автореферат диссертации по приборостроению, метрологии и информационно-измерительным приборам и системам, 05.11.07, диссертация на тему:Разработка приборов изображающей спектроскопии на основе кристаллических диспергирующих элементов, изогнутых по сферической поверхности

Введение.

Глава 1. Исследование характеристик кристаллических спектрографов как приборов изображающей спектроскопии.

1.1. Анализ современных задач, стоящих в области изображающей спектроскопии.

1.2. Исследование принципов получения спектрально селектированных изображений в кристаллических спектрографах.

1.3. Сравнительный анализ кристаллических спектрографов с различными диспергирующими элементами.

1.4. Обоснование путей повышения разрешающей способности и светосилы кристаллических спектрографов.

1.4.1. Функциональные схемы фокусирующих спектрографов с пространственным разрешением (ФСПР) на основе кристаллов, изогнутых по сферической поверхности.

1.4.2. Сравнительная оценка светосилы спектрографов ФСПР и спектрографов с цилиндрическими кристаллами.

1.5. Применение кристаллов, изогнутых по сферической поверхности, для расширения функциональных возможностей приборов изображающей спектроскопии.

1.5.1. Рентгеновский теневой монохроматический микроскоп.

1.5.2. Монохроматический коллиматор рентгеновского излучения.

Выводы к главе 1.

Глава 2. Разработка технологии и создание диспергирующих элементов в виде кристаллов, изогнутых по сферическим поверхностям малых радиусов кривизны.

2.1. Анализ свойств кристаллов, применяемых в спектральном диапазоне 0,1 - 2,0 нм.

2.2. Исследование методов и разработка технологии изгиба кристаллов слюды и кварца по сферической поверхности.

2.3. Исследование методов и контроль качества кристаллов, изогнутых по сферической поверхности.

2.3.1. Контроль кристаллов, изогнутых по сферической поверхности, оптическими методами.

2.3.2. Рентгенотопографические исследования качества плоских и изогнутых по сферической поверхности кристаллов слюды.

2.4. Теоретические и экспериментальные исследования отражательных характеристик плоских и изогнутых по сферической поверхности кристаллов слюды.

2.4.1. Расчет кривых отражения плоских и изогнутых по сферическим поверхностям кристаллов слюды.

2.4.2. Экспериментальные исследования кристаллографических и отражательных характеристик кристаллов слюды.

2.4.2.1. Измерение постоянной с0 кристаллографической решетки слюды.

2.4.2.2. Измерение интегрального коэффициента отражения слюды в высоких порядках отражения.

3.4.2.3. Исследование параметров кривых отражения кристаллов слюды.

Выводы к главе 2.

Глава 3. Исследование оптических схем фокусирующих спектрографов с пространственным разрешением.

3.1. Определение плоскости установки в схемах спектрографов ФСПР.

3.2. Анализ геометрических аберраций оптических схемшектрографов ФСПР.

3.3. Исследование спектрального и пространственного разрешения в схемах ФСПР для протяженного в плоскости дисперсии источника.

3.4. Исследование линейного увеличения в схемах ФСПР.

3.5. Исследование влияния погрешностей установки в схемах ФСПР на пространственное разрешение в сагиттальной плоскости.

Выводы к главе 3.

Глава 4. Применение спектрографов ФСПР для диагностики высокотемпературной плазмы.

4.1. Прецизионные измерения длин волн и идентификация рентгеновских спектральных линий излучения многозарядных ионов.

4.1.1. Измерение длин волн спектральных переходов многозарядных ионов.

4.1.1.1. Абсолютные измерения длин волн резонансных серий Неподобных ионов.

4.1.1.2. Измерения разности длин волн близколежащих спектральных линий различных ионов.

4.1.2. Исследования сателлитных структур в К-, L и М- спектрах излучения многозарядных ионов.

4.1.2.1. Измерения длин волн и идентификация сателлитных структур в К-спектрах ионов Si и Mg.

4.1.2.2. Измерения длин волн и идентификация сателлитных структур в L-спектрах тяжелых ионов.

4.1.2.3. Измерения длин волн и идентификация сателлитных структур в М-спектрах тяжелых ионов.

4.2. Диагностика активных сред рентгеновских лазеров на плазме многозарядных ионов.

