автореферат диссертации по информатике, вычислительной технике и управлению, 05.13.07, диссертация на тему:Разработка метода и автоматического устройства контроля определения рельефных дефектов поверхности изделий машиностроения

кандидата технических наук
Джалбиев, Эмирбек Автандилович
город
Бишкек
год
1996
специальность ВАК РФ
05.13.07
Автореферат по информатике, вычислительной технике и управлению на тему «Разработка метода и автоматического устройства контроля определения рельефных дефектов поверхности изделий машиностроения»

Автореферат диссертации по теме "Разработка метода и автоматического устройства контроля определения рельефных дефектов поверхности изделий машиностроения"

I I У ~ • ■

- 8 ШОП 1956

МИНИСТЕРСТВО ОПРЛЮВЛИИЯ КЫРГЫЗСКОЙ РЕСПУБЛИКИ КЫРГЫ1СК1Ш ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕСИТЕТ им. Раиаксва И.

На правах рукописи » Джалбиев Эчшрбек Автанднлович

УДК 621:6583623/6

Разработка метода » автоматического устройства контроля определения рельефных дефектов поверхности годатаГг машиностроения.

Специальность 05.13.07 - Автоматизация технологических процессов и

прсппводсп!

.АВТОРЕФЕРАТ ; дассфшвю-^одискат степени кандидата

технических наук

БИШКЕК 1996

Работа выполнена в Кыргызском .техническом унпверспкче. Научный руководитель: доктор технических наук, профессор

Муслимо» А.П.

Официальные оппоненты: доктор технических наук, прфессор

Миркнн ь.М. Институт автоматики Академии наук

Кыргызской республики кандидат технических наук, доцент кафедры "Радиоэлектроника"КТУ Садыков A.C.

Ведущая организация - Акционерное общество "заиод Сверл"

(г. Бишкек)

Зашита состоится " $ " иc<a/iЛ_ 1996 года на заседании

специализированного совета Д ОЗ.^Л^ в Кыргызском техническом университете по адресу: 720044,Кыргызская Республика . г. Бишкек, пр. Мира, 66.

С диссертацией можно ознакомиться в библиотеке Кыргызского технического унивеситета.

Ваш отзыв на автореферат в одном экземпляре, заверенный печатью учережденияпросим направлять по указанному адрессу.

Желающие присутствовать на защите диссертации должны заблаго-

* 4 S *

временно известить совет письмами заинтересованных организаций на

имя председателя совета, -

Телефоны для справок: 44-18-20 , 44-55-71

Автореферат разослан " ¿¿¿^м"^ J 996 г.

Ученый секретарь 1 » (| Омурйлиев У.К.

специализированного совета, у V \/кл.н., доцент

Общ::« характеристика работ

А к т у а л ь а о с т ь те и ы. Данная работа посвящена проблеме -¿гомагическому ¡-'оптроля рельефных дефектов поверхности изделии машиностроения. Известно что в настоящим момент определение рельефных дефектов проичволичьоя в - ОСНОВНОМ • ШПуПЛЬНЬЩ способом, в которое присуще многие недостатки , что приводит к пропуску бракованных изделий. Это приводит к сильным вибрациям, шуму, динамическим на.ч^узкам и в копотном счете , к потере точности и даже разрушению оборудования.

В езязи с этим разработка автоматического контроля дефектов поверхностных швелнй являё-яея весьма пктупггунгл": задачей.

Цель р а б о т ь!: Раэрс^.уп-а слоеобог устройств автоматического контроля о.'.'релелени." рсл:.,сф::,.;х ле;; у; го;; поверхности. имеющие малые, .массы и габа р;:ть:.

М е т о д ы и с с л е д о б а и к базируются на положениях, оптоэлектронннки и теории автоматического управления. Основные эала'ш решены теоретически с разработкой матемагичсских моделей, изделия и процесса контроля. Из математической модели были получены алгоритмы расчет параметров и ре;:<;ша работы анч ©магического устройства контроля в зависимости от геометрической характеристики контролируемого изделия я требуемой точности к измерению. ~

Экеперемечты выполнены по разработанной методике с применением современных контрольно-измерительных средспз.

