автореферат диссертации по приборостроению, метрологии и информационно-измерительным приборам и системам, 05.11.13, диссертация на тему:Оптический блок малогабаритного спектроанализатора для контроля конструкционных сталей

Введение

1. Состав конструкционных сталей и обзор 14 спектральных приборов для его анализа

1.1. Влияние примесей на механические характеристики 14 конструкционных материалов

1.2. Обзор последних разработок приборов для 16 спектрального анализа

2. Обоснование требований к аппаратуре для контроля 33 конструкционных сталей

2.1. Малогабаритный автоматизированный спектрограф 33 «Сириус»

2.2. К вопросу юстировки спектрографа

2.3. Выбор совокупности спектральных линий для анализа 42 конструкционных сталей

2.3.1. Градуировка спектрографа

2.3.2. Расшифровка полученных спектрограмм эталонов

3. Разработка оптической схемы малогабаритного 68 спектроанализатора

3.1. Габаритный расчет оптической схемы

3.2. Расчет параметров голографирования

3.2.1. Запись сферической решетки в гомоцентрических 77 пучках

3.2.2. Тороидальная дифракционная решетка

3.3. Параметры голографирования в негомоцентрических 87 пучках

3.3.1. Параметры голографирования дифракционной решетки с коррекцией дефокусировки, астигматизма, меридиональной и сагиттальной комы и сферической аберрации 3-го порядка

3.3.2. Методика расчета параметров голографирования дифракционной решетки с коррекцией дефокусировки, астигматизма и меридиональной и сагиттальной комы

3.4. Допуски на параметры голографирования

4. Разработка схем записи дифракционной решетки

4.1. Оптические схемы записи ВГДР с коррекцией 111 дефокусировки, астигматизма, меридиональной и сагиттальной комы и сферической аберрации 3-го порядка

4.2. Оптические схемы записи ВГДР с коррекцией 119 дефокусировки, астигматизма и меридиональной и сагиттальной комы

4.3. Математическое моделирование и оценка качества 125 спектра

5. Экспериментальные исследования 143 Заключение

Спектральные приборы широко применяются для контроля материалов и изделий в различных областях науки и техники. Как правило, это дорогостоящие стационарные комплексы, однако, существует большое количество задач, для решения которых требуются малогабаритные автоматизированные спектральные приборы, пригодные для максимального приближения измерений к цеховым, сертификационным, складским центрам контроля продукции. Особенно широка потребность в таких приборах в металлургии и металлообработке.

Однако оснащенность предприятий указанными приборами, тем более автоматизированными, крайне неудовлетворительна. Дооснащение промышленности за счет зарубежных аналогов из-за их высокой стоимости не является выходом, приемлемым в современных условиях. В свою очередь, отечественные разработки спектральных приборов, отвечающих новым требованиям, на предприятиях, традиционно выполняющих их серийный выпуск, не проводились [1].

С учетом вышеизложенного, исследование и разработка малогабаритного эмиссионного спектроанализатора для определения химического состава одного из основных материалов промышленности - конструкционных сталей - является весьма актуальной.

Анализ современных разработок отечественных спектральных приборов показал, что в конструкции малогабаритного автоматизированного спектрографа "Сириус" в значительной степени учтены современные тенденции в спектральном приборостроении: оптическая схема построена на вогнутых голограммных решетках с коррекцией аберраций, прибор имеет многоканальную электронную систему регистрации, основанную на фотодиодной линейке. Однако, несмотря на существенные достоинства указанный прибор не позволяет обеспечить обозначенную в работе задачу — анализ конструкционных сталей и сплавов, так как не обеспечивает выполнение измерений в необходимом спектральном диапазоне. С другой стороны, малогабаритный автоматизированный спектрограф «Сириус» следует рассматривать как базовый прототип, в котором отработаны необходимые элементы технологического обеспечения его производства в заводских условиях.

