автореферат диссертации по машиностроению и машиноведению, 05.02.11, диссертация на тему:Метод оптико-электронного контроля и алгоритмы выявления поверхностных дефектов жести

г с

сшро-зшдш заочш 1юшшшсш естгот

Специализированный Совет Е 063.06.02

На правах рукописи

ер10в евгеш вшншов1ч

метод оптпо-эяшрошого еонтрои i

мгоргг1ш вазвдшя поверхностных деи1тов хест1

Специальность 05.02.11 - методы контроля и диагноста в машиностроении

авирнерат

диссертации на соиснаяие ученой степей кандидата технпескп наук

СанЕТ-Пегербург, 1993

Работа выполнена в Северо-Западной заочнок политехническок институте.

Научные руководители: доктор технических наук, профессор

ПОТАПОВ Анатолии Мноеич кандидат технических наук, додент . КАЛУГИН Леонид Леонидович Официальные оппоненты: доктор технических наук, профессор

ПРОКОПЕНКО в.т. кандидат технических наук, доцент CAPBZH A.A.

Ведущее предприятие - Вологодский опшо-неханичесш завод (г. Вологда)

Защита состоится 15 карта 1993 г. в И час. на заседании специализированного Совета Е 063.06.02 в Северо-Западном заочной политехническок институте по адресу: 191065, г. Санкт-Петербург, ул. Киллионная (б. Халтурина), д. 5.

С диссертациеи ыохно ознакомиться в библиотеке СЗПЕ. Автореферат разослан 12 февраля 1993 г. Ученый секретарь специализированного Совета

я.т.н., с.н.с.

Нурчавова Т.П.

общ характершш работы

Актуальность темы. Возраставший во многих отраслях промышленности спрос на высококачественную стальнуо полосу, производимую на скоростных станах холодное прокатки, требует обеспечения эффективного контроля ее поверхности. При этом существует целый ряд применении проката, где требования н поверхности металла особенно высоки, например, офсетный лист, жесть, идущая на последующее луиение или хромирование и т.п. Значительная часть поверхностных дефектов данных материалов относится к категории малых, размеры которых находятся в пределах ОЛИ.О мм. Возможности визуального контроля для обнаружения таких дефектов крайне ограничены. Именно поэтому сегодня ведутся активные работы в области создания автоматических оптино-элентронных систем контроля качества поверхности (ОЗСКЕП) движущейся холоднокатаной (х/н) полосы, которые могли бы выявлять нельчашние поверхностные дефекты. Наиболее перспективными являются ОЭСШ, построенные на базе приборов с зарядовой связью (ПЗС).

Обнаружение дефектов, особенно малых размеров, затрудняется целым рядом причин. Во-первых, в условиях реального неталлуршесного производства имеет место вибрация оборудования, собственные нолебания и неяланшетность полосы. Во-вторых, помехи, присущие системе контроля, достаточно велини и требуется использование специальных алгоритмов

обработки видеосигнала. Кроме того, высокие скорости движения z/h полосы обусловливает значительные ограничения на врекя обработки сигнала и принятие решения.

Анализ отечественной и зарубежной литературы показывает, что разрешавшая способность известных систем позволяет обнаруживать дефекты размером, как правило, не менее 0.8?1.0 мм. Публикации носят в основном рекламный характер г не раскрывает путей решения проблемы. При этом отсутствует информация о поверхностных дефектах малых размеров нак объекте оптического контроля. Недостаточно исследовании является процедура выбора основных параметров ОЭСЕЕП, основанная на взаимодеиствии падающего светового потока с поверхность!) х/к листа. Практически не рассмотрены вопросы построения простых и надежных алгоритмов обнаружения и классификации малых дефектов. Все это позволяет считать, что решение данных вопросов в настоящее время представляется весьма актуальным.

Работа выполнялась в ракш НИР "Исследование возможности создания оптико-злектроннои системы распознавания объектов" (регистр. N01880032744) и "Разработка, изготовление и передача опытно-промышленной установки для контроля качества поверхности жести" (регистр.N01900028250).

Целы) диссертационнои работы является разработка и исследование метода и средств опткко-элентронного контроля малых дефектов поверхности х/к

стальной полосы, ориентированных на использование ЕЗС-линеики в начестве преобразователя "свет-сигнал". В соответствии с этим в работе решается следующие основные задачи:

- исследование основных дефектов поверхности офсетного листа, как объекта оптического контроля; - построение кодели процесса формирования сигнала на выходе ПЗС-датчика с учетом реалыы: условии освещения и наблюдения, вибрации и непланшетности контролируешь материала, оптических исшении приемника излучения; - разработка и исследование алгоритмов обнаружения и классификации дефектов наши размеров поверхности х/к металла; - создание экспериментальной и промышленной установок контроля качества поверхности офсетного листа.