Н а у л и а я и о в и з н а : Разработаны новый способ контроля поверхностны:; изделий машиностроения, математическая модель способа контроля и на ее основе был составлен алгоритм расчета, позволяющий проектировать автоматические устройства контроля для тобых изделлн

машиностроения. Разработаны принципиально новая схема контроля, на основе которой было создано автоматическое устройство.

Практическая у'ц е н н о с т ь. Использование алгоритмов расчета прибора позволяет решить проблему контроля различных изделий, отличающихся в значительной мере .массами и геометрическими размерами.

Такой прибор может найти широкое применение в машиностроении.

приборостроении, текстильной, подшипниковой и часовой

промышленности для контроля качества изделий массового производства.

ЛТрнбор был успешно испытан на АО "Завод сверл" город Бишкек по

контролю наличия фасок на заготовках сверл.

Реализация работы. Разработанный прибор был испытан на

о .

АО "Завод сверл". По контролю заготовок сверл малого диаметра и в результате эксперемен?ов была доказана возможность использования прибора для контроля в замен дорогостоящего и мало производительного визуального контроля. . _ „ " ,

На защиту выносятся:

1. Способ контроля поверхностных дефектез изделий машиностроения.

2. Математическая модель процесса конторля изделий данным способом.

3. Схема контроля поверхностных дефектов. * .

4. Математическая модель контролируемого изделия иееоптико-элехтрон-

ная измерительная система контроля.

5. Алгоритм расчета, позволяющий проектировать автоматическое устройство

6. Методика и результаты экспериментальной проверки и промышленных испытаний устройства контроля.

Апробация работы. Отдельные положения диссертационной работы докладывались на научных семинарах кафедры "Оборудование и автоматизация машиностроения" - Кыргызского технического университета, на научной межрегиональной конференции в Кыргызском

..архитектурно- строительном институте в 1993 году, на научной конференции КТУ в 1994-1995 год>. на научно-практических семинарах КыргыэНИИТИ в 1993 и 1994 голах.

П > ó л и к а ц и и . Основные результаты исследования опубликованы в 7 печатных работах.

С т р > к т у р а и объем работы. Диссертация состоит из введения, 4 глав и общих выводов, изложенных на 93 страницах машинописного >екста. содержит ЗЗрнсунков- ~ таблиц и список литературы 1 из 120 наименовании.

Краткое содержанке.

Во введение обосновано актуальность темы диссертационной работы. Автоматизация технологических процессов в машиностроении является одним из стратегических направлений развития народного хозяйства.Проблема контроля и определения рельефных дефектов поверхности изделий является одной из трудноразрешаемых в машиностроении. приборостроении. подшипниковой. часозой и текстильной промышленности, авиации в связи с тем, что к их изделиям предъявляются повышенные качественные" требования. Так же сформулированы задачи, решения которых снимут данную проблему.

В первой главе рассмотрено состояние вопроса и постановка задачи. .. .

Из представленных в обзоре методов позволяющих контролировать поверхность, ренгенопросвечивание каверноскопия", люминицентная, цветная, магнитно-люминесцентная дефектоскопия, электромагнитные, пневматические, фотоэлектрические. Наиболее перспективным по контролю фотоэлектрические методы.

На рис.1 приведена классификация фотоэлектрических методов.

фотоэлектрические методы упнтродд-

методы контроля границ изображения объекта

методы контроля энергетического центра

£

опто -механические

11

телевизионные

с матричными фотоприемниками

с диаграммным сканированием

зеркально-линзовым преобразователем

с использованием ПЭС матриц

с использованием фотоматриц традиционного типа

с использованием ПТТ

с использованием сканаторов

амплитудно частотные

1

амплнтудно фазовые

и

амплитудные

с механическим частотным кодированием

с электронно-частотным кодированием

с оптико-механическим фазовым сканированием

с экстремальным способом - . обработки

с дифсренциальным способом обработки

Рис.1 Классификация фотоэлектрических методов контроля

Из представленной классификации видно, что контроль подразделяется на два метода - метод контроля границ изображения объекта и метод контроля энергетического центра.