Целью настоящей работы является создание оптического блока спектроанализатора для эмиссионного анализа конструкционных сталей на базе модернизации оптического блока спектрографа "Сириус".

Для достижения указанной цели требовалось решить следующие задачи:

1. Поиск на основе анализа литературных данных и экспериментальных исследований технических характеристик и наиболее перспективных направлений исследования по созданию спектроанализатора;

2. Анализ существующих оптических схем и поиск наиболее перспективных для применения в оптическом блоке спектроанализатора для контроля конструкционных сталей;

3. Разработка новых способов записи дифракционной решетки в соответствии с оптической схемой спектроанализатора для контроля конструкционных сталей;

4. Математическое моделирование и оценка качества спектра разработанного оптического блока спектроанализатора;

5. Разработка и построение экспериментального макета малогабаритного спектроанализатора для контроля сталей и сплавов.

Научная новизна работы:

1. Критерий отбора совокупности спектральных линий для идентификации сортов конструкционных сталей, применительно к задаче создания специализированного малогабаритного спектроанализатора;

2. Результаты исследований оптической схемы спектрографа на основе вогнутой голограммной дифракционной решетки (ВГДР), записанной в негомоцентрических пучках;

3. Математическая модель и результаты исследования вогнутой голограммной дифракционной решетки, обеспечивающей в схеме спектрографа минимизацию дефокусировки, астигматизма и меридиональной и сагиттальной комы;

4. Новые способы записи вогнутых голограммных дифракционных решеток.

Практическая ценность работы определяется следующими результатами:

1. Экспериментальные исследования на макете с многоканальной регистрацией спектра показали возможность проведения количественного анализа конструкционных сталей;

2. Расшифрованную спектрограмму железа в диапазоне 272-333 нм и методику калибровки прибора на базе спектрограммы железа можно использовать для работы на спектрографе "Сириус";

3. Предложенная методика расчета параметров голографирования вогнутой голограммной дифракционной решетки, обеспечивающих в схеме спектрографа минимизацию дефокусировки, астигматизма и меридиональной и сагиттальной комы, позволяет реализовать условия получения максимальной дифракционной эффективности в рабочем спектральном диапазоне;

4. Полученные выражения для определения параметров голографирования для симметричной схемы записи, позволяют реализовать более технологичную схему записи;

5. Предложен метод юстировки спектрографа с многоканальной фотоэлектрической регистрацией спектра;

6. Реализация разработки позволит создать промышленный образец малогабаритного и сравнительно дешевого спектроанализатора для массового анализа конструкционных сталей.

Основные положения и результаты, выносимые на защиту.

1. Критерии отбора совокупности спектральных линий для идентификации сортов конструкционных сталей;

2. Оптические схемы записи вогнутой голограммной дифракционной решетки в негомоцентрических пучках на основе дифракционных решеток и вогнутых зеркал.

3. Алгоритм расчета параметров голографирования, обеспечивающий коррекцию дефокусировки, астигматизма и меридиональной и сагиттальной комы и позволяющий при дополнительном параметре реализовать условия получения максимальной дифракционной эффективности в рабочем спектральном диапазоне.

4. Соотношения для определения параметров голографирования для симметричной схемы записи.

Апробация работы.

Основные результаты работы докладывались на V Международной конференции «Прикладная оптика» (Санкт-Петербург-2002), на ВУЗовских конференциях и на кафедре оптико-электронных систем Казанского государственного технического университета.

Личный вклад.

Все результаты, изложенные в настоящей работе, получены лично автором.

Публикации.

По материалам диссертации опубликовано 11 печатных работ, в том числе 1 патент РФ, 2 статьи в журнале «Вестник Казанского государственного технического университета им. А.Н. Туполева», 1 публикация тезисов доклада в сборнике трудов Международной конференции и 6 публикаций тезисов докладов из которых 5 на Всероссийских конференциях и 2 на Международных конференциях.

В первой главе представлен обзор публикаций, посвященных приборам для спектрального анализа.

