автореферат диссертации по приборостроению, метрологии и информационно-измерительным приборам и системам, 05.11.13, диссертация на тему:Исследование пористых ориентированных полимерных пленок методами оптического неразрушающего контроля

Введение

Глава 1. Аналитический обзор структуры полимерных материалов на основе полиэтилена, методов его исследования основанных на рассеянии и методов обработки дифракционных изображений

1.1 Оптико-физические свойства пористых полимеров

1.2 Особенности дифракционных измерений и методов обработки изображений применительно к неразрушающему контролю материалов

1.3 Теоретические и прикладные вопросы оптики фракталов 33 Выводы

Глава 2. Моделирование рассеяния света пленками из пористого полиэтилена.

2.1. Модель рассеяния света полимерами со сферолитной структурой.

2.2. Модель рассеяния света ориентированными жестко-эластическими полимерами.

Выводы

Глава 3. Исследование полимерных пористых пленок методом рассеяния оптического излучения

3.1 Описание экспериментальных установок

3.2. Метрологические характеристики

3.3. Результаты экспериментальных исследований 82 Выводы

Глава 4. Использование фрактальных масок для визуализации фазовых неоднородностей при оптической обработке искаженного изображения.

4.1. Моделирование рассеяния света фрактальными структурами.

4.2. Обнаружение и визуализация фазовых неоднородностей прозрачных объектов

Выводы

В последнее время микропористые полимерные пленки находят все более широкое применение в различных целях: кроме традиционного их использования, для фильтрации и разделения жидких сред, они могут служить мембранно-сепарационным материала для химических источников тока, диафрагмами для электролитических конденсаторов или являться частью двухслойных электролитических мембран. При использовании пористых пленок в качестве сепараторов к ним предъявляются определенные требования - высокая производительность, механическая прочность, малая толщина и ряд специфических требований, определяемых типом источника тока. Повышение производительности (проницаемости) таких мембранных материалов является особенно важной задачей, так как сепаратор не должен слишком значительно увеличивать внутреннее сопротивление батареи.

Целесообразность использования полиэтилена для изготовления таких пленок связана с его химической стойкостью по отношению к органическим растворителям, кислотам и щелочам, что позволяет применять сепарационный материал из полиэтилена в источниках тока с разными электролитами. Кроме того, пористый полиэтилен имеет высокие адгезионные свойства, что позволяет использовать его как подложку для нанесения проводящих полимеров, что увеличивает механическую прочность последних. Так пленка из проводящего полимера полианилина имеющая толщину 80 мкм, имеет малую механическую прочность, в то время как при нанесении его в двадцать раз более тонким слоем на пленку из пористого полиэтилена, такая композиционная система приобретает высокую прочность и эластичность, и находит применение в производстве гибких печатных плат.

В связи с этим актуальной становится задача контроля структурного совершенства пористого полиэтилена на различных стадиях его производства. Задача осложняется тем, что на различных технологических стадиях (экструзия, отжиг и растяжение), пленки имеют существенно отличающиеся оптические свойства. В частности, заметное рассеяние в оптическом диапазоне длин волн дают только пористые пленки, называемые из-за наличия пор мембранами. Информацию о состоянии полимера могут дать методы оптического неразрушающего контроля, причем приборы операционного контроля могут быть встроены прямо в установку по производству микропористых мембран из полиэтилена.

В данной работе были проведены исследования ориентированных полимерных пленок методами оптического неразрушающего контроля. Цель работы состояла в детальном изучении оптических свойств нового полимерного материала, впервые полученного в Институте Высокомолекулярных Соединений РАН в 1996 году и разработке методов его неразрушающего контроля.

В соответствии с поставленной целью, и с учетом того, что на разных стадиях производства исследуемый материал обладает различными оптическими свойствами, задачами являлись:

1. Изучение оптических свойств мембран имеющих сильное рассеяние в оптическом диапазоне.

2. Развитие модели рассеяния света ориентированными полимерами с так называемой ламельной структурой, на основе обобщения и переработки модели рассеяния света неориентированными полимерами, имеющими сферолитную структуру.

3. Разработка оптических методов неразрушающего исследования разномасштабных фазовых неоднородностей экструдированных и отожженных пленок (двух первых стадий формирования пористых полимеров).