Представленный обзорный материал позволяет сделагь определенные выводя: Разработано большое количество разнообразных оптоэлектроиных методов бесконтактного контроле. способных обеспечить достаточную для технически;: целей точность контроля. Однако результаты контроля зависят от изменения интенсивности отраженного объектом светового потока ( изменение яркости объекта). Методы контроля энергетического центра изображения объекта реализуются с меньшей схемотехнической сложностью по сравнению с метода'.mí когпрояя грзг:пц июбразггкг:::. КО облПДПТСТ СОГТОс i иПТГМЬТМ?" точноетаыу.'л параметрами. Наибольшее распрострапепне получили пмил1пудно- частотные .метод:.', благодаря лучшей совок\ иное i и точностных и технических параметров.

Наиболее широкие возможности у амшниудни-частчугные v. с годы с электронным часютным кодированием. гак как позволяет максимально упростить кинематику устройства ( по сравнению с механическим частотным кодированием ), получить любой вид последовательное™ импульсов, повысить быотродейсiвне. возможное гь встраналься в любое технологическое оборудование, что в свою очередь приводит к' повышению производительности контроля.

Во второй главе разработана математическая модель процесса контроля.

Рассмотрим обобщенную схему оптоэлекгронного способа кош роля поверхности в независимости от ее узкого назначения, конструк!ивного исполнения и технологических возможностей. Принципиальная схема представлена на рис. 2

Световой поток от перелающей системы проходя через среду распространения падает на контролируемую поверхность . отражаясь входит в принимающую систему, принимающая система преобразует поток

• Рис. 2 Обобщенная схема оптоэлектронного контроля.

излучения в электрический сигнал и передает его в электронную систему , та в свои;, очередьформирует сигнал, по своим параметрам удгггтзоряюший требованиям исполнительной системы.

Специфическими чертами приемной системы являются:

a) нзличзк-г-с-е составе приемника излучения;

b)гозникновсние в ряде случаев ложных сигналов и помех;

c) требования к простоте и надежности конструкции.

Из данного выше определения основных задач стоящих перед оптикоэлектронным устройством, очевидно что для функционирования важно обеспечить необходимое энергетическое соотношение . Установив

JIM COOIношения, можно определить важнейшие параметры всего

>стропе¡ва

. Для этого -запишем математическую модель процесса контроля, являющееся основным jnepiетическим уравнением оптикоэлектронного устройства'.

ЛФс/Фпол >Цф 1 ДФе = ЛФ„.> - ЛФ.,о,, (1 \

V ЛФ = Тс11; Л Q то

где: ЛФоо. ЛФ.-.оч - поток излучения от детали . от фона иповерхности; щ -■ превышение сигнала над : порогом чувствительности устройства ( отношение сигнал/шум ): Фп оэ>. - порог чувствительности устройствагсс -коэффициент пропускания среды на участке длиной 1 : i - дальность действия системы :ЛП - телесный угол.

Известно что оптикоэлектронное устройство (ОЭУ) может работать в трех режимах: активный . пассивный . смешанный. Для нашего устройства рассмотрим 2 режима работы.

Пассивны й.-Излучатель конечной площади занимающий часть углового поля . приходящий поток излучения от которого на входной зрачок с видимой площадью ДА. расположенного на оси симметрии.

ДФ,. = xcJ4lÍLm sino cosa АЛ da aty (2)

где: Lc„- яркость источника в направлении а.о-аппертурный угол.Но для успешной работы требуется превышениеполезного сигнала от объекта над сигналом от помехи. Тогда

ДФ=тс£2 (ЬеоейПоб-Ьг1ЮЯМ1мм)/4 (3)

где: D - диаметр входного зрачка.Из последнего уравнения очевидно , что для выделение полезного сигнала нужно достичь-Д£2об»Д£1лом, чтобы выполнить это требование нужно уменьшить. ДО«»» -, Чтедосгигаек»

вводом в систему диафрагмно-пространственных фильтров . что приводит к усложнению конструкции и снижению надежности.

Излучатель протяженный фон . Основной фотометрической характеристикой которого является яркость

^¡ф-т-сфКфЯ Авх//г (4)

где: Р - фокусное расстояние .4 - диаметр полевой диафрагмы.

От протяженного фона и площадного объекта . При наличии в угловом поле объекта , закрыьающего часть фона . поток складывается из сигнала от объекта и сигнала от непрекрытой части фона.

ДФ = т А„ ААы} (Ьеоб-1*еф)/Р ■'. (5) '

т.е. работоспособность системы в целом зависит от контраста яркостей фона и объекта.

Активный.В этом случае данный режим можно рассматривать как частный случай пассивного.

Ф« =т2/То, p.L'D¿A2Atx/4f (6)

где расстояние от излучателя до контролируемой поверхности, такое же растояние от контролируемой поверхности до приемника- излучениям -соответственно коэффициенты пропускания среды до и после контролируемой поверхности, .

При рассмотрении режимов работы было определено следующее: Для надежной работы устройства, требуется обеспечить превышение сигнала от объекта,над сигналом от помехи и.фона ; на вход приемной системы приходит смесь сигнала, состоящая из полезного сигнала от объекта и сигнала помехи и фона; выделение полезного сигнала из этой смеси является сложной задачей, требующей специального аппаратного обеспечения , то для упрощения этого 1фоцесса требуется ввести модуляцию и демодуляцию потока излучения.

Модуля ц и я.В нашем случае рассматривае»?^нутреннию модуляцию , т. е. модуляцию непосредственно источником излучения.Выбираем

амплитудно- модулированный сигнал в : виде последовательности импульсов прямоугольной формы

f 1 U>-TO;U < т/2

X(t) = b(t) = { (7)

[ 0, при остальных

где: Т- период; ю= 2а'/Т.

при этом сигнал на выходе системы будет иметь вид

ФM(l)-=<b(t)x(t) (S)

где:Ф(1)- оптический сигнал; x(t)- модулирующий сигнал. Уравнение сигнала примет вид

Фм(1) = Ф0 + -2Ф0 хп cos п (£>„ t (9)

Демодуляция. На входе детектора будем иметь

у - (1+2 хп cos я <rt„ t j sin roí (10)

на выходе

Z= КдТ I КдГ- коэффициент передачи

Z-k,im{ (l+2xncos nai jj-Tíl/(4n2-l) (cos2tmí+ +xncos(2n(ú-na?M)t+x„ cos(2n<o+n(0M )t}2M (10)

Пропуская данный сигнал через низкочастотный фильтр получим

Z„ux = 2ккй (1+2х„ cos п со ц t)/it (11)

полезный сигнал, усиленный на коэффициент передачи.

Способ 'обнаружения был разработан ¡¡а основе выше приведенных рассуждений. Данная задача достигается тем. что :¡a неподвижную контролируемую поверхность направляют наклонный ,г>ч полупроводникового лазерного излучателя, который молулирорван по частоте и , под углом 30-40» , фотонрнемник устанавливают на направлении зеркального отражения сигнал с фотоприемника усиливается

и подается на полосовой фнлыр. настроенный на частоту модулирования, и по величине амплитуды отраженного, профильтрованного сигнала судят о качестве поверхности.

На рис.3 представлена принципиальная схема способа обнаружения.

Рис. 3 Принципиальная схема способа обнаружения. Расчет высоты дефекта . Для расчета рассматриваем схему годного изделия , если изделие не имеет рельефных дефектов, то есть идеальное ¿радиус изделия равен Я ( при рассмотрении тел вращения )

ш.