В разделе 1.1 на основе литературных данных определены химические элементы, наличие (или отсутствие) которых необходимо контролировать для обеспечения требуемых механических характеристик конструкционных материалов: углерода, кремния, марганца, хрома, никеля, меди, молибдена, ванадия, титана, бора и кобальта.

В разделе 1.2. показано, что наибольшее число оптических схем приборов для проведения эмиссионного спектрального анализа являются спектрографами на основе вогнутых голограммных дифракционных решетках с коррекцией аберраций.

Большинство фирм, занимающихся разработкой спектральной аппаратуры, выпускают приборы с многоканальной системой регистрации. В качестве приемников излучения в таких приборах используют фотодиодные и/или ПЗС линейки. Разрабатываемые приборы представляют собой спектроаналитические комплексы, в состав которых входят источник излучения, осветительная система, спектральный блок и многоканальная система регистрации. Приборы управляются персональными компьютерами или встроенными процессорами, ими же осуществляется сбор и обработка информации.

В течение длительного времени развитию аналитического приборостроения в нашей стране не уделялось должного внимания. По данным на 1992г. потребность в таких приборах в России удовлетворена на 25%, а объем выпускаемой у нас оптико-спектральной аппаратуры составлял всего 4-5% мирового выпуска.

Наиболее подходящим по техническим характеристикам является малогабаритный автоматизированный спектрограф «Сириус», но ни одна из сменных дифракционных решеток не обеспечивает спектрального диапазона, требуемого для анализа конструкционных сталей и сплавов. Поэтому требуется разработка оптического блока спектроанализатора для эмиссионного анализа конструкционных сталей на базе модернизации оптического блока спектрографа «Сириус».

Вторая глава посвящена выработке технических требований к прибору для проведения количественного анализа образцов стали.

В разделе 2.1 рассмотрена оптическая схема прибора для проведения экспериментов и его характеристики. Эксперименты проводились на малогабаритном автоматизированном спектрографе «Сириус». В состав спектрографа входят: спектральный блок, блок излучения, станина, конденсор с диафрагмой, генератор дуги, персональный компьютер. Прибор оснащен фотоэлектрической системой регистрации с использованием фотодиодной линейки длиной 29 мм (2048 элементов, размер элемента 0,014x0,15 мм).

В разделе 2.2 описан ход эксперимента, определены оптимальные для данной задачи параметры работы прибора. Проведена градуировка спектрографа в диапазоне 245-335 нм. Для экспериментальных исследований использовался комплект эталонов для спектрального анализа сплава на железной основе марки Н29К18. Проведена расшифровка полученных спектрограмм эталонных образцов. Спецификой приборов с многоканальной фотоэлектрической регистрацией является то, что все анализируемые линии должны одновременно присутствовать в сравнительно небольшом спектральном диапазоне. Поэтому необходимо было провести анализ спектральных линий примесей, находящиеся в исследуемом диапазоне, для определения возможности их использования наряду с рекомендованными в литературе. Предложена новая совокупность спектральных линий для идентификации сортов конструкционных сталей.

Так как высота фото диодной линейки составляет 0,15 мм, очень важна взаимная ориентация изображения спектра и фотодиодной линейки. Для юстировки оптического блока предложено использовать метод определения линейных и угловой координат объекта по однострочному сканированию.

Экспериментальные исследования показали, что оптический блок спектроанализатора для проведения анализа наиболее распространенных конструкционных материалов должен иметь следующие оптические характеристики: относительное отверстие 1:10, спектральный диапазон работы 245-3 35нм, спектральный предел разрешения 0,06 нм, обратная линейная дисперсия «2 нм/мм, радиус дифракционной решетки 200 мм.

В третьей главе проведен анализ существующих оптических схем и показано, что наиболее перспективна оптическая схема спектрального прибора, построенного на вогнутой голограммной дифракционной решетке с коррекцией аберраций.

В разделе 3.1 приведены результаты разработки оптической схемы по методу расчета оптической схемы спектрографа с расширенным спектральным диапазоном.

В разделе 3.2 из условий корректировки дефокусировки, астигматизма и меридиональной комы, определены параметры голографирования для схемы записи в гомоцентрических пучках. Проведен аберрационный расчет спектрографа с такой решеткой. В меридиональном сечении аберрации скомпенсированы, однако величина сагиттальной комы недопустимо велика.

Рассмотрен случай применения тороидальной подложки в разработанной оптической схеме. В этом случае сагиттальная кома полностью скомпенсирована для средней длины волны и имеет маленькие значения по всему спектральному диапазону, но астигматизм на краях спектрального диапазона почти на порядок больше, чем соответствующие значения в схеме с решеткой на сферической подложке.

В разделе 3.3 определены параметры записи решетки в негомоцентрических пучках, позволяющие скорректировать дефокусировку, астигматизм, меридиональную и сагиттальную комы и сферическую аберрацию 3-го порядка и проведен аберрационный расчет спектрографа на основе дифракционной решетки, записанной в негомоцентрических пучках. Рассмотрены случаи фокусировки на участке цилиндрической поверхности и двух фото диодных линейках. В сагиттальном сечении значения аберрации 5у' в плоскости дисперсии практически равны нулю, а в меридиональном сечении для максимальной апертуры не превышают 0,037 мм (при использовании двух фотодиодных линеек).

Предложена методика расчета, при которой корректируются дефокусировка, астигматизм и меридиональная и сагиттальная комы. В этом случае появляется возможность задавать произвольное значение угла голографирования 12. Это позволяет определять значение этого угла из условия получения максимальной дифракционной эффективности в рабочем спектральном диапазоне.

Получены соотношения для определения параметров голографирования, обеспечивающих в схеме спектрографа коррекцию дефокусировки, астигматизма и меридиональной и сагиттальной комы:

Задавая углы голографирования равными друг другу, получаем более технологичную симметричную схему записи. В этом случае в выражениях для коэффициентов голографирования имеем: // =//2/=/. Получены соотношения для определения параметров голографирования в симметричной схеме, имеющие более простой вид, что способствует ускорению инженерных расчетов. Определены параметры записи, проведен аберрационный расчет оптической схемы спектрографа с дифракционной решеткой, записанной в симметричной схеме. Результаты аберрационного расчета оптической схемы спектрографа с дифракционной решеткой, записанной по симметричной схеме практически совпадают с соответствующими аберрациями схемы с решеткой, дающей коррекцию и сферической аберрации.

В разделе 3.4 определены допуски на параметры голографирования.

Глава 4 посвящена разработке оптических схем записи и оценке качества спектра.

С целью расширения технологических возможностей в разделах 4.1 и.4.2 разработано по три варианта схем записи для ВГДР с коррекцией дефокусировки, астигматизма, меридиональной и сагиттальной комы и сферической аберрации 3-го порядка и для ВГДР с коррекцией дефокусировки, астигматизма, меридиональной и сагиттальной комы: с помощью вогнутых зеркал, работающих в наклонном пучке; с помощью дифракционных решеток; с помощью вогнутых зеркал, работающих на круге Роуланда.

Определены параметры схем записи (осветителей) из условия создания требуемой негомоцентричности. Показано, что аберрации осветителей обеих схем записи ВГДР укладываются в допуски на параметры голографирования.

В разделе 4.3 проведена оценка качества изображения методом расчета аппаратных функций (АФ). Расчет АФ проводился для ширины щели 0,015 мм с помощью автоматизированной программы расчета, позволяющей учесть аберрации схемы записи в схеме спектрального прибора. Показано, что в случае использования ВГДР, записанной в негомоцентрических пучках, при регистрации спектра на участке цилиндрической поверхности ширина АФ (b' ) для зеркальных схем записи во всем рабочем диапазоне не превышает 0,012 мм, что соответствует пределу разрешения ¿>Я<0,030 нм, а для схем записи с дифракционными решетками - Ъ '<0,021мм {8Х-0,052 нм). При регистрации спектра на двух фотодиодных линейках ширина АФ ¿'<0,024 мм (SÄ<0,06 нм). Показано, что при записи ВГДР в гомоцентрических пучках предел разрешения ниже более чем в два раза.

