этого класса материалов, основными из которых являются:

1. Высокая информативная способность.

2. Высокая чувствительность и разрешающая способность.

3. Возможность механизации и автоматизации.

4. Безопасность обслуживающего персонала в процессе контроля.

5. Высокая производительность.

6. Объективность и достоверность контроля.

7. Низкая стоимость контроля в сравнении со стоимостью продукции.

В настоящее время в практике неразрушающего контроля неметаллов нашли применение акустические, сверхвысокочастотные (СВЧ), оптические, радиационные и тепловые методы [8-21]. В силу различной физической природы этих методов ни один из них не может удовлетворить одновременно всем вышеуказанным требованиям. Так, например, методы, основанные на взаимодействии электромагнитного излучения с веществом (оптические, СВЧ, радиационные), не могут применяться для контроля материалов непрозрачных в этих диапазонах длин волн (углепластик непрозрачен для оптического и СВЧ излучения, резина - для оптического излучения и т.д.). Неоднородность структуры большинства пластмасс приводит к значительному рассеиванию оптического и радиационного излучения, что затрудняет применение этих методов. Кроме того, при контроле СВЧ методом необходимо обеспечение постоянства расстояния излучатель (приемник) - изделие, а явления дифракции и интерференции, имеющие место при этом методе, могут затруднять выделения полезной информации; радиационный контроль имеет высокую стоимость и требует специальных мер по обеспечению безопасности обслуживающего персонала.

Наиболее распространенные акустические методы неразрушающего контроля, широко применяемые для контроля качества металлов, бетона, оргстекла и некоторых видов пластмасс, также имеют ряд ограничений и недостатков. Так они не применимы для материалов с большим коэффициентом затухания; серийные приборы выполнены для ручного контроля, что снижает объективность метода и достоверность метода и достоверность получаемых результатов; величина минимально обнаруживаемых дефектов ограничивается размером датчика (рабочей частотой); механизированные опытные установки акустического контроля, как и ручные приборы, являются контактными, что не позволяет осуществлять контроль тонких (1-2 мм) эластичных покрытий в двухслойном изделии, требует мер по обеспечению равномерного акустического контакта, ограничивает производительность (является функцией состояния поверхности контролируемого материала), снижает долговечность датчиков.

Именно поэтому не прекращается поиск новых физических методов неразрушающего контроля, лишенных указанных недостатков, расширяется объем исследований по изучению области применения существующих методов и совершенствованию аппаратуры неразрушающего контроля.

С этой точки зрения обращает на себя внимание оптический неразрушающий контроль (ОНК), имеющий очевидные преимущества по сравнению с известными методами [22-27]. Эти преимущества заключаются в следующем: в высокой разрешающей способности в сравнении с СВЧ-методами, так как рабочая длина волны намного меньше, чем у СВЧ-излучения; отсутствует необходимость канализации излучения как в СВЧ-методах; практически безопасен для оператора в отличие от радиационных методов; не требует нагрева материала, не всегда по техпроцессу возможного, в отличие от активного теплового метода.

ОНК отличает возможность автоматизации процесса контроля, которая обеспечивается отсутствием контакта излучателя и приемника с изделием. За счет применения современных средств ОНК (излучателей и приемников), обеспечивающих высоконаправленное излучение и регистрацию десятков тысяч элементов в секунду, метод может иметь высокую производительность при практически любой величине элемента разрешения. Кроме того, определяя некоторые параметры лучистого потока такие, как показатель ослабления, коэффициент прозрачности, индикатрису рассеяния и др., представляется возможным оценить качество материала в изделии, как в процессе его изготовления, так и во время эксплуатации.

Развитие неразрушающих методов контроля качества полимерных композиционных материалов (ПКМ) шло по пути совершенствования в основном ультразвуковых и СВЧ методов. Оптическим методом до настоящего времени уделялось очень мало внимания. Это объясняется недостаточной изученностью взаимодействия лучистого потока с такой неоднородной средой, какой являются современные ПКМ, несовершенством методик, отсутствием стабильных и мощных источников и эффективных широкополосных приемников.