Методы исследовании. Для решения поставленных задач использованы методы цифровой обработки изображении, статистического моделирования на ЭВК, аппарат теории вероятностей и катематичеснои статистини.

Ваучная новизна результатов, полученных в работе, зашчается в следующем:

- дано описание основных дефектов поверхности офсетного листа, как збьекта оптического контроля;

- разработана математическая модель светового сигнала, отраженного от юверхности х/к листа, учитывающая реальные условия освещения и

наблюдет, а танхе вгбрацвд и непяаншетность контролируемого материала;

- предложен алгоритм обнаружения дефектов малых размеров поверхности х/н металла, кокпенсирущии неоднородности видеосигнала н изменения его уровня, с автоматическим регулированием порогового значения;

- разработан алгоритм классификации незначительных по величине поверхностных дефектов, обеспечивашщ выполнение как предварительной, так и окончательной классификации в "реальном" масштабе времени;

- предлохен алгоритм обучения классификации 'без учителя" для распознавания дефектов поверхности офсетного листа.

Практическая ценность работы состоит в следугщем:

- разработана экспериментальная установка для исследования и проверки методов оптико-электронного контроля качества поверхности, выбора оптимальных оптических схем;

- разработана имитационная модель отраженного светового сигнала для случая аналитического описания пространственной функции распределения ¡шроплощадоя поверхностями второго порядка;

- предложена процедура выбора основных параметров ОЭСЕЕП, позволяющая автоматизировать процесс ее проектирования;

- разработана опытно-промышленная установка для контроля качества поверхности жести на Карагандинском металлургическом комбинате;

- предложена методина настроив! и метрологической поверни установки для работы на агрегате резки офсетного листа;

- результаты диссертации нашли применение в учебном процессе на кафедре "Вычислительная техника и системы управления" Череповецкого филиала Вологодского политехнического института в курсе "Основы цифровой обработки изображении" для специальности 21.01 - автоматика и управление в технических системах.

Апробация работы. Основные положения диссертационнон работы докладывались и обсуждались на 4-и научно-технической нонференции с международным участием "Приборы с зарядовой связью и системы на их основе* (Россия, Краснодарский край, г. Геленджик, 27 сентября-2 октября 1992 г.) и на 1-й Всесоюзной научно-техническои конференции "Проблемы измерительной техники в волоконной оптике* (бижнии Новгород, 26-28 ноября 1991 г.).

Публикации. По материалам диссертации опубликовано два отчета по ИР, четыре печатные работы, в том числе два патента, получено положительное решение на группу из двух изобретении.

Структура и объем диссертации. Диссертационная работа состоит из введения, четырех глав, заключения и приложении. Работа содержит 159 страниц основного текста, 39 рисуннов, 9 таблиц, список использованнои литературы из 59 наименовании, 7 приложении.

общ хлршер1стш пробили выяв1шя д1шов 1аш разеров поверхеосп х/к шаш

На основании проведенного анализа методов и средств контроля малых дефектов поверхности х/к стальной полосы показано, что наиболее перспективными является системы, построенные на базе шейных ПЗС. Для успешного решения задачи контроля качества офсетного листа автором предложена оптическая схема, которая является одним из вариантов метода "темного" поля и обеспечивает независимость обнаружения поверхностных дефектов от вибрации телекамеры и полосы, вызванной работой пронатного стана. Рассмотрены дефекты поверхности офсетного листа, как объекта оптического контроля, проведены статистические исследования геометрических параметров (длины, ширины, расстояния от края полосы, периодичности появления), построены гистограммы относительных частот исследуемых характеристик, выполнен .анализ цифровых изображении дефектов с различной степеньо повреждения поверхности. Показано, что форма дефектов многообразна, минимальные размеры находятся в пределах О.НО.2 мм, появление на одной линии сканирования четырех и более дефектов маловероятно, дефекты одного и того же типа могут быть контрастными или слабоконтрастными по отношение к бездефектной поверхности в зависимости от степени повреждения материала полосы.