4.3. Диагностика высокотемпературной плазмы.

Создание импульсных лазеров с длительностью импульса от наносекунд до фемтосекунд открывает новые возможности в развитии исследований по таким фундаментальным проблемам как физика высокотемпературной плазмы, взаимодействие интенсивных световых полей с веществом , создание рентгеновских лазеров на плазме многозарядных ионов, а также для решения важных прикладных задач, связанных с созданием источников мягкого рентгеновского излучения для микролитографии и микроскопии биологических объектов, для исследований в области защиты окружающей среды.В свою очередь это поставило в последние годы новые задачи по созданию измерительной аппаратуры, обеспечивающей исследование параметров плазменных сред, находящихся под воздействием высоких температур и давлений, а также сверхсильных магнитных полей и электронных пучков. Экстремальные условия образования плотной высокотемпературной плазмы приводят к тому, что плазма становится пространственно неоднородной, а процессы ее развития и распада характеризуются сложными, в том числе нестационарными, явлениями. Такая плазма характеризуется электронной температурой Те > 100 эВ и состоит, в основном, из многозарядных ионов с кратностью ионизации Ъ\ > 5 и потенциалами ионизации Е^ > 0,5 кэВ, спектры излучения которых лежат в спектральном о диапазоне меньше 20 А (линии Н- , Не-, Ые-, №-подобных ионов ).

Одним из наиболее эффективных методов диагностикии высокотемпературной плазмы является рентгеновская спектроскопия излучения многозарядных ионов. С ростом электронной температуры в плазме происходит образование все более высокоионизованных ионов. Для описания свойств такой плазмы классической спектроскопии оптических переходов, традиционно использовавшейся ранее, становится недостаточно. Поэтому в последние годы изучение плазменных сред все в большей степени основываются на исследовании спектров излучения автоионизационных состояний многозарядных ионов плазмы [1-3]. Основными особенностями спектров излучения переходов, связанных с автоионизационными уровнями, являются необычайно малая разница в длинах волн, слабая интенсивность и локализация в ограниченных областях объема плазменной среды. Поэтому в настоящее время решение наиболее актуальных задач рентгеноспектральных исследований высокотемпературной плотной плазмы основаны на повышении светосилы и спектрального разрешения диагностической аппаратуры, а также создании новых типов приборов изображающей спектроскопии, обладающих при высокой светосиле одновременно не только высоким спектральным, но и пространственным разрешением.

Из всего многообразия спектральных приборов для диапазона длин волн(1 о т 20) А только спектрографы с кристаллическим диспергирующим элементом принципиально могут обеспечить требуемое спектральное разрешение. Тем не менее, использовавшиеся ранее спектрографы с плоскими или изогнутыми по цилиндрической поверхности кристаллами, хотя и обладают удовлетворительным спектральным разрешением, не обеспечивают достаточной светосилы и пространственного разрешения при получении изображений плазменных источников. К середине 90-х годов, в связи с разработкой технологии высококачественного изгиба по сферическим поверхностям кристаллов достаточно больших размеров по радиусам кривизны вплоть до 80 мм, появилась возможность реализации нового типа рентгеноспектральных приборов, обладающих не только диспергирующими, но и фокусирующими свойствами [2, 4-6]. Они позволяют наряду с измерениями спектрального состава излучения, одновременно получать изображения плазменных объектов в различных спектральных линиях. Их основными преимуществами по сравнению с традиционно использовавшимися, являются высокая светосила в сочетании с высоким пространственным разрешением до 10 мкм), при сохранении предельно возможного для данного диспергирующего элемента спектрального разрешения (VAX = 10000).

Формирование спектров и спектральных изображений с помощью сферически изогнутых кристаллов основано на сложном сочетании рентгенооптических свойств кристаллов (дифракции Брегта при взаимодействии коротковолнового излучения с кристалами) и свойств обычных оптических элементов (фокусировка излучения сферической поверхностью). С одной стороны, это приводит к тому, что строгое описание работы спектрографов на основе сферически изогнутых кристаллов методами волновой оптики, представляет значительные трудности. С другой стороны, как показывается в настоящей работе, для многих практических условий, оказывается достаточным применение методов геометрической оптики. Более того, возможность получения пространственного разрешения с помощью сферически изогнутых кристаллов, делает решающей необходимость исследования изображающих свойств схем фокусирующих спектрографов прежде всего традиционными геометро-оптическими методами.