Если контролируемая деталь годная , то луч выходя из т. А попадет в т.Б под углом а , по отношению к нормали I ОС! проходящую через т. О, отражается и поступает в т.В. Но это если изделие идеальное.

Все дефекты можно условно подразделить на две группы: I группа -наплыв, наклеп, наслоение и т.д. , т. е. величина отклонения положительная; II группа - царапина, вмятина, риска, т.е. величина отклонения отрицательна.

и

Проделав все не сложные построения и расчеты можно определить величину отклоненя от эталона. Для I группы

Г --ал?-а+4/£<х ч

(фг/4 ЩИ-ШниУ 51П(аГСЗ!П(---------)-

£Я =

-игс^а)! б'ш«! 80° - агез'т(

а -г + 4/^а

-ягс?5( г^а) - дгсзт

\

г

_+а - агссоэ^ £/£')) Для II группы

-Л (12)

ЕР\-Я-

'5т(агсатС-^У4'** >-

(л/аг / 4 + (/Г + а )2 БШ^ш шп --—я—

а + + 4 .'да

-arcig{tga)- агсзт^

-их-агссс^ £/£'))

(13)

Математическая модель и з д е л и я. На основе расчета высоты дефекта, контролируемую деталь можно представить з 'виде двумерно!! матрицы, где М-число строк сканирования , к- число столбцов или частота модулирования уложенных в одну строку, а элементами этой матрицы будет радиус контролируемой детали, если это гело вращения, или "О" - если плоскость.

\аП а\2 - а\к\ /¡(А1 ,К) = \а1^ ап-у ...

Кй в«2 - апк\

(14)

отсюда мг?кно представить контролируемое изделие как совокупность трех матриц, А,В,С, гг»;

В(Ы,К)гА(КК)+11пиа (15)

т.е. В(><'.К) - максимально допустимое изделие;

С(К,К) = Л(МК)-!1т(а (16)

С(М.К) - минимальное допустимое изделие. Укрупнена» схнема контроля будет выглядеть так:

. С(1\,К)< 0(\'.КУ<В(М,К) (17)

где:Ц(К.Ю - матрица реального изделия .если условие выполняется, то изделие годное . Если нет То не годное. — ■

По этому уравнению можно получить графическую картину дефекта (рис.

9). ' • ■ :

Алгоритм расчета параметров п р и б о р а. .Исходные данные : режим работы ОЭУ: схема контроля: соотношение сигнал/шум; порог чувствительности устройства.

Задача - определить светоэнсргстические параметры устройства. Последовательность расчета:

1 Находим поток излучения от детали • -

АФ=цффпозу/хс'

2 .Расчет дальности действия

Л^ъа2/4;1=(хс1Авх/(р4,Фпту))ш . .

3 Диаметр входного зрачка

0-21 {\1ф Ф„0}у/(п хс 1))ш

4 Расчет параметров источника излучения

? = тс 1А„ /(Н Фт>у); 1= хе'А„ /(? \1ф Ф„ и>у) по силе излучения подбираем источник излучения.

5 Расчет параметров приемника излучения Ф= ЛфЛ„цхсМ(а)/(к1ф;)

где: М(а)- плотность излучения

6 Расчет производительности ~

.....' - -

где. и-время контроляДь-вспомогательное времяЛрк- расчет быстродействия электронной схемы.

Втретей главе сформулированы основные требования для

V

построения автоматической системы контроля рельефных дефектов поверхности изделий машиностроения:

1 Устройство должно работать в автоматическом режиме, т. е. процесс поштучной выдачи изделия . процесс контроля, выдача и обработка информации, удаление изделия после контроля должны производиться в автоматическом режиме;

2 Устройство должно иметь фотоэлектронную автоматическую систему съема информации:

3 Загрузочное устройство должно вмещать не менее 20 изделий;

4 Для получения необходимой точности контроля должна быть предусмотрена система стабилизации электрических, механических и температурных параметров прибора.

