автореферат диссертации по информатике, вычислительной технике и управлению, 05.13.01, диссертация на тему:Разработка, исследование и оптимизация средств автоматизированной диагностики материалов спектральным методом анализа

Введение.

Глава 1. Исследование методов и средств атомно-эмиссионного спектрального анализа.

1.1 Назначение метода, его цели и задачи.

1.2 Методы практического определения содержания элементов.

1.2.1 Фотографический метод исследования.

1.2.2 Фотоэлектрический метод исследования.

1.3 Методы расчета погрешностей в спектральном анализе.

1.3.1 Оценка погрешностей при фотографическом методе.

1.3.2 Оценка погрешностей при фотоэлектрическом методе.

1.4 Построение автоматизированных измерительных систем.

1.4.1 Автоматизированные системы фотографического анализа.

1.4.2 Автоматизированные системы фотоэлектрического анализа.

1.5 Выводы.

Глава 2.Разработка и оптимизация физической модели атомноэмиссионного анализа.

2.1 Принципы построения модели.

2.1.1 Постановка задачи.

2.1.2 Исходные предпосылки.

2.2 Основные уравнения модели.

2.3 Формирование физической модели при фотографическом анализе

2.3.1 Вывод основных уравнений.

2.3.2 Принципы расчета процентного содержания элементов методом спектральной матрицы.

2.3.3 Графо-аналитический метод определения содержания элементов.

2.3.4 Модель аналитического расчета методом контрольного эталона.

2.4 Правила подбора аналитических пар.

2.5 Фотоэлектрический метод анализа.

2.5.1 Особенности фотоэлектрического анализа.

2.5.2 Основные уравнения.

2.5.3 Графоаналитический метод расчета.

2.6 Выводы.

Глава 3.Методологические принципы анализов с использованием виртуальных эталонов.

3.1 Особенности использования виртуальных эталонов.

3.2 Условия создания систем с виртуальными эталонами.

3.2.1 Сущность метода энергетической совместимости.

3.2.2 Метод многопараметровых функциональных зависимостей.

3.2.3 Разработка принципа энергетической совместимости.

3.3 Постановка задач дальнейших исследований.

3.4 Краткий обзор рассматриваемых методов.

3.5 Выводы.

Глава 4.Методики и программное обеспечение фотографического анализа

4.1 Теоретические основы метода.

4.2 Структура программного обеспечения метода одного эталона.

4.2.1 Режим контрольного эталона.

4.2.2 Состав базы данных.

4.3 Порядок работы в режиме контрольного эталона.

4.4 Сущность режимов программного анализа.

4.4.1 Графический режим расчета.

4.4.2 Аналитический режим расчета.

4.5 Методика выполнения количественных анализов.

4.5.1 Порядок выбора и правила пользования Стандартными Образцами

4.5.2 Порядок проведения анализов.

• 4.6 Совместимость виртуальных эталонов и Стандартных Образцов.

4.7 Разработка алгоритмов количественных анализов.

4.7.1 Алгоритм градуировки и корректирования.

4.7.2 Последовательность градуирования на примере хрома в литейном никеле ВЖЛ-12У.

4.7.3 Алгоритм выполнения текущих анализов.

4.7.4 Алгоритм использования Стандартных Образцов Предприятия.

4.8 Выводы.

Глава 5. Разработка способов совершенствования обработки результатов измерений.

5.1 Актуальность проблемы.

5.2 Теоретические основы метода обработки.

5.3 Алгоритм экспресс анализов для приближенных расчетов.

5.4 Алгоритм определения коэффициента возбуждения.

5.5 Экспериментальная проверка.

5.6 Разработка методики экспресс анализов для уточненных расчетов.

5.6.1 Структура программного обеспечения.

5.7 Порядок выполнения анализов.

5.7.1 Аналитический расчет.

5.7.2 Графический расчет.

5.8 Выводы.

Глава 6.Автоматизированный измерительно-вычислительный комплекс фотографического спектрального анализа.

6.1 Особенности организации аппаратной части комплекса.

6.2 Состав и работа программного обеспечения.

6.3 Определение положения спектральных линий.

6.4 Расчет динамической погрешности измерения.

6.5 Разработка электронной приставки к микрофотометрам.

6.6 Выводы. \' 'Г

Глава 7.Исследование и разработка методов анализа на основе матричных анализаторов cneicipa.

7.1 Физические основы и принцип действия агомно-эмиссионных матричных анализаторов спектра.

7.1.1 Постановка задачи.

7.1.2 Принцип действия мапричных анализаторов.

7.2 Принцип действия фотоэлектрических матричных анализаторов.

7.2.1 Особенности предлагаемой системы.

7.2.2 Порядок проведения анализов.

7.3 Принцип действия анализаторов на основе стилоскопов.

7.3.1 Постановка задачи исследования.

7.3.2 Порядок проведения анализов.

7.4 Принцип действия фотографических матричных анализаторов.

7.4.1 Особенности предлагаемой системы.

7.4.2 Порядок проведения анализов.

7.5 Методы решения проблемы входного контроля.

7.6 Принципы автоматизации матричных анализаторов.

7.7 Программное обеспечение для матричных анализаторов.

7.8 Выводы.

Глава 8.Разработка метрологических средств поверки спектрального анализа по государственным стандартным образцам.

8.1 Фотоэлектрическая система МАС-ДЛ.

8.1.1 Условия проведения испытаний.

8.1.2 Методика проведения поверки.

8.1.3 Результаты поверки.

8.2 Принципы метрологической поверки фотографического анализа.

8.2.1 Условия проведения испытаний.

8.2.2 Методика проведения расчетов:.

8.2.3 Полученные результаты.

8.3 Полученные результаты на установке ФОТОС-З М.