Кристалл, изогнутый по сферической поверхности является основным функциональным элементом фокусирующих спектрографов. От радиуса кривизны, апертуры, отражательных свойств, качества поверхности в конечном итоге зависит в какой степени будут реализованы аппаратные возможности той или иной схемы спектрографа. Получение высокого качества кристаллов, изогнутых по сферической поверхности в любом случае является сложной технологической задачей. Особые проблемы возникают при изгибе кристаллов большой апертуры по малым радиусам кривизны, необходимым для повышения светосилы спектрографа. Только с разработкой такой технологии и созданием кристаллов кристаллов слюды с радиусами кривизны до R = 80 мм и кристаллов кварца с R = 150 мм при относительном отверстии в плоскости дисперсии 1 : 1,5 [7, 8], уникальное сочетание свойств фокусирующих спектрографов было реализовано на практике и получило достаточно широкое применение в экспериментальных исследованиях высокотемпературной плазмы.

Целью настоящей работы является создание светосильных спектрографов с высоким спектральным (до - 10000) и пространственным (до Ах = 10 мкм) разрешением на основе кристаллов, изогнутых по сферической поверхности.

Для достижения поставленной цели решались следующие задачи:

- исследование принципов получения спектрально селектированных изображений плазменных источников кристаллическими спектрографами;

- обоснование схем и исследование свойств фокусирующих спектрографов на основе диспергирующих элементов в виде кристаллов, изогнутых по сферической поверхности;

- разработка геометро-оптических методов расчета фокусирующих спектрографов;

- разработка технологии изгиба и создание кристаллов, изогнутых по сферической поверхности;

- исследование отражательных характеристик кристаллов слюды;

- разработка конструкции и создание экспериментальных образцов фокусирующих спектрографов.

Диссертационная работа состоит из введения, черырех глав, заключения и списка литературы.

Выводы к главе 4.

1. Спектрографы ФСПР, основанные на применении кристаллов, изогнутых по сферической поверхности, были успешно использованы для решения широкого круга как прикладных, так и фундаментальных задач физики плазмы.

2. Использование спектрографов ФСПР в задачах атомной спектроскопии многозарядных ионов позволяет повысить точность измерения длин волн рентгеновских спектральных линий (главным образом, за счет регистрации эмиссионных спектров из сравнительно разреженных областей плазмы, где уширение линий достаточно мало) и исследовать ненаблюдавшиеся ранее малоинтенсивные спектральные переходы.

3. В задачах диагностики плазмы спектрографы ФСПР позволяют получать информацию о пространственном распределении (одно- и двухмерном) параметров как неоднородных плазменных микрообъектов с линейными размерами < 100 мкм (микропинчи, плотные области лазерной плазмы), так и протяженных плазменных источников в областях их низкой светимости (разлетающаяся лазерная плазма на больших расстояниях от мишени).

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

В результате выполнения работы:

1.Обоснованы принципы и технические пути построения аппаратуры, реализующей метод изображающей спектроскопии, с высокими светосилой, спектральным и пространственным разрешением, предназначенной для исследований оптических характеристик плотной высокотемпературной плазмы.

2. Обоснованы функциональные схемы фокусирующих спектрографов с одномерным пространственным разрешением (ФСПР-1) и двумерным пространственным разрешением (ФСПР-2) с диспергирующим элементом в виде кристалла, изогнутого по сферической поверхности; на основе методов геометрической оптики получены расчетные соотношения для определения их основных параметров.

3. Разработана технология упругого изгиба кристаллов слюды и кварца по поверхностям малых радиусов кривизны. Впервые изготовлены высококачественные, сферически изогнутые, прямоугольной апертуры кристаллы с радиусами кривизны до R = 80 мм для кристаллов слюды и до R = 150 мм для кристаллов кварца при относительном отверстии в плоскости дисперсии до 1: 1,5.

4. Проведены исследования отражательных свойств кристаллов слюды. Теоретически и экспериментально показано, что выбранный оптический материал - слюда обладает хорошей отражательной способностью во многих порядках отражения, вплоть до XVIII-ro, что позволяет существенно расширить рабочий спектральный диапазон спектрографов ФСПР и возможности для оптимизации параметров схемы в конкретных экспериментальных условиях.