Однако, в последнее время в связи с развитием оптики рассеивающих сред, появлением мощных источников света как немонохроматических, так и когерентных, какими являются оптические квантовые генераторы (ОКГ), появились новые возможности создания и совершенствования методов ОНК изделий из ПКМ [28]. Поэтому, учитывая преимущества метода и недостаточную его изученность применительно к контролю перспективных ПКМ, представляется весьма актуальным исследовать процессы обнаружения дефектов в полимерных материалах при ОНК и разработать на базе этих исследований специальную аппаратуру и методики ОНК полимерных материалов.

На защиту выносятся следующие положения:

1. Физическая модель процесса ИОНК, учитывающая особенности ПКМ.

2. Решение задачи прохождения лучистого потока светорассеивающей пластины с воздушным дефектом с учетом оптических свойств материала пластины, размеров дефекта и глубины его залегания.

3. Установление существования критических раскрытий для монохроматического излучения, для которых коэффициент контрастности равен нулю.

4. Выбор такого спектрального интервала приемно-излучательного тракта для получения максимального контраста выявления дефекта, для которого пропускание материала минимально возможное.

5. Методика настройки приемно-излучательного тракта (регулирование полевых диафрагм излучателя и приемника, выбор рабочего тока и спектрального диапазона излучателя и т.п.) для получения максимального контраста выявления дефекта.

6. Методика контроля изделий из ПКМ с регистрацией результатов контроля на телевизионный регистратор, учитывающая особенности ИОНК и обеспечивающая максимальную производительность контроля.

7. Устройство, позволяющее компенсировать влияние состояния поверхности (разноплотность, наплывы связующего, шероховатость и т.п.) на результаты контроля, содержащее канал управления по рассеянному от поверхности излучению.

6. Выводы по работе

1. В результате обобщения данных информационных источников, посвященных характерным особенностям структуры и физических свойств ПКМ, а также анализу уровня развития методов и средств ИОНК, установлено, что с точки зрения возможности осуществления их оптического контроля можно выделить эти материалы в отдельную группу. Систематические исследования инфракрасного оптического метода контроля применительно к указанным материалам в известных источниках не опубликованы. Ранее разработанные физические модели процесса ИОНК имеют допущения не приемлемые для расчета оптических полей в ПКМ. Существующие инфракрасные оптические установки контроля диэлектрических материалов не обеспечивают надежный контроль ПКМ.

2. Разработана физическая модель процесса ИОНК, учитывающая особенности ПКМ и позволяющая исследовать влияние спектра излучения, геометрических характеристик дефектов на их выявляемость, процесс распространения освещенности вглубь материала при его диффузном освещении.

3. Решена задача прохождения лучистого потока светорассеивающей пластины с воздушным дефектом с учетом оптических свойств материала пластины, размеров дефекта и глубины его залегания.

4. На базе теоретических и экспериментальных исследований установлено, что в ПКМ существуют критические раскрытия дефекта, для которых коэффициент контрастности равен нулю. Также определено, что увеличение натурального показателя ослабления приводит к уменьшению пропускания, увеличению коэффициента контрастности и смещению критического раскрытия в область малых раскрытий. Кроме того установлено, что для оптимального выявления локальных дефектов необходимо подбирать размеры полевых диафрагм приемника и излучателя, а как для локальных, так и протяжённых также величину тока излучателя (лампы накаливания). На основании полученных зависимостей можно производить выбор спектрального участка излучателя с получением максимального контраста выявления дефекта.

5. В результате теоретических и экспериментальных исследований разработаны практические рекомендации по осуществлению ИОНК изделий из ПКМ, а также требования к аппаратуре для ИОНК.

6. Разработана методика контроля изделий из ПКМ с регистрацией результатов контроля как на телевизионном регистраторе, учитывающая особенности ИОНК и обеспечивающая максимально возможную производительность контроля.

7. Разработано устройство, позволяющее компенсировать влияние состояния поверхности (разноплотность, наплывы связующего, шероховатость и т.п.) на результаты контроля, содержащее канал управления по рассеянному от поверхности излучению.

8. Разработана аппаратура и методика ИОНК зуба человека, в которой используется проходящее излучение.

1. Диагностика изделий микроэлектроники: Сб.статей/Отв.ред. Л.Г.Дубицкий - М.: ЦНИИ "Электроника", 1974.-156 с.

2. Диагностика изделий электронной техники в системах управления качеством: Сб.статей/Отв.ред. Л.Г.Дубицкий М.: ЦНИИ "Электроника", 1973.-160 с.

3. Интегральная диагностика в системе управления качеством изделий электронной техники: Сб.статей/Отв.ред. Л.Г.Дубицкий М.: ЦНИИ "Электроника", 1980. - 158 с.

4. Физико-технические методы неразрушающего контроля элементов и приборов электронной техники: Сб. по обмену опытом/Редколлегия: канд.техн.наук Л.Г.Дубицкий и др. М.: Науч.-техн. о-во радиотехники, электроники и связи им.А.С.Попова, 1969. -104 с.

5. Физические аспекты качества изделий электронной техники: Сб.статей/Отв.ред. Л.Г.Дубицкий -М.: ЦНИИ "Электроника", 1976. -168 с.

6. Потапов А.И., Игнатов В.М., Александров Ю.Б. и др. Технологический неразрушающий контроль пластмасс. Л.: Химия, 1979. - 288 с.

7. Понязь И. В. и др. Основные принципы подхода к комплексной стандартизации пластических масс. В кн.: Качество пластмасс и надежность изготовляемых изделий: Тез.докл.краткосрочн. семин. Л., 1976, с.4.

8. Свойства судостроительных стеклопластиков и методы их контроля: Сб.статей/Науч.ред. А.К.Сборовский. В.Н.Ривкинд Л., 1974, - 236 с.

9. Поляков В.Е., Потапов А.И., Сборовский А.К. Ультразвуковой контроль качества конструкций. Л.: Судостроение, 1978. -199 с.

10. Методы неразрушающих испытаний. Физ.основы, практ.применения, перспективы развития/Под ред. Р.Шарпа. Пер. с англ. М.: Мир, 1972. -494 с.

11. Дубицкий Л.Г., Крылов К.И., Павельев A.A., Рудаков В.Н. Соременное состояние и задачи радиоитроскопии. Применение радиоинтроскопии в промышленности. М.: ЦНИИТЭИ приборостроения, 1967, с.З.

12. Sucher M., Fox J. Nondestructive testing of Plastics with Microwaves. -Brooklyn, New York, Polytechnic Press, 1973, v.2, p. 112.

13. Ковалев В.П., Александров Ю.Б. Микрорадиоволны как средство контроля изделий из пластмасс. Дефектоскопия, 1967, № 2, с.29.

14. Дубицкий Л.Г. Радиотехнические методы контроля в машиностроении. -М.: Машгиз, 1963. -340 с.

15. Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. Справочнике/Под ред.В.В.Клюева. М.: Машиностроение, 1976, т.1,-391с.

16. Потапов А.И., Баранов Г.Л. Неразрушающий контроль качества изделий из стеклопластика. Л,: ЛДНТП, 1970. - 46 с.

17. Потапов А.И., Савицкий Г.М. Прочность и деформативность стеклопластиков (контроль в конструкциях). Л.: Стройиздат, - 1973. -140 с.

18. Потапов А.И., Пеккер Ф.П. Неразрушающий контроль конструкций из композиционных материалов. Л.: Машиностроение, 1977. -190 с.

19. Гершберг М.В., Илюшин C.B., Смирнов В.И. Неразрушающие методы контроля судостроительных стеклопластиков. Л.: Судостроение, 1971.-199 с.