В пятой главе приведена функциональная и оптическая схемы разработанного прибора, описан макет спектроанализатора. Проведены экспериментальные исследования, в ходе которых определялось количественное содержание кобальта в эталонном образце сплава на железной основе. Относительная точность составила 0,76%.

В заключении обобщены основные результаты работы.

ОСНОВНЫЕ ВЫВОДЫ И РЕЗУЛЬТАТЫ РАБОТЫ

1. Показана необходимость создания отечественных приборов для контроля химического состава конструкционных сталей, формализованы требования к спектроанализатору и определены пути реализации прибора;

2. На базе общих требований к прибору и анализа существующих оптических схем показано, что требования к спектроанализатору могут быть удовлетворены наиболее перспективно в оптическом блоке на основе вогнутых голограммных дифракционных решеток. Характеристики оптической схемы следующие: диапазон работы 245-335нм, частота дифракционной решетки 2000 мм"1, радиус дифракционной решетки 200 мм, спектральный предел разрешения 0,06 нм;

3. На базе анализа коррекционных возможностей вогнутых голограммных дифракционных решеток показана необходимость записи решетки в негомоцентрических пучках и разработаны схемы записи вогнутых голограммных дифракционных решеток, основанные на дифракционных решетках и вогнутых зеркалах;

4. Математическое моделирование оптической схемы показало, что она удовлетворяет поставленным задачам (спектральный предел разрешения ¿>1<0,030 нм);

5. Показано, что модернизация оптического блока малогабаритного спектрографа "Сириус" позволяет создать малогабаритный спектроанализатор и осуществить его серийный выпуск.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ.

1. Золотов Ю.А. Аналитическая химия в начале века. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов 2002. - №1 - т.68 - С. 14-21.

2. Справочник изобретателя и рационализатора. Н.А.Аникин, Н.И.Дробышевская, В.А.Дудинов, А.С.Коньков, Г.М.Поляков. Машгиз,1958 564с.

3. Приданцев М.В., Давыдова Л.Н., Тамарина И.А. Конструкционные стали (справочник) М., «Металлургия» , 1980, 288с.

4. Конструкционные материалы: Справочник. под ред. Арзамасова Б.Н. - М: Машиностроение, 1990 -688с.

5. Марочник сталей и сплавов под ред. Сорокина Г.М. М: Машиностроение, 1989-640с.

6. Лахтин Ю.М., Леонтьева В.П. Материаловедение: Учебник для машиностроительных вузов 2-е изд., перераб. и доп.-М.¡Машиностроение - 1980.-493с.

7. Мягков В.Д. Краткий справочник конструктора: Машгиз, Москва 1962, -543с.

8. Технология металлов и других конструкционных материалов. Под ред. проф. Н.П.Дубинина Издательство «Высшая школа», Москва, 1969-531с.

9. П. Янч. Атомно-эмиссионные спектрографы фирмы ARL для высокоточного анализа при сертификации контроле качестваметаллов и сплавов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 1998. -т. 64. - №3. - С. 73-80.13.http:/www.arl.ru14.http:/www.zeiss.ru

10. А.Е. Каменщиков, B.B. Подшивалов. Оборудование компании «ИНТЕРТЕК» в аналитическом контроле промышленного производства // XIII Уральская конференция по спектроскопии, г. Заречный. 2-4 апреля 1997г. Тезисы докладов.