5. Разработана конструкция и создана серия универсальных малогабаритных фокусирующих спектрографов с пространственным разрешением (ФСПР), на основе кристаллов, изогнутых по сферической поверхности, обладающих одновременно высокими спектральным и пространственным разрешением и высокой светосилой.

6. Экспериментальные исследования высокотемпературной плазмы, проведенные с помощью макетных образцов фокусирующих спектрографов, подтвердили правильность основных теоретических положений и расчетных соотношений. В процессе исследований были подтверждены их высокая светосила и достигнуты спектральное (А/ДА, до 10000) и пространственное ( до 10 мкм) разрешение.

7. Предложены и реализованы схема коллимации монохроматического рентгеновского излучения и схема рентгеновского теневого монохроматического микроскопа, основанные на использовании фокусирующих свойств кристаллов, изогнутых по сферической поверхности.

Автор выражает глубокую благодарность своему руководителю, доценту Карасику В.Е., за постоянную поддержку и исключительно полезные советы при выполнении работы, профессорам Рождествину В.Н., Мосягину Г.М., Козинцеву В.И. за внимание и моральное стимулирование работы, профессору Пахомову И.И. за полезные советы и внимание, профессору Уткину Г.И. за важные дискуссии и поддержку, доценту Барышникову Н.В. за постоянную помощь в работе и сотрудничество, доценту Двуличанской H.H. и нач. лаборатории Тележникову В.Н. за плодотворные научные обсуждения и техническую помощь, своим соавторам за многолетнее и плодотворное сотрудничество, а также своим коллегам по кафедре за поддержку, помощь и благожелательность.

1. Рентгеновская спектроскопия многозарядных ионов / В.А. Бойко, В.Г. Пальчиков, И.Ю.Скобелев и др. М.: Энергоатомиздат, 1988.- 246 с.

2. Бойко В.А., Виноградов А.В., Пикуз С.А., Скобелев И.Ю., Фаенов А.Я. Рентгеновская спектроскопия лазерной плазмы // Итоги науки и техники, сер."Радиотехника", т.27. М.: ВИНИТИ, 1980. 264 е.: ил.

3. Пикуз Т.А., Барышников Н.В. Приборы рентгеновской изображающей спектроскопии для контроля параметров плазменных источников // Приборы и системы управления. 1998. - №3. - С. 27-29.

4. Pikuz Т.А., Bryunetkin В.А., Faenov A.Ya., Pikuz S.A., Romanova V.M., Shelkovenko T.A. Creation of Bragg X-ray optics for imaging spectroscopy of plasma microsources // SPIE. 1994. - V. 2279. - P. 244-256.

5. Pikuz T.A., Faenov A.Ya., Pikuz S.A., Romanova V.M., Shelkovenko T.A. Bragg X-ray optics for imaging spectroscopy of plasma microsources // Journal of X-ray Science and Technology. -1995. Y.5, №3. - P. 323-340.

6. Боровский И.Б. Физические основы рентгеноспектральных измерений. М.: Изд. Московский университет, 1956. - 462 с.

7. Зеркальная рентгеновская оптика / А.В. Виноградов, И.А.Брытов, А.Я. Грудинский и др.; Под общ. ред. А.В.Виноградова. JL: Машиностроение, Ленингр. отд-ние, 1989. - 463 е.: ил.

8. Аглицкий Е.В., Сафронова У.И. Спектроскопия автоионизационных состояний атомных систем. М.: Энергоатомиздат, 1985. - 248 с.

9. Борн М., Вольф Э. Основы оптики. М.: Наука. - 1973. - 719 с. с илл.

10. Speer R.J., Reacock N.J., Waller W.A., Osborn P.J.H. A focusing x-ray spectrograph for use in the range 0.5 50 A. // J. Phys.E. 1970. - V.3, №1. -P.143-147.

11. Yamagushi N., Aoki S, Miyshi S. Two-dimentional imaging x-ray spectrometer using chanal plate collimator // Rev. Sci. Instrum. 1987. - V. 58, №1. - P. 43 -49.