20. Потапов А.И. Баранов Г.Л., Клопов В.Д. Контроль качества изделий из пластмасс с помощью микрорадиоволн. В кн.: Контроль качества сырья и которых изделий при переработке пластмасс: Тез.докл.всесоюз.семинара. М., 1969, с.67.

21. Голомидова Л.А. Обзор методов инфракрасной дефектоскопии. М.: НИАТ, 1976.-37 с.

22. Дун Л.М., Кеткович A.A. Современное состояние и перспективы развития инфракрасной интроскопии. Обзорная информ. М.: ЦНИИТЭИ Приборостроения, 1972, вып.2. -26 с.

23. Крылов H.A., Потапов А.И. Состояние и перспективы развития методов и средств неразрушающего контроля качества изделий из стеклопластиков. В кн.: Неразрушающий контроль конструкций и изделий из стеклопластиков: Тез.докл.всесоюзн.конф. П., 1971, с.1

24. Дубицкий Л.Г., Кеткович A.A., Матвеев В.И., Слоущ В.Г. Оптическая и СВЧ дефектоскопия. М.: Машиностроение. 1981. - 53 с.

25. Строков В.А., Кеткович A.A. Оптические методы и средства дефектоскопии. М.: ЦНИИ ТЭИ приборостроения, 1978 - 53 с.

26. Потапов А.И., Клопов В.Д., Ромашов В.В., Рапопорт Д.А. Оптический инфракрасный неразрушающий контроль полимерных композиционных материалов. В кн.: Доклады VIII всесоюзной конференции по неразрушающему контролю: Тез.докл., Кишинев, 1977, с.236.

27. Современные композиционные материалы./Под ред. Л.Браутмана и Р.Крока. М.: Мир, 1970.-275 с.

28. Справочник по пластическим массам, т.2. М.: Химия. 1975. - 568 с.

29. Бахарев В.Е., Конторовская И.А., Петрова Л.В. Полимеры в судовом машиностроении. Л.: Судостроение. 1975. -238 с.

30. Потапов А.И., Клопов В.Д., Ромашов В.В. Контроль ориентации стеклонаполнителя в стеклопластике микрорадиоволновым методом. -В кн.: Инженерные конструкции: тез.докл.конф.ЛИСИ. Л., 1972, с.138.

31. Клопов В.Д., Ромашов В.В., Потапов А.И. Исследование структурной анизотропии ориентированных стеклопластиков СВЧ методом. В кн.: Исследования по строительным конструкциям: Тез.докл.конф.ЛИСИ, Л., 1972, с.43.

32. Сажин Б.И. Электрические свойства полимеров. Л.: Химия. 1977, с. 183.

33. Романенков И.Г. Физико-механические свойства вспененных пластмасс. М.: Изд-во Гос.ком.станд. при СМ СССР, 1970, с.32.

34. Квасников E.H., Клопов В.Д., Ромашов В.В. Определение диэлектрической проницаемости строительных материалов в СВЧ диапазоне. В кн.: Инженерные конструкции: Тез.докл.конф.ЛИСИ. Л., 1972. С. 133.

35. Клопов В.Д., Потапов А.И., Ромашов В.В. Сверхвысокочастотная установка РИ-2 для дефектоскопии и исследования полимерных материалов. Плакат. Л.: ЛЦНТИ, 1975.

36. Берлин A.A., Шутов Ф.А. Химия и технология газонаполненных высокополимеров. М.: Наука, 1980. - 504 с.

37. Рвачев В.П. Введение в биофизическую фотометрию. Львов: Изд.Львовского ун-та, 1966. С. 147.

38. Розенберг Г.В. Изв. АН СССР, 1957, сер.физ.21. с. 1473.

39. Хвольсон О.Д. Изв.Петербург. Акад.наук, 1890. 33. С.221.

40. Schwarzschild К. Sitz. Вег. König. Preuss. Akad. Wissenschaft, 1914, S.1883.

41. Розенберг Г.В. Усп.физ.наук, 1955, 56.вып.1, с.77.

