автореферат диссертации по информатике, вычислительной технике и управлению, 05.13.16, диссертация на тему:Автоматизация тестового диагностирования дискретных устройств ЭВМ на БИС(СБИС) ПЛМ

БЕЛОРУССКИЙ ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО.ЗНАМЕНИ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМЕНИ В.И.ЛЕНИНА

На правах рукописи

АЛЫ11АЭР ФАХЕД

АВТОМАТИЗАЦИЯ ТЕСТОВОГО ДИАГНОСТИРОВАНИЯ ДИСКРЕТНЫХ УСТРОЙСТВ ЭВМ НА БИС(СБИС) ПЛМ

(05.13.16 - применение вычислительной техники, математического моделирования и математических методов в научных исследованиях)

АВТОРЕФЕРАТ

диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук

Минск - 1991

Работа .выполнена.'на' 'кