автореферат диссертации по информатике, вычислительной технике и управлению, 05.13.12, диссертация на тему:Проектирование базовых элементов комплементарных БИС двойного назначения

ВВЕДЕНИЕ.

ГЛАВА 1. ОСОБЕННОСТИ ПРОЦЕССА 7ПРОЕКТИРОВАНИЯ КМОП БИС ДВОЙНОГО НАЗНАЧЕНИЯ.

1.1. Особенности КМОП БИС двойного назначения.

1.2. Анализ средств проектирования КМОП БИС.

1.3 Проблемы моделирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения.

1.4. Постановка задачи.

ГЛАВА 2. МАТЕМАТИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ СТАНДАРТНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ

КМОП БИС ДВОЙНОГО НАЗНАЧЕНИЯ.

2.1 Методика проектирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения.

2.2. Обоснование структуры АРМ проектирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения.

2.3. Математические модели элементов ИС при воздействии статических видов ИИ.

GAMMA.

2.3. Математические модели элементов ИС при воздействии импульсных видов ИИ.

2.4. Функционально-логическое проектирование.

ГЛАВА 3. РАЗРАБОТКА ЛИНГВИСТИЧЕСКОГО, ИНФОРМАЦИОННОГО И МАТЕМАТИЧЕСКОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ МНОГОУРОВНЕВОГО ПРОЕКТИРОВАНИЯ БАЗОВЫХ ЭЛЕМЕНТОВ КМОП БИС ДВОЙНОГО НАЗНАЧЕНИЯ.

3.1. Лингвистическое обеспечение процесса многоуровневого мроделирования.

3.2. Особенности построения информационных средств.

3.3. Математическое обеспечение функционально-логического моделирования и генерации тестов.

3.4. Метод и алгоритм поиска дефектов.

3.5. Средства схемотехнического моделирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения.

ГЛАВА 4. ПОДСИСТЕМЫ МОДЕЛИРОВАНИЯ КМОП БИС ДВОЙНОГО НАЗНАЧЕНИЯ.

4.1. Структура подсистемы и особенности ее построения.

4.2. Выбор функционально-логического и схемотехнического базиса. Создание библиотеки стандартных элементов.

4.3. Разработка ядра функционально полного комплекса БИС двойного назначения на КМОП приборах для цифровой обработки сигналов.

4.4. Анализ эффективности подсистемы моделирования.

Актуальность темы. В настоящее время КМОП БИС находят широкое применение в аппаратуре общего, специального и военного назначения. По основным показателям они обладают рядом преимуществ по сравнению с остальными классами схем.

Особо важное значение приобрел класс КМОП БИС - цифровые процессоры обработки сигналов (ЦПОС), объем продаж которых в 2002 году составил более 10 млрд. долларов США.

КМОП БИС двойного назначения должны обеспечивать работоспособность и соответствующие технические показатели в широком диапазоне температур, больших механических нагрузках, в условиях химического, радиационного и других воздействий. Данные требования и все возрастающая сложность узлов КМОП БИС двойного назначения, изменение методологии их проектирования и производства требуют постоянного совершенствования средств автоматизации проектирования таких микросхем.

Резкое сокращение количества предприятий в РФ, которые могли самостоятельно реализовывать полный цикл проектирование - производство различных классов микросхем привел к необходимости применения технологии «разделения функций», когда проектирование и изготовление БИС осуществляется различными предприятиями.

В этих условиях актуальна разработка типовых средств автоматизации проектирования базовых элементов (представляющие собой как типовые двоичные логические элементы, так и базовые функциональные блоки) КМОП БИС ЦОС двойного назначения.

Диссертация выполнена в соответствии с планами важнейших работ Министерства электронной промышленности СССР, госзаказов Министерства науки, промышленности и технологий РФ по НИРОКР «Улавливатель-8М», «Тропа», «Танго», «Квартет», а также по основному научному направлению НИИЭТ проблеме «Разработка автоматизированных средств проектирования ИС».

Цель работы. Цель данной работы состоит в разработке и исследовании средств автоматизации проектирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения на базе ПЭВМ и создание на этой основе ядра КМОП БИС ЦОС. Для решения данной задачи необходимо:

1. обосновать методику моделирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения для цифровой обработки сигналов и структуру программного комплекса автоматизации проектирования;

2. разработать математические модели элементов КМОП БИС с учетом внешних дестабилизирующих факторов;

3. определить принципы построения лингвистического и информационного обеспечения АРМ на базе ПЭВМ для обработки типовых элементов БИС на функциональном и схемотехническом уровнях, разработать язык описания и структуры данных.