8.4 Выводы.

Актуальность диссертационного исследования. Современная коныок-тура рынка предъявляет принципиально новые требования к качеству выпускаемой продукции. Решение задач повышения качества изделий машиностроительной и металлургической промышленности зависит не только от совершенствования технологических процессов, степени их автоматизации и управления, но и от эффективности используемых методов анализа и контроля качества.

Традиционный подход к решению задач практического спектрального • анализа существенно ограничивает область его применения, т.к предусматривает возможность выполнения только количественных анализов компонентов материалов на основе использования комплектов Государственных Стандартных Образцов (ГСО). Это обуславливает трудоемкость процессов производственного контроля и приводит к снижению его производительности и экономической эффективности использования.

К числу важнейших характеристик, определяющих эффективность методов, является их чувствительность к контролируемому параметру, а также надежность регистрации этого параметра при использовании автоматизированных измерительно-вычислительных комплексов, задействованных в общем технологическом процессе производства готовой продукции. Это позволяет по* строить высокоэффективные средства количественного анализа.

С этой целью разработка и внедрение высокопроизводительных автоматизированных измерительно-вычислительные систем анализа и контроля качества с использованием современных информационных технологий является чрезвычайно актуальной задачей. В этом направлении наиболее значительная часть исследований посвящена разработкам информационных систем обработки и преобразования входных сигналов, создания средств управления автоматизированным анализом, совершенствования источников излучения, создания средств измерения и регистрации излучения, стабилизации по объему низко-Я температурной плазмы.

• В направлении совершенствования методического обеспечения следует отметать работы по созданию различных моделей, отображающих зависимость измеряемых параметров спектрального излучения, от количественного содержания элементов. Среди них можно выделить такие, как построение моделей на основе оптимальных и адекватных регрессионных градуировочных характеристик, статистические методы повышения точности выполняемых измерений, оптимизация количества используемых образцов.

Отдельные аспекты разработки методов измерения параметров, определяющих свойство материалов, исследовались в работах известных рос

• сийских и зарубежных ученых X. И. Зильберштейна, В. М. Воробейчика, В. Н. Иоффе, В. В. Недлера, I.A. Docker, И.М. Нагибиной, Д. Р. Мариотта, В.А. Трапезникова, Е.Я. Шрейдера, B.L. Taylor, Ю. М. Жуковского, Дж. Чемберберлейна, Т. Налицка, М. Harwitt, В. В. Белянина, А. Н. Зайделя, А. Г. Орлова, JI. Фолкенберри, В. М. Малышева и других. Их исследования и послужили методологической базой настоящей диссертационной работы.

Вместе с тем остается нераскрытым ряд вопросов, относящихся к разработке методов и средств создания моделей для обработки информации, предусматривающей минимальное использование стандартных образцов, а также разработке новых способов передачи изображений спектрограмм на входные узлы фотоприемников. Актуальность этого обусловливается поиском и разра

• боткой оптимальных средств дальнейшего повышения достоверности получаемой информации и решению качественно новых задач атомно-эмиссионного метода спектрального анализа.

Отличительной особенностью проведенных исследований является необходимость диалогового режима работы оператора с персональным компьютером при проведении текущих производственных анализов.

Целью диссертационного исследования является; - разработка и совершенствование методик и алгоритмов обработки информации в атомно-эмиссионном экспресс контроле за счет уменьшения числа ис

• пользуемых стандартных образцов;

- решение вопросов дальнейшего повышения эффективности и качества анализов за счет комплексного использования стандартных образцов и виртуальных эталонов;

- расширение области практического применения спектральных методов анализа за счет разработки новых способов передачи изображения спектрограмм на различного типа фотоприемники;

- решение принципиально новой задачи осуществления 100% входного контроля и определения марок неизвестных материалов;

Реализация поставленной цели определяется решением следующих задач.

1. Разработка методов расширения диапазонов использования одного СО для диагностики состава материалов во всем интервале спектрального анализа.

2. Создание методик, алгоритмов обработки входных информационных параметров, позволяющих управлять процессом контроля при фотографическом методе спектрального анализа и устанавливающих взаимосвязь измеряемых почернений спектральных линий элементов с изменением количественного состава отдельных компонентов.

3. Разработка методов анализа с использованием виртуальных эталонов, основные параметры которых определяются расчетным путем по известным данным реальных СО.

4. Разработка методик определения погрешностей в спектральном анализе в процессе текущего контроля.

5. Разработка принципов передачи видеосигнала с фотоприемника на монитор персонального компьютера.

Объект исследования - автоматизированные измерительно-вычислительные комплексы, как составные части автоматизированного технологического процесса контроля качества химсостава готовых изделий и материалов.

Предмет исследования - методики и алгоритмы обработки информации в атомно-эмиссионном экспресс- контроле.

Информационная база исследования - теоретико-экспериментальные данные, обработанные на основе применения математического аппарата прикладной статистики, методов электрических и магнитных измерений, вычислительной математики, а также методов молекулярной физики и термодинамики.

Научная новизна диссертационного исследования заключается в следующих положениях, выносимых на защиту.

1. Предложена математическая модель фотографического анализа.

2. Разработаны методики, алгоритмы, программное обеспечение и системы управления процессами контроля без применения Государственных Стандартных Образцов.

3. Разработан метод анализа с помощью виртуальных эталонов, позволяющий осуществлять регулировку протяженности контролируемых интервалов содержания элементов и получать заданную точность.

4. Определены параметры виртуальных эталонов расчетным путем исходя из данных реальных Стандартных Образцов.

5. Предложен метод комплексного анализа на основе графического и аналитического способов определения процентного содержания отдельных компонентов материалов.

