автореферат диссертации по радиотехнике и связи, 05.12.04, диссертация на тему:Исследование и разработка методов обеспечения оптимальной технологической воспроизводимости аналоговых микросборок по критерию точности электрических выходных параметров

2 ИССЛЕДОВАНИЕ ТЕХНОЛОГИЧЕСКОЙ ВОСПРОИЗВОДИМОСТИ МИКРОСБОРОК ПО ЭЛЕКТРИЧЕСКИМ ВЫХОДНЫМ ПАРАМЕТРАМ

2.1 Математическая модель точности выходного параметра микросборок

2.1.1 Погрешность выходного параметра микросборок

2.1.2 Определение коэффициентов влияния

2.2 Причины корреляционных связей меяеду параметрами микросборок и их использование для обеспечения технологической воспроизводимости

2.3 Влияние факторов внешней среды на точность выходных параметров

2.3.1 Расчет допусков влажности и ядерной радиации

ВВЕДЕНИЕ

1 ТЕХНОЛОГИЧЕСКАЯ ВОСПРОИЗВОДИМОСТЬ МИКРОСБОРОК

1.1 Содержание проблемы технологической воспроизводимости микросборок

1.2 Анализ конструктивно-технологических особенностей аналоговых микросборок

1.3 Анализ современного состояния проблемы технологической воспроизводимости микросборок

1.4 Анализ методов обеспечения технологической воспроизводимости микросборок

1.5 Постановка задачи

1.6 Выводы

2.3.2 Расчет температурных допусков

2.3.3 Расчет допусков старения

2.4 Методика подбора компонентов .V ^

2.5 Методика установления допусков

2.6 Методика уменьшения количества контролируемых параметров

2.6.1 Выбор контролируемых параметров

2.6.2 Информативность контроля

2.6.3 Аппроксимация корреляционной зависимости между параметрами компонентов и МСБ

2.7 Выводы

3 ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ

ТЕХНОЛОГИЧЕСКОЙ ВОСПРОИЗВОДИМОСТИ

3.1 Выбор объекта исследования

3.2 Разработка физической модели микросборок

3.3 Методика проведения эксперимента

3.3.1 Описание прибора для измерения параметров транзистора

3.3.2 Порядок получения экспериментальных данных

3.4 Статистическая обработка экспериментальных данных

3.4.1 Расчет основных статистических показателей

3.4.2 Построение гистограмм

3.4.3 Проверка соответствия экспериментальных данных нормальному закону распределения

3.5 Построение математической модели точности микросборки МБУ

3.6 Стабильность выходных параметров микросборки

МБУ-2 в заданных условиях эксплуатации

3.6.1 Расчет температурных допусков

3.6.2 Расчет допусков старения

3.7 Оценка технологической воспроизводимости микросборки МБУ

3.8 Применение разработанных методик к микросборке МБУ

3.8.1 Применение методики подбора компонентов

3.8.2 Применение методики установления допусков

3.8.3 Применение методики уменьшения количества контролируемых параметров

3.9 Расчет экономической эффективности от внедрения методики подбора компонентов и методики уменьшения количества контролируемых параметров

3.10 Выводы

4 РАЗРАБОТКА АППАРАТНО-ПРОГРАММНОГО КОМПЛЕКСА ОБЕСПЕЧЕНИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКОЙ ВОСПРОИЗВОДИМОСТИ МИКРОСБОРОК

4.1 Автоматизированная информационно-измерительная система измерения параметров компонентов

4.2 Автоматизированная информационно-измерительная система измерения параметров микросборок

4.3 Программный модуль для подбора компонентов

4.4 Моделирование технологической воспроизводимости микросборок по электрическим выходным параметрам

Актуальность проблемы. В настоящее время сложилось известное противоречие между технологической и функциональной точностью аналоговых микросборок (МСБ), разрыв между которыми составляет 1.2 порядков. Учитывая тенденцию развития микроэлектронной аппаратуры (МЭА) этот разрыв увеличивается. Технологический разброс параметров широк, а потребители МСБ требуют жестких допусков. Для МЭА методы согласования технологической и функциональной точности, применяемые в радиоэлектронной аппаратуре (РЭА) на дискретных элементах, не нашли применения. Поэтому в настоящее время широкое распространение получили методы элементной и функциональной подгонки. Однако, в связи с использованием в МСБ активных компонентов с широкими разбросами параметров, применение известных методов согласования технологической и функциональной точности не всегда возможно ввиду их ограниченной применимости и высокой трудоемкости. Отсюда вытекает необходимость разработки методик, применение которых позволит повысить экономическую эффективность производства МСБ и которая являлась бы дополнением к известным методам.