В соответствии с поставленной задачей построения оптимальных ОЗСККП в качестве количественного показателя их эффективности предложено использовать вероятностный критерии. Приведены два варианта этого критерия, которые могут быть использованы при практической оценке эффективности работы систем контроля.

теорепчшое ошсше процесса юрпр0в1нн сеша н& внхоц пзс-дтчпа в оэшп Эффективность ОЭСЕЕП в значительной степени определяется тем, насколько значения параметров оптическои схемы системы и ее отдельных функциональных блоков близки к оптимальным. Поиск таних значении возмохен с помощью модели, описыващеи происходящие процессы и учитывавши имеющие место возмущающие воздействия. В предлагаемой оптическои схеме, реализующей метод "темного" поля, приемник на линеином ПЗС расположен над поверхностью так, что оптическая ось совпадает с нормалью к поверхности и выполняет сканирование в направлении перпендикулярном движению полосы металла. Излучатели, в виде протяженных источников света, расположены вдоль линии сканирования так, что плоскости освещения составляют угол | с нормалью к поверхности и пересечением этих плоскостей является линия сканирования. Световые плосности представляют совокупность лучей, исходящих из каждой точки излучателя в различных направлениях.

Яркость света, отраженного от точен I на линии сканирования при

освещении от всех точек излучателей, определяется выражением

Ьи/2 Ьи/2

В(Х}=

В2(Х,1г)*<Ш ,

В1 (X,II )*(111 +

-1и/2 -Ьи/2

где Ьи - длина излучателя; Вх(X,II) иВ2(Х,1г) - соответственно,

яркости света точки х в направлении точки наблюдения при освещении от

точен II первого и 1г второго излучателя. В параметрах углов освещения и

наблсдения яркости В1 и Вг могут быть представлены следующий образом 1 ф-(1б) ф + (±в) соз(Ч>)

В(±е,Ч>}=-—*Ео*г(..............)*....... ,

4 2 2 соз(±6)

где &(Х) - угол наблюдения (угол между оптичесиои осью телекамеры и

направлением на точку X линии сканирования) берется положительным (♦),

если направление отражения находится в квадранте излучателя и

отрицательным (-) - для противоположного квадранта; Ч» (X,I) - угол

освещения (угол между нормалью к поверхности в точне X и направлением

падения светового пучка от. точки I излучателя); Ео - освещенность

поверхности; г - коэффициент отражения; ! - функция распределения

микроплощадок, получаемая в плоскости наблюдения из пространственной

функции Р(Х,У,г).

Смещение поверхности в вертикальном направлении и ее непланшетность в

и

поперечном направления приводит н изменение углов освещения и наблвдения точен на линии сканирования. Полученные расчетные соотношения учитывает данные возиущасщие воздействия при определении яркости отраженного светового сигнала. Следует отметить, что применение танои оптическои схемы обеспечивает, практически, постоянное значение яркости света, отраженного от каждой точки линии сканирования при наличии непланшетности в продольном направлении, т.к. при соответствущем увеличении яркости Вж(К) происходит уменьшение ярности Вг(X) и наоборот,

Поскольку шероховатые поверхности отражает свет по разному в зависимости от чистоты обработки и отражательной способности, предложено аппроксимировать пространственную функцив распределения микрошщадок поверхностями 2-го порядка, такими как эллипсоид и леынискатоид. Задавая параметры последних, можно, таким образом, выполнить расчет яркости отраженного от металлических поверхностей света при использовании различных опгичесних схем.

На выходе ПЗС-линеики формируется дискретная последовательность

электрического видеосигнала изображения

д1

1

У5Ц*ди= — аЬ

где At - временной интервал дискретизации, равный времени считывания зарядов одного фотоэлемента; с - снорость считывания зарядовых панетов в регистре сдвига ПЗС-линеинн; Ei(i*c*At) - освещенность элемента изображения линии сканирования с центром в точке с координатой V в выходной плоскости оптического каскада, определяемая как Ее(V) = Koa(e(X))*B(X)*cos(&(X))*S(X), здесь Коп(в(Х)} - коэффициент оптическои передачи для угла наблюдения точки х линии сканирования; S(X) - площадь элементарного участка поверхности с центром в точке с координатой х на линии сканирования, при этой V = и * X, где 1 - масштабный коэффициент отображения; Gn(t-i*At)

- передаточная функция формирования сигнала изображения в линеином ПЗС, соответствующая временной апертурнои функции дискретизации; i = НИ, где и