6. Разработка способов возможного повышения точности анализов за счет создания дополнительных методик и алгоритмов.

Практическая значимость исследования заключается в следующем:

-разработаны алгоритмы и программное обеспечение для экспресс-контроля количественного состава компонентов любых объектов с помощью системы из двух СО и трех виртуальных эталонов;

- разработана методика текущих производственных анализов с применением только двух СО предприятия, выполняющих функции слежения за изменениями входных информационных параметров;

- предложена методика расчетов относительных погрешностей в текущих производственных анализах;

• -определены структурные схемы автоматизированных измерительно-вычислительных комплексов как составных частей автоматизированного технологического процесса контроля качества химсостава материалов.

- разработаны унифицироыванные устройства фотографического анализа на основе использования телевизионных камер и компьютеров.

- разработан комплексный метод 100% входного контроля.

Апробации работы. Основные результаты диссертации докладывались и обсуждались на следующих конференциях.

1.XIV Уральская конференция по спектроскопии, Екатеринбург

• Заречный, УГТУ-УПИ, 1999 г.

2. Всероссийская конференция "Неразрушающий контроль и дна; мостика", г. Москва, 1999 г.

3. Международная конференция "Динамика систем, механизмов и машин", г. Омск, 1999 г.

4. Технологический конгресс "Современная технология при создании продукции военного и гражданского начьачения", Омск, 2001 г.

5. 2-ой международный технологический конгресс «Военная техника, вооружения и тс оологии двойного применения в XXI веке», Омск, 2003 г.

6. XVI Уральская конференция по спектроскопии, Екатеринбург, 2003 г.

Результаты диссертационного исследования подтверждаются актами

• внедрения и использованы:

- при внедрении новых методик определения количественного содержания элементов в материалах, сплавах и изделиях АО "Омскагрегат";

- в виде автоматизированного измерительно-вычислительного комплекса Фотос-2, предназначенного для фотографического анализа количественных составов, материалов и готовых изделий ФГУП им. П. И. Баранова,

- в виде полуавтоматизированного фотоэлектрического устройства на основе диодных линеек на ФГУП «Точмаш».

Публикации. По теме диссертации опубликовано двадцать печатных ра

• бот, две монографии и патент Российской Федерации.

Основные результаты диссертационной работы.

1. Разработана методика расширения диапазона с использованием одного стандартного образца.

2. Созданы методики, алгоритмы обработки входных информационных переменных, позволяющих управлять процессом контроля при фотографическом и фотоэлектрическом методах спектрального анализа и устанавливать взаимосвязь измеряемых почернений спектральных линий элементов с изменением количественного состава отдельных компонентов.

3. Одним из перспективных направлений, обуславливающих дальнейшее повышение эффективности и качества выполняемых анализов, является внедрение виртуальных эталонов в практику промышленного контроля качества выпускаемой продукции, что позволит получить принципиально новые свойства контролируемых систем, связанные с повышением точности результатов за счет возможности максимального приближения контролируемых интервалов и интервалов, допускаемых государственными стандартами, уменьшением количества используемых государственных стандартных образцов, планированием допускаемых погрешностей в текущих производственных анализах.

4. Разработаны методы анализа с использованием виртуальных эталонов, основные параметры которых определяются расчетным путем по известным данным реальных стандартных образцов, предложена математическая модель фотографического анализа.

5. Разработаны методики, алгоритмы, программное обеспечение и системы управления процессами контроля без применения государственных стандартных образцов.

6. Разработан метод анализа с помощью виртуальных эталонов, позволяющий осуществлять регулировку протяженности контролируемых интервалов содержания элементов и обеспечивать заданную точность на получаемом интервале.

7. Предложен метод комплексного анализа на основе графического и аналитического способов определения процентного содержания отдельных компонентов материалов.

8. Разработаны алгоритмы и программное обеспечение для экспресс контроля количественного состава компонентов любых объектов с помощью системы из двух стандартных образцов и трех виртуальных эталонов, обеспечивающих слежение за изменениями входных информационных параметров.

9. Впервые разработаны методологические принципы использования виртуальных эталонов. Показано, что их применение значительно повышает надежность, точность и экономическую эффективность систем контроля качества выпускаемой продукции.

10. Предложена методика расчетов относительных погрешностей в текущих производственных анализах.

11. Определены структурные схемы автоматизированных измерительно-вычислительных комплексов как составных частей автоматизированного технологического процесса контроля качества химсостава готовых изделий и материалов.

12. Разработан матричный фотоэлектрический анализатор на основе использования диодных линеек промышленного типа, позволяющий в диалоговом режиме работы оператора с компьютером повысить точность и достоверность конечных результатов по сравнению с известными автоматизированными устройствами подобного типа.

13. Разработан матричный анализатор фотографического типа, в котором изображение спектрограмм с фотопластинок переносится на экран компьютера, на котором и производится последующая обработка результатов измерений в диалоговом режиме работы оператора с компьютером. Предложенный метод f 'a, исключает использования промышленных микрофотометров, повышает точность и достоверность анализов при сокращении времени их выполнения.

14. На основе использования промышленных стилоскопов, позволяющих проводить только качественные анализы, впервые разработан метод количественных анализов. Для этого, видимое изображение спектров с помощью цветной телекамеры передается на монитор компьютера, на котором в диалоговом режиме работы оператора с компьютером проводится дальнейшая обработка результатов измерений.

15. Впервые разработан метод входного экспресс контроля и определения марок неизвестных материалов путем атомно-эмиссионного спектрального анализа. Реализация этого стала возможной благодаря комплексному использованию предложенных матричных анализаторов фотоэлектрического и фотографического типа анализов.