42. Розенберг Г.В. Особенности поляризации света, рассеянного атмосферой в условиях сумеречного освещения. Автореф.канд.дис. -М., 1946.

43. Чандрасекар С. Перенос лучистой энергии. М.: ИЛ, 1954. - 432 с.

44. Собалев В.В. Изв.АН СССР, сер.географии и геофизики, 1944, 8, с.273.

45. Розенберг Г.В. Усп.физ.наук, 1959, 69, вып.1. с.57.

46. Розенберг Г.В. В сб.: Спектроскопия светорассеивающих сред. Минск.: Изд-во АН БССР, 1963, с.5.

47. Кузнецов Е.С. Докл.АН СССР, 1942, 37, с.237.

48. Амбарпумян В.А. Астроном.журн., 1942, 19, с. 1.

49. Гуревич М.М. Вопросы рациональной классификации светорассеивающих веществ. Труды ГОИ, 1931, 6, вып.57, с.1.

50. Рвачев В.П., Гуманецкий С.Г., Сахновский М.Ю. Биофизика, 1965, 10, с.658.

51. Чекалинская Ю.Н. О кратности рассеяния света. Изв. АН СССР, Физика, 1957, т.21, № 11, с. 1494.

52. Кабанов М.В., Савельев Б.А. Экспериментальные исследования яркости многократно рассеянного вперед света при распространении узких коллимированных пучков. Изв.АН СССР, ФаиО, 1958, т.4, № 9, с.423.

53. Пат.3900265 (США). Лазерная сканирующая система для обнаружения дефектов. опубл. В ИЗФ, 1975, № 20.

54. Пат.2255595 (Франция). Способ определения продольных дефектов на движущихся листах и применяемое устройство. опубл. В ИЗР, 1975, № 16.

55. Пат.2259419 (Франция). Устройство контроля стенок ядерного реактора. опубл. В ИЗР, 1975, № 17.

56. Пат.2260100 (Франция). Устройство определения дефектов или пробалов на поверхности пеноменяющегося отражающего материала, -опубл. в ИЗР, 1975, № 18.

57. Пат. 1380452 (Великобритания). Способ обнаружения дефектов. -опубл. В ИЗР, 1975, № 14.

58. Пат. 1381878 (Великобритания). Устройство для определения дефектов движущейся ткани. опубл. в ИЗР, 1975, № 15.

59. Пат.2263507 (Франция). Система обнаружения дефектов, использующая лазерный пучок. опубл. в ИЗР, 1975, № 20.

60. Пат. 1348978 (Великобритания). Фотоэлектрические измерения на отражение и просвет. опубл. в ИЗР, 1974, № 7.

61. Строков в.А. Об оптимальном режиме работы оптико-электронного дефектоскопа. В кн.: Применение оптико-электронных приборов в контрольноизмерительной технике: Тез.докл.семин. М., 1976., с. 107.

62. Пат.50-35437 (Япония). Дефектоскоп для определения повреждений на поверхности металла. опубл. в ИЗР, 1976, № 13.

63. Пат.3871773 (США). Способ обнаружения дефектов в прозрачных изделиях. опубл. в ИЗР, 1975, № 4.

64. Пат.2415450 (ФРГ). Способ исследования дефектов материала путем использования лазерной световой волны и устройство для осуществления способа. опубл. в ИЗР, 1975, 3 21.

65. Dlab J., Schrk L. Laserdurchstrahlungsverfahren eine neue Methoder zerstörungsfreien Kunststoffprüfung. - Siemens - Forsch und Entwicklungsberichte, 1972, 1, Nr.4, S.376.

66. A.c.310167 (СССР). Прибор для контроля дефекта полотна/Б.Н.Джапаридзе и др. опубл. в Б.И., 1971. № 23.

67. А.с.301601 (СССР). Устройство для выявления оптических неоднородностей прозрачных образцов/А.Е.Волнянский и др. опубл. в Б.И., 1971, № 14.