4. провести адаптацию и развитие средств функционально-логического и схемотехнического моделирования базовых элементов с учетом радиационных воздействий, генерации тестов и поиска дефектов;

5. с помощью разработанных средств спроектировать базовые элементы, таким образом провести опытную эксплуатацию разработанных методического, лингвистического, информационного, математического и программного обеспечений и оценить их эффективность.

Методика исследования. При решении поставленных задач использован аппарат теории вычислительных систем, автоматизации проектирования, математического моделирования и программирования.

Научная новизна. В диссертации получены следующие результаты, характеризующиеся научной новизной:

1. методика проектирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения, отличающаяся единством построения средств автоматизации основных этапов проектирования с учетом радиационного воздействия, принятая в департаменте Электронной промышленности в качестве базовой для всех предприятий данного профиля;

2. математические модели типовых элементов КМОП БИС, отличающихся учетом конструктивно-технологических особенностей изготовления ИС и внешних воздействующих факторов в соответствии с требованиями ГКС «Климат-7» и обладающих высокой адекватностью;

3. модифицированные алгоритмы анализа статических и динамических характеристик типовых элементов КМОП БИС с введением предложенных математических моделей активных элементов с учетом радиационного воздействия и особенностей сформированных матриц проводимостей, отличающиеся высокой скоростью сходимости итерационного процесса, значительным снижением вычислительных затрат и более высокой точностью;

4. модифицированный совмещенный алгоритм логического анализа и моделирования неисправностей за счет значительного расширения функциональных моделей, оптимизации вычислительных процедур, позволяющих более рационально учитывать «распространение» неисправностей, отличающийся снижением вычислительных затрат по сравнению с базовым алгоритмом в несколько раз;

5. алгоритм направленной генерации тестов с учетом параметров тестопригодности, позволяющий значительно сократить длину теста при повышении количества обнаруживаемых неисправностей, а также метод и алгоритм поиска дефектов, отличающиеся высокой скоростью генерации тестов.

Практическая ценность работы. Разработаны средства автоматизации проектирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения на базе ПЭВМ в виде методического, математического, лингвистического, информационного и программного обеспечения, использование которых возможно также и в других САПР.

Реализация и внедрение результатов работы. Представленные в диссертации исследования являются результатом научной работы, проведенной на кафедре вычислительной техники Воронежской государственной лесотехнической академии, НИИ электронной техники и Воронежском заводе полупроводниковых приборов. Работы выполнялись в рамках ряда научно-исследовательских и опытно-конструкторских работ по заказам Министерства электронной промышленности и Министерства промышленности, науки и технологий.

Методика, алгоритмы и комплексы программ, разработанные в диссертации, внедрены в НИИ электронной техники, Воронежском заводе полупроводниковых приборов, что позволило спроектировать более 500 типовых элементов КМОП ИС, благодаря чему была создана целая гамма БИС ЦОС, а также в учебном процессе ВГТУ.

Апробация работы. Научные результаты и положения диссертационной работы докладывались и обсуждались на ежегодных научно-технических конференциях и совещаниях по выполнению ряда НИР и ОКР в НИИЭТ, РНИИ "Электронстандарт" и 22 ЦНИИИ МО.

Основные результаты работы докладывались и обсуждались на конференциях и семинарах, в том числе: на Международной научно-технической конференции «Системные проблемы качества, математического моделирования и информационных технологий» (Сочи, 2001); Международной научно-технической конференции «Системные проблемы качества, математического моделирования и информационных технологий» (Сочи, 2002); I Международной практической конференции «Влияние внешних воздействующих факторов на элементную базу аппаратуры авиационной и космической техники» (г.Королев, 2002); Российской конференции "Радиационная стойкость электронных систем (Стойкость 2002)" (Москва, 2002).

Публикации результатов работы. По теме диссертации опубликовано 24 печатные работы, в том числе монография. Получено три авторских свидетельства на изобретения.

Структура и объем диссертации. Диссертация состоит из введения, четырех глав, заключения, списка использованных источников. Материал диссертации изложен на 142 страницах, включая иллюстрации.

