автореферат диссертации по информатике, вычислительной технике и управлению, 05.13.12, диссертация на тему:Автоматизированные методы верификации структуры и анализа: тестов цифровых микропроцессорных устройств

* I

' Г..

Ц " 1 ЯТ И ' ''

■и' /

Ленинградский ордена Трудового Красного Знамени институт тоодой механики и оптики

1!а правах рукописи

РАКОВ Сергей Валентинович

АКОШИЗКРОВАШИЗ МЕТОДУ ВКРШКАЦИИ СТРУКТУРЫ И Л11АЛИЗЛ ТЕСТОВ СТРОГИХ МШ'.РОЛРСЦЕССОРКЫХ УСТРОЯОТЕ

Специальность 05.13.12 - системы автоматизации

проектирования (прошалеиноеть)

Автореферат

диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук

Ленинград 1991

X

1 ; - - :

/■ (■■' / / *

Работа выполнена на кафедре прикладной математики Ленинградского института точной механики и оптики

Научный руководитель - докт., техн. наук

проф. О. Ф. НЕМОЛОЧНОВ

Официальные оппоненты: докт. ,текк. наук

проф. л. в. плот та. ОВ

канд. техн. наук ¡й А. ШУПАК Ведущее предприятие - укаваяо т> реюенки Совета

Защита диссертации состоится " " Яс 1961 г.

в час. ос мин. на заседании специализированного Совета К 0Г<3.26.04. по системам автоматизации проектирования (промышленность) Ленинградского института точной механики и оптики. 107101, Лениннград, Саблинекая ул. ,14.

С диссертацией г-дасю ознакомиться з библиотеке института.

Автореферат разослан " № " _1991 г.

Учений секретарь специализированного Совета К 053.25.04

Е И. ГОЛЯКОВ

ЩГСТВШ!»

¡41 Счс«А

».■ г«»

чТД^Л диссертация

- 3 -

ХАРАКТЕРИСТИКА РАБОТЦ.

Актуальность проблем. Дости/йния к области т. .егральнсй технологии позволили пол/тать микросхемы, содержанию десятки и сотки тысяч вентилей на одном кристалле. Переход к новой (микропроцессорной) элементной базе - БИС и СБИС, характеризующейся большим объемом цифровых устройств (ЦУ), ограниченной доступностью внутренняя точек и невозможностью в большинстве случаен иметь детальное описание микропроцессоров, породил ряд проблем в области проектирования тоетой, моделирования и верификации. Дашшз Факторы в еначнтелькой степени ограничивэют возможности использования логических мэдедвй в существующих системах проектирования цифровых устройств. Для решения перечислению: проблем тробуотся новый подход к вопросам автоматизации проектирования. Данная диссертационная работа пэсвящэна разработке такчх подходов в области аатош-" тизирозанного проектирования тестов и моделирования узлов микропроцессорных устройств.

В условиях ограниченных вычислительных ресурсов прокшяэнаого производства эффективное решение задач проектирования тестов, моделирования к верификации цифровых схем Оольясй степени интеграции возможно лишь путем снижения ргаморности рассматриваемых зч-дач. Одним ип возможных путей б этом направлении является переход к структурно-функциональному уровни представления ЦУ.

Цель работы. Разрабоиса и исследование машшо-ориентированных методов и алгоритмов моделирования, анализа полноты тестов и верификации ЦУ на основ'} ЕКС, изданных на функциональном уровне представления.

Предмет и методы исследования. Объектом исследования являются интегральные схемы (КС) и платы микро-ЭВМ, содержите КС малой., средней и большей степени интеграции. Методы исследования, опираются на использование теории множеств, теории градов, теории конечных автоматов, теории автоматизированного проектирования дискретных устройств, языков программирования.

Научная новипна. Разработаны метбды моделирования ЦУ на структурно-функциональном уровне представления, позволявдие анализировать критические состязания. Предлошнн методы анализа полноты 'тестов для ЦУ на функциональном уровне представления для нескольких классов неисправностей с учетом различных вид^в компенсации.

Предложи и обоснован метод временной верификации ЦУ на. функциональном уровне представления. Предложены методы структурной верификации ЦУ.