16. Разработанные матричные анализаторы расширяют функциональные возможности спектрального анализа, повышают качество проводимых анализов и их экономическую эффективность.

17. Разработана комплексная система поиска спектральных линий с использованием реперных линий и градуировочной линейки, выводимой на экран персонального компьютера.

18. Разработано программное обеспечение обработки данных измерений для анализаторов матричного типа.

19. Разработанные устройства прошли производственные испытания на ОАО «Омский агрегатный завод».

20. Разработаны методики метрологических поверок разработанных матричных анализаторов и автоматизированной системы ФОТОС-ЗМ Предложенные методики реализованы для аттестации рабочих мест в спектральной лаборатории ФГУП ОМО им. П.И. Баранова.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

1. Зильберштейн X. И. Современные источники света для оптического эмиссионного спектрального анализа (обзор) // Заводская лаборатория, 1986. -№12.

2. Дженкинс Г., Ватт Л. Спектральный анализ и его приложения. М.: Мир, 1971.-291 с.

3. Прохоренко Е. Ф., Сычева С. В., Моисеева В. В. Оценка воспроизводимости спектрального анализа проволоки различного диаметра в зависимости от способа подготовки проб // Заводская лаборатория. 1989. - № 1.

4. Бабушкин А. А., Бажулин П. А., Королев Ф. А., Левшин Л. В., Прокофьев В. К., Стриганов А. Р. Методы спектрального анализа. М.: Изд-во МГУ 1962.

5. Эмиссионный спектральный анализ. М.: Мир, 1982.

6. Применение спектрального анализа в народном хозяйстве и научных исследованиях Минск, 1967.

7. Стрелков Л. А. Исследование и изучение плазмы и эрозии в искровых источниках света для спектрального анализа: Автореферат канд. диссерт. -Минск, 1975.

8. Трапезников В. А. Исследование поверхностных слоев металлов и сплавов методом электронной спектроскопии // Физика, химия, механика. -1982.-№4.

9. Чулановский В. М. Введение в молекулярный спектральный анализ. -М.: Гостехиздат, 1951. 416 с.

10. Методы анализа, применяемые на Златоустовском металлургическом заводе // Заводская лаборатория. -1982. № 6.

11. Грикит И.Н. Процессы поступления материала электродов в зону разряда при спектральном анализе металлов и сплавов: Автореф. доктор, дисс. -Одесса, 1984-39 с.

12. Недлер В.В., Белянин В.Б. Современное состояние и перспективы развития спектрального анализа / Новые методы спектрального анализа. Новосибирск: Наука, 1983.

13. Устройство спектрального анализа: положительное решение о выдаче патента РФ N4855490/25 от 20.05.91 /А.И. Одинец, Б.Ф. Никитенко, В.П. Кузнецов, А. А. Кузнецов.

14. Герасимов Г.Н., Дубровин А.Н. Разработка и выпуск приборов эмиссионного спектрального анализа (обзор) // Заводская лаборатория. № 4. -1989.

15. Лишанский Г.Я. Разработка и исследование установки для визуального спектрального анализа: Автореф. канд. дисс. Минск, 1967.

16. Толмачев Ю.А. Новые спектральные приборы. Л.: ЛГУ, 1976.125 с.

17. Иванова Т.И. Автоматизированная система эмиссионного спектрального анализа. //Автоматика: РЖ. 1988. -№5.

18. Fogg A.G., Mariott D.R. Thorburn Buns D. // Analyst. 1970. - V. 95. N1135.

19. Жуковский Ю.М. Автоматизированная обработка результатов атом но эмиссионного спектрального анализа // Заводская лаборатория. - 1988. -N9.

20. Verges J. // Spectrochim. Acta. Ser. В. -1969. V. 24.

21. Chamberlain J. The principles of interferometric spectroscopi. -Chichester, New York; Brisbane; Toronto: Awiley-Inter-science publication, 1979.

22. Namioka T. // Josa. -1959. № 5.

23. Грибов A.A. Математические методы и ЭВМ в химии. -М.: Наука, 1989.-354 с.

24. Налимов В.В. Применение математической статистики при анализе вещества. -М.: Наука, 1960.

25. Метод определения процентного содержания элементов при фотографическом спектральном анализе / Ю. В. Селезнев, В. П. Кузнецов, К. П. Кор-нев, Б. Ф. Никитенко // Изв. вузов СССР. Приборостроение. 1991. - № 2.

26. Способ определения массовых долей элементов в материалах и спла-щ вах / Н. С. Казаков, Б. Ф. Никитенко, В. П. Кузнецов, А. А. Кузнецов // Передовой производственный опыт. 1991. - № 1.

27. Пат. 1828696 Россия, МКИ(З), G01 N 21/67. Способ определения содержания массовых долей элементов в материалах и сплавах / Б. Ф. Никитенко, А. И. Одинец, Н. С. Казаков, В. П. Кузнецов, А. А. Кузнецов. Бюлл., № 5, 1995.

28. Иванова В.Д., Таганов И.Н., Таганов К.И. К вопросу оптимизации поиска аналитических зависимостей при спектральном анализе // Журн. прикладной спектроскопии. 1968. - N 3.

29. Орлова С.А., Подмошенская С.В., Трилесник И.И. Фотоэлектрическая система с ЭВМ для эмиссионного спектрального анализа // Материалы• семинара по спектральному анализу. Л.: ЛДНТП, 1985.

30. Карманов Н.С., Перелыгин С.Ф., Казанцева Т.И. Автоматизированная система обработки фотографических спектров // Аналитика Сибири-90: Тез. докл. на 111 регион, конф. Иркутск, 1990.

31. Кузнецов А. А., Копелев О. Н., Никитенко Б. Ф. Автоматизированный комплекс для фотографического спектрального анализа. // Тез. докл. 111 Всесоюз. науч.-техн. конф. Омск, 1993.