На стадии проектирования и производства МСБ приходится решать задачи анализа, синтеза и обеспечения ее технологической воспроизводимости. Особенности решения этих задач на ранних стадиях проектирования состоят в том, что их необходимо решать при неопределённых исходных данных. Суть неопределённости состоит в том, что заранее до производства невозможно предвидеть вероятностные характеристики распределения параметров комплектующих компонентов для данной серии устройств, если завод-потребитель обслуживается несколькими заводами-поставщиками. Многие комплектующие компоненты характеризуются большим количеством параметров, сбор статистических сведений о которых для последующего расчёта технологической воспроизводимости МСБ представляется малоэффективным и усложняется с повышением их степени интеграции. В то же время для инженерной практики целесообразно использовать такие методы анализа технологической воспроизводимости, которые были бы сравнительно просты и не налагали бы непреодолимых препятствий в получении и обработке исходной статистической информации. Из этого следует необходимость разработки методов получения математических моделей точности выходных параметров МСБ для обеспечения технологической воспроизводимости без наличия аналитического выражения выходного параметра для МСБ любой степени интеграции.

Технологическая воспроизводимость напрямую связана с точностью обеспечения параметров. К числу первых работ, наиболее полно освещающих вопросы точности электрических цепей, следует отнести работы Быховского M.JI. Теория вероятностей и математической статистики для анализа точности радиоэлектронных схем впервые применена Месяцевым П.П. Значительную роль в разработке методов анализа производственных погрешностей, расчета допусков, обеспечивающих заданную надежность, учета влияний технологических операций на выходные параметры радиоэлектронных устройств принадлежит сотрудникам кафедры 404 Московского авиационного института (Гусев В.П., Фомин A.B., Назаров A.C., Борисов В.Ф. и др.). Из зарубежных источников следует отметить монографию К. Гехера, в которой определены области применения теории параметрической чувствительности и допусков, показана возможность использования теории чувствительности при решении некоторых задач анализа, синтеза и оптимизации допусков. Методика снижения погрешности выходных параметров интегральных схем за счет управления корреляционными связями посредством выбора геометрических размеров комплексов резисторов, изготавливаемых групповыми методами, разработана коллективом сотрудников Казанского авиационного института под руководством Ю.П. Ермолаева. Вопросы теоретического исследования возможностей обеспечения технологической воспроизводимости МСБ по критерию точности электрических выходных параметров, как устройств МЭА III и IV поколений, обладающих сложной спецификой по сравнению с РЭА прошлых поколений, на настоящий момент полностью не изучены.

Таким образом, учитывая вышеуказанное, можно утверждать, что научная проблема, сформулированная в диссертации, является актуальной.

Цель данной диссертационной работы - разработка методики согласования технологической и функциональной точности для обеспечения технологической воспроизводимости аналоговых МСБ с учетом их конструктивно-технологических особенностей.

Поставленная цель достигается решением следующих задач:

- определение параметров моделей (коэффициентов влияния) для каждой МСБ расчетно-статистическим методом;

- разработка методики подбора компонентов с учетом отклонений их параметров от номинальных значений и поля допуска выходных параметров МСБ;

- разработка методики установления допусков на выходные параметры МСБ с учетом неопределенности в распределении параметров навесных активных компонентов и производственных допусков;

- разработка методики уменьшения количества контролируемых параметров на основе статистического анализа и аппроксимации корреляционных зависимостей;

- разработка аппаратно-программного комплекса исследования, обеспечения и моделирования технологической воспроизводимости МСБ на ранних стадиях проектирования.

Методы исследования. В диссертационной работе использовались методы теории вероятностей и математической статистики; методы корреляционного анализа; методы линейной алгебры и матричных вычислений; методы компьютерного моделирования.

Достоверность результатов, полученных в диссертации, подтверждена строгостью математических методов, рецензированием работ, опубликованных в центральной печати и в межвузовских сборниках научных трудов, согласованием основных научных положений с результатами экспериментальных исследований и внедрением результатов диссертационной работы в производственный процесс изготовления МСБ на ОАО «Чебоксарское научно-производственное приборостроительное предприятие «ЭЛАРА».