На защиту выносятся следующие основные положения и результаты:

1. Выбранная модель структуры ориентированной пленки адекватно описывает рассеяние излучения оптического диапазона на реальном материале и позволяет предсказать результаты эксперимента.

2. Углы рассеяния света пористыми пленками являются величиной коррелирующей со степенью ориентации А - параметром производства полимера.

3. Дерегуляризация дифракционных картин, получаемых от фракталов, путем преобразования их в аксиально-симметричные, позволяет построить радиальную зависимость интенсивности дифракции, тангенс угла наклона которой соответствует расчетной величине фрактальной размерности.

4. Предложенный в работе метод анализа фазовых неоднородностей с помощью фрактальных масок практически вдвое повышает чувствительность к структурным несовершенствам объекта.

Научная новизна полученных в диссертационной работе результатов состоит в следующем:

1. Развита модель расчета рассеяния лазерного излучения на ориентированных пористых полимерных пленках, учитывающая как анизотропию поляризуемости кристаллитов полиэтилена, так и их расположение в объеме образца.

2. Разработан алгоритм расчета фрактальной размерности детерминированных плоских фракталов, не требующий априорных микроскопических данных.

3. Обнаружен эффект анизотропного рассеяния монохроматического излучения пористыми полимерными пленками, имеющего нетривиальные индикатрисы. Показано, что рассеяние имеет дифракционную природу.

4. Угловое расстояние между центральным и боковыми максимумами индикатрисы рассеяния коррелирует со степенью ориентации полимерной пленки, которая является параметром технологического процесса производства мембран.

5. Впервые предложено использовать фрактальные маски при изучении объектов, имеющих фазовые неоднородности.

Структура диссертационной работы отражает весь круг задач, решенных в ходе данного исследования:

Выводы по четвертой главе.

1. Разработан алгоритм расчета фрактальной размерности детерминированных плоских фракталов, который апробирован на тестовых фракталах типа «ковер Серпин-ского». Показано, что дерегуляризация дифракционных картин, получаемых от фракталов, путем преобразования их в аксиально-симметричные, позволяет построить радиальную зависимость интенсивности дифракции, тангенс угла наклона которой соответствует расчетной величине фрактальной размерности.

2. Сравнение пространственных спектров фрактальной и регулярной масок показывает, что при нормировке полуширины гармоник пространственного спектра, фрак

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

В данной работе были проведены исследования ориентированных полимерных пленок методами оптического неразрушающего контроля. Результаты исследований подтвердили правомерность основных выводов работы:

1. Результаты численных расчетов оптического рассеяния по выбранной модели показывают соответствие между видом пространственного спектра от микрофотографий исследуемых пленок и данными экспериментальных исследований при освещении их лазерным излучением.

2. Разработанный алгоритм расчета фрактальной размерности детерминированных плоских фракталов, не требует априорных микроскопических данных.

3. Повторяемость огибающей индикатрис рассеяния электромагнитного излучения от исследуемого материала в различных спектральных диапазонах (от рентгеновского до инфракрасного) позволяет, с высокой степенью достоверности, предполагать фрактальную структуру жестко-эластического полимера в пределах нескольких размерных порядков.

4. Обнаружен эффект анизотропного рассеяния монохроматического излучения жесткоэластическими полимерами, имеющий нетривиальные индикатрисы. Показано, что рассеяние имеет дифракционную природу.

5. В результате анализа дифракционных картин от пористых полимерных мембран, обнаружено, что угловое расстояние между центральным и боковыми максимумами коррелирует (коэффициент корреляции к=0.866) со степенью ориентации полимерной пленки, которая является параметром технологического процесса производства полимера.

6. При анализе результатов обратного Фурье-преобразования искаженных спектров регулярных и фрактальных масок показано, что последняя является более чувствительной и позволяет более точно установить величину фазовых искажений вносимых исследуемым объектом.

Полученные результаты работы позволяют сформулировать основные направления ее продолжения:

1. Уточнение модели рассеяния ориентированными полимерами, описывающее тонкую структуру индикатрис рассеяния

2. Подтверждение фрактальной структуры полимерной пленки.

Результаты данной работы опубликованы в 8 печатных работах и доложены на 6 конференциях и семинарах.

1. B.S. Sprague // J. Macromol. Sci., Phys., 1973, v. 8 № '/2, p. 157.

2. I.K. Park, H.D. Noether // Colloid. Polim. Sci. 1975. v 53. p. 824.

3. S.L. Cannon, G.B. McKenne, W.O. Statton // J.Polim. Sci., Makromol.Rev. 1976, v. 11, p. 209.

4. Кестинг P. E. Синтетические полимерные мембраны// M.: Химия, 1991, с.289.

5. Вундерлих Б.// Физика макромолекул // М.: Мир, 1979, т.2. с.450.

6. Марихин В.А., Мясникова Л.П. Надмолекулярная структура полимеров.// JL: Химия, 1977, с.67.

7. Карпов Е.А., Лавреньтьев В.К., Розова Е.Ю., Ельяшевич Г.К. // Высокомолек. соед.А,1995, т.37, N 12, с.2035-2042.

8. Ельяшевич Г.К., Козлов А.Г., Розова Е.Ю.// Журнал прикл. химии, 1997, т. 70. 7, с. 1175-1179.

9. Ельяшевич Г.К., Козлов А.Г., Монева И.Т.//Высокомол. соед.,1998 , т.40, 3, с.12.

10. Ельяшевич Г.К., Розова Е.Ю., Карпов Е.А.// Высокомол.соед.,1991, серия Б, т.ЗЗ, 10, с. 723-724.

11. И. A. Guinier, G. Fournet. Small-angle scattering of X-rays.// Wiley, New York, 1955.

12. W. Lambert, P. Philips, J. Lin., Small-angle X-ray scattering studies of cristallization in crosslinked linear polyethylene. // Polymer, v. 35, 9, 1994.

13. N. Stribeck, R. Alamo, L. Mandelkern, H. Zachmann Study of Phase Structure of Linear Polyethylene by Means of Small-Angle X-ray Scattering and Raman Spectroscopy.,Macromolecules, // 1995, 28, 5029-5036.

14. J. Scodla, A. G. Kozlov, M. Raab,I.T. Moneva, G.K. Elyashevich. Mechanical and Orientational Characteristics of Microporous Polyethylene Membranes.// Abstrs of 18th Disc. Conf. "Mechanical Behaviour of Polymeric Materials", 1998, Prague.

15. Новейшие методы исследования полимеров /Сб. статей под редакцией Б.Ки, пер. с англ.- М.: Мир, 1966

16. Keller A., in Growth and Perfection of Crystals, Ed by Doremus R.H., Roberts B.W., Tumbull D„ Wiley N.Y.,1958, p.499.

17. Stein R.S., Keane J.J., // J. Polimer Sci., 17,21(1955).

18. Plaza A., Norris F.H., Stein R.S., // J. Polimer Sci., 24, 455(1957).

19. Norris F.H., Stein R.S., // J. Polimer Sci., 27, 87 (1958).

20. Зинчик А.А., Стафеев С.К., Ельяшевич Г.К., Мельничук А.П., Смирнов А.В., Федоров Б.А. Развитие техники оптической двумерной лазерной дифракции на пленочных образцах. // Известия ВУЗов. Приборостроение, 1998 том 41, № 5, с. 7277

21. Stein R.S., Plaza А. // J. Polimer Sci., 1959, 40, p. 267.

22. Stein R.S., Rhodes M.B. // J. Appl. Phys., 1960, 31, p. 1873.

23. Rhodes M.B., Keedy D. A., Stein R.S., ONR technical Report 46, Project NR 356-378, Contract NONR 3357(01) University of Massachusets, Amherst, Mass., June 25,1962.

24. Stein R.S., Wilson P.R. ONR technical Report 35, Project NR 356-378, Contract NONR 3357(01) University of Massachusets, Amherst, Mass., August 25, 1961.

25. Stein R.S., ONR technical Report 9, Project NR 356-378, Contract NONR 2151(00) University of Massachusets, Amherst, Mass., Febrary 10, 1959.

26. Debye P., Bueche A.// J. Appl. Phys., 1949, 20, p.518.

27. Stein R.S., Wilson P.R., Stidham S.N. ONR technical Report 42, Project NR 356-378, Contract NONR 3357(01) University of Massachusets, Amherst, Mass., Jan 15, 1962.