32. Борбат A.M., Сабеняк В.И. Количественный эмиссионный спектральный анализ без сопровождающих эталонов // Журн. прикладной спекщ троскопии. -1984. -№ 5.1. Г" * 141.Pfip®^" 'гШ

33. Automated multicomponent analysis with corrections for interferencespV and mattrix effects. / J.N. Kalivas, B.R. Kowalski // Analytical chemistry. 1983. 1. Jfe 55.

34. Tai M.N., Harwitt M., Sloane N.J.A. //Appl. Opt.,-1975. V. 14, P. 2678.

35. Салтыков С.А. Стереометрическая металлография. M.: Металлургия, 1970.

36. Docker I.A., Harwitt М. // Appl. Opt.-1969. V. 7.

37. Морозов H.A., Мельников В.И., Никольский А.П. Автоматизирован-щ иые системы оптического спектрального анализа металлов и сплавов // Заводская лаборатория,. 1986.- 6.

38. Морозов Н.А. Совершенствование методов атомно-эмиссионного спектрального анализа металлов и сплавов с помощью ЭВМ // Заводская лаборатория. -1991. №8.

39. Салмов В. Н., Цой Е. В., Коваль К. К. Об алгоритме построения градуировочных графиков в автоматизированных системах обработки результатов спектрального анализа // Заводская лаборатория. 1986. - № 6.

40. Закускин С. В. Математическое обеспечение автоматизированных систем аналитического контроля: Дисс. . канд. техн. наук. М.: 1986.

41. Стандартные образцы для спектрального анализа сталей и сплавов: • Справочное пособие. М.: ВИАМ, 1984. - 85 с.

42. Вакив Н. М., Саенко О. А., Слепченко Н. И. Спектральное определение титана в лигатуре алюминий-титан с применением стандартных образцов предприятия //Заводская лаборатория.- 1989.- №4.

43. Зайдель А.Н., трейдер Е.Я. Вакуумная спектроскопия и ее применение. М.: Наука, 1976. - 342 с.

44. Современное состояние промышленного спектрального анализа в металлургии и геологии СССР // Заводская лаборатория. 1962. - N2.

45. Огнев В. Р., Петров Л. Л. Спектральный анализ элементов примесей Ф в горных породах. М.: Наука, 1972. - 342 с.а1. Ъ * % >г.- .

46. Белыми В. Б., Недлер В. В. Проблемы и перспективы спектрального анализа. // Заводская лаборатория. -1984. №10.

47. Немец В.М., Петрова А.А., Соловьев А.А. Состояние и перспективы развития оптического спектрального метода анализа неорганических газов (Обзор) // Заводская лаборатория. 1984. - № 2.

48. А.с. СССР 1017982, кл. МКИ G 01 N21/65. Способ определения концентрации нефтепродуктов в сточных водах / С. Л. Ощепков и др. // Открытия и изобретения. 1982. - №18.

49. А.с. СССР 1092391, кл. МКИ G 01 N21/67. Способ эмиссионного спектрального анализа порошковых материалов / В. Р. Огнев, В. П. Шевченко, Э. Я. Огнева // Открытия и изобретения. 1982. - №18.

50. Зайдель А. Н. Техника и практика спектроскопии. М.: Наука, 1976. -392 с.

51. Нагибина И. М., Прокофьев В.К. Спектральные приборы и техника спектроскопии. Изд. 2-е. Л.: Машиностроение, 1967. - 324 с.

52. Прокофьев В. К. Фотографические методы количественного спектрального анализа металлов и сплавов. М.: Гостехиздат, 1961.

53. Скоков И.В. Оптические спектральные приборы: Учеб. пособие для Вузов. М.: Машиностроение, 1984. - 240 с.

54. Современные методы химико-аналитического контроля в машиностроении. М.: МДНТП, 1981. - 157 с.

55. Шаевич А.Б., Шубина С.В. Промышленные методы спектрального анализа. М.: Металлургия, 1965. - 224 с.

56. Зайдель А.Н., Калитевский Н.И., Липис Л.С., Чайка МЛ. Эмиссионный спектральный анализ атомных материалов. -М.: Физматгиз, 1960.

57. Райхбаум Я.Д. Физические основы спектрального анализа. М.: Наука, 1980.-158 с.

58. Русаков А.К. Основы количественного спектрального анализа руд и минералов. М.: Недра, 1978.

59. Королев H. В., Рюхин В. В., Горбунов С. А. Эмиссионный спектральный анализ. Л.: Машиностроение, 1971. - 214 с.

60. Орлов А. Г. Методы расчета в количественном спектральном анализе. Л.: Недра, 1977. - 108 с.

61. Самадов К. И. Исследование возможности повышения чувствительности эмиссионного спектрального анализа при фотографической регистрации спектров: Автореф. канд. дис. Минск, 1965.

62. Шепилова Д. П. О построении характеристических кривых фотоплат стинок по спектральным линиям железа //Заводская лаборатория. 1983. —9.

63. Карих Ф. Г., Лякишева В. И. Сопоставление возможностей экспрессивных фотографических методов спектрального анализа сплавов // Заводская лаборатория. 1985. - №3.

64. Нагибина И. М., Михайловский Ю. Е. Фотографические и фотоэлектрические спектральные приборы и техника эмиссионного спектрального анализа. Л.: Машиностроение, 1981. - 247 с.

65. Бураков В. С., Янковский А. А. Практическое руководство по спектральному анализу. Минск: Изд-во Акад. наук БССР, 1960. 232 с.

66. Орлова С. А. и др. Состояние и перспективы развития отечественных оптических квантометров // Заводская лаборатория. 1982. - №2.