Практическая"ценность. Разработаны алгоритмы и программы формирования малинной модели ЦУ на структурно-фушсциопалыгам уровне представления. Разработана система функционально-логического моделирования, ориентированная ка широкий класс ЦУ. В рамках системы расработаны принципы сопряжения компилятивных и интерпретационных моделей уелов НУ. Разработана подсистема интерактнвногс проектирования тестов для микропроцессорных устройств. Продлош язык списания различных классов неисправностей.

Внедрение и апробация работы. На основе полученных результата разработаны программы моделирования и анализа полноты тестов для микропроцессорных устройств, заданных на структурно "функциональном уровне представления, программы временной и структурной Еери-фшеации. Разработанное программное обеспечение вошло в состаЕ системы автоматизированного проектирования ЦУ САПР ЛИТ МО. Результаты диссертационной работы внедрены на одном из промышленных предприятий и используются в учебном процессе в ЛИТМО.

Акты, подтверждающее внедрение, приводятся в диссертации.

Основные результаты диссертационной работы докладывались и обсуждались на:

- всесоюзном семинаре "Машинные методы проектирования электронно-вычислительной аппаратуры", Ленинград, 1/79, 1983;

- II Всесою-'нгч соЕеданик по автоматизации проецирования и конструирования, Москва, 1983:

- всесоюзной научно-технической конференции "Специализированные микропроцессорные системы", Челябинск, 1984;

- республиканской конференции "Автомативация проектирования средств вычислительной техники и радиоэлектроника", Каунас, 1965;

- всесоюзной школе-семинаре "Разработка и применение в парод-ном хозяйстве ЕС ЭВМ", Кишинев, 1995;

- научно-технической конференции "САПР-Эй", Москва, 1935;

- всесоюзной гжоле-семинаре "Проблемы проектирования и производства коммутационных плат", Зуунее, 1988;

- краткэсроедом семинаре "йнтеллекгуальные средства диагностирования РОД". ДДШ1, Л., 1991.

- б -

Публикации., По материалам диссертации опубликовано 12 работ.

Структура и обьем работы. Работа состоит из звэдения, пяти [•лав, заключения, списка .литературы и прилодзння. Обглй объем ра-Зоты составляет 179 страниц машинописного текста, включая 21 рисунков, 13 таблиц и прилолюние.

СОДЕРЖАНИЕ РАБОТЫ

В первой главе обосновывается выбор направления исследования, итределяется понятие? функционального уровня представления ЦУ, ох-натьшаюхего несколько уровней описания: от уровня укрупненных )ункш:оьальяо-законченных уадов СС6У) до уровня логических элементов. Обосновывается необходимость разработки катодов, алгорит-юл и программ функционального моделирования ЦУ, обеспечивающих ;остоверкость результатов модэлиросакия по отноконии к состязани-м. Рассматриваются характерные особенности многоурог.невых систем юделирования, особенности использования и области применения маминых моделей ЦУ на функциональном и логическом уровне представ-ения.

Обосновывается необходимость разработки методики,. методов и лгоритмов интерактивного проектирования тестов нэ основе деду:-цвпого подхода к моделированию ЦУ, заданных на функциональном ровне представления.

Анализируются различные возможности получении малжшых моделей У на функциональном уровне представления. Предлагается метод труктурнс-футт.чциональней проверки взаимно-однозначного соответс-ния полученных моделей и их коррекции.

Формулируются требования к методам вер^икации жкропроцессор-ых устройств в условиях ограниченных вычислительных ресурсов ромышленного производства. Опгсызаются преимущества методов груктурноЛ и временной верификадаи ЦУ, заданных ш функциональны уровне представления, обоскоЕывается необходимость разработки шеанных методов верификации.

Вторая глава посгящена разработке, исследованию и применению >тодов функционального моделирования а системе аьтоматизирован->го проецирован'« цифровой аппаратуры.

Мзтоды функционального моделирования ориентируются на шрогай такс ЦУ, представленных на уровне логических элементов, НС малой

- s -

к сродней степени интеграции, корпусов БИС. Миникальнке неделим: •. подсхемы, хсполт.зусгмые в САП?, назовем макроэлементам (!,!Э).

Б г jase формулируются секогкке требования, предъявляемые и ма-темг?а*«'ссксг и программной модели фунхциолальюго

Б ic?4ecvr.2 1Í3 виб^рактся подсхема с одни« выходом и ьяомзстзо! пходзз. 3*од и. выход могу? Sticb векторнь..-.«. Приорами ш являются логические глзмонты, триггера, ь-разрядные регистры, эркфке-тико-логические устройства и другие.