68. А.с.459712 (СССР). Устройство для контроля неравномерности просвета образца волокнистого материала/ Г.Э.Финкельштейн и М.Г.Зальцман. опубл. в Б.И., 1975, № 5.

69. А.с.293204 (СССР. Способ контроля структурных свойств бумаги/ Г.Э.Финкельштейн. опубл. в Б.И., 1971, № 5.

70. Бекешко H.A., Федчишин В.Г. Определение параметров внутренних дефектов при контроле диэлектрических материалов. В кн.: Применение оптико-электронных приборов в контрольно-измерительной технике: Тез.докл.семин. М., 1976. С.134.

71. Строков В.А., Кеткович A.A., Упадышев А.Б. Бороскоп ОД-ПОЭ. -Дефектоскопия, 1976, 3 5, с. 123.

72. Бекешко H.A., Лепорский А.Н., Волков Н.П. Контроль диэлектрических материалов с помощью инфракрасной телевизионной системы. -Труды н.-и. и констр. Ин-та испытательн.машин, приборов и средств измерения масс, 1974, вып.6, с.65.

73. Гейдур С.К., Клопов В.Д. Лазерный дефектоскоп для контроля пластмассовых труб малого диаметра. Там же, с. 158.

74. Гавинский Ю.В. Установка для оптико-электронного контроля труб из армированных пластиков. Там же, с. 166.

75. Кеткович A.A., Строков В.А. Сб.трудов НИКИМП, вып.6, 1975, с.64.

76. Бекешко H.A., Лепорский А.Н., Федчишин В.Г. Сб.трудов НИКИМП, вып.8, 1975, с.39.

77. Клопов В.Д., Потапов А.И., Ромашов В.В. Оптический инфракрасный дефектоскоп. Информационный листок. Л.: ЛЦНТИ, 1979, № 803-79.

78. Клопов В.Д., Потапов А.И., Щипцов B.C., Рапопорт Д.А., Пастор Л.А. Оптический инфракрасный дефектоскоп. В кн.: Неразрушающие методы контроля изделий из полимерных материалов: Тез.докл.семин. М., 1980, с.94.

79. Потапов А.И., Рапопорт Д.А., Клопов В.Д. Механизированная установка для инфракрасной дефектоскопии изделий из пластмасс. -Дефектоскопия, 1977, 3 2, с. 116.

80. Потапов А.И., Эбельс Ю.М., Толокнов В.Г. Инфракрасная дефектоскопия пластмасс. В кн.: Неразрушающий контроль качества конструкций и изделий из стеклопластиков. 4.1, ЛДНТП, 1971, с.52.

81. Гинзбург В.Л., Пульвер В.А., Фабрикант В.А. Тр.ГОИ, 1936, 11, В.99, с.24.

82. Гуревич М.М. Вопросы рациональной классификации светорассеивающих веществ. Труды ГОИ, 1941, 6, вып.57, с.1.

83. Гершун A.A. Прохождение света через плоский слой светорассеивающей среды. Труды ГОИ, 1936, 11, вып.99, с.43.

84. Гершун A.A. Расчет объемного свечения. В кн.: Труды Гос.опт.ин-та. Л.-М., 1933, т.9, вып.87, с.27.

85. Stokes G.G. Jn the Intensitz jf hight Reflected from or Fransmitted frough a Pile of Plats. Proc.Roz. Soc., 1862, 11, p.545; Math.a.Phys. Papers Gambridge, 1904, 4, p. 145.

86. Гершун A.A. Пропускание диффузного света стопой поглощающих пластинок. Труды ГОИ, 1948. 4, в.38, с.1.

87. Ryde J.W., Cooper B.S. Proc. Of the Internat. Ilium. Gongress, 1932, 1, p.387.

88. Рвачев В.П. Методы оптики светорассеивающих сред в физике и биологии. Минск: БГУ им.В.И.Ленина, 1978. - 240 с.

89. Гуревич М.М. Введение в фотометрию. Л.: Энергия, 1968, с.14.

90. Мешков В.В. Основы светотехники, ч.1. М.: Госэнергоиздат, 1957. -352 с.