Заключение

1. Предложена методика проектирования типовых элементов КМОП БИС войного назначения с учетом радиационного воздействия принятая в департаменте лектронной промышленности в качестве базовой для всех предприятий данного рофиля;

2. Обоснована архитектура программно-аппаратной платформы средств авто-[атизации проектирования типовых элементов КМОП БИС на базе ПЭВМ;

3. Разработано лингвистическое и информационное обеспечение, обеспечи-ающее единую форму описания и преобразования данных на всех стадиях иерархи-еского процесса проектирования, отличающихся универсальностью, высокой скоротаю ввода данных, снижением вероятности появления ошибок, простотой освоения и [спользования;

4. Предложены математические модели типовых элементов КМОП БИС с уче-ом радиационного воздействия, обеспечивающие достаточную точность на этапе зункционально-логического и схемотехнического моделирования;

5. Проведена модификация математического обеспечения моделирования ста-ических и динамических характеристик программного пакета ПРАНИС с введением ттематических моделей активных элементов с учетом радиационных воздействий и четом особенностей сформированных систем алгебраических и дифференциальных равнений;

6. Модифицирован совмещенный алгоритм логического анализа и моделирова-[ия неисправностей за счет значительного расширения функциональных моделей, оп-имизации вычислительных процедур, позволяющих более рационально учитывать ¡распространение» неисправности и обеспечивающий значительное снижение вы-[ислительных затрат;

7. Разработан алгоритм направленной генерации тестов с учетом параметров естопригодности, позволяющий сократить длину теста при повышении количества »бнаруживаемых неисправностей и отличающихся высокой скоростью генерации естов;

8. Предложен оптимальный метод и алгоритм поиска дефектов;

9. Проведена программная реализация средств автоматизации проектирования 5азовых элементов КМОП БИС двойного назначения на основе ПЭВМ, которые вне-фены в ФГУП НИИЭТ, на Воронежском заводе полупроводниковых приборов и учебном процессе ВГТУ;

10. С помощью разработанных средств создана иерархическая библиотека ти-ювых элементов и функциональных блоков с учетом радиационного воздействия для

оздания широкой гаммы КМОП БИС для цифровой обработки сигналов, которая по-воляет конструировать интегральные схемы любой сложности.

11. На основе спроектированных базовых элементов создана целая гамма БИС ерий 1867, 1874, 1578.

1итература:

. Событие века. 25-летний юбилей первого микропроцессора. Электроника и компоненты, N1, 1997 г., стр.2.

Е.Иванов. Стандартные микропроцессоры и микроконтроллнры. "Электронные компоненты", N2, 2000 г., стр.5.

16-разрядные микроконтроллеры PHILIPS, PANASONIC, OKI, TI. Chip News, N7, 2000 r.

Борис Малашевич. 8-разрядные микроконтроллеры. "Электронные компоненты", N 5, 1999 г., стр.53. IEEE Spectrum, 1998, v.35, N9, pp.39.

Новые DSP - новый рывок в производительности. Chip News, N10, 2000г. Лопатин B.C., Харин В.Н., Межов В.Е. и др. Унифицированные программно-технические комплексы для САПР и ЭТ и СВТ // Электронная промышленность. -1994. -№ 4,5- Москва.- С. 211-215.

Левов Ю.А., Межов В.Е. и др. Системы ускоренного проектирования БИС //Электронная промышленность -1994.- № 4,5 - С. 216-218.

Лопатин B.C., Межов В.Е. и др. Программное обеспечение системы ускоренного проектировния БИС // Электронная промышленность. -1994. -№ 4.5 - С.145-149.

0. Норенков И.П., Маничев В.Б. Системы автоматизированного проктирования электронной и вычислительной аппаратуры. -М.: Высш. шк. 1983. -272 с.

1. Савельев П.В., Конехин В.В. Автоматизация проектирования БИС. В 6 кн. Практическое пособие. Книга 2. Функциональное логическое проектирование БИС. Под ред. Казенкова Г.Г. М.: Высш. шк. 1984. - 295с.

2. Межов В.Е., Кононыхина H.A. Программная среда событийного ускорителя логического моделирования // Методы искусственного интелекта в САПР: Тез. докл. Всесоюзной школы-семинара молодых ученых. - Гурзуф, 1990. -С. 64-67.

3. Межов В.Е., Питолин В.М., Плотников В.В., Харин В.Н. Проектирование САПР и АРМ изделий электронной и вычислительной техники : Учеб. пособие. -Воронеж: Воронеж, политехи, тн-т, 1989. -101 с.

4. Дыбой В.А., Межов В.Е., Рындин A.A. Автоматизация функционально-логического проектирования микроэлектронных устройств и аппаратуры на мини-ЭВМ :Учеб. пособие. -Воронеж: Воронеж, политехи, ин-т. 1990. -78с.

5. Толстых Б.Л., Талов И.Л., Харин В.Н., Межов В.Е., Черняев Ю.Н. Унифицированные интерактивные средства проектирования изделий электронной техники : -М.: Радио и связь, 1984. -136с.