12. Аглицкий E.B., Бойко В.А. Методика получения обзорных рентгеновских спектров точечных источников/ Препринт ФИАН, № 79. М.: 1974. - 48 с.

13. Morita S. Ray-tracing of concave-curved-crystal spectrometer and its detailed characteristics for x-ray spectroscopic diagnostics of high-temperature plasmas // Japanese Journal of Applied Physics. 1983. - V. 22, № 6. - P.1030 -1040.

14. Kyrala G.A. Simulation of the bent crystal spectrometers // Rev. Sci.Instrum. -1985. V.56, №2. - P. 815 - 821.

15. Forster E., Gibbon. P., Dirksmoller M. Two-bent-crystal scheme for x-ray imaging of ultra-dense plasmas // Experimental Technique of Physics. 1996. - V. 42, № l.-P. 19-24.

16. Dirksmoller M., Rancu O., Uschmann I., Reneadin, Chenais-Popovics C., Gauthier J.C., Forster E. Time resolved x-ray monochromatic imaging of a laser-produced plasma at 0.6635 nm wavelength // Optics communications. 1995. - V. 118, №3-4.-P. 379-387.

17. Pisani F., Koenig M., Batani D., Hall Т., Desenne D., Bruneau J., Reverdin C. Toroidal crystal spectrometer for time-resolved x-ray absorption diagnostic in dense plasmas // Rev. Sci. Instrum. 1999. - V. 70, №4. p. 1774-778 .

18. Тудоровский А.И. Теория оптических приборов. М.: Изд-во АН СССР, Ленинигр. отд-ние, т. I. - 1948 662 с.

19. Faenov A.Ya., Pikuz S.A., Shlyaptseva A.S. Precise measurements and theoretical calculations of the He-like ion resonance line satellites radiated from Be-, B-, C-, N-, O- and F-like ions // Physica Scripta. 1994. - V.49, №1. - P.41-50.

20. Пикуз C.A., Шелковенко T.A., Хаммер Д.А., Фаенов А.Я., Пикуз Т.А., Дякин В.М., Романова В.М. Монохроматическое рентгеновское зондирование сверхплотной плазмы // Письма в ЖЭТФ. 1995. - Т.61, №8. -С. 621-626.

21. Pikuz S.A., Shelkovenko Т.А., Romanova V.M., Hammer D.A.,. Faenov A.Y, Dyakin V.M., Pikuz T.A. High-luminosity monochromatic X-ray backlighting using incoherent plasma source to study extremely dense plasmas // SPIE. 1995. - V.2520.-P. 330-341.

22. Дякин B.M., Магунов А. И., Пикуз T.A., Скобелев И.Ю., Фаенов А.Я. Монохроматическая рентгенография разлетающейся лазерной плазмы свысоким спектральным и пространственным разрешением // Квантовая электроника. 1997.- Т.24, №1. - С. 75-78.

23. Sanchez del Rio M.,. Faenov A.Ya, Dyakin V.M.,. Pikuz T.A,. Pikuz S.A, Romanova V.M., Shelkovenko T.A. Ray-tracing for a monochromatic X-ray backlighting scheme, based on spherically bent crystal // Physica Scripta. 1997. -V.55, № 6. - P.735-740.

24. Fraenkel M., Zigler A., Faenov A.Ya., Pikuz T.A. Large-field high-resolution X-Ray monochromatic microscope, based on spherical crystal and high-repetition-rate femtosecond laser-produced plasma // Physica Scripta. 1999. - V.59, №3. -P. 246 - 254.

25. Sanchez del Rio M., Alianelli L., Pikuz T.A., Faenov A.Ya. A novel imaging X-Ray microscope based on a spherical crystal // Rev. Sei. Instrum. 2001.-V.72, n.6 (in press)

26. Pikuz T.A., Faenov A.Ya., Fraenkel M., Zigler A., Doron R., Behar E., Mandelbaum P., Schwöb Y.L., Rosmej F., Firsov A.A., Panchenko L.A., Koval

27. Yu. I. X-ray spectral images of high-repetition 120 fs laser-produced plasma // SPIE. 1997. - V. 3157. - P. 262-273.

28. Sancez del Rio M., Fraenkel M., Zigler A., Faenov A.Ya., Pikuz T.A. Collimation of plasma produced X-Rays by spherical crystals: ray-tracing simulations and experimental results // Rev. Sci. Instrum. 1999. - V.70, №3. - P. 1614-1620.