11. Новое поколение приборов фирмы LECO шаг в XXI век. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов - 2002. - №1 - т.68 -С.127-133.26.http:/www. leco.ru

12. М.Н. Коваленко, А.П. Зажогин, В.А. Чекан и др. Применение атомно-эмиссионного спектрометра «ЭМАС-200Д» в многоэлементном анализе металлов и сплавов // Заводскаялаборатория. Диагностика материалов. 1999. - т. 64. - №4. - С. 24-26.

13. ЗАО "Спектральная лаборатория", г. Санкт-Петербург, каталог на июнь 1999г.

14. Я.Н. Тумаркин. Приборы спектрального анализа для различных отраслей промышленности // XIV Уральская конференция по спектроскопии, г. Заречный. 14-16 сентября 1999 г. Тезисы докладов. С. 233-234.

15. Гаранин В.Г., Шелпакова И.Р. О погрешностях регистрации и обработки спектров эмиссии многоканальных анализаторов эмиссионных спектров // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 1998. - т. 64. - №9. - С. 23-25.

16. Павлычева Н.К. Кит И.Е. Спектрограф для спектрального анализа в геологии // ОМП. 1988. - №6. - С.27-29.

17. Зб.Павлычева Н.К., Кит И.Е. Новый спектрограф для спектрального анализа в геологии // XX Всесоюзный съезд по спектроскопии: Тез.докл. 42. Киев, 1988. - С.432.

18. Чумакова H.JI., Куклин Е.А. Возможности анализатора спектров «Пульсар 7000» в многоэлементном атомно-эмиссионном анализе с дуговым источником излучения // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 1996. - №9. - С. 30-31.

19. Н.К. Павлычева. С.Ф. Горбачев, А.П. Демин, И.Е. Кит. Малогабаритный светосильный спектрометр на область спектра 200.1300 нм // Оптический журнал, -т.64. №8. - 1997, С. 49-51.

20. Спектрограф. Патент 1742634 , 1993 / Павлычева Н.К., Кит И.Е. (РФ).

21. Palycheva N. New compact high-numerical aperture spectrograph // "Photonics-95": EOS annual meetings digest series V. 2B. Prague, 1995.-P. 677-680.

22. Павлычева H.K. Спектральные приборы с неклассическими дифракционными решетками // Автореф. докт. дис. Спб: ИТМОД997.

23. Патяшина И.Г. Применение спектральной аппаратуры с многоканальной фотоэлектрической регистрацией в промышленности. // XXIV Всероссийская молодежная научная конференция «Гагаринские чтения» Тезисы докладов -1998г. -Москва.

24. Патяшина И.Г. Применение спектральных приборов с многоканальной системой регистрации. // VIII Всероссийские Туполевские чтения студентов Тезисы докладов - 1998 г. Казань. — с. 101.

25. Патяшина И.Г. Применение спектральных приборов с многоканальной системой регистрации для определения состава конструкционных материалов, XXV Международная молодежная научная конференция «Гагаринские чтения» Тезисы докладов -1999г. - Москва - с.807-808.

26. Буров А.Н. Золотов Ю.А. Состояние аналитического приборостроения // Журнал аналитической химии. 1992. - т.47. -Вып. 12. - С.2072-2086.

27. Исследование малогабаритного светосильного автоматизированного спектрографа «Сириус»: Методические указания по выполнению лабораторной работы. Казанский государственный технический университет; Составитель Н.К. Павлычева. Казань, 1998г., 8с.

28. Кустанович И.М., Спектральный анализ, "Высшая школа", Москва, 1982 г 400с.

29. Королев Н.В., Рюхин В.В., Горбунов С.А., Эмиссионный спектральный микроанализ, "Машиностроение", Ленинград, 1971 г -275с.50.3айдель А.Н., Прокофьев В.К., Райский С.М., Шрейдер Е.Я., Таблицы спектральных линий, М., Физматгиз, 1962г., 607с.

30. Терек Т., Мика Й., Гегуш Э., Эмиссионный спектральный анализ, "Мир", Москва, 1982 г., ч.1,2.

31. Белькевич Я.П. Руководство по спектральному анализу металлов. Судпромгиз, 1950г 205с.