Новые научные результаты, полученные в диссертационной работе.

1. Разработана методика подбора компонентов, позволяющая по известной математической модели точности подобрать компоненты для максимального количества МСБ в партии без операций подгонки.

2. Разработана методика применения корреляционного анализа для получения математической модели точности выходных параметров МСБ без аналитического выражения выходного параметра.

3. Разработаны и исследованы математические модели процессов формирования различных законов распределения выходных параметров МСБ.

4. Методика установления допусков на параметры МСБ, позволяющая учитывать неопределенность в распределении параметров активных компонентов.

Практическая значимость работы. Разработанная методика подбора компонентов позволяет на ранних стадиях проектирования оценить технологическую воспроизводимость проектируемой МСБ и обеспечить оптимальный уровень технологической воспроизводимости по ТУ.

Методика уменьшения количества контролируемых параметров позволяет снизить трудоемкость операций контроля и регулировки по изготовлению МСБ.

Методика установления допусков на параметры компонентов и МСБ позволяет обоснованно назначать допуски, что в конечном итоге влияет на адекватную оценку технологической воспроизводимости.

Получены значения коэффициентов корреляции между параметрами транзистора 2Т388АМ-2, знание которых позволит увеличить точность выходных параметров МСБ.

Использование разработанных прикладных программ и методик позволило создать аппаратно-программный комплекс исследования, моделирования и обеспечения технологической воспроизводимости аналоговых МСБ по критерию точности электрических выходных параметров.

Внедрение результатов работы. Основные результаты работы приняты к внедрению в производственный процесс научно-производственного приборостроительного предприятия «ЭЛАРА» (г. Чебоксары), а также используются в учебном процессе кафедры «Радиотехника и радиотехнические системы» Чувашского государственного университета им. И.Н. Ульянова по дисциплине: «Основы конструирования и технологии производства радиоэлектронных средств».

Апробация результатов работы. Основные результаты работы были доложены и обсуждены на следующих научно-технических конференциях и семинарах:

1. III Всероссийская научно-техническая конференция «Информационные технологии в электротехнике и электроэнергетике», г. Чебоксары, 2001г.

2. XXXV научная студенческая конференция по гуманитарным, естественным и техническим наукам ЧувГУ, г. Чебоксары, 2001г.

3. Всероссийская научно-практическая конференция «Новые технологии и комплексные решения: наука, образование, производство», г. Анжеро-Судженск,

19 октября 2001г.

4. V Вавиловские чтения «Мировое сообщество и Россия на путях модернизации», г. Йошкар-Ола, 2001г.

5. VI школа-семинар «Актуальные проблемы физической и функциональной электроники», г. Ульяновск, 6-7 декабря 2001г.

Полностью работа докладывалась на кафедре «Конструирование, технология и производство радиотехнических систем» Московского авиационного института в мае 2002 г.

Публикации. Автором опубликовано по теме диссертации 1 статья в журнале «Проектирование и технология электронных средств». Кроме того, опубликовано 9 тезисов докладов на различных конференциях. Всего автором по теме диссертации опубликовано 10 работ.

Объем и структура работ. Диссертационная работа состоит из введения, 4 глав, заключения, списка литературы и приложений. Материал изложен на 170 страницах текста компьютерной верстки, в том числе основной текст - на 147 страницах. В работе 12 таблиц, 26 рисунков, список литературы включает 125 наименований.

4.5 Выводы

1. Компьютерное моделирование позволяет отказаться от физического моделирования, и добиться тем самым сокращения сроков освоения МСБ и запуска их в серийное производство, прогнозировать технологическую воспроизводимость на ранних стадиях проектирования с учетом неопределенности в распределении параметров комплектующих активных компонентов. Разработанный программный комплекс, позволяет проводить статистическую обработку данных, получить математические модели точности выходных параметров, производить подбор компонентов, строить гистограммы, проверять экспериментальные распределения на нормальный закон распределения, получить коэффициенты корреляции с проверкой их статистической значимости.

5- Предложенный метод подбора компонентов в программном исполнении позволяет оптимальным образом подобрать для определенной партии МСБ по известной математической модели точности конкретный набор компонентов по критерию точности электрических выходных параметров, позволяющий отказаться от операции подгонки.