29. Seid P., Schmidtke G., Acton L.W. Diffraction properties of hydrodgen-phtalate-crystals in the 0.1 2 nm region // Appl. Opt. - 1977. -V.16, №3. - P.578-581.

30. Блохин M.A., Швейцер И.Г. Рентгеноспектральный справочник. М.: Наука, Главная редакция физико-математической литературы, 1982. - 276 с.

31. Запысов А .Я., Израилев И.М., Подгорнов В. А., Хаврюшин Н.В. Измерение интегральных коэффициентов отраажения мягкого рентгеновского излучения кристаллами гипса, кварца и слюды // Приборы и техника эксперимента, 1982, №6. С. 170 - 172.

32. Henke B.L., Jaanimagi Р.А. Two-channel, elliptical analyzer spectrograph for absolute, time resolving time-integrating spectrometry of pulsed X-ray sources in the 100 10000 eV region // Rev. Sci. Instrum. - 1985. - V. 56, №8. - P. 15371541.

33. Fraenkel M., Zigler A., Faenov A.Ya., Pikuz T.A. Generation of intense collimated monochromatic X-ray beam using femtosecond table-top laser // Physica Scripta. 1997. - V.56, №6. - P. 571-574.

34. Berreman D.W., DuMond J.W.M., Marmier P.E. New point-focusing monochromator // Rev. Sci. Instrum. 1954. - V. 25, №3. - P. 1219-1220.

35. Forster E., Gabel K., Uschmann I. X-ray microscopy of laser-produced plasmas with the use of bent crystals // Laser and particle beams. 1991. - V.9, №1. - P. 135-148.

36. Барсукова M.JI., Беликова Г.С. Использование кристаллов бифталатов щелочных металлов и кристаллов титаната визмута для регистрациирентгеновских спектров лазерной плазмы // Приборы и техника эксперимента. 1980, №4. - С.209-211.

37. Справочник технолога-оптика: Справочник / И.Л.Бабус, В.А.Вейденбах, И.И.Духопел и др. Под общ. ред. С.М.Кузнецова и М.А.Окатова. -JI. Машиностроение, Ленингр. Отд-ние, 1983. 414 с.

38. Креопалова Г.В., Лазарева Н.Л., Пуряев Д.Т. Оптические измерения: Учебник для вузов по специальностям «Оптико-электронные приборы» и «Технология оптического приборостроения»/Под. ред. Д.Т.Пуряева. М.: Машиностроение, 1987. -264 е.: ил.

39. Духопел И.И., Федина Л.Г. Голографический интерферометр для контроля деформации линз// Оптико-механическая промышленность. -1980. №1. -С. 17-20.

40. Ефремов А.А., Сальников Ю.В. Изготовление и контроль оптических деталей. Учабное пособие для средних проф.-техн. Училищ.- М.: Высш. Школа, 1983. 255 е., ил.

41. Васильев Л.А. Теневые методы. М.: Наука, Главная редакция физико-математической литературы, 1968. - 400 с.

42. Быков Б.З., Перов В.А. Сальников Ю.В. Контроль параметров оптических деталей В кн.: Оптико-электронные приборы: Сборник статей// Труды МГТУ, 1986- 164 с.

43. Gressler L., Kafka F., Krausslich J., Wehrhan O. Three X-ray diffraction methods for testing of large disk-sharped or lenttiform CaF2 -crystals for highperformance optics // Crystal research and technology. 1990. - V.25, №9. -P. 1097-1102.

44. Hoelzer G., Wehrhan О., Heinisch J., Foerster E, Pikuz T.A., Faenov A.Ya., Pikuz S.A., Romanova V.M., Shelkovenko T.A. Flat and spherically bent muscovite (mica) crystals for X-Ray spectroscopy // Physica Scripta, 1998. V.57, №2. - P.301-309.

45. Блохин M.А. Методы рентгеноспектральных исследований M.: Госуд. Изд-во физ.-мат. литературы, 1959. - 286 с.