28. Stein R.S., Wilson P.R.// J. Appl. Phys., 1962, 33,1914.

29. Stein R.S., Rhodes M.B., Wilson P.R., Stidham S.N.// Ann. N.Y. Acad. Sci., 1959, 83, p.37.

30. Rhodes M.B., Stein R.S.// J. Polimer Sci.,1962, 45, p.521.

31. Rhodes M.B., Stein R.S.// Appl. Phys., 1961, 32, p.2344.

32. Борн M., Вольф Э. Основы оптики.//М.: Наука, 1970. 856 С.

33. Федоров Б.Ф., Р. И. Эльман, Цифровая голография//М.:, Наука, 1976

34. Горелик А.Л., Скрипник В.А. Построение систем распознавания. //М.:Сов. радио, 1974. -224 С.

35. Мошкин В.И., Петров А.А., Титов B.C., Якушенков Ю.Г. Техническое зрение роботов. // М.: Машиностроение, 1990. 272 С.

36. Кронрод М.А. Несколько задач обработки изображений. // Вопросы кибернетики. Иконика, цифровая обработка и фильтрация изображений.- 1978.- Вып.38. С.49-59.

37. Кривошеее М.И. Основы телевизионных изображений. // -М.: Связь, 1976. 536 С.

38. Розенфельд А. Распознавание и обработка изображений. //-М.:Мир, 1972. 232 С.

39. Хермен Г. Восстановление изображений по проекциям. Основы реконструктивной томографии. //-М.: Мир, 1983. 352 С.

40. Прэтт У. Цифровая обработка изображений, Т.1.// М.: Мир, 1982. -312 с.

41. Хуанг Т. Обработка изображений и цифровая фильтрация .//-М : Мир, 1979. -212 с.

42. Обработка изображений при помощи ЦВМ // Тематический выпуск ТИИЭР . 1972 -Т 160. -N7.

43. Andrews H.S., Tescher A.G., Krenger R.P., Image prjcessing by digital computer //IEEE. Spectrum. 1972,- v. 9, N 7.-p.20-32.

44. Красильников H.H. Теория передачи и восприятия изображений. // -М.:Радио и связь, 1981, 246 е.: ил.

45. Оптическая обработка информации. // Под редакцией Д.Кейсесента.-М.:Мир, 1980, 349 С.

46. Вандер Люгт А. Когерентная оптическая обработка информации. // ТИИЭР, 1974, Т.62, № 10. с.5-28.

47. Cederquist J., Lee S.H. The use of reedback in optical information processing. //Appl. Phys., 1979. v. 18, № 3. p. 196-207.

48. Lee S.H. Mathematic operations by optical processing. // Optical Engineering., 1974, v. 13, №3., p. 196-207.

49. Березенко А.И., Корягин Л. H., Назарян Л. Р. Микропроцессорные комплекты повышенного быстродействия. //-М; Радио и связь., 1987, 168с

50. Васильев А.А., Касасент Д., Компанец И. Н., Парфенов А.В., Пространственные модуляторы света. // -М; Радио и связь., 1987, 320 с.

51. Грибовский В.П., Полупроводниковые лазеры. //Учебное пособие по спец. "Радиофизика и электроника". Мн : Университетское, 1988, -304с, илл.

52. Фотоника./ Под ред. М. Балански и П. Лоломана / Пер. с Англ. и Фр. / Под ред. М.И.Елинсона. // М; Мир, 1978, 416 с.

53. Даллас У. Синтез голограмм на ЭВМ. В кн. Компьютеры в оптических исследованиях./ пер. с англ.: Под ред. Б.Фридена. //М.:Мир, 1983. с.385-482.

54. Ярославский Л.П. Цифровая обработка сигналов в оптике и голографии: Введение в цифровую оптику. // М.: радио и связь, 1987,296 с.

55. Катыс Т.П. Восприятие и анализ оптической информации автоматической системой. // М.: Машиностроение, 1986, 416 с. ил.

56. Buchtel N.E., Honda R.T. Optical scanning apparatusincorporating counter-rotation of elements about a common driving source.// Pat.4427878 НКИ 250-203 USA, Jan.24, 1984.

57. Pepin C., Herlin P. Video imagery device, especially for a homing unit.// Pat.4404592.

58. НКИ 358-125 USA, Sept.13, 1983.

59. Остапов Ю.М., Васильев Д.В., Заномлеев Ю.И. Теория оптико-электронных следящих систем. // М.: Наука, 1988, 328 с.:ил.

60. Катыс Г.П. Автоматический обзор и поиск в оптическом диапазоне. // -М.: Наука, 1966,160 с.