Разработанные функциональные схемы автоматизированных ИИС, реализующих функции измерения параметров транзисторов и МСБ, позволяют автоматизировать процесс измерения, что в конечном итоге позволяет улучшить экономические показатели.

5. Разработанный аппаратно-программный комплекс исследования и обеспечения технологической воспроизводимости, состоящий из комплекса информационно-измерительных систем и программного обеспечения, позволяет на ранних стадиях проектирования оценить технологическую воспроизводимость и добиться ее обеспечения.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

1. Проведенный анализ состояния изученных вопросов показал, что как в теоретических исследованиях, так и в практике разработок выпускаемых аналоговых МСБ задачи анализа и обеспечения максимально возможной их технологической воспроизводимости решается далеко еще не полностью, часто носит интуитивный характер и не отражает системного подхода.

2. Существующий процент выхода годных МСБ еще недостаточно высок и определяется, в основном, соответствием электрических параметров МСБ установленным нормам. Более половины некондиции МСБ обуславливается первоначальными стадиями их изготовления (изготовление пассивной части), и следовательно существуют резервы повышения технологической воспроизводимости МСБ и уменьшения трудоемкости операций контроля и регулировки.

3. Основные причины недостаточно высокой технологической воспроизводимости МСБ при их серийном производстве обусловлены конструктивно-технологическими особенностями МСБ и определяются следующими факторами:

- недостаточной отработкой МСБ на технологическую воспроизводимость на ранних стадиях проектирования;

- ограниченными возможностями применения методов подгонки и контроля;

- нерациональным назначением производственных допусков на операции сборки.

4. В работе с целью повышения технологической воспроизводимости аналоговых МСБ были оценены возможности их отработки на технологическую воспроизводимость при проектировании. В результате чего, для этапа проектирования МСБ предложены методика подбора компонентов и методика установления допусков, позволяющая по математической модели точности выходных параметров подобрать компоненты для максимального количества МСБ без операций подгонки. Методика подбора компонентов позволяет оценивать и управлять предполагаемым в производстве процентом выхода годных. Методика установления допусков позволяет учитывать неопределенность в распределении параметров активных комплектующих компонентов и обоснованно назначать допуски, и добиться тем самым адекватной оценки технологической воспроизводимости. Для этапа серийного производства разработана методика минимизации контролируемых параметров, основанная на статистическом анализе и аппроксимации корреляционных связей между параметрами и выявления источников формирования выходных параметров на основе схемотехнического анализа.

Совокупное применение обеих методик носит системный подход выявления скрытых резервов обеспечения технологической воспроизводимости МСБ.

5. Получены значения коэффициентов корреляции между параметрами транзистора 2Т388АМ-2, позволяющие пополнить банк данных по коэффициентам корреляции уже известной элементной базы и повысит точность выходных параметров МСБ.

6. В работе исследовались различные законы распределения параметров компонентов и выходных параметров МСБ. Учет закона распределения позволяет произвести адекватную оценку доверительных интервалов и доверительных вероятностей, что в конечном итоге отразится на рациональном назначении допусков.

7. Эффективный вклад в решение рассматриваемой проблемы внес разработанный аппаратно-программный комплекс исследования и обеспечения технологической воспроизводимости, позволяющий на ранних стадиях проектирования оценить технологическую воспроизводимость, производить ее моделирование и добиться необходимой технологической воспроизводимости.

136

8. Разработанные методики использованы в проектно-конструкторской деятельности конструкторско-технологического отдела микроэлектроники ОАО «Чебоксарское научно-производственное приборостроительное предприятие «ЭЛАРА» при разработке аналоговых микросборок и позволили повысить экономическую эффективность на18 ООО рублей на 1000 МСБ. Документы, подтверждающие использование основных результатов работы в учебном и производственном процессе, приведены в приложении.

По теме диссертации опубликована 1 статья в журнале «Проектирование и технология электронных средств». Кроме того, опубликовано 9 тезисов докладов на различных конференциях. Всего автором по теме диссертации опубликовано 10 работ.

1. Абезгауз Г.Г. Справочник по вероятностным расчетам. - М.: Воениздат, 1966.

2. Алдопасов В.И., Савельев П.В. Алгоритм анализа чувствительности на основе методов отсеивающего эксперимента // Электронная техника, сер. VI, 1969, вып.5.

3. Альтман. Технология гибридных интегральных схем (Обзор современного состояния).- "Электроника", 1973, т.46, №12, с.27-44.