46. Cole H., Stemple N.R. Effect of crystal perfection and polarity on absorption edges seen in Bragg diffraction // J. Appl. Phys. 1962. - V. 33, № 9. - P.2227 -2231.

47. Sanchez del Rio M., Faenov A.Ya., Pikuz T.A., Souvorov A., Freund A.K. Hard X-Ray reflectivity of spherically bent mica crystals // 11th Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation.: Proceedings of conference. New York, 2000. - P.287-202.

48. Uschmann I., Foerster E., Gaebel K., Hoelzer G., Ensslen M. X-ray reflection properties of elastically bent perfect crystals in Bragg geometry // J. Appl. Crystallogr. 1993. - V. 26, №2. - P. 405 - 411.

49. Taupin D. Theorie dynamique de la diffraction des rayons X par les cristaux deformes// Bulletin de la société française de Mineralogy et de Cristallographie. -1964.-Y. 87, n.3.- P. 469-511.

50. Chukhovskii F.N., Hoelzer G., Wehrhan O., Foerster E. Anisotropic elasticity corrections for reflection efficiency standing-wave patterns using bent crystals // J. Appl. Cryst. 1996. - V.29, №3.- P.438 - 443.

51. Henke B.L., Gullikson E.M., Davis J.C. X-ray interactions: photoabsorpsion, scattering, trasmission and reflection at E =50 ч- 30000 eV, Z = 1 -r 92 // Atomic data and nuclear data tables. -1993. V. 54, №1. - P.181 -342.

52. Sanchez del Rio М., Grubel G., Als-Nielsen J., Nielsen M. Focusing characteristics of diamond crystal x-ray monochromators. An experimental and theoretical comparision // Rev. Sci. Instrum. 1995. - V. 66, № 11. - P. 51485152.

53. Chukhovskii F.N., Chang W.Z., Foerster E. X-ray focusing optics. I. Applications of wave optics for doubly curved crystals with a point x-ray source // J. Appl. Phys. 1995. - V.77, №6. - P.1843-1848.

54. Chukhovskii F.N., Chang W.Z., Foerster E.X-ray focusing optics. II. Properties of doubly curved crystals with an extended x-ray source // J. Appl. Phys. 1995. -V.77, №6.-P. 1849-1855.

55. Wittry D.B., Sun S. X-ray optics of doubly curved diffractors // J. Appl. Phys. -1990. V. 67, № 4. - P. 1633-1638.

56. Butter M., Fraenckel В., Hill K.W., Von Goeler S. Numerical studies of the imaging properties of doubly focusing crystals and their application to ITER // Rev. Sci. Instrum. 1995. - V. 66, №1. - P. 530 -532.

57. Zeyher A. Optical packages look for global minima // Computers in physics.-1994.-V. 8, № 3. P.137-140.

58. Burek A. Crystals for astronomical X-ray spectroscopy // Space Science instrumentation. 1976. - V.2, №1. - P. 53-104.

59. Maclaren S., Beiersdorfer P., Vogel D.A., Knapp D., Marrs R.E., Wong К., Zasadzinski R. Precision measurement of the Ka transitions in heliumlike Ge30+ // Phys. Rev. A. 1992. - V. 45, №1. - P. 329 - 332.

60. Магунов А.И., Дякин B.M., Фаенов А.Я., Пикуз Т.А., Скобелв И.Ю., Остерхельд А., Голдштейн В.Х., Флора Ф., Ди Лазаро П., Болланти С., Лизи

61. Biemont Е., Magunov A.I., Dyakin V.M., Faenov A.Ya., Pikuz T.A., Skobelev

62. Nakamura N., Kato D., Nojikawa E., Currell F.L., Faenov A.Ya., Pikuz T.A., Ohtani S. X-Ray Spectroscopy of Highly Charged Ne-like Ions // Physica Scripta. 1999. - V.T80, № 4. - P. 443-445.

63. Elton R.C. X-ray lasers -N.-Y.: Acad. Press, 1990.-642 p.

64. Klapisch M., Schwob J.L., Fraenkel B.S., Oreg J. The ls-3p Kp-like x-ray spectrum of highly ionized iron // JOSA. 1977. - V.67, №1. - P. 148 - 155.

65. Oreg J., Goldstein W.H., Klapisch M., Bar-Shalom A. Autoionization and radiatioless electron capture in complex spectra // Phys. Rev. A. 1991. - V. 44, №2. - P.1750 - 1758.