32. Нагибина И.М., Михайловский Ю.К. Фотографические и фотоэлектрические спектральные приборы и техника эмиссионной спектроскопии, "Высшая школа", Москва, 1982 г 263с.

33. Фишман И.С. Методы количественного спектрального анализа, Изд-во Казанского университета, 1961 г — 178с.

34. Д.О. Горелик, Л.А. Конопелько, Э.Д. Панков Экологический мониторинг. Оптико-электронные приборы и системы. Учебник в 2-х томах, т.2.- Спб. 1998. - 592с.

35. Карпов Ю.А., Майоров И.А., Филимонов Л.Н. // Метрологические проблемы сертификации партий веществ и материалов по химическому составу // Заводская лаборатория. Диагностика материалов 2001. - №2 - т.67 - С.23-27.

36. Гмурман В.Е. Теория вероятностей и математическая статистика. Учебное пособие для втузов. Изд. 5-е, перераб. и доп. М., «Высшая школа», 1977.-479с.

37. Вендеревская И.Г. Разработка малогабаритного спектрографа для анализа конструкционных материалов. Сборник трудов V Международной конференции «Прикладная оптика», 2002г. - тЛ. -С.147.

38. Вендеревская И.Г. Разработка спектрографа для анализа конструкционных материалов, X Всероссийские Туполевские чтения студентов, Тезисы докладов - 2002 г. - Казань. - С.191.

39. Павлычева Н.К. Применение неклассических дифракционных решеток в оптических схемах спектрографов в плоской поверхностью изображения: Дис. на соискание ученой степени кандидата технических наук. Казань, 1980. - 165с.

40. Павлычева Н.К. Расчет спектрографа с плоским полем на основе голограммной решетки // ОМП. 1979. - №7 - С. 15-16.

41. Нагулин Ю.С., Павлычева Н.К. Методы расчета оптических схем спектрографов с неклассическими решетками // Всесоюзный семинар по теории и расчету оптических систем: Сб. матер. -Ленинград, 1983. С. 171-175.

42. Нагулин Ю.С., Павлычева Н.К. Спекрограф со средней дисперсией для области спектра нм с голограммной решеткой IV типа // III Всесоюзная конференция по голографии: Тез. докл. - Ульяновск, 1978. - С.93-94.

43. Павлычева Н.К. Спектрографы с вогнутыми голограммными дифракционными решетками // 4-я Всесоюзная конференция по голографии: Сб. трудов. Ереван, 1982. - TII.

44. Павлычева Н.К. Методы расчета оптических схем дифракционных спектрографов: научно-техн. сб. / НПО ГИПО. Казань, 1997. Ч. 2. С.587-614.

45. Пейсахсон И.В. Оптика спектральных приборов. Л.: Машиностроение, 1975. - 312 с.

46. Noda Н., Namioka T.,Seya М. Geometric theory of the gratings // JOSA.- 1974.- Vol.62. №8.-P.1031-1042.

47. Noda H., Namioka T.,Seya M. Design of holographic concave gratings //JOSA. 1974. -Vol.62. - №8.-P. 1043-1048.

48. Noda H., Namioka T.,Seya M. . Posibility of using the holographic concave gratings in vacuum monochromators // Science of Light. -1973. Vol.22. - №1. - P.77-79.

49. Hay at G.S. Flamand J. Lacroix M., Grillo A. Designing a new generation of analytical instruments around the new types of holographic diffraction grating// Optical Engeneering. 1975. - Vol.14. - №5. - P.420-425.1. ЛSi

50. Тарасов К.И. Спектральные приборы. Д.: Машиностроение, 1977 -368с.

51. И.В. Скоков Оптические спектральные приборы. / М. «Машиностроение».-1984,- 240 с.

52. Балясникова Л.Г., Нагулин Ю.С., Павлычева Н.К. и др. Аберрации спектрографов скользящего падения со сферическими и тороидальными голограммными решетками // Оптика и спектроскопия 1984. - т.56 - С. 1117-1120.