4. Беелерт С., Возняцки Г. Анализ и синтез электрических цепей методом структурных чисел. М.: Мир, 1972.

5. Берж К. Теория графов и ее применение. М.: Иностранная литература, 1962.

6. Боде Г. Теория цепей и проектирование цепей с обратной связью. -М.: Иностранная литература, 1948.

7. Бормонтов E.H., Вялых С.А., Лежанин В.П., Лукин C.B. Оптимизация процесса изготовления п(р)-канальных МОП ИС по статическим параметрам пары тестовых транзисторов // Микроэлектроника. 1998, Т.27, вып.4, с.282-287

8. Боровиков В.П., Боровиков И.П. Statistica. Статистический анализ и обработка данных. 2-ое издание М.: Филинъ, 1998.

9. Бородачев H.A. Анализ качества и точности производства. М.: Машгиз, 1946.

10. Ю.Бородачев H.A. Обоснование методики расчета допусков и ошибок кинематических цепей. ЧI и II .Изд-во АН СССР , 1943 и 1946.

11. П.Боченков Ю.И. Исследование технологической точности функциональных узлов РЭА при многооперационном процессе изготовления. Канд. диссертация, 1969.

12. Булевский П.И., Лукичев А.Н. Функциональная взаимозаменяемость и задачи ее развития // Стандарты и качество, 1966, №6.

13. И.Быховский М.Л. Основы динамической точности электрических и механических цепей. Изд. АН СССР, Москва, 1958.

14. И.Быховский М.Л. Чувствительность и динамическая точность систем управления // Техническая кибернетика, 1964, №6.

15. Васильев Б.В., Козлов Б.А., Ткаченко Л.Г. Надежность и эффективных радиоэлектронных устройств. М: Сов. радио, 1964.

16. Васильев Б.В. Прогнозирование надежности и эффективности радиоэлектронных устройств. М: Сов. радио, 1970.

17. Вентцель Е.С. Теория вероятностей. М.: Наука, 1969.

18. Войшвилло Г.В. Усилительные устройства. Учебник для вузов. -М.: Связь, 1975.

19. Гехер К. Теория чувствительности и допусков электронных цепей. -М.: Сов. радио, 1973.

20. Гнеденко Б.В., Беляев Ю.К., Соловьев А.Д. Математические методы в теории надежности. М.: Наука, 1965.

21. Говорухин В.Н., Цибулин В.Г. Введение в Maple V. Математический пакет для всех. М.: Мир, 1997.

22. Голинкевич Т.А. Оценка надежности радиоэлектронной аппаратуры. -М.: Сов. радио, 1969.

23. Горлов М.И., Коваленко П.Ю. Технологические тренировки интегральных схем. // Микроэлектроника. 2000, Т.29, №5, с.395-400.

24. Горюнов H.H., Ковалев Н.Ф. Третий симпозиум по надежности в электронике. "Электронная техника. Сер. 8. Управление качеством и стандартизация", вып.6(24), с.99-111.

25. Гусев В.Г., Гусев Ю.М. Электроника. -М.: Высшая школа, 1991.

26. Гусев В.П., Назаров A.C. Проектирование технологического процесса стыковки радиоэлектронных устройств по параметрам точности и надежности. -М:МАИ, 1971

27. Гусев В.П. Технология радиоаппаратостроения. М.: Высшая школа, 1972.

28. Деньдобренько Б.Н., Панюшкин Б.П. О выборе системы электрических допусков радиоаппаратуры. Изв. вузов СССР. Приборостроение. №3, 1968.

29. Дзюба В.И. Изыскание методов повышения эффективности исследования на ЭЦВМ точности и надежности РЭА. Канд. диссертация, 1972.

30. Дульнев Г.Н. Тепло- и массообмен в радиоэлектронной аппаратуре: Учебник для вузов по спец. «Конструирование и производство радиоаппаратуры». М.: Высш. шк., 1984.

31. Дьяконов В.П. MathCAD прорывается в Windows // Монитор Аспект. 1993.-№?,.

32. Дьяконов В.П. Математическая система Maple V R3/R4/R5.- М.: Солон, 1998.

33. Дьяконов В.П. Система MathCAD: Справочник. М.: Радио и связь, 1993.