I&gwctüo п-рзграджх- входов и выхода 1.Э лс^овем функционально«:! контактами ;..тз. Saltos íакционирований задается в ькде и-ьй-яицы пе;>.о;сдов-г1.!ходов клк функцгокальной зависимости Z-:XX.»f,Xt ,2;) :: представляется в виде функционального покрытия (ОГО CF(Z). Взкрьт/л опкеизьетея ь формате функциональных контактов УЗ в виде таблицу, ксло.ый столбец которой соответствует функциональному контакту, а совокупность значений э одной отроке соответствует входному набору. Отроку СП, включаю:щ\>о все входные слова и выходное сло.ю, будем называть функциональным кубом (ИО. Под i-oíí координатой СК будем понимать значение входного (выходного) слова з j-ом столбце

Переход по какой-л:'.5о координате СК определяет предыдущее i последухдее ькаченае сигнала по данной координате. Введем следующее обозкгчченкя: Jo - набор, соответствующий предыдущему значени сигнала по коордчиате; Ос - набор, соответствующий последующем; значению сигнала. 1с/Сс -набор, соответствувс,,Д переходу ст lo i Оо во данной косрд"нате (переходный иаСор).

Л-обой переход Í.Í3 в новое состояние моют быть получен подстановкой конкретных аначеняЛ входных слов X: и вьзодногэ олова Zl i функцию f в качестве параметров и вычисления нового значения выходного слова Конкретный переход, еаписанный в формате Ф1 покрытия, назовем кубом состояния Ю.

Для установки МЭ б заданное состояние из полностью неопределенного в ФП вводятся установочные кубы.

Зля списания СК используется четырехзначный алфавит <0,1, Х.Р] где X •• неопределенное значение сигнала, Р - вектор значений пс входу или выходу Ю, являкчдийся параметром функциональной зависимости Г для данного ФК Дои моделировании и анализе полноты вектор F доопределяется конкретном еначекммк ь алфавите < 0,1,)С-. Б диооертнщи рассмотрев разлнчкял типы ФЛ, определены осо-

Сэиностн малинного представления и мгоритмов обработки.

Машинная модель ЦУ i-ra.tsv быть приставлена как. суперпозиция {•ункциональккх покрытий ;<й. сост^дяюких схему. j учетом евгзе,": I® мздду гобой. Покрытие на каадкй Ш вьйкраогся "з библиотеки, в которой хранятся списания МЭ в общем силе. В процессе трансляции «сходного описания Iii' покрытия "иаотрагаастся" на ксккротиуи разрядность операндов. Достоверность и полнота описаний МЗ я библиотеке могут проверяться как моделированием на заданном тесте, та-i физическим экспериментом."

Язык описания ФП приближен к форме технической документации тредприятий г справочным матертадам, что суа^ствеяно сокращает Фем*игн9 и трудовые затраты при подготовке описания СП, упрошаег то отладку и интерпретацию. В качестве примера рассматривался •ерническое описание и £И на двоичный реверсивный счетчик ¡00ИЕ136. приведенные з таблицах i и 2.

Описанная модель \"Э является интерпретационной. на уровне свл-;ей и на уровне OK покрытия. Компилятивной частью модели являйся программы, реатзунли'.е функциональные зависимости в И.

Моделирован;» Ю вкгючзвт ряд шагов.

1. На основе информации о свяаях h*3 з схеме формируется лояльный куб состояния МЭ с-Тс/Оо, включающий значения на входах Э и его выходе на текущем и предыдущем такте моделирования.

?.. Организуется поиск функциональных кубов в покрытии МЗ. Нз-. Суодимо найти кубы c^.fSC'Vz), поро.ждаюсие куб состояния с.'<5= с;, акой, ито ос С.

3. Бы-а-.сляетоя значение каждого параметра а функции f данного К cf: путем поразрядного объединения векторов, определявших зна- . ения по соответствующем координатам с данным параметром.

•1. Значения параметров подстаЕляогся а поле операции ФК и выделяется результат Z-fc (Р1 ,Р2 .. Рк), где к - число операндов з терации ФИ.