- число дискретных отсчетов (количество фоточувствительных элементов шейного ПЗС),

Предложенное математическое описание ОЭСЕЕП дает возможность автоматизировать процедуру выбора оптическои схемы, ее основных параметров « оптического звена, формирующего изображение контролируемой полосы. В качестве показателя эффективности выбора оптическои схемы, а танхе ее параметров может служить отношение

j(x) = be(x) / в(х),

где Bg(X) и в(Х) - яркость дефектного и бездефектного участка. С этоя целью полученная функция отношения оптимизируется относительно исследуемого параметра, например, угла освещения. При этом параметры поверхностей 2-го порядна, которыми аппроксимируются пространственные функции распределения мияроплощадок в вырахениях для В((Х) и в(Х), определяются экспериментально. Предложена методика расчета значении данных параметров по результатам анализа угловой плотности светового потока, отраженного от дефектной и бездефектной поверхности металла,

С целью согласования энергетических параметров оптического звена к требуемой освещенности приемника излучения приведены расчетные соотношения для определения эффективного относительного отверстия объектива. Обоснован выбор мощности источника света и получены соотношения освещенностеи оптического изобрахения и контролируемом поверхности. Так, например, для объектива с диафрагменным числом 2.8, коэффициентом пропускания 0.75 и поверхности с минимальным коэффициентом отражения 0.75 соотношение освещенностеи для метода "темного" поля составит ШООО. Даны рекомендации со выбору фокусного расстояния и угла поля зрения объектива.

построил шортов внявши дншов ш размеров поверхносп i/i кташ Определение оптимальных значении основных параметров ОЭСЕКП не

устраняет всех фанторов, ухудшающих начество оптического гзобрагения из-за неравномерности освещенности контролгруекож поверхности, изменения ее отражающей способности, несовершенства конструнции объективов и элементной базы шейных ПЗС, и требует компенсации указанных воздействии путем построения алгоритмов обработки видеоинформации. Анализ известных технических решении, основанных на методах порогового разделения, поназал, что они не соответствуют в полной мере указанным требованиям. Поэтому в дальнейшем для построения алгоритмов обнаружения дефектов малых размеров используется подход, основанный на дифференцировании видеосигнала, с компенсацией неоднородностеи и изменении его уровня.

Сущность предлагаемого решения заключается в следующем. Нормируется информационный видеосигнал и путем его дифференцирования - сигнал <18. При зтом шаг дифференцирования определяется степенью изменения от слабоконтрастных дефектов. Затек вычисляются базовые сигналы ВБ* и ВБ-, как средние значения, соответственно, полошедьных и отрицательных составляющих сигнала Следующей процедурой является определение отклонении о дифференциального сигнала ¿И от базовых сигналов ВЗ' и вв- и сравнение полученных отклонения с пороговыми значениями Рв*, Ра', РЬ', Рг , Рг, РЬ*. При зтом

0(1)* = ^Ш» - В8*|, 0(1)" = -|(18(1.)- - В8-|;

где 0(1)', (¡2(1)'и 0(1)-, ¿8(1)- -соответственно, положительные и отрицательные составлявшие сигналов в и <18.

Пороговые значения для положительных и отрицательных составлявших сигнала о вычисляется в нахдон периоде снанирования, нан сума среднего отклонения и соответствущего корректирующего смещения:

Рг' = Б1 + К54, Рт( = + Ет', РЬ( = + КЬ»; РБ- = 3- + Кз-, Рг = 8" + Кг, РЬ" = 8- + КЬ"; где 5', в* - средние значения, соответственно, положительных и отрицательных составлявших сигнала В; Кб, Ка, КЬ - корректирующие смешения, причем по абсолютной величине Ее < Кп < КЬ.

Обнаружение переднего и заднего фронта дефекта в каждом периоде сканирования выполняется при превышении сигналом отклонении о пороговых значении Рэ* и Рг*. Кроме координат самого дефекта, фиксируется величина максимального порогового уровня, превышаемого этими отклонениями, что позволяет нлассифицировать дефекты по степени повреждения поверхности еще на этапе обнаружения.