67. Арнаутов Н. В., Киреев А. Д. Квантометрический анализ металлов и сплавов. Новосибирск: Наука, 1986. - 124 с.

68. Волощинин А.П., Голяс Ю.Е. Персональные ЭВМ в заводской лабо-ра- тории (возможности и перспективы) // Заводская лаборатория. 1988. -№5.

69. Антонов Г. В. // Уральская конференция "Применение математических методов и ЭВМ при обработке информации на геологоразведочных работах". : Тез. докл., Свердловск, 1982, с. 16-17.

70. Беляшов Д.Н., Емельянова И.В. Определение положения спектральных линий при автоматизированной расшифровке спектрограмм // Журн. прикладной спектроскопии. 1990. - Т. 52, № 2.

71. Taylor B.L., Birks F.T. //Analyst. 1972, V. 97, N 1158.

72. Автоматизированная система обработки спектрограмм при спектральном анализе / Ю. X. Йордано, С. М. Беличев, И. В. Цапов, Р. К. Злажев // Заводская лаборатория. 1987. - №8.

73. Лифляндчик В. И., Романова В. Д., Старцев Г. П., Трилесник И. И. // т Оптикомеханическая промышленность. 1978. -№11.

74. Тарасова Е.Г. Модернизация фотоэлектрической установки металлургического производства // Заводская лаборатория. 1986. - №6.

75. Кох К. X., Вюнш X. // Черные металлы. 1982. - №10.

76. Квантометр Polyyac Е600: Рекламный проспект фирмы Rank Precion Industries (Англия), 1969.

77. Ким А.А., Катакова Б.А. Из опыта освоения спектрометра "Поливак Е970" // Заводская лаборатория. 1987. - №12.

78. Кадышман Т.А., Сакалис О.М. Спектральный анализ сталей с использованием автоматизированной системы "Поливак Е-970" // Заводская лаборатория. 1986. - №11.

79. Меркурьев А. В., Емельянов А. И., Мандрыгин В. В. // Приборы и системы управления. 1983. - №11.

80. Kalivas J.N., Kowalski B.R. Automated multicomponent analysis with corrections for interferences and mattrix effects // Analytical chemistry. 1983. — N55.

81. Bunch P 0., Metter R.V. Noise power spectrum analysis of a scanning microdensitometer//Applied optics. 1988. - Vol. 27, N 16.

82. Морозов H. А., Игнатова H. И., Мельников В. И. // Заводская лаборатория. 1985. - Т.51, N4.Г

83. Кузнецов В. П. Разработка и исследование систем обработки информации в спектральном анализе материалов и сплавов: Дисс. канд. техн. наук. -Калининград: КГУ, 1990. -178 с.

84. Кусельман И. И., Малыхина Л. А. Алгоритм использования спектральной информации при аттестации стандартных образцов состава сплавов // Заводская лаборатория. 1989. - № 2.

85. Система автоматизированной обработки результатов спектрального анализа проб металлов / В. Н. Салмов, А. И. Косенко, В. А. Усов, В. Б. Джураевт II Заводская лаборатория. 1985. - №2.

86. Козлов Л. П., Шеверда Б. А. Оптимизация параметров градуировочных функций для квантометров фирмы ARL // Заводская лаборатория. -1988.-№2.

87. Нахмансон М. С., Фекличев В. Г. Диагностика состава материалов рентгенодифракционными и спектральными методами. Л.: Машиност роение, 1990. - 357 с.

88. Поль Р.В. Оптика и атомная физика. М., 1966. - 552 с.

89. Гарбуни М. Физика оптических явлений. М.: Энергия, 1967. - 374 с.

90. Born М. Z. // Physik. 1926.

91. Born М. Z. // Physik. 1926.

92. Поливанов К. М. Ферромагнетики. М; Л.: ГЭИ, 1957. - 419 с.

93. Симаков В. А., Исаев В. Е. Рентгенофлуоресцентный анализ с использованием внутреннего стандарта для учета фона в коротковолновой области // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 1998. - Т. 65, № 6.

94. Картер Джон, Третьякова Е.Е. Комплексный подход к контролю химического состава сырья и готовой продукции металлургического производства // Spectro Analytical Instruments. 1999.

95. Коваленко М. Н., Зажогин А.П. Применение атомно-эмиссионного спектрометра "ЭМАС-200Д" в многоэлементном анализе металлов и сплавов //

96. Ф Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 1999. - Т. 65, N 4.

97. Никитенко Б. Ф., Казаков Н. С., Кузнецов А. А. Разработка и использование автоматизированных измерительных систем в спектральном анализе. М.: НТЦ "Информтехника", 1990. - 80 с.

98. Никитенко Б. Ф., Казаков Н. С., Кузнецов В. П. Пути повышения достоверности и точности анализа эмиссионной спектроскопии. М.: ЦНИИИ и ТЭИ, 1989.-53 с.

99. Алтынцев М. П. Разработка и совершенствование методик и алгоритмов обработки информации в атомно-эмиссионном экспресс-анализе: Дне. .канд. техн. наук. Пермь, 2001.

100. Ломоносова А. С., Фалькова О. В. Спектральный анализ. М.: Ме-таллургиздат, 1958. - 360 с.

101. Демидович Б. П., Марон И. А. Основы вычислительной математики. М.: Наука, 1966. - 664 с.

102. Тамм И. Е. Основы теории электричества. -М.: Гос. изд-во техн.-теорет. лит., 1956. 620 с.

103. Зайдель А.Н. Погрешности измерения физических величин. Л.: Наука, 1985. - 431 с.

104. Никитенко Б.Ф., Казаков Н.С., Кузнецов А.А. Повышение эффективности атомно-эмиссионного экспресс-анализа // Передовой производственный опыт.-1991.