61. Катыс Г.П. Автоматическое сканирование.// М.: Машиностроение, 1969, 516 С.

62. Stillwell P.F., Moore W.T., Demaine A. Termal scanning devices.// Pat. 4315284 НКИ 358-209 USA, Febr.9, 1982.

63. Hamman W.J. Imaging-system with enlarged depth of field.//Pat.4404594 НКИ 358-209 USA, Sept. 13 1983.

64. Hipp J. Apparatus for determing off-aim during firing simulation.// Pat.4229103 НКИ 356-141 USA, Oct.21, 1980.

65. Jablonowski D.P. Laser scanning and miltiple detectio for video image processing.// Pat. 4286293 НКИ 358-199 SA, Aug.25,1981

66. Harney P.C. Infrared radar system.// Pat. 4298280 НКИ 356-5 USA, Nov.3, 1981

67. Morgan C.E. Method for removal of lidar background backscattering by subtraction of multiple-delayed return signal.// Pat. 4397549 НКИ 356-5 USA, Aug.9,1983.

68. Микаэлян A.JI., Бобрилев P.JI. Голографические системы памяти.// Оптические методы обработки информацию //Л.: Наука, 1974, с.55-77.

69. Wako S., Optical memory having serially stoched hologram plates.// Pat. 4076370 НКИ 350-3.75 USA, Feb.28, 1978.

70. Guest C.C., Gaylord T.C. Optical holographic content addressable memory system for truth table look-up processing.// Pat. 4318581 НКИ 350-3.74 USA, Mar.9,1982.

71. Системы корреляционной обработки изображений основных капиталистических стран./ Под ред. Катыса Г.П. // М.: Научно-технический центр, 1980, 38 С.: ил.

72. Upatnieks J., Christensen C.R., Guenther В. Coherent optical correlator.// Pat. 4277137 НКИ 350-162 USA, Jul.7, 1981.

73. Lemmond C.Q., ScatiaN.J. Holographic character reader.//Pat.3566137 НКИ 686-188 USA, Feb.23, 1971.

74. Верхаген К., Дейн Г., Грун Ф. Распознавали образов: состояние и перспективы. // М.: Радио и связь, 1985. 104 С.

75. Розенфельд А. Распознавание изображений.// ТИИЭР, 1981, Т.69, № 56, с.120-133.

76. Вудс Р.Э., Гонзалес Р. С. Цифровые методы улучшения изображений в реальном масштабе времени //ТИИЭР., 1981, Т.69, №5, с.176-190.

77. Василенко Г.И. восстановление изображений //М.: Радио и связь, 1986, 304 с.

78. Арбузов В.А., Федоров В.А. Синтез и свойства фильтров пространственных частот, вычисляющих лапласиан. // Автометрия, 1970, №6, с.20-34.

79. Trabka Е. Roetbing P. Image transformation for pattern recognition using incoherent illumination and bipolar aperture masks //Journ. Opt. Soc. Amer., 1964, vol. 54, № 10, p. 1210-1220.

80. Арбузов В.А., Козенков Б.М., Федоров В.А. Пространственно-частотные характеристики оптического устройства, выделяющие контур изображения. //Автометрия, 1971, № 1, с. 82-88.

81. Casasent D., Chen. J., Nonlinear local-image prepositing using coherent optical techniques. // Appl. Opt., vol. 22., № 6., p. 808-810.

82. Lee S.H. The synthesis of complex spatial filters for coherent optical data processing. //Patt. Recognition., 1973, vol.5, № 1, p.21-28.

83. Casasent D. Coherent optical pattern recognition: a review.// Optical Engineer, 1985, vol.24, № 1, p.26-33.

84. Casasent D. // Journ. Opt. Soc. Amer.,1971, vol.61, № 4, p.474-476.

85. Brown M.S. Optical edge enhancement applied to scenes with natural vegetation backgrounds.// Optica Acta., 1975, vol.32, № 5, p.549-555.

86. Yu F.T.S. // App!. Opt., 1979, vol.18, № 12, p.2407-2412.

87. Lee S.H. Optical implementation of digital algorithms for pattern recognition. // Optical Engineer., 1986, vol.25, № 1, p.69-75.