6. Данилюк С.Г., Зютин В.И. Автоматизация поиска неисправностей на основе вероятностно-лингвистического метода диагностирования // Информационные технологии в проектировании и производстве - 1996 - №3- 4 С59-64.

7. Дофман В.Ф., Иванов A.B. ЭВМ и ее элементы, (развитие и оптимизация) //- М, Радио и Связь, 1988.

8. Г.В. Зизин, В.Е.Межов Ускоренное моделирование неисправных логических схем // Математическое моделирование, компьютерная оптимизация технологий, параметров оборудования и систем управления лесного комплекса: Сб.науч.тр. - Воронеж: ВГЛТА, 1999. С.61-65.

9. Люлькин А.Е. Структурный метод построения тестовых последовательностей для К-МОП интегральных схем// Микроэлектроника - 1995- 24.,№2- С.150-155

0. Золотаревич Я.А., Чупрыгин А.О., Игнатенко Л.И Особенности генерации тестов СБИС на основе смешанного моделирования неисправностей. //Актуальные проблемы информатики, математическое, программное и информационное обеспечение. Материал. Межреспубл. Науч. Прак. конф. творческой молодежи. Минск 18-22 мая. 1992.- Минск. 1992-С. 41-42

1. Исследование и разработка методов и алгоритмов автоматизированной генерации тестов проверки ТЭЗ'зов / Отчет по НИР "Турнир // НПО "Электроника". У11759,-Воронеж, 1986.

2. Исследование и разработка алгоритмов и экспериментальных программ для специализированного процессора моделирования // Научно - технический отчет по НИР ТРОПИК 1988 г. У42917.

3. Казначеев В.И. Диагностика неисправностей цифровых автоматов // Москва., "Советское радио" 1975 г.

4. Киносита К., Асада К., Карасу О., Логическое проектирование СБИС // - М; Мир. 1988 г.-309 с.

5. Киркленд Т., Флорес И.В. Программные средства тестируемости и автоматическая генерация тестов для СБИС // Электроника 5 1983 г

6. Комплекс средств автоматизированного проектирования специализированных W2.il Электроника. 12 - 13. 1990 г. с. 85 -

7. Кондратьев В.В. Махалин Б.Н. // Автоматизация контроля цифровых функциональных модулей -М.; Радио и связь. 1990.

8. Корячко В.П., Курейчик В.М., Норенков И.П. Теоретические основы САПР // - М: Энергоиздат. 1987.

9. Мырова Л.О., Чипиженко А.З. Обеспечение радиационной стойкости аппаратуры связи. - М.: Радио и связь, 1983. - 216 с.

0. Устюжанинов В.Н., Чипиженко А.З. Радиационные эффекты в биполярных микросхемах. -М.: Радио и связь, 1988. - 288 с.

1. Коршунов Ф.П., Гатальский Г.В., Иванов Г.М. Радиационные эффекты в полупроводниковых приборах. Минск. - Наука и техника, 1978. - 232 с.

>2. Вавилов B.C., Ухин H.A. Радиационные эффекты в полупроводниках и полупроводниковых приборах. - М.:Атомиздат, 1969. - 312 с.

3. Действие проникающей радиации на изделия электронной техники /Под ред. Е.А.Ладыгина. - М.:Советское радио, 1980.-224 с.

¡4. Коршунов Ф.П., Богатырев Ю.В., Вавилов В.А. Виздействие радиации на инте-

гральные микросхемы. - Минск: Наука и техника, 1986. - 254 с.

5. Агаханян Т.М., Аствацатурьян Е.Р., Скоробогатов П.К. Радиационные эффекты в интегральных микросхемах / Под ред. Т.М.Агаханяна. - М.Энергоатомиздат, 1989. -256 с.

6. Вавилов B.C. Действие излучений на полупроводники. - М.:Атомиздат, 1974. - 232 с.

7. Rickits L.W. Fundamentals of Nuclear Hardening of Electronic Equipment. - N.Y.:Wiley -Interscience, 1972.

8. Проектирование электронных схем с учетом радиационных воздействий/ Е.Р. Аствацатурьян, О.Н.Голотюк, Ю.А.Попов и др. - М.: Изд-во МИФИ, 1984. - 76 с.

9. Першенков B.C., Попов В.Д., Шальнов A.B. Поверхностные радиационные эффекты в элементах интегральных микросхем. - М.:Этомэнергоиздат, 1988. - 256 с.

0. Радиационные эффекты в КМОП ИС / А.Ю.Никифоров, В.А.Телец, А.И.Чумаков.-М.:Радио и связь, 1994. -164 с.