Функциональная схема устройства представлена на рис.4. Контролируемое изделие из механизмов загрузки попадает на транспортирующее устройство, которое транспортирует изделие в зону контроля. Из задающего генератора 1 - вырабатывающего прямоугольные импульсы, данные импульсы поступают на делитель 2, из делителя на усилитель 3 к которому подключена схема питания полупроводникового лазерного излучателя. ■ Отраженный - световой поток попадает на фотоприемник 5 , , подключенный к полосовому, фильтру 6, сигнал прошедший полосовой фильтр подается на вход амплитудного кампаратора 7 при срабатывании кампаратора 7 одновибратор 8 формирует сигнал исполнительного механизма !0.

Рис. 4 Функциональная схема устройства контроля.

Техническая характеристика

Производительность контроля, шт/мин..................................200

Установленная мощность электрооборудования, 60 Вт.......0,3

Число установочных призм....................................................... 2

Емкость магазина заготовок......................................................20

Сортировка на групп! • качества................................................ 2

Габаритные размеры Г............................................ 290 х 290 х 200

Масса, кг..........................—......................................................... 2

В четвертой главе приведены результаты испытаний экспериментального устройства контроля. Были проведены эксперименты по определению оптималыюго угла падения и отражения, дефектов поверхности, подтверждение теоретических выкладок по модуляции луча.

На АО "завод Сверл" были проведены производственные испытания автоматического устройства . Результаты испытаний по определении-дефекта представлены на рис. 5 и 6 по ним построены зависимости T=f(P),T=f(a)=f(y) представленный на рис.8

Эксперименты показали, что модуляция сигнала повышает отношение сигнал/шум в 23 раза, т. е. при модулированном потоке достоверность определения повышается и на результат меньше всего влияет перемена яркости объекта, что так же повышает достоверность определения. .

Так же были проведены расчет времени контроля в зависимости от скоростй вращения и количества фотоприемников . На рис 7 представлен график , построеный по результатам эксперимента.

Ка основании экспериментов было доказано . что применение нескольких фотоприемников , не дает существенного выигрыша во времени, ото приводит к усложнению конструкции и увеличению времени настройки-

Рис.6 Осцилограмма детали № 8

П ОБОМНИ.

(1е1=3

2000

1

МКС.

0.1 0.2 0.3 0.4 0.5

Рис.7 Время контроля.

10 30 50 70 20 40 60

угол

о

Рис.8

поверхность

частота сканирования

поверхность

О-0.05-5.55Е-17 В -0,1-0.05

0-0,15—0,1

• □-0.2--0.15 -Б -0.25-0,2 ■ б -0,3-0,25 • .

. ч .;. . Рис 9. Графическое представление дефекта.

Основные результатм и выводы диссертации.

1 На основании анализа- существующих »методов контроля рельефных дефектов поверхности был разработай новый оптикоэлектронный метод, как ■ наиболее полно отвечающий всем требованиям промышленности.'

2 Разработана математическая модель способа, контроля , не зависящий от масеогеометрических и режимных параметров, на основании которой было составлены алгоритмы расчетов, плзполяющих в зависимости от параметров и-требуемой точности рассчитать светоэнергетические параметры устройства, что дает"возможность решить вопрос серийного -проектирования автоматических-' устройств применительно к любым изделиям. ■ - ,

3 Составлена математическая модель изделил сформированы оснс-виь е требования и лриицклы построениг. автоматической системы контроля.

4 Разработан и изготоаяе^ опытный образец автоматического устройства определен!«! рельефных дефектов изделии машиностроения , прошедший лабораторные и промышленные испытания на конкретньгх изделиях и была доказана его работоспособность.

5 Азтоматическо? устройство^-- рекомендуется - использовать ; в<-автоматических лпниях, сборочных автоматах. Применение его в значительной степени решает проблему создали:! высокоточных машин, и приборов. .

Список публикаций, з которых изложены основные положения диссертации. • ,

I. Муслимой А:П., Джалбиев Э.А.Разработка автомата-контроля наличия фаски/ Кыргыз.НИИНТИ; Информационный листок, № 70 (6025); Серия , 59.45:55. Г3.85; Бишкек, 1992:

2. Муслимов А.П., Джалбисв Э.А. Разработка автомата контроля качества поверхности: Сб. науч. трудов "Статика и динамика упрогопластических сред."/ КАСИ. Бишкек, 1994.