5. Результат моделироьзния Ю на аэдакнсм входном воздействии ¿чксляется как пересечение выходных реакций всех найденных vX

Пример моделирования двоичного реверсивного счетчикз приведен таблице 3.

В диссертации разработаны различные, зависящие от соглашения о адержках МЭ, алгоритмы Функционального моделирования ЦУ, ачало-<чнке алгоритмам логического моделирования.

В методах функционального моделирования используется трьхзка': ний алфавит, однако, Фронт задается в явном виде (0/1 к 1/0), ч'а соответствовало бы пятизначному алфавиту при логическом моделировании.

Соглашения о состязаниях внутри МЭ задается ОТ, _ а ш.сду МЬ I ЦУ - алгоритмом моделирования. В работе предложены и исследонат методы и алгоритму анализа состязаний и их учета при Функциональ-КОМ ЮДЭЛИрОЕейКГ ЦУ.

ФП задает мнохаетво корректных переходов в протлвополоинок состояние и множотво входных наборов, устойчиво хракядах Ю г заданном состоянии (без риска сбоя). Для анализа и учета состязаний на входах и выходе !>!Э введем признак корректности КС, приии-мавдий значение на шозисгво < К,Н К Если на входе !.!Э или егс выходе значение выработано с риском сбоя, то значение по данно« координате помечается признаке!.! КС -К. Корректная выработка значения на входе или выходе Ю отмечается соответственно признаков КС -X. Для удобства катанной обработки при моделировании ЦУ формируется вектор корректности, в котором для всех выхоцоь Ю и ьхе доз схемы устанавливаете/! ссответсгьувдиЛ признак КО.

Учет возможных состязаний при функциональном моделировании заключается в 'анализе' признаков корректности значениД в кубе .состояния 2Х&мы. Для анализа состязаний Ю формируется локальный ьехтор корректности на основе информации из вектора корректности схемы:

ЬКС ~ КС , .... КС^,,.. КС„^, где КН-число координат Ю.

Вектор корректности куба покрытия имоог слодующип вид:

. Результат моделирования Судет удовлетворительным, если для векторов ЬКС и УКС выполняется условии включения; 1КС «57КС. Покоординатные условия операции включения следующие: К6 Н, К 6 Н, К 6 К.

Б диссертации предложены методы и алгоритмы формирования программных компилятивных моделей на Функциональном уровне предстаьлоиия, не гребущие от пользователи навыков в области

УКС « «С,,«^,... «¡¿....«С,

Tad лица l.

Техническое описание счетчика Б00ИЁ136.

Входные координаты Выполняемое действий

Si S2 РО

1 1 X запись одела

О 1 1 прямой счет

1 О L обратный счет

0 О X хранение числа

О 1 0 хранение числа

1 О О хранение числа

Таблица 2.

функциональное покрытие на счетчик 5CQIE13G, irt 500ИЕ136;

С ДШИЧШ -1-Х РАЗЩДШй РЕВЕРСШШ СЧЕТЧЖ КОНТАКТЫ: BX-C,Sl.S2,PO,D, ВЫХ-Qj ЕЕНТОРШ: D.Q;

С СПКСШЙЗ ШКЦИОНЛЛЬШХ КУБОВ

О ЗАПИСЬ ЧИСЛА

1: I/O, 1, 1, X, р, X/?

С ПРЯМОЙ СЧЕТ

2 I/O, 0, 1, 1, X, Р/СЧП

а ОБРАТШ СЧЕТ

3 I/O, 1, 0, 1, X, Р/СЧО

с ХРАНЕНИЕ ЧИСЛА

4 0, X, X, X, X. р/р

б 0/1, X. X, X, X, р/р

б 11 X, X, X, X, р/р

7 X, 0, 0, X, X, р/р

8 1/0. 0 1,0, X. р/р

9 1/0, 1, 0, 0, X, р/р

программирования. Модели формируются автоматически по исходному Формальному описанию структуры схемы. Автоматизация процесса Формирования программных моделей позволяет в значительной степени сократить временные и трудовые затраты при формировании новых моделей, унифицировать структуру и упростить отладку моделей.

В данной главе предложены ФИ и разработаны алгоритмы моделирования специфичных элементов ЦУ: генераторов и элементов задеркк;;.