1. Проектирование электронных схем с учетом радиационных воздействий/ Е.Р. Аствацатурьян, О.Н.Голотюк, Ю.А.Попов и др. - М.: Изд-во МИФИ, 1984. - 76с.

2. Патрикеев JI.H., Попов В.Д. Радиационная стойкость полупроводниковых приборов и интегральных схем. - М. Изд. МИФИ, 1975.

3. Методы повышения радиационной стойкости электронных схем и устройств вычислительной техники / Е.Р.Аствацатурьян, О.Н.Голотюк, Ю.А.Попов, Ю.В.Самойлов и др.- М.: Изд-во МИФИ, 1986. - 88 с.

4. Зольников В.К., Калинин В.Г. Прогнозирование работоспособности биполярных ИМС при воздействии гамма-излучения малой мощности // Вопросы атомной науки и техники. Сер. Физика радиационного воздействия на радиаэлектронную аппаратуру, - 1997. - Вып 1-2. - С.40-43.

5. Проектирование устройств вычислительной техники с учетом радиационных воздействий / Е.Р. Аствацатурьян, О.Н.Голотюк, Ю.А.Попов и др. -М.: Изд-во МИФИ, 1985.- 84 с.

■6. Pierce Е.Т. Nuclear Explosion Phenomena and Their Bearing on Radio Detection of the Explosions // Proc.IEEE. - 1965. - V.53 - P.2211-2226.

•7. Моделирование и расчет параметров радиационно-стойких ИМС / Телец В.А., В.Г.Малинин, М.М.Малышев, В.К.Зольников, В.Я.Нисков // Вопросы атомной науки и техники. Сер. Физика радиационного воздействия на радиаэлектронную аппаратуру. - 1998.-Вып 1.-С.34-35.

^8. Система проектирования биполярных радиационно-стойких ИМС /В.Е.Межов, В.К.Зольников, Д.Е.Соловей, А.В.Межов. Воронеж. ВГЛТА, 1998. - 255 с.

^9. Крюков В.П.Моделирование изменения параметров ИС при воздействии дозы ИИ // Системные проблемы качества, математического моделирования и информационных технологий: Тр. Междунар. науч.-техн. конф. М., 2002. - С.93-95.

>0. Крюков В.П.,Ачкасов В.Н., Зольников В.К. Моделирование изменения параметров-

критериев годности при воздействии радиации // Системные проблемы качества, математического моделирования и информационных технологий: Тр. Междунар. на-уч.-техн. конф. М., 2002. - С.146-151.

1. Методы прогнозирования и оценки стойкости и надежности изделий электронной техники в условиях длительного НИ: Методическое руководство / Баюков А.В., Хаустов В.В., Агаханян Т.М., Малышев М.М., Зольников З.К. и др.; РНИИ "Элек-тронстандарт"; С-Пб, 1995. 453 с.

2. Зольников В.К., Крюков В.П. Расчетно-экспериментальная оценка стойкости КМОП ИС к ИИ // Влияние внешних воздействующих факторов на элементную базу аппаратуры авиационной и космической техники: Тр. I Междунар. практ. конф. Королев. Изд-во М. РАКА, 2002. С.67-68.

3. Bennet G.L., Lombardo J.L., Rock B.L. US radioisotope thermoelectric generation in space // The Nuclear Engineer. - 1984. - Vol.25. - N2. - P.49-59.

4. Межов B.E., Зольникова A.H., Ачкасов B.H., Крюков В.П. Автоматизация проектирования КМОП ИС с учетом радиации. Воронеж: Воронежский гос. университет, 2002. -178с.

5. Межов В.Е., Зольников В.К., Крюков В.П.Метод повышения стойкости ИС с помощью радиационно-стимулированного метода отбраковки // Вестник. Научно-технический журнал центрального черноземного регионального отделения наук о лесе - Воронеж: ВГЛТА. - 2002. - С.51-59.

6. Зольникова А.Н. Межов В.Е. Комплекс программ расчета работоспособности ИС при воздействии ионизирующих излучений. // Вопросы атомной науки и техники. Сер. Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2000. -Вып. 1-2. - С.93-96.

7. Зольников В.К., Крюков В.П. Исследование нелинейных процессов в полупроводниковых структурах в импульсных полях гамма-излучений большой мощности // Математическое моделирование, компьютерная оптимизация технологий, параметров оборудования и систем управления лесного комплекса. Межвуз. сб. науч. тр., Вып.7. Часть I - Воронеж. изд.ВГЛТА, 2002, - С. 201-205.