105. Способ определения массовой доли химических элементов в материалах и сплавах / Н. С. Казаков, Б. Ф. Никитенко, В. П. Кузнецов, А. А. Кузнецов // Передовой производственный опыт. 1991. - № 4.

106. Морозов А. В. Разработка и исследование автоматизированных методов спектрального экспресс-анализа: Дис. . канд. техн. наук. Владимир, 2001.

107. Никольский А.П., Замараев В.П., Бердичевский Г.В. Автоматизированный экспресс-контроль состава материалов в черной металлургии. М.:

108. Металлургия, 1985. -104 с.•f

109. Верховский В.И. Автоматизация аналитического контроля в металлургии // Заводская лаборатория. 1982. - № 2.

110. Юровицкая М.И., Ковалева Т.М. Спектрографический метод определения химического состава алюминиевых сплавов // Заводская лаборатория. -1985.-Kail.

111. Блохин М. А. Феноменологические уравнения связи в рентгеноспек-тральном анализе // Заводская лаборатория. 1973. - № 9.

112. Величко Ю. И., Забродин А. Н. Теоретический выбор формы уравне-% ния связи при РСА пульповых продуктов цветной металлургии / Автоматизация горно-обогатительных процессов цветной металлургии. М.: ВНИКИ "Цветметавтоматика", 1981.

113. Дуймакаев Ш. И. Использование рассеянного первичного излучения при РСА методом теоретических поправок // Заводская лаборатория. 1984. -№11.

114. Учет изменения эффективной длины волны в рентгеноспектраль-ном анализе способом теоретических поправок / Б. Д. Калинин, Н.И. Карамы-шев, Р. Н. Плотников, А. С. Вершинин // Заводская лаборатория. 1985.

115. Симаков В.А., Сорокин И.В. Использование метода фундаментальных параметров при РСА // Заводская лаборатория. 1984. - Т. 50, № 4.

116. Mantler M.LAMA III-a computer program for quantitative XRFA ofbulk specimens and thin film layers // Advances in X-ray analy sis. 1984. - V. 27.

117. Першин H. В., Голубев А. А., Мосичев В. И. О возможностях повышения точности метода фундаментальных параметров // Заводская лаборатория.-1991.-№ И.

118. Величко Ю. И., Павлинский Г. В., РевенкоА. Г. Программа расчета интенсивностей аналитических линий рентгеновского спектра флуоресценции // Заводская лаборатория. -1977. №4.

119. Кузнецов А. А. Разработка и исследование способов диагностики материалов в агомно-эмиссионном экспресс-анализе: Дисс. канд. техн. наук. -Омск, 1995.

120. Пякилля И. В., Вешкурцев Ю. М. Метод подбора оптимальных интервалов количественного содержания элементов в спектральном анализе //1. Дефектоскопия, 1998.

121. Вест Ч. Голографическая интерферометрия. М.: МИР, 1982. - 504 с.

122. А.с. СССР 1826359, кл. В 23 Q 15/00 //G 01 W 3 /58. Способ определения износа инструмента. / Пякилля И. В., Скворцов В. М. 1992.

123. Crosse P.,Harbecke В., Heinz В. et. al. // Applied Physics A. 1986.1. V. 39.

124. ГОСТ 16363-70. Спектральный анализ. Методы оценки точности измерений. М.: Изд-во стандартов, 1970.

125. Прокофьев В.К. Фотоэлектрические методы количественного спектрального анализа металлов и сплавов. -М.: Гостехиздат, 1951.

126. ГОСТ 7727-81. Спектральный анализ. Метод трех эталонов. М.:1. Изд-во стандартов, 1981.

127. Львов В. В. Атомно-абсорбционный спектральный анализ. М.:1. Наука, 1966.

128. Котик Ф. И., Ибрагимов С. Г. Контроль металлов и сплавов в машиностроении: Справочник. М.: Машиностроение, 1983. - 248 с.

129. Куделя Е. С. Спектральный анализ металлов и сплавов. Киев: Госиздат, техн. лит. УССР. -1961.

130. Белянин В. Б. Роль спектрального анализа в ускорении технического прогресса // Заводская лаборатория. 1986. -№11.

131. ЖмуркинЮ. А. Спектрально-эмиссионный метод определения водорода в металлах с фотоэлектрической регистрацией спектра. Д.: ЛДНТП,1971.

132. Зайдель А. Н., Островская Г. В., Островский Ю. И. Техника и практика спектроскопии. М.: Наука, 1972. - 375 с.

133. Зайдель А. Н. Основы спектрального анализа. М.: Наука, 1965.322 с.

134. Таблицы спектральных линий. М.: Наука, 1969. - 782 с.

135. Фишман И. С. Методы количественного спектрального анализа. -Казань: Изд-во Казанского университета, 1961. 179 с.

136. Зайдель А. Н., Островская Г. В., Островский Ю. И. Техника и практика спектроскопии. М.: Наука, 1976. - 392 с.

137. Стандартные образцы для химического и спектрального анализа материалов черной металлургии // Заводская лаборатория. 1987. - № 4.

138. Мандельштам С. JI. Введение в спектральный анализ. -М., Л.: ОГИЗ, 1946.

139. Тойберт Т. Оценка точности результатов измерений. -М.: Энерго-атомиздат, 1988. 88 с.

140. Плинера Ю.Д. Метрологическое обеспечение контроля состава материалов: Справочник. М.: Металлургия, 1982. -168 с.

141. Терек Т., МикаИ., ГегеушЭ. Эмиссионный спектральный анализ / Пер.с англ. -М.: Мир, 1982,. -159 с. Т.2.