Третья глава, посзякцэна разработке методики, алгоритмов к программ интерактивного проектирования тестов для микропроцессорных ЦУ, заданных ка функциональном уровне представления.

Для организации диалога в разработанной САПР используется язык сопря,-нения, который включает: средства списания кеиспсав-ностей, средства описания тестовых наборов, средства описания и управления ре.кимаш проектирования. 3 диссертации разработан и описан язык ввода неисправностей и транслятор с данного языка. В системе предусмотрена обработка одиночных константных неисправностей, неисправностей типа короткого гамыкапия и кратных неисправностей. Ввод теста, задание требуемых режимов проектирования обеспечивается средствами ОС ЕС или M3/D0S и средствами управления базой данных.

В основе моделирования ЦУ, ладанных на функциональном ypcLiio представления, лежит векторная обработка информации. Указанна: особенность используется е алгоритмах анализа полноты для сдков-ремекного моделирования группы неисправностей, что значительно повышает эффективность процесса моделирования ЦУ с внесенными неисправностями.

Для описания класса неисправностей ЦУ, заданного на Функциональном уровне представления, в диссертации предложена эквивалентная (каноническая) схема (КС) МЗ, отражающая структуру Ю и пути прохождения информации. В диссертации рассматривается КС для рнз,шчных типое МЭ. Алгоритмы оценки полноты тестовых последовательностей ориентируется на классы неисправностей, рассматриваемых для КС МЭ.

Для анализа полноты тестов-в диссертации разработаны два метода, позволяющие обрабатывать ЦУ на функциональном урозне представления и ориентированные на персональные ЭВМ- дедуктивный (аналогичный методу обратного процеживания неисправностей) к совмещенный (конкурентный). В диссертации сформулированы и обоснованы

словил мкогстактноЯ активизации, рассмотрены условна проявления неисправностей на вихсде неисправного МЭ, условия транспортировки неисправного значения через иепрадшый Ю. разработаны соответствующие алгоритмы.

U обеих методах анализ теста выполняется с последнего набора к первому и от выходов цу к его входам. Указанный подход позволяет существенно сократить рассматриваемое миолйстеэ неисправностей. Алгоритм анализа включает ряд тагов:

а) Первоначально множество проверяемых неисправностей N включает только неисправности на выходах ЦУ, прсверпемы? на данном наборе теста;

б) Нормируются все гозмскные ьгаияндо пути до выходов ЦУ, на которых прочвлядося неисправности nfiN. Seo неисправности, далекие на акта шых путях, включается г. множество N.

е) С учетом условий многстактной активизации формируются все активные пути т.о элементов памяти ЦУ. Неисправности, лежалою на ■ активных путях, включаются ь множество ÍI.

г) Выполняется переход к предыдущему набору теста, для которого такте выполняются п. п. "б" и "в" алгоритма. Алгоритм заканчивается, если рассмотрены все наборы теста.

Алгоритм анализа для каждого па методой отличается принципами формирования активных путей в ЦУ и структурой данных. В методе обратного прослеживания неисправностей генерируется сразу в?~ь активный путь по результатам моде.'мрозания исправного ЦУ. В совмещенном методе предварительно формируется множество локальных активны/ путей через МЭ '.¡хеш, а затем активный путь в ЦУ синтезируется с yviTOM структуры ЦУ путем совмещения соответствующих . .покалькых avv;KEHu:i путей. Соьмещениый метод является болэе быст-родейотЕукоднако, требует больших затрат масинной памяти.

При решении задачи анализа полноты необходимо учитывать явления компенсации, ъозчикакиш при наличии з схеме сходящихся раз-ветвленчй, глобальных петель обратной связи, невозможности резз-нкя установочной задачи при наличии неисправности. Б диссертации разработаны алгоритмы Еыявления условий возникновения компенсаций для микропроце ссор"Ч'х ЦУ на функциональном уровне представления. Для peic-ния данной задачи используются результаты струк- ' турного анализа ЦУ.

Разработанные методы и алгоритмы лег-^и в сйиоеу аредломенкой в диссертации методики интерактивного проектирования теста*.

БютмаюцйЯ методику ручного синтеза теста, анализ качества теста, коррекции или дополнение теста в интерактивном режиме.