8. А.Н.Зольникова, В.Н.Ачкасов, В.П.Крюков Математическая модель расчета изменения параметров ИС при воздействии дозы ИИ// Радиационная стойкость электронных систем: Науч.-техн. сб.Вып.5. - М.: СПЭЛС-НИИП, 2002. - С.107 - 108.

9. Зольникова А.Н. Ачкасов В.Н. Крюков В.П.Расчет стойкости компонентов КМОП ИС, к радиационному воздействию // Актуальные проблемы анализа и обеспечение надежности и качества приборов, устройств и систем: Сб. докл. науч.-техн. конф. / Под ред. А.П.Андреева, А.В.Блинова, Н.К.Юркова. - Пенза: Изд-во Пенз. гос. техн. ун-та, 2002. - С.234-235.

»0. Зольникова А.Н. Ачкасов В.Н. Крюков В.П.Оценка стойкости и надежности ИС при воздействии гамма-излучения // Актуальные проблемы анализа и обеспечение надежности и качества приборов, устройств и систем: Сб. докл. науч.-техн. конф. / Под

ред. А.П.Андреева, А.В.Блинова, Н.К.Юркова. - Пенза: Изд-во Пенз. гос. техн. ун-та, 2002. - С.236-239.

1. Зольников В.К., Крюков В.П. Моделирование реакции ИС при воздействии ИИ в САПР ИЭТ// Влияние внешних воздействующих факторов на элементную базу аппаратуры авиационной и космической техники: Тр. I Междунар. практ. конф. Королев. Изд-во М. РАКА, 2002. С.69.

2. Межов В.Е., Зольников В.К., Крюков В.П.Средства математического моделирования базовых КМОП БИС двойного назначения // Вестник. Научно-технический журнал центрального черноземного регионального отделения наук о лесе - Воронеж: ВГЛТА. - 2002. - С.60-64.

3. В.Н.Ачкасов, В.П.Крюков Создание конструктивно-технологического базиса функционально полного комплекта СБИС двойного назначения // Радиационная стойкость электронных систем: Науч.-техн. сб., Вып. 5. - М.: СПЭЛС-НИИП, 2002. -С.37-38.

4. Бененсон З.М., Кравченко C.B. Анализ электронных схем по методу функционального программирования // Электронная техника. Сер.З. Микроэлектроника, -1975. -Вып.2. -С. 16-24.

5. Крюков В.П., Ефремов Д.А., Ильин Б.А., НазаровА.А. Язык подготовки данных для функционального контроля больших интегральных схем // Электронная техника. Сер. Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания. М. ЦНИИ «Электроника», 1985, вып.6 (123), с.;36-39

6. Календарев A.C., Назаров Н.Б., Крюков В.П. Распределенная система встроенного контроля БИС на пластине// Электронная техника. Сер. Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания. М. ЦНИИ «Электроника», 1990, вып.1 (138), с.17-20

7. В.Н.Ачкасов, В.П.Крюков, В.Е. Межов Особенности графической подсистемы АРМ проектировщика КМОП БИС // Оптимизация и моделирование в автоматизированных системах: Межвуз. сб. науч. тр. - Воронеж: ВГТУ, 2002. - С.50-54.

8. Ачкасов В.Н., Крюков В.П., Межов В.Е. Лингвистическое обеспечения АРМ проектировщика КМОП БИС// Оптимизация и моделирование в автоматизированных системах: Межвуз. сб. науч. тр. - Воронеж: ВГТУ, 2002. - С.75-80.

9. Календарев A.C., Шведов С.А., Крюков В.П.Подход к тестовому диагностированию микропроцессорных БИС// Электронная техника. Сер. Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания. М. ЦНИИ «Электроника», 1986, вып.6 (123), с.46-48

0. Балакин В.Н., Календарев A.C., Крюков В.П., Усачев Ю.С., Шумилов Л.А. Диагностирование блока микропроцессорного управления микропрограммируемых микропроцессорных систем // Автоматика и вычислительная техника, №3, Рига, изд. АН Латв.СССР, 1986, с.87-94

Т. Календарев A.C., Крюков В.П. Метод поиска дефектов в микропроцессорных БИС//

Обмен производственно-техническим опытом, вып.6, М., изд института НИИ Экономики и информации по радиоэлектронике, 1989. с.34-35

2. Календарев A.C. Крюков В.П. Методы поиска дефектов в микропроцессорных БИС // Математическое моделирование, компьютерная оптимизация технологий, параметров оборудования и систем управления лесного комплекса. Межвуз. сб. науч. тр., Вып.7. Часть II - Воронеж. изд.ВГЛТА, 2002, - С. 200-205.