3. Муслимов А.П. , Джалбиез Э.А. Способ обнаружения поверхностных" дефектов на изделиях типа тел вращения. ./ Кыргьв НИИНТИ: РНТБ: Депонир. рукопись. Бишкек, 1996.6с.№ деп.1030

4. Джалбиев Э.А. Разработка автоматического устройства определения рельефа поверхности контролируемого изделия. ./ Кыргьп НИИНТИ'. РНТБ; Депонир. рукопись! Бишкек, 1996. Зс.Хя деп.1031

5. Джалбиев Э.А. Расчет высоты рельефа поверхности для изделий типа тел вращения./Кыргыз НИИНТИ: РНТБ; Депонир. рукопись. Бишкек, 1996. 5с.№ деп.1032

6. Муслимов А.П., Джалбиев Э.А. Способ определения дефектов на • поверхности изделий./ Кыргызпатент, № приоритета 950206.1, Бишкек.

1996. . °

»

7. Муслимоа А.П., Джалбиев Э.А. Способ обнаружения поверхностных

- дефектов ка изделиях типа тел вращения.- ./ Кыргызпатент, • приоритета 950207. Ц Бишкек. 1996.

АШ-ЮТАЦИЛ.

Данная работа посвящена решению актуальной проблемы - определению рельефных дефектов' поверхности, изделий машиностроения '.'и автоматизации процесса контроля. В ходе 'работы проведен обзор материала по данной проблеме. На основе данного обзора был разработан новый способ обнаружения рельефных дефектов, успешно решены теоретические вопросы : разработана математическая модель процесса контроля и изделия; создан алгоритм расчета устройства с помощью которого решены вопросы создания экспериментального устройства. Данное устройство был создан и испытан, результаты испытаний доказывают работоспособность данного устройства.

ABSTRACT

This work is dedreated To the solving on actual problem - revealing the surface roughness on products oí machine - building and automated control. During the

work a resrew of materials on this problem has been made. On its base a new method of revealing roughnesses has been developed and theory problems have been successfully solved. A mathematical model of control and product has been developed. A calculation of device algonth for on experimenta! one has been created. The deuce has been created and tested, the testing results prove its workability.

KMCKA AilTLIi".

By.i -).\tref: MawiiHa Kvpvy »raw a KOHipoJxnoo npoiieccepjciH aBTOTauiTwpyyjarbi rcTHKTepjjm óerryK Ke.wTHKTepHH aKburToonyit aKTyya.xryy npoóne.MacbiHbiH HeiHiuiiMMHe apH-xnanbiM. Hutthh jKypyiuya KapajiraH npoóne.Ma SoioH'ta •/KLiHtiHTbni 'Maa.ibiMarbi 6epn.ireH. BepunreH /KbifibiHTbiK MaajibtMaTTíjiH Hern3itHe ; TentKTepjHH 6errnK Ke.wTHKTepyH oofikooHyn >KaH=T t,!ic?.in.iapi>i rr^irzTi'.n [iwk.-:?.h: TeopHHaMK Mce,iep ¡ninnisKTyy He'ntnreH: KOHipo.uoo npoueccn xana TeTmcrepaiiH MaTeMaTiiKajiwK woae.-fii niuTejmn hl-ikk&h. 3;-cnepiiMeHTaJibjbiK lysyn-'UT}1 Kvpvv MacaaeciiH nene Typraii oc^titoo anrepiiTMacu n:iiTe;n::! 'ibiKK-aH. Eyji Tysy.Tym ^aca^iran »cana cbntooao otkoh. Cbinoonyn KbiiiwirrbiKTapbi Gepr.jircH Ty3yjiyuiTyn mujtoo >raHTaMayy;iyryH aaanaaeiiT.

l>