В четвертой главе исследуются методы стругадао-функционального анализа и верификации ЦУ. Отмечается повыаенпе роли методом структурного контроля для проверки микропроцессорных устройств. Б диссертации разрабатываются и исследуются методы и алгоритмы контроля, включающие: поиск множества МЭ, охваченных глобальными петлями обратной связи; идентификация множства МЭ, неуправляемых с внешних входов ЦУ; идентификация множества ненаблюдаемых Ю; проверка корректности прохождения информации через петли глобальных обратных связей.

В процессе иерархического проектирования возникает задача верификации ЦУ при переходе к новому уровню представления. Для ре-ейьия этой задачи в диссертации разработан метод структурно-функциональной верификации. В-данном методе ЦУ рассматривается в виде ориентированного раскрашенного графа. Е процессе верификации устанавливается веаимно-одноэначное соответствие мавду вершинами двух сравниваемых графов. В отличии от существующих методов поиска изоморфизмов в графах, предлож-.ниыЯ метод более эффективный, однако, менее универсальный, т. к. учитывает специфику микропроцессорных ЦУ. В диссертации Формулируется и добывается теорема, устанавливающая условия существования взаимно-однозначного соответствия мехду множествами вершин сравниваемых графов.

В диссертации обосновываются преимущества методов временной верификации, ориентированных на функциональный уровень представления ЦУ, -определяется класс задач, решаемых в области анализа временных характеристик.

Для решений вадач временной верификации в диссертации предлагается временная модель ЫЭ, вводится понятие риска сбоя функционирования, возникающего из-за разброса задержек на МЭ и являющегося обобщением понятий динамического и статичесюго рисков сбоя. Величина 'задержки для МЭ, определяется по справочным материалам или технической документации и наносится в функциональное покрытие МЭ для каждого куба при каталогизации ФИ Временные характеристики МЭ учитываются при построении машинной модели ЦУ. В диссертации приводятся подробные результаты исследования условий возникновения риска сбоя функционирования, разрабатываются методы его анализа и учета при функциональном моделировании.

D пятой главе описывается многоуровневая система моделирования

(СФЛМ), предназначенная для двоичного, троичного и _-троичного

моделирования, интераютивного проектирования тестов, анализа полноты тестовых последовательностей, временной верифитации. В работе формулируются основные требования к универсальным многоурозне-вым система?.! моделирования, ориентированным на обработку микропроцессорных ЦУ. Обосновывается выбор структуры СОЛМ, подробно рассматриваются способы управления параллельно работающими обьектами, в качестве которых в СИМ яспользукггся различные типы моделей (компилятивных, интерпретационных, компилятивно-интерпретационных) функционально-законченных узлов ЦУ.

Система СФЛЫ входит в состав комплексной САПР ЭВА. Система существует в двух версиях к может Функционировать в среде ОС ЕС на ЭВМ единой серии, катаная с ЕС!022 или в среде MS/DOS на ПЗВМ типа IBM PC/AT и совместимых с ней. Статистические результаты обработки некоторых микропроцессорных ЦУ на ПЭВМ приведены в таблице 4. При автоматическом синтезе теста боль кое число входных контактов ЦУ (до 70%) остается незадейстЕованннш. При анализе полноты значения на таких контактах доопределяются в логические 0 или 1, что позволяет случайным образом сгенерировать активные пути и дополнительно проверить множество неисправностей. Результаты эксперимента показывает, что на каждый 1% полноты, полученной при автоматическом синтеае теста, в результате анализа добавляется 1-4 7L Если автоматический синтез чередовать с анализом полнен после" каадой "порции" теста, то обаде время синтеэа и длина теста сокращаются на 10-50Х.

Следует отметить, что CioUf разрабатывалась и создавалась как часть комплексной САПР синтеза тестов для микропроцессорных ЦУ. Данный подход потребовал разработки единой малинной модели ЦУ, единой структуры дачных как для автоматического синтеза тестов, так и для моделирования и ручног- синтеза. Тем самым, на систему моделщ >ванич накладывались ограничения, приведшие в некоторых случаях к увеличению времени моделирования.