3. Крон Г. Исследование сложных систем по частям - диакоптика. -М.: Наука, 1972. -542с.

4. Byers guide to PCB CAE/CAD tools // Computer Design. -1987. -V26. -N12. -P. 81-89, 92-113.

5. Dash: V.A.O. Simulater drives digital designs // Computer Design. -1985. -V33. -N26. -P.97.

6. Dunn L. IBM s engineering design System support for VLSI design and verification // IEEE Design Test of Computers. -1984. -VI. -Nl. -P. 30-40.

7. Fzeeman E. Physical modeling system let you Plug ULSI chips in to your workstations logic // EDN. -1984. -N15. -P. 69.

8. Howard I.O.A. Introduction to the IBM Los-Gatos logic simulation Mahine // In Proc. IEEE Int. Conf. on Comput. Des.: VLSI in Computers. Ost., 1983.

9. Ishiura N.A.O. High-Speed logic simulation Using a vector // VLSI 85 Eisevier Science Publishers, 1986. -P. 73-82.

0. Межов B.E., Питолин B.M., Чевычелов Ю.А., Кононыхина H.A. Интерактивные графические средства поддержки проектирования МЭА : Учеб. пособие. - Воронеж: Воронеж, гос. техн. ун-т. 1994. 104 с.

¡1. Рындин A.A., Межов A.B., Зибров A.A. Универсальная информационная среда проектирования для создания интегрированных САПР БИС // Вопросы радиоэлектроники. Серия ЭВТ. -1994. -Вып. 2. -С. 51-56.

2. Рындин A.A., Чевычелов Ю.А., Межов A.B. Развитие графических средств системы ускоренного проектирования БИС // Высокие технологии в технике и медицине: Межвуз. сб. науч. тр.МУВТ. - Воронеж, 1994. - С. 27-31.

¡3. Межов В.Е., Питолин В.М., Чевычелов Ю.А., Кононыхина H.A. Интерактивные графические средства поддержки проектирования МЭА : Учеб. пособие. - Воронеж: Воронеж, гос. техн. ун-т. 1994. 104 с.

'Л. Креницкий А.П. Инфор В.Е.Межов, Г.В.Зизин Подсистема ускоренной верификации тестов // Интеллектуальные информационные системы: Тез. докл. науч.-техн. конф. - Воронеж: ВГТУ, 1999. - С.30.

15. Маклауд Дж. Сверхскоростные средства моделирования и имитаторы, значительно упрощающие отказ от моделирования.// Электроника. 1988. N11. -С.12 - 13.

¡6. Маклауд Дж. Средства моделирования фирмы Valid, ускоряющие и облегчающие временное анализ ИС./ Электроника. 1988. N11, с. 22 - 24.

!7. мационные среды САПР дискретных систем III Методы кибернетики и информаци-

онные технологии 1997 -№2 - С.110

8. Куфлева И.Б., Евтушенко Р.В Синтез проверяющих тестов для недетерминированных автоматов относительно редукции.,// Автоматика и вычислительная техника -1998 №3 - С. 10-20

9. Люлькин А.Е. Структурный метод построения тестовых последовательностей для К-МОП интегральных схем// Микроэлектроника - 1995- 24.,№2- С.150-155

0. В.Е.Межов, Г.В.Зизин Подсистема ускоренной верификации тестов // Интеллектуальные информационные системы: Тез. докл. науч.-техн. конф. - Воронеж: ВГТУ, 1999. - С.30.

1. Маклауд Дж. Сверхскоростные средства моделирования и имитаторы, значительно упрощающие отказ от моделирования.// Электроника. 1988. N11. -С.12 - 13.

2. Маклауд Дж. Средства моделирования фирмы Valid, ускоряющие и облегчающие временное анализ ИС./ Электроника. 1988. N11, с. 22 - 24.

3. Лопатин B.C., Чевычелов Ю.А., Межов В.Е., Левов Ю.А. Развитие системы ускоренного проектирования БИС.// Оптимизация и моделирование в автоматизированных системах. Межвуз. сб. научных тр. Воронеж -1994 г - с.156 -160

4. Люлькин А.Е К тестовой проверке логических схем на K-МОП элементах.// Микроэлектроника -1996 -25 №2- С139-142

5. Норенков И.П. Введение в автоматизированное проектирование технических устройств и систем// - М.: Высшая школа. 1986.

6. Петренко В.И., Лошаков И.Н., Тотельбаум А.Я., Шрамченко Б.Л. Автоматизированное проектирование СБИС на базовых кристаллах // - М.; Радио и связь. 1988.