34. Ермолаев Ю.П., Пономарёв М.Ф., Крюков Ю.Г. Конструкции и технология микросхем. Учебник для вузов. Под ред. Ю.П. Ермолаева. -М.: Советское радио, 1980.

35. Ермолаев Ю.П. Совместная оптимизация электрических и конструктивных параметров гибридных интегральных схем. В сб.: "Микроэлектроника", вып.5, Казань, КАИ, 1971.

36. Ермолаев Ю.П., Шайморданов А.Ю., Харитов М.В. Конструкция и расчёт комплекса плёночных конденсаторов высокой относительной точности, научно-практический сборник «Электронное приборостроение». Выпуск № 4. Казань КГТУ (КАИ) 1987, С 50-58.

37. Ефимов И.Е. Основы микроэлектроники. М.: Связь, 1975.

38. Ефимов И.Е. Современная микроэлектроника. Массовая библиотека инженера, серия "Электроника", Сов. радио, 1973.

39. Журавский В.Л., Платонов В.Д., Шевченко В.В. Физическое моделирование активных микросхем СВЧ диапазона. В кн. Микроэлектроника. Под ред. Васенкова A.A. Вып.6. М.: Сов. радио, 1973.

40. Забродин Ю.С. Промышленная электроника: Учебник для вузов. М.: Высшая школа, 1982.42.3ахаров Ю.В. Математическое моделирование в технологии электронных средств: Учебное пособие. Йошкар-Ола: МарГТУ, 1999.

41. Ильин И.Ю., Конакова Р.В., Ренгевич А.Е., Соловьев Е.А. Измерительный модуль и программное обеспечение стенда контроля параметров полевых транзисторов. // Электроника. 1998, №4, с. 101-104.

42. Ильин В.Н., Кочан В.Л., Фролкин В.Т. Математическое моделирование радиоэлектронных устройств. // Знание. Сер. Радиоэлектроника и связь, №12, 1974.

43. Ильин В.Н. Машинное проектирование электронных схем. М.: Энергия, 1972.

44. Ильинский Н.Ф., Цаценкин В.К. Приложение теории графов к задачам электромеханики. М.: Энергия, 1966.

45. Иыуду К.А. Оптимизация устройств автоматики по критерию надежности. М.: Энергия, 1966.

46. Калниболотский Ю.М., Тимонтеев В.Н. К вопросу о матричном анализе электрических цепей // Изв. вузов СССР, Энергетика, №1,1969.

47. Касаткин A.C., Кузьмин И.В. Оценка эффективности автоматизированных систем контроля. М.: Энергия, 1967.

48. Коваленко И.Н., Филиппова A.A. Теория вероятности и математическая статистика. М.: Высшая школа, 1973.

49. Корн Г., Корн Т. Справочник по математике для научных работников и инженеров. Пер. с англ. Под ред. И.Г. Абрамовича. М.: Наука, 1970.

50. Кофанов Ю.Н. Применение теории параметрической чувствительности. Сб.: Методы разработки радиоэлектронной аппаратуры М.МДНТП, 1970.

51. Левин С.Н. Основы полупроводниковой микроэлектроники. М.: Сов. радио, 1966.

52. Локтаев B.C., Гимпельсон В.Д. Технология производства микромодулей. -М: Энергия, 1973.

53. Лукин B.C. Исследование работоспособности РЭА с использованием ЭЦВМ. Канд. диссертация, 1970.

54. Луцкий В.А. Расчет надежности и эффективности радиоэлектронной аппаратуры. Киев: Наукова думка, 1966.

55. MathCAD 6.0 PLUS. Финансовые, инженерные и научные расчеты в среде Windows 95./ Пер. с англ. М.: Филинъ, 1996.

56. Маклауд Дж. Программа PSpice, версия 4- новое крупное достижение в области смешанного моделирования. // Электроника. 1988. -№23.- с.81-82.61 .Манзон Б.М. Maple V Power Edition. М.: Филинъ, 1988.

57. Маслов А.Я., Татарский В.Ю. Повышение надежности радиоэлектронной аппаратуры. М.: Сов. радио, 1972.

58. Матрицы и графы в электронике. М.:Энергия,1968.

59. Меламедов И.М. Физические основы надежности. Л.: Энергия, 1970.

60. Михайлов A.B., Савин С.К. Точность радиоэлектронных устройств. М.: Машиностроение, 1976.

61. Михайлов A.B. Эксплутационные допуски и надежности в радиоэлектронной аппаратуре. М: Сов. радио, 1970.