В диссертации рассматриваются следустае критерии эффективности систем моделирования: ' пасс обрабатываемых схем, класс решаемых с помоць.о уашгой системы задач, множество вариантов моделей V?" ' время моделирования, сервисные возможности. Приводится подробное сравнение разработанной СФЛМ с суцгстЕулэдми системами, орм'&г/!-

Ц ö s S 8 8 3 8

X т < ri чН

>' О О Q

>з О Q О

X О ö О

ri см m *>•

CÍ Et

а

СЗ

а

ш н

Щ ё £

о а> «

t.; п а.

гч «

rd

I

Чсй f-

ж tí

t0 S s

o¡ Si

Г* О

w а

t) 'S

►-I a

S

о а-

-i CJ

t^

W

«

а « o - а еч (X rq o cd to

ti я 9 Г.

ф гч

cj

ti.

к «

to

CL»

frî a? t>? ¡■•¡г i»; bi M

r- 115 r- V-J см ю ОЗ 113 t-l

Oj »Ii Ol Ol Ol 03 Ol ОЗ en

vi л s s! s!

in « 1-- •m1

cm 03 ■LiS

cm ID „ 5 " u5

cm t- 10 чн х-" t -f

s? M

s - -* ïi

05 да to

. im и oj 0j

. оэ

cm o:i r-1 t- î- C'J O)

tn 01 M1 rf r J in оз c¡ II"J a:> 03 m 03 оз

v-t Iß 0? ю r- "t

О Í' to Oï CJ U3 м< H

CM cJ CM Cj" Ö ci t\i 03

4j

о

1) Ю CJ CM

ru ) t i rf

m \ 4 ч ^,

rH U3 Lit о V О X

IS te »Í SP CM r- 'VI IM CM

M « 03 CM (И Oi 4« Ю OJ

CJ гн \ p.) t-

P3 из CM 03 113 H 4

03 't ID c- i-H ИЗ Cl Ol

»J -f v-i 0'J CJ

a in &D r- i

tn 'f oj i

a 03 o oí i

T-l M и ■

f- 1 Ю 03

ri чН a r-< TH CJ -f

h \ V ■N •x îi

tei ti3 en Cl o>

¡I in 113 UJ r-i 03 43 03 Ol

N v-t Г-" T-l

ся положительные особенности СФЛМ и преимущества ее эксплуатации.

Разработанная СФЩ и выбранная структура данных обеспечивает эксплуатацию системы в условиях ограниченных вычислительных ресурсов промышленного производства. Система моделирования обеспечивает обработку широкого класса схем от ИС малого и среднего уровня интеграции до отдельных узлов ЦУ, построенных на основе ЕЖ и СБИС, и микро-ЭВМ в целом.

В приложении приводится списание синтаксиса языка ввода неисправностей, заключения о внедрении алгоритмов и программ.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

1. Разработаны методы и алгоритмы моделирования микропроцессорных ЦУ на функциональном уровне представления, позволяющие аналиэирова ь критические состязания.

2. Разр-чСотаны методы и алгоритмы анализа полноты тестовых последовательностей для схем МП БИС на функциональном уровне представления для нескольких классоз неисправностей с учетом различных видов компенсации.

3. Предложены методы структурного контроля модели ЦУ и структурно-функциональной верификации моделей ЦУ на различных уровнях представления.

4. Предложен и обоснован метод временной верификации микропроцессорных ЦУ на функциональном уровне представления, разработаны алгоритмы и программы логической и временной верификации.

Б. Разработала многоуровневая система моделирования и подсистема интерактивного проектирования тестов, ориентированные на обработку широкого класса схем от КС малого и среднего уровня интеграции дс ИЛ микро-ЭВМ. В рамках системы разработаны прикци-. пы сопряжения компилятивных к интерпретационных моделей узлов ЦУ на различных уровнях представления схемы. Разработан язык описания различных классов неисправностей.

Основные положения и резул гаты, полученные я диссертации, отрате! I в следующих публикациях:

1. Раков С. В., Звягин Е Алгоритм конденсации бикомпонэнт ориентированного графа,- Электронное моделирование, N1, 1583, С. 66-64.

2. Раков С. 3. Моделирование схем на основе БИС. й кн.: Автоматя-зация проектирования и конструирования: Материалы II Всесоюзного совещания, ь! , 1.953, С. ''3 79.

.?. Рокот; С. S. Система функционально- лог нчестоп> ¡/од.^пр'шапиг. ¡¡ифсфнличоннш'. листок. НИТИ, Л. . 1:4. Nïô'.'-O-l.