88. Ochoa E. // Optical Engineer, 1987, vol.26, № 2, p.85-92.

89. Зверев В.А. Радиооптика: Преобразование сигналов в радио и оптике. //М.: Сов. радио., 1975, 135 с.

90. Jatagai Т.// Appl. Opt, 1986, vol.25, № 10, p. 1095-1098.

91. Stalker K.T.// Journ. Opt. Soc. Amer., 1974, vol. 64, № 6, p. 543-545.

92. Armitage J.// Appl. Opt., 1965, vol. 4, № 2., p.399-405.

93. Lee S.H. // Journ. Opt. Soc. Amer., 1974, vol. 64, № 5, p. 545-553.

94. Kato H., Goodman J. Nonlinear transformation and logarithmic filtering in coherent optical systems.// Optics Commun., 1973, vol. 8, № 4. p. 378-384.

95. Stalker K.T. //Appl. Opt., 1975, vol. 14, № 9, p. 1813-1818.

96. Tai F., Cheng Т., Yu F.T. Optical logarithmic filtering using inherent films nonlinearing.// Appl. Opt., 1977, vol. 16, № 9, p. 2569-2564.

97. Stalker K.T. // Journ. Opt. Soc. Amer., 1974, vol. 64, № 8, p. 543-549.

98. Marks R. Linear coherent optical removal of multiplicative periodic degradation processor theory.// Optical Engineer, 1984, vol. 23, № 6, p. 745- 747.

99. Wu R., Stark H. T hree-dimensional object recognition from multiply views.// Journ. Opt. Soc. Amer., 1986. vol.A3, № 9, p. 1543-1557.

100. Casasent D., Psaltis D. Deformation invariant space-variant optical pattern recognition.// Progress in Optics., 1978, vol Л 6, p.291-356.

101. Yatagai Т., Choji K., Saito H. Pattern classification using optical Mellin transform and circular photodiode array.// Optics Commun., 1981, vol.38, № 3, p.162-165.

102. Casasent D., Xia S.F., Lee A. J., Song J. Real-time deformation invariant optical patter recognition using coordinate transformations.//'Appl. Opt., 1987, vol.26, № 5, p.938-942.

103. Cederquist J. Tai A.M. Computer generated holograms for geometric transformations. //Appl.Opt., 1984. vol.23, № 18, p.3099-3104.

104. Анисимов Б.В., Курчанов В.Д., Злобин В.К. Распознавание и цифровая обработка изображений.// М.: Высшая школа, 1983, 235 с.

105. А. Марешаль. М. Франсон, Структура оптического изображения // М.: Мир, 1964.

106. О'Нейл, Введение в статистическую оптику // М.: Мир, 1966.

107. J1.M. Сороко, Основы голографии и когерентной оптики// М.: Мир, 1971.

108. Х.-О. Пайтген, П.Х. Рихтер , Красота фракталов// М.: Мир, 1993.

109. Y. Sakurada, J. Uozumi and Т. Asakura , Scaling properties of Fresnel diffraction field by regular fractals // Proc. SPIE, 1993, vol. 1983.

110. J. Uozumi, H. ICumura and T. Asakura , Fraunhofer diffraction by Koch fractals //Journal of Modem Optics, 1990, Vol. 37, № 6, p 1011-1031.

111. K. Uno, J. Uozumi, and T. Asakura, Stastical propereties of the Fraunhofer diffraction field produced by random fractals//, Applied Optics, 1993, vol. 32, № 15, p 2722-2729.

112. Васильев Jl.А. Теневые методы //M.:, Наука, 1968.

113. Саламандра Г.Д. Фотографические методы исследования быстропротекающих процессов//М.:, Наука, 1974.

114. ИЗ. Ляликов A.M. Серенко М.Ю.// Оптика и спектроскопия, 76, 810 (1994).

115. Ляликов A.M. Серенко М.Ю.// Оптика и спектроскопия, 78,144 (1995).

116. Ляликов A.M. Серенко М.Ю.// Оптика и спектроскопия, 78, 687 (1995).

117. Ляликов A.M. Серенко М.Ю.// Квантовая электроника, 1996, 23, № 4, с. 381-382.

118. Кольер А.К., Ьеркхард К., Лин Л. Оптическая голография //М.:, Мир, 1973.

119. Бекетова А.К., Белозеров А.Ф., Березкин А.Н. и др. Голографическая интерференция фазовых объектов //Л., Наука, 1979.