7. Пол Р. Метод быстрой оценки неисправностей, упрощающий построение тестовых векторов.// Электроника. 1990 N6 стр. 75-82.

'8. Программные средства анализа тестируемости автоматической генерации тестов для СБИС\\ Электроника NO 5 1983.

'9. Савельев П.И., Коняхин В.В. Автоматизация проектирования БИС в 6 кн : А 22 Практическое пособие. Кн.2 Функционально логическое - кн. проектирование БИС//.-М,: Высшая школа, 1990- 156 с. Ю8.Северек Д.П., Цюэань Лай Л. Контроль цифровых систем//- ТИИЭР, Т.69, N 10, октябрь 1981 г.

00. Скобцев Ю.А., Скобцев В.Ю. Система логического моделирования и генерации тестов АСМИД -П.,\\ Управляющие системы и машины. - 1996- №1-2 -С.39-45

01. Сергеев A.A. Алгоритм выделения повторного сходящихся и циклических путей в схемном графе // "Вопросы радиоэлектроники". 11, с. 86-91

02. Системы автоматизированного проектирования СВЕРХБИС// - Микроэлектроника, 1980. вып. 5. с.401-412.

03. Уэбер Самьюэл. Поиск эффективной стратегии интеграции инструментальных средств проектирования. Электроника. 12 - 13. 1990 г. с. 135-137.

04. Хоуорд Д.К., Малм Р.Н., Уоррен Л.М. Диалоговое логическое моделирование сложных СБИС с помощью специализированного компьютера.//Электроника. - 1983 г.

25-26 с.43 -46.

05. Abadir Hagdy, Kapur Rohin Cost - driven ranking of mamory elements for partial intrusion // IEEE Desm and Test Comput -1997 - 14,№3- C.45-50

06. Aitcen Robert C. Modeling the unmolable: Algorithmic fault diagnostic/.// IEEE Des. Fnd Test Comput, -997 -14,№3-C.98-103

07. Ярмольник B.H., Янушкевич A.M., Карловски М.Г Iddg - тестирование итерационных структур, реализованных на К-МОП - логике/.// Микроэлектроника - 1997 - 26, №2 - СС. 151- 155.

08. Brgles F.,Pownal P., Hum R. Applicapions of testability analysis:from ATPG to critical dilay path tracing // Proc. Int. Test Conf. Philadelphia. 1984 pp. 705-712

09. Braynt R.E. A switch - level model and simulator for MOS digital system // IEEE Trans. Comput. vol. C-33, pp.160 - 177. feb. 1984

10. Chapell S.G., Chang H.Y., Elmendort C.H., Schmidt L.D. A compaarison of parallel and deductive simulation techniques // IEEE Trans. 1974 C-23. N 11., p. 1132 - 1139

11. Глебов C.C., Нровиков И.Е., Назаров Н.Б., Календарев А.С Крюков В.П.Устройство для контроля цифровых объектов// Авторское свидетельство №1535208 заявка №4276296 8 сентября 1989г

12. Крюков В.П.,Глебов С.С., Назаров Н.Б. J-K триггер // Авторское свидетельство №1612942 заявка №4720818 8 августа 1990г

13. Ефремов Д.А., Календарев А.С., Крюков В.П. Устройство для тестового диагностирования цифровых блоков// Авторское свидетельство №1622884 заявка №4340292 8 декабря 1990г

14. Крюков В.П.,Глебов С.С., Назаров Н.Б. J-K триггер TTJIIII-типа// Авторское свидетельство №1697579 заявка №4719170 8 августа 1991г

АКТ ВНЕДРЕНИЯ

результатов научной работы

Настоящим актом подтверждается, что результаты диссертационной работы Крюкова Валерия Петровича

1. Методика проектирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения.

2. Методы, математические модели и алгоритмы анализа статических и динамических характеристик базовых элементов КМОП БИС двойного назначения, учитывающих особенности их применения в условиях радиационного воздействия.

3. Методы, модели и алгоритмы анализа тестопригодности, логического анализа и моделирования неисправностей.

4. Методы генерации тестов, поиска и анализа дефектов, внедрены в НИИ Электронной техники.

Вид внедрения результатов: автоматизированный комплекс моделирования характеристик базовых элементов микросхем ЦПЦОС. Форма внедрения: программные средства.

Новизна результатов научно-исследовательских работ: качественно новые.

В недрены: в проектные работы в отделении.

Научно-технический эффект: увеличение точности моделирования и сокращение затрат на проектирование.

Начальник отдела разработки ИС

И.П.Потапов