4. PüKOB C.B. Алгоритм ИД':'Ю ПЛИКаЦИП фуПКПИС'Н? Г.0 •r.ri.fJU'ii.MI'l! л узлов циц'грл'ъых устрийотв. - рукопись ii|,'iu;iiiipof.:.|H::i 1 :i4i'ïiTVIi;irn,..'0-ростро'.-нил ДР2?г« пр-.'!Ш, "правка К

5. Poucot С. Б. , БуОнос О. С. 0т;>• рс^мс росте r:a,u-r::i -шаяи: а лэче.хоуст?й<п:гх>сти ох«м цифрович утгройсть. - ¡укагл.ч. л.'П'Лг-Н'с-вака ? Щ!йтай1рис</ростро.2)1и< .'¡r:''<i:.; M. . n-.xj.

6. i'.";KOE C.B., Кукуиташ S.A. Функционально^ w-i/i-; .иг] ч я.-ч'-ч;-- цк::р-» • ьих :/CTpoi'"jTH. Тонкой докладов îпу'Зли'лноко« JH»1 "Ar.-

ТОЫЧТИН.ЧЦИЯ flpot СТИрОПЯИИЯ ОреДОТВ IWUO.RMIVJfe'IG.! Т.-ХШГ<И и ('Ö.

д:ю.уйкктрон«'.иГ, Кнунас, i'Jöo. и. «B-f-G.

7. pitrzob 0. F;., Яемолочнои о. Ф. , .Цукуигин P.A. :1оД'„'ио71".Г1 цукга:.!: • онаг.ьного моделирования utffcpoL-ux уетроГк-т1;: к-гг'.-м.-.т!:-: oi;a;; n программная модель объекту tenon док-тог, lc-p'-.h- пои пкилч микара "РнйраОотка и ¡чоимеаений т.■ народном rsiw.on* L1' Vitt'.",

1. M., 1г«->. 0. Oil-re'! S. Раков C.B. М.'тод г-труктурн.') -iJ-yHKîKioFacf н..-fi =4îj > •:::*. Пр-кта цифрового уетрой^тза на о..*ном'> RR - •р«-. и?« ,<, т/чд ч; i'a« чс." технической кон^.-ренаки "Ои-т^мы ^.токати*, <■:<•» к:пр.» ьання ОАИР-ЗО", М. , п.''.у-ù'.4.

У. Раксз 0. Б. , Н'молочяоъ о. '1 Про*кти,«>пч:;иг' ттгго!- bjw m:; г и роцеиеоркых uîî-i-PC'i-nx устройсяз мчД'-'ЛКрог.айга i.vHonpa';

костей,- Тезисы дсклачог. Çoccokvhov. s!:i->Jui--;f;,.,ihar.-i "içrab.va лриектироьзкия и т«и.'.ьодс гьа коммутациошшх плат", M'VHi.e. iäöö. 0.45-47.

10. Fa кое С. С. , В*молочнсь О. . йуку^ккн Г. А.. ifciM-bs «г.-: Т. А. Систе va автомати-зирсяи-чного проект:!)* оводу.: i-vi'v. iok-uik уст рокоте «fi баге ПЭВМ Т- САПР1. Иь-Горм-щилни-Л .тлсгл:. ЬГГ»!. .'¡. . 10S0, N йЛ-'.ЗД.

11. Ракоъ O.K. К^модочнов е-. •!>.. Чукугагин А. . ¡лмоглкуя Т. А. Система автоматизированного пидекпнн бчкия v-.-c roi- wnipoi ;.;:■; y::i~ ройггв на базе ЦЧВМ. Материяпи срочного •".тт.'ллек туальшче средства диагностирования KiA". ДКГШ. . J .-'Л. о. 72-71.

12. Раков С. Е, Кедалочпов ').•!. ot-Miw.-f :■•.% на ПЭЕ\- Методические улжпмл л^-Ч-сатоьиому ш:акг:чтм7. ЛГМ.\ Л., 1901, 80с.

f^i-

Подписано к печати 27.ОЙ.91 г. Объем I п.л.

Заказ 421 Тирак 100 экз. Бесплатно.

Ротапринт. jfilïT.'O. IâOOOO, Ленинград, пер.Гривцовг, 14