53. Nazmeev М., Pavlycheva N. New generation spectrographs // Optical Engineering .1994. Vol. 33. P. 2777-2782.

54. Нагулин Ю.С., Павлычева Н.К. Светосильный спектрограф с вогнутой голографической дифракционной решеткой // ОМП. -1982.-№5.-с. 20-31.

55. Palmer С. Theory of second-generation holographic diffraction gratings //J. Opt. Soc. Amer. -1989. -V0I.A6. -№8. -P.l 175-1178.

56. Павлычева H.K., Вендеревская И.Г. Голограммные дифракционные решетки 2-го и 3-го поколений в схеме спектрографа с плоским полем // Вестник-2001. -№1 С.28-31.

57. Duban М. Third generation Rowland holographic mounting // Appl. Opt. 1991. - Vol. 30. - № 28. - P. 4019-4025; Appl. Opt. - 1999. - Vol. 38. -№ 16. - P. 3443-3449.

58. Любимов А.И. Разработка и исследование оптических мтодов создания и характеристик концентрирующих рельефно-фазовых голограммных структур // Автореф. канд. дис. Казань: КГУ, 2002.

59. Павлычева Н.К. Голограмные дифракционные решетки 2-го и 3-го поколений в спектрографах Роуланда // Оптический журнал-2002. -№4.-С.69-74.

60. Пейсахсон И.В. Оптика спектральных приборов на рубеже столетий // Оптический журнал 2002г. - №1 - т.69. - С.21-35.

61. Вендеревская И.Г. Разработка спектрографа для анализа конструкционных материалов // Вестник 2002. - №4.

62. Определение линейных и угловой координат объекта по однострочному сканированию. Патент РФ №2117242, 1997 / Рожин В.В., Патяшина И.Г.

63. Патяшина И.Г. Определение линейных и угловой координат объекта по однострочному сканированию, VII Всероссийские Туполевские чтения студентов. Тезисы докладов. - 1996. -Казань - С.116.

64. Любимов А.И. Разработка и исследование оптических мтодов создания и характеристик концентрирующих рельефно-фазовых голограммных структур: Дис. на соискание ученой степени кандидата физ.-мат. наук. Казань, 2002. - С. 18-29.

65. Лебедева В.В. Техника оптической спектроскопии. 2-е изд., перераб. и доп. - М.: изд-во МГУ, 1986. - 352с.

66. Радиусы сферических поверхностей оптических деталей. Ряды числовых значений ГОСТ 1807-75, М.,1976. 17с.

67. Гвоздева Н.П., Коркина К.И. Прикладная оптика и оптические измерения / Москва, Машиностроение. 1976. - С.219-224.

68. Бегунов Б.Н. Геометрическая оптика / Изд-во МГУ. 1966. - С. 175183.

69. Патяшина И.Г. Спектроанализатор на основе вогнутой дифракционной решетки для определения химического состава конструкционных материалов // XXVI Международная молодежная научная конференция «Гагаринские чтения» Тезисы докладов -2000г. - Москва. - С.456.

70. В результате улучшены светотехнические и аберрационные характеристики разрабатываемых ФГУП НПО ГИПО приборов. Показано, в частности, что при данных габаритах прибора, возможно улучшить линейное разрешение в 1,5 раза.

71. КГТУ им. А.Н. Туполева ФГУП НПО ГРяков Ю.М. Нач. отдела 28:1. Вед.Н.С.^1. Начальник НТ1

72. Лукин А.В. Саттаров Ф.А. уЛ Селезнев В.А.1. АКТоб использовании результатов диссертационной работы Вендеревской И.Г. «Оптический блок малогабаритного спектроанализатора для контроля конструкционных сталей».v'

73. КГТУ им. А.Н. Туполева исаф^ШС1. Беляков Ю.М.

74. Начальник лаборатории экологии Фомичева Л.П.