62. Москаленко В.Ф., Савичева Э.А. Подгонка номиналов резисторов. Применение Газовых ОКГ в МЭА. // Обзоры по электронной технике. Вып. 1(11), М.: 1972.

63. Назаров A.C. Исследование процесса стыковки функциональных узлов радиоэлектронных узлов. Канд. диссертация, 1969.

64. Наумов И.Е. Физические основы микроэлектроники. МАИ, 1973.

65. Нефедов A.B. Интегральные микросхемы и их зарубежные аналоги: Справочник в 10 томах.-М.: РадиоСофт, 2000.

66. Николаев A.B., Калмыкова С.Р. Вычисление параметрической чувствительности методом присоединенной цепи. Сб.: Методы математического и физического моделирования и оптимизации параметров РЭА. МДНТП, 1972.

67. Носов Ю.Р., Петросянц К.О., Шилин В.А. Математические модели элементов интегральной техники. М.: Сов. радио, 1976.

68. Основы проектирования микроэлектронной аппаратуры. /А.Г. Алексеенко, С.С Бадулин и др.; Под ред. Б.Ф. Высоцкого М.: Сов. радио, 1977.

69. Павлов Е.П. Возможности применения математических и физических моделей для анализа работоспособности больших гибридных микросхем (БГИС). // Вавиловские чтения Йошкар-Ола: МарГТУ, 2000.

70. Павлов Е.П. Физическое моделирование БГИС. Материалы научной конференции по итогам научно-исследовательских работ за 1974 год. МарПИ, г. Йошкар-Ола, 1975.

71. Павлов Е.П., Чумаров С.Г. Исследование корреляционных связей микросборок и их использование для повышения серийноспособности по электрическим выходным параметрам. // Проектирование и технология электронных средств, №4, 2001.

72. Павлов Е.П., Чумаров С.Г. Корреляция и серийноспособность аналоговых микросборок. // Мировое сообщество и Россия на путях модернизации: V Вавиловские чтения. г. Йошкар-Ола, 2001.

73. Прохоров Г.В., Колбеев В.В., Желнов К.И., Леденев М.А. Математический пакет Maple V Release 4: Руководство пользователя. Калуга: Облиздат, 1998.

74. Пряников B.C. Обеспечение надежности сложных систем путем прогнозирования отказов активных элементов. // Вестн. ЧТУ, 1996, №1, с. 100106.

75. Пряников B.C., Чумаров С.Г. Прогнозирование отказов полупроводниковых приборов. // Труды академии электротехнических наук Чувашской Республики, №4,1999, с. 97-100.

76. Разевиг В.Д. Пакет схемотехнического моделирования PSpice 5. -М.: Физматлит, 1994. (Работа с ПК).

77. Сазанов С.Н. Измерительный комплекс для контроля мощных высоковольтных транзисторов. // Электронная техника. Сер.8. Управление качеством, метрология, стандартизация. 1992. - Вып. 2-3(149).- с. 24-26.

78. Семенова Е.Г. Статистическая обработка результатов измерений. 1999.

79. Сешу С, Рид М.Б. Линейные графы и электрические цепи. М.: Высшая школа, 1971.

80. Сигорский В.П., Калниболотский Ю.М. Матрично-топологический метод анализа электронных схем. // Электросвязь, №10, 1968.

81. Сигорский В.П., Петренко А.И. Алгоритмы анализа электронных схем. -Киев: Техника, 1970.

82. Силин В.Б., Заковряшин А.И. Автоматическое прогнозирование состояния аппаратуры управления и наблюдения. М.: Энергия, 1973.

83. Смит О., Кавано В. Моделирование с помощью программы Spice легко и быстро.// Электроника, 1989.- №8 - с. 43-48.

84. Сотсков Б.С. Основы теории и расчета надежности элементов и устройств автоматики и вычислительной техники. М.: "Высшая школа", 1970.

85. Степаненко И.П. Основы микроэлектроники. М.: Сов. радио, 1980.

86. Сыноров В.Ф., Пивоваров Р.П., Петров Б.К., Долматова Т.В. Физические основы надежности интегральных схем. Под. ред. Ю.Г. Миллера. М.: "Сов. радио", 1976, 320с.

87. Тихонов В.И. Статистическая радиотехника. 2-е изд., перераб. и доп. -М.: Радио и связь, 1982.