В случае, когда изображение характеризуется высоким уровнем помех или значительными перепадами интенсивности, работа алгоритма выполняется с использованием процедуры предварительной фильтрации, основанной на методах локального улучшения качества, и состоит в следующем. В каждом периоде

сканирования вычисляется текущее значение скорректированного сигнала c(i) путей умножения коэффициента усиления Ka(i) на отклонение текущего значения видеосигнала VS(i) от локального среднего значения a(i): C(i) = Ka(i)M|VS(i)-B(i]|), где a(ij = (VS(i-l) + VS(i) + VS(i+l)) / 3, Ka(i) = , здесь В - среднее значение видеосигнала, вычисляемое в каждом периоде сканирования; S(ij - локальное среднее отклонение текущего значения видеосигнала vs(i) и его соседних величин VS(i-l), VS(i+lj от локального среднего значения в(i), Анализ сигнала С выполняется по трем пороговым значениям Ps, Ра, РЬ, обнаружение дефектов - аналогично рассмотренному выше. В качестве величины, характеризующей уровень помех дифференциального сигнала dS, предложено использовать сумму абсолотных значении базовых сигналов BS» и BS".

Возможность ' объединения ОЭСККП с производственным процессом достигается способностью классифицировать дефекты по типу и размерам, что позволяет выполнять корректировку технологического процесса, тем самым устраняя причину возникновения некоторых типов дефектов. Для решения задачи классификации предложено использовать параметрическии подход. Информация о каждом дефекте накапливается с момента его обнаружения, обновляется, дополняется и пересчитывает. Процесс классификации состоит

из трех основных этапов:

1. Проверка связности обнаруженных в каждом периоде сканирования дефектов.

2. Вычисление параметров, характеризующих дефект: длина, площадь, ширина, эксцентриситет, кривизна, компактность, расстояние от нрая полосы, контрастность и ряд других.

3. Принятие решения. Заключается в выполнении предварительной и окончательной классификации. В первом случае формируется вектор признаков, параметры которого (ширина, длина, расстояние от края полосы, контрастность) ставятся в соответствие предельным величинам, полученным в результате статистического исследования геометрических параметров дефектов. Разделение дефектов на классы выполняется в результате поочередного сравнения признаков в зависимости от их значимости с соответствующими предельными величинами. Такой подход обеспечивает достаточное быстродействие и возможность аппаратной реализации. Окончательная классификация выполняется по полному набору параметров с тем, чтобы классификационные группы, содержащие дефекты разных типов, разделить на большее число классов. Процесс принятия решения выполняется аналогично рассмотренному выше.

В том случае, когда дефекты описываются большим числом разнообразных

параметров, среди которых нет параметров, однозначно характеризующих каждый из классов, предложен алгоритм обучения класификации "без учителя", основанный на методе потенциалов, На первом этапе число классов принимается равным двум. Первый обнаруженный дефект относится к классу с, второй - к классу D. Класс любой из последующих точек (дефекта) v(kH) определяется сравнением потенциалов, создаваемых в этой точке группами точек, ранее отнесенных к классам с и D. На каждом шаге работы алгоритма формируется разделяющая поверхность:

Pk(V) = P(V, c(k)| - P(V, D(k)) = 0, где P(V, C(k)) и P(V, D(k)) - потенциалы, создаваемые в точке v множеством точек c(k) и D(k); иоторая приближается к области пространства параметров, расположенной на границе между нлассами. После разделения всего множества точек на два класса процедура нлассяфияацгн повторяется г применяется к тому классу, собственный потенциал которого меньше, и завершается после разделения дефектов на заданное число классов.

С целью проверки предложенных алгоритмов выполнено моделирование дефектных участков на фоне шумов и неравномерности уровня видеосигнала. Исследование алгоритмов методом статистического моделирования показало их высокую эффективность. Так для основных типов дефектов вероятность правильного выявления составила 0.89;0.98.

ЭИЖРШНТШШ 1ссщ0вшз oscisn

Для исследования и проверки методов оптино-электронного нонтроля качества поверхности, выбора оптическои схемы, экспериментальной проверки алгоритмов обнаружения и классификации дефектов в условиях, максимально приближенных к реальным, разработана установка, функциональная схема которой показана на рис.1. В состав установки входят камеры линеиного (SRC) I кадрового (ЯКС} сканирования, вращающей барабан (Б), поверхностьс которого является исследуемыи материал (If), источнияи света (1С) на кварцевых галогенных лампах, интерфейс ввода изображения (ИВЕ) в компьютер IBM PC/AT, в памяти которого изобракения зафиксированы в виде файлов. Программное обеспечение позволяет выполнять статистическую обработку экспериментальных данных, проверять алгоритмы выявления дефектов, задавать различные режимы вывода информации в цифровой, графической, табличной и цветокодированнои форме. Работа алгоритмов проверялась на различных скоростях движения полосы металла от 1 м/с до 8 м/с. При заданных условиях проведения эксперимента большинство дефектов, в тон числе малых размеров (0.Н0.2 км), выявляются на скоростях значительно превышающих рабочую скорость агрегата резки офсетного листа. На рабочей скорости дефектные участки с размерами меньше разрешающей способности обнаруживаются предлагаемым алгоритмом.