91. Кабанов М.В. Об учете однократного рассеяния при измерениях прозрачности атмосферы. Изв.вузов СССР. Физика, 1962, № 4, с.28.

92. Шифрин К.С. Рассеяние света в мутной среде. М. - Л.: Гостехиздат, 1951. - с. 288

93. Гершун A.A. Избранные труды по фотометрии и светотехнике. М.: Гос.изд.физ.-матем.лит. - Гостехиздат, 1958. - 548 с.

94. Фейгельсон Е.М. Радиационные процессы в слоистообразных облаках. -М.: Наука, 1964.-231 с.

95. Кабанов М.В. Затухание коллимированных световых пучков в рассеивающих средах. Изв.вузов СССР. Физика, 1967, № 8, с.34.

96. Penndorf R.B. Appoximation formula for forward Scattering. JOSA, 1962, V.52, N 7, p.124.

97. Зуев B.E. Прозрачность атмосферы для видимых и инфракрасных лучей. М.: Сов. радио, 1966. - 348 с.

98. Кабанов М.В., Савельев Б.А. Экспериментальное исследование яркости многократно рассеянного вперед света при распростра-.

99. Чекалинская Ю.И. Тр.Ин-та физ. И мат. АН БССР, 1956, вып.1, с.176.

100. Иванов А.П. Оптика рассеивающих сред. Минск: Наука и техника, 1969.-592 с.

101. Кабанов М.В., Савельев Б.А. О яркости многократно рассеянного света. Изв.вузов СССР. ФаиО, 1967, т.З, № 6, с.658.

102. Тимофеева В.А. Сложное рассеяние света в мутных средах. Труды морского гидрофиз.ин-та, 1953, т.З, с.35.

103. Шифрин Н.С. Коэффициент рассеяния света на больших частицах. -Изв.АН СССР. Геофиз., 1940, т. 14, № 1, с. 143.

104. Шифрин К.С., Айвозян Г.М. Учет индикатрисы рассеяния при измерениях прозрачности. Труды ГГО, 1964, вып. 153, с. 132.

105. Шифрин К.С., Айвозян Г.М. Влияние индикатрисы рассеяния на прозрачность. ДАН СССР, 1964, т. 154, №4, с.824.

106. Кабанов М.В. О влиянии условий эксперимента на величину измеренного коэффициента рассеяния. В кн.: Актинометрия и атмосферная оптика. - М.: Наука, 1964, с.85.

107. Розенберг Г. В. О границах применимости закона Бугера и об эффектах обращения аномальной и селективной прозрачности атмосферы. -ДАН СССР, 1962, т. 145, № 6, с.637.

108. Долин Л.С. О распространении узкого светового пучка света в среде с сильно анизотропным рассеянием. Изв.вузов СССР. Радиофизика, 1966, т.9, № 1, с.73.

109. Кабанов М.В., Савельев Б.А., Фадеев В.Я. Зависимость границ применимости закона Бугера в расссеивающих средах от оптического диаметра светового пучка. Изв.вузов СССР. Физика, 1967, № 7, с.140.

110. Зуев В.Е., Кабанов М.В., Савельев Б.А. Экспериментальное исследование границ применимости закона Бугера в рассеивающих средах. ДАН СССР, 1967, т. 175, 3 2, с.327.

111. Зуев В.Е., Кабанов М.В., Савельев Б.А. Границы применимости закона Бугера в рассеивающих средах для коллмированных световых пучков. Изв.АН СССР. ФаиО, 1967, т.З, № 7, с.54.

112. Zuev V.E., Kabanov M.V., Soveljev В.A. Propagation of laser beams in scattering media. Appl. Opt., 1969, v.3, N 1, p. 134.

113. Колосов M.A., Соколов B.A., Федорова Л.В. и др. Связь абсолютного коэффициента ослабления интенсивности лазерного излучения в водных туманах с концентрацией капель. ДАН СССР, 1969, т. 188, № 6, с.426.