88. Томович Р., Вукобратович М. Общая теория чувствительности. М: Сов. радио, 1972.

89. Трохименко Я.К. Метод обобщенных чисел и анализ линейных цепей. -М.: Сов. радио, 1972.

90. Туркельтауб P.M. Методы исследования точности и надежности схем аппаратуры. М.-Л., "Энергия", 1966.

91. Филаретов В.В. Топологический анализ электронных схем методом выделения параметров. // Электричество. 1998. №5. - с.43-52.

92. Фомин A.B., Борисов В.Ф., Чермошенский В.В. Допуски в радиоэлектронной аппаратуре. М.: "Сов. радио", 1973.

93. Фомин A.B. ,Боченков Ю.И., Сорокопуд В.А. Технология, надежность и автоматизация производства БГИС и микросборок: Учеб. пособие для вузов./Под. ред. A.B. Фомина. М.: Радио и связь, 1981.

94. Фомин A.B., Обичкин Ю.Г. и др. Надежность полупроводниковых устройств летательных аппаратов. М.: Машиностроение, 1968.

95. Фомин A.B., Чермошенский В.В., Борисов В.Ф. Применение экспериментально-статистических методов к исследованию надежности РЭА по неполным отказам. Сб. «Молодые ученые и исследователи производства», вып.2. Владимир, 1971.

96. Фолкенберри Л. Применение операционных усилителей в линейных ИС. М.: Мир, 1985.

97. Фролов А.Д. Теоретические основы конструирования и надежности радиоэлектронной аппаратуры. М.: Высшая школа, 1970.

98. Чермошенский В.В. Анализ работоспособности радиоэлектронной аппаратуры методом экстремных экспериментов. Сб.: Методы разработки радиоэлектронной аппаратуры. МДНТП, 1970.

99. Чумаров С.Г. Исследование криволинейной корреляции в аналоговых микросборках. // Актуальные проблемы физической и функциональной электроники: Материалы VI школы-семинара. г. Ульяновск, 2001.

100. ПО.Чумаров С.Г. Математическая модель точности микросборок. // Новые технологии и комплексные решения: наука, образование, производство: Материалы всерос. науч. -практ. конференции. г. Анжеро-Судженск, 2001.

101. Шило B.JI. Линейные интегральные схемы в радиоэлектронной аппаратуре. Под ред. Е.И. Гальперина. М.: Сов. радио, 1974.

102. Шишонок H.A., Репкин В.Ф., Барвинский Л.Л. Основы теориинадежности и эксплуатации радиоэлектронной техники. М.: Сов. радио, 1964.146

103. Шор Я.Б., Кузьмин Ф.И. Таблицы для анализа и контроля надежности. М.: Сов. радио, 1968.

104. Шор Я.Б. Статистические методы анализа и контроля качества и надежности. М.: Сов. радио, 1965.

105. Яг лом A.M., Яглом И.М. Вероятность и информация. М.: Физматгиз, 1960.

106. Antognetti P., Massobrio G. Semiconductor device modeling with SPICE. McGrau Hill, Inc. New-York, 1988.117.ßanzhaf W. Computer aided circuit analysis using SPICE.- Prentice Hall, 1989.

107. Gayet A. Hydride Mikroschaltkreise in Dünnschichttechnik. 2 Teil. -"Elektron. Ind.", 1973, B.4, №4, S.66-67.

108. Hines J. R. Circuit simulation with SPICE.- Prentice Hall, 1988.

109. Long-term stability of gold-biased joints. "Electr. Packag. and Prod.", 1969, v.9, №1, p.74,76,79,80,82,84.

110. PSpice User's guide. MicroSim Corporation. La Cadena Drive, Laguna Hills, 1989.

111. Sobol H. A review of the technological and electromagnetic Limitations of hybrid for microwave applications. -"IEEE Trans. Parts, Hybrids and Packag.", 1972, v.8, №2, p.59-66.

112. Spriggs R.S., Cronshagen A.H. Wire-bond reliability in hybrid microelectronics. In: 11th Annual Proc. Reliab. Phys., Las Vegas, New York, 1973, p.83-88.

113. Trends in Microelectronic. -"Elektrotechn. Z", 1972, B.24, №18, S.473.

114. Tuinenga P.W. SPIKE: A guide td circuit simulation using PSpice. Prentice Hall, 1988.