142. Морозов Н. А., Игнатова Н. И. // Журнал прикладной спектроскопии. -1986. Т.44, вып. 2.

143. Еханин М. В., Кабанова О. В. Применение математического планирования эксперимента при моделировании процессов цветной металлургии. М.: ЦНИИцветмет экономики и информации, 1984. 48 с. - Вып. 4.

144. Игонин А. А., Корнаушенко И. И., Никольский А. П. Автоматизированные системы спектрального анализа на Челябинском металлургическом комбинате // Заводская лаборатория. № 5. -1985.

145. Козлов JI. П., Шеверда Б. А. Оптимизация параметров градуировочных функций для квантометров фирмы ARL // Заводская лаборатория. 1988. -№2.

146. Альперович Г. И., Анапомян С. А. Пакет программ "АСАК" для УВК М-6000 // Автоматизация горнообогатительных и металлургических производств. М.: НПО "Союзцветметавтоматика", 1983.

147. Кабанова О. В., Слободчикова Р. И. Нетрадиционный метод поиска па раметров нелинейных моделей //Заводская лаборатория. №3.

148. Малышев В. М., Механников А. И. Гибкие измерительные систем!i // Измерительная техника. 1986. - № 12.

149. Иванов А. А., Мосичев В. И., Шушканов В. М. Пакет прикладных программ для автоматических расчетов в атомно-эмиссионном спектральном анализе. Л.: О-во "Знание", ЛДНТП. - 1990. - 32 с.

150. Гельфанд И. И., Цейтман М. С. // ДАН СССР. № 2/295.

151. Малышев В. И., Введение в экспериментальную спектроскопию.• -М.: Наука, 1979.-420 с.

152. Буравлев Ю. М. Фотоэлектрические методы спектрального анализа металлов и сплавов. М.: Металлургия, 1984. - 225 с.

153. Ротман А. Е. Методы спектрального анализа. Л.: Машиностроение, 1975. - 330 с.

154. Малышев В. М. Измерительно управляющая система на базе микроЭВМ // Измерительная техника. - 1985. -№11.

155. Статистическая обработка результатов эксперимента на микроЭВМ. / Костылев П. В., Миляев Ю. Д., Доровский и др. Л.: Энергоатомиз- дат,• 1991.-304 с.

156. Canas A. Interactive contrast enhancement using an electronic hardware system // Journal Physics E. 1984. - Vol.

157. Львовский E. H. Статистические методы построения эмпирических формул. М.: Высш. школа, 1988.

158. Павлов А. В., Черницкий А. И. Приемники излучения автоматических оптико-электронных приборов. М.: Энергия, 1972.

159. Малышев В. И. Введение в экспериментальную спектроскопию. -М.: Наука, 1979.-420 с.

160. Пякилля И. В., Никитенко Б. Ф., Кузнецов А. А. Принцип построения систем автоматического корректирования в атомно-эмиссионном анализе.

161. Вешкурцев Ю. М., Пякилля И. В., Казаков Н. С. Алгоритм количественного спектрального с автоматической коррекцией стандартных образцов // Дефектоскопия, 1998.

162. Новицкий П. В., Зограф И. А. Оценка погрешностей результатов из* мсрений. Л.: Энергоатомиздат, 1985.

163. Абакумов В. Г. Фотоэлектрические сканирующие устройства преобразования информации. Киев: Высш. шкет, 1979.

164. Фолкенберри JI. Применение операционных усилителей и линейных

165. ИС. М.: Мир, 1985. - 572 с.

166. Дрейзин В. Э., Чаплыгин А. Г. Исследование эффективности регрессионного метода и D-критерия для построения оптимальных метрических моделей многопараметрового контроля // Методы и приборы автоматического контроля. Рига: Риж. политех, ин-т, 1986.

167. Афонин В. П., Гуничева Т. Н., Пискунова JI. Ф. Рентгенофлуорес-центный силикатный анализ. Новосибирск: Наука, 1984.

168. Никитенко Б. Ф., Казаков Н. С., Кузнецов А. А Автоматизация фотографического спектрального анализа // Аналитика Сибири-90: Тез. докл. 3 регион. конф. Иркутск, 1990.

169. Дрейзин В. Э. О статистическом подходе к решению многопарамет-ровых метрических задач неразрушающего контроля // Дефектоскопия. 1984. -№3.

170. Жглинский А. Г. Исследование оптимальных условий наблюдения коррелированных связей в спектре искрового разряда // Журн. прикладной спектроскопии. 1978. - Т. 28.

171. ГОСТ 9716.1-75. Латунь марки Л-63. Методы спектрального анализа. М.: Изд-во стандартов, 1976.

172. ГОСТ 18895-81. Сталь. Метод фотоэлектрического спектрального анализа. М.: Изд-во стандартов, 1982.

173. Махнев Ю.А. Микрофотометр ИФО-451 для экспресс-анализа // Заводская лаборатория. № 6. -1989.

174. Руденко Е. Г., Алтынцев М. П., Руденко С. Е. Системы диагностики состава и структурных свойств материалов в спектральном анализе. Владимир: Яросвет, 1999.

175. Одинец А.И., Руденко Е. Г. и др. Программное обеспечение для автоматизированного спектрального анализа // Омский научный вестник, Омск,2000.-вып. 11. -с. 97-100.

176. Руденко Е. Г., Алтынцев М. П., Пякилля И. В. Определение содержания массовых долей элементов. Положительное решение о выдаче патента от 20.04.2001.

177. Руденко Е. Г. Научно-методологические основы обработки инфор- -мационных параметров при автоматизированном контроле материалов в спектральном анализе на основе реальных образцов и виртуальных эталонов. Владимир: Яросвет, 2001.