ВКУ.

г 1 - ч/б цонптор -ч" цвет. монитор

сои

Рис. 1, Функциональная схема экспериментальной оптико - электронной установки .

Полученные решения нашли применение в создании опытно-промышленной установки контроля качества поверхности жести для Карагандинского металлургического комбината. Основными ее элементами являются: две телекамеры, выполненные на ПЗС-линеиках К1200ЦЛ6, источники света на кварцевых галогенных лампах КГ220-1500 и блоки электронной обработки сигнала. Система контроля устанавливается на агрегате резки и управляет сортировкои листов по карманам. Испытания дефектоскопа на офсетном листе показали хорошие результаты по основным параметрам. В частности по разрешающей способности (0.6 мы в продольном направлении и 0.3 мм в поперечном) превосходит лучшие зарубежные образцы.

основных результаты работы

1. На основе проведенных исследовании дано описание дефектов поверхности офсетного листа нак объекта оптического контроля.

2. Разработана математическая модель светового сигнала, отраженного от поверхности х/к листа, учитывающая реальные условия освещения и наблюдения, а также вибрацию и непланшетность контролируемого материала.

3. Разработана имитационная модель отраженного светового сигнала для случая аналитического описания пространственной функции распределения микроплощадок поверхностями второго порядна.

4. Предложена процедура выбора основных параметров ОЗСКЕП, позволяющая

автоматизировать процесс ее проектирования.

5. Предложен алгоритм обнаружения дефектов малых размеров поверхности х/к металла, компенсирувдии неоднородности видеосигнала и изменения его уровня.

6. Разработан алгоритм классификации незначительных по величине поверхностных дефектов, обеспечивавдии выполнение как предварительной, так и окончательной классификации.

7. Предложен алгоритм обучения классификации "без учителя" для распознавания дефектов поверхности офсетного листа.

8. Разработана экспериментальная установка для исследования и проверки методов оптико-электронного контроля качества поверхности, выбора оптимальных оптических схем, проверки алгоритмов обнаружения и классификации дефектов.

9. Qo результатам выполненных исследовании разработана опытно -промышленная установка для контроля качества поверхности жести на Карагандинском металлургическом комбинате, предложена методика настроики и метрологической поверни.

Основные положения диссертации опубликованы в следующих работах:

1, Использование волоконно-оптическои связи в системах контроля размеров приборов с зарядовой связьс / Е.В.Ершов, Л,I,Малыгин, А.Е.Зуев и др.

И Проблемы измерительном техники в волоконной оптике: Тезисы докладов 1-е Всесоюзной научно-технической конференции. Нихнии Новгород, 26-28 ноября 1991 г.- Нехнен Новгород, 1991.-С.МО.

2. Оптико-электронная система обнаружения дефектов поверхности металлопроката / А.И.Потапов, Е.В.Ершов, U.Калугин // Приборы с зарядовой связью и системы на их основе: Тезисы докладов 4-и научно-технической конференции с международным участием (Россия, Краснодарский край, г. Геленджик, 27 сентября-2 онтября 1992 г.). - Иоснва, 1992.-С.135.

3. Способ оптико-электронного контроля поверхностных дефектов в устройство для его осуществления: Патент 1780583 СССР, ш с 01 Я 21/88 /А.Н.Потапов, Е. В. Ершов, П.Л. Калыгин и др. - Н 4890933/25; заявл. 17.12.90; опубл. боя. N 45, 1992 г.

4. Способ оптико-злектронвого контроля дефектов на движущейся поверхности и устройство для его осуществления: Патент 1796059 СССР, НИИ G 01 Н 21/89 /A.Z. Потапов, Е.В. Ершов, Я,Л, Налыгин и др. -В 4948186/25; заявл. 25.06.91; опубл. бюл. N 6, 1993 г.

ГД-68961 . Подписано в печать¿7/1-93 г. Формат бумаги 60x84/16. Тираж 100 экз. Бесплатно. Зак. 12. Типография завода "ДУЧ".