114. Денчик Б.Н., Савельев Б.А., Соколова Т.Н. и др. Зависимость границ применимости экспоненциального закона ослабления света и рассеивающих средах от формы индикатрисы рассеяния. Изв.вузов СССР. Физика, 1972, № 5, с.35.

115. Сахновский М.Ю. Исследование оптических свойств светорассеивающих сред с малым удельным поглощением. Автореф.канд.дис.Л.ГОИ, 1965.

116. Горячев Б.В., Могильницкий С.Б., Савельев Б.А. Исследование поля оптического излучения в ограниченной рассеивающей среде. Per. № 2378-81 Деп. Изв.высш.учеб.завед.Физика, 1081, № 9, с. 139.

117. Левин И.М., Иванов А. П. О раздельном определении показателей поглощения и рассеяния мутных сред. Оптика и спектроскопия, 1965, 18, № 5, с. 920.

118. Долин Л.С. Изв.вузов. Радиофизика, 1966, 9, № 1, с.61.

119. Долин Л.С. Изв.вузов. Радиофизика, 1964, 7, с.380.

120. Сакин И.Л. Инженерная оптика. Л.: Машиностроение, 1976, -255 с.

121. Амбарцумян В.А. ДАН СССР, 1944, № 3, с.43.

122. Клопов В.Д., Эбельс Ю.М., Потапов А.И., Карапетян О.О. Установка ИКД-1М неразрушающего контроля пластмасс. Плакат. Л.: ЛЦНТИ, 1975.

123. Рвачев В.П. Методы оптики светорассеивающих сред в физике и биологии. Минск: БГУ им. В. И.Ленина, 1978, с.201.

124. Котельников В.А. Теория потенциальной помехоустойчивости. М.-Л.: Госэнергоиздат, 1966. - 151 с.

125. Электроника: Справочник / Под ред. Быстрова Ю.А. СПб.: Энергоатомиздат, 1996. -536 с.

126. Кайдалов С. С. Фоточувствительные приборы и их применение: справочник. М.: Радио и связь, 1995. - 120 с.

127. Быстрое Ю.А. и др. Оптоэлектронные устройства в радиолюбительской практике. М.: Радио связь, 1995. - 160 с.

128. А.Г.КраськоДГ.Красько, А.Н.Ивакин Рентгенотелевизионные системы интроскопии. Контроль. Диагностика №5 1999 с.31,32.

129. Боровский Е.В., Леонтьев В.К. Биология полости рта. М.: Медицина, 1991.304 с.

130. Леус П.А., Горегляд A.A., Чудакова И.О. Заболевания зубов и полости рта. Мн.: 1998.

131. Боровский Е.В., Барышева Ю.Д., Максимовский Ю.Н. Терапевтическая стоматология. М.: /ООО/Медицинское информационное агенство, 1997. 544 с.

132. Овруцкий Г.Д., Володацкий М.П., Володацкая A.M. Прогнозирование и донозологическая диагностика кариеса зубов. Ставрополь.: 1990. с 7278.141.3имкина Т.М., Фомичев В.А. Ультрамягкая рентгеновская спектроскопия. Изд-воЛ.: 1971.-е

133. Рубин Л.Р. Физические методы исследования и лечения в стоматологии. Изд-во МедГиз. М.: 1955. - с 66-83

134. Плотников Р.И. Флуоресцентный рентгенорадиометрический анализ. Изд-во М.: 1973. -с. 26-30.

135. Гризимов В. Н. Автореф. канд. диссерт. Л. 1992

136. Regueira Rojas, Manuel. Caries, problema de salud publica. BUAP.- Mexico.: 1993. -с. 231.

137. Regueira Rojas, Manuel. Estadística estomatologica. BUAP.- Mexico.: 1997. с.97.

138. Химический анализ без реактивов. Рек.листок НПО «Аналитика» Государственный реестр РФ 3 13422-92

139. Новая программа с использованием метода фундаментальных параметров. Рекл.листок НПО «Аналитика»