66. Doron R., Behar E., Fraenkel M., Mandelbaum P., Zigler A., Schwob J.L., Faenov A. Ya., Pikuz T.A. Analysis of X-ray spectrum emitted by laser-produced plasma in 7.5 to 12 A wavelengths range // Phys. Rev. A. 2000. - V.62.- P. 052508- 12.

67. Doron R., Behar E., Fraenkel M., Mandelbaum P., Zigler A., Schwob J.L., Faenov A. Ya., Pikuz T.A. High-resolution X-ray spectrum of laser-produced barium plasma in the 9.10 + 9.36 A wavelength range // Phys. Rev. A. 1998. - V. 58,№2.-P. 1859-1863.

68. Dunn J., Li Y., Osterheld A., Nilsen J., Hunter J.R., Shlyaptsev V.N. Gain saturation regime for laser-driven tabletop, transient Ni-like ion x-ray lasers // Phys. Rev. Lett. 2000. - V. 84, №4. - P. 4834-4837.

69. Moon S.J., Dunn J., Faenov A.Ya., Pikuz Т., Fournier K.B., Osterheld A.L., Shlyaptsev V.N., Li Y., Nilsen J. Characterization of a high-gain Ne-like Fe transient X-Ray laser // SPIE. 2000. - V.3776. - P. 9-13.

70. Dunn J., Li Y., Osterheld A., Nilsen J., Moon S.J., Fournier K.B., Hunter J.R., Faenov A.Ya., Pikuz T.A., Shlyaptsev V.N. Tabletop transient collisional excitation X-Ray lasers // SPIE. 2000. - V.3776. - P. 2-8.

71. Dunn J., Osterheld A., Nilsen J., Hunter J.R., Li Y., Faenov A., Pikuz Т., Shlyaptsev V.N. Saturated Output Tabletop X-ray Lasers // 7th X -ray lasers

72. Conference, S. Malto, France 2000. :Proceedings of Conference. S. Malto, 2000. -P. 84-95.

73. Dunn J., A. Faenov A.Ya., Pikuz T.A., Osterheld A.L., Moon S.J., Fournier K.B., Nilsen J., Skobelev I. Yu., Magunov A.I., Shlyaptsev V. N. Spectral and ImagingtVi

74. Characterization of Tabletop X-ray Lasers . // 7m X -ray lasers Conference, S. Malto, France 2000. ¡Proceedings of Conference. S. Malto, 2000. - P. 96-104.

75. Брюнеткин Б.А., Дякин B.M., Пикуз C.A., Пикуз Т.А., Фаенов А.Я. Получение двумерных монохроматических изображений лазерного факела с помощью сферического изогнутого кримталла слюды // Квантовая электроника. 1994. - Т.21, №3. - С. 1 - 4 .

76. Yergunova G.A., Faenov A.Ya., Magunov A.I., Dyakin V.M., Pikuz T.A., Skobelev I.Yu., Flora F., Bollanti S., Di Lazzaro P., Lisi N., Letardi T., Palladino L., Reale A., Batani D., Bossi S., Bernardinello A., Scafati A., Reale L., Osterheld

77. A., Goldstein W.H. Features of plasma produced by excimer laser at low intensities// Physica Scripta. 1997. - V.55, №5. - P.483-490.

78. Faenov A.Ya., Pikuz T.A., Firsov A.A., Panchenko L.A., Koval Yu.I., Fraenkel M., Zigler A. Spectrally resolved image of 120 fs laser-produced plasma // Physica Scripta. 1997. - V.55, №2. - P. 167-169.

79. Fraenkel M., Zigler A., Bar-Shalom A., Oreg J., Faenov A. Ya., Pikuz T. Unresolved Spectral Structures Emitted From Heavy Atom Plasmas Produced by Short Pulse Laser // Physica Scripta. 1999. - V.60, №3. - P.222-224.

80. Abdallah Jr. J., Faenov A.Ya., Pikuz T.A., Wilke M.D., Kyrala G.A., Clark R.E.H. Hot electron effects on the satellite spectrum of laser-produced plasmas // JQSRT. 1999. - V.62, №1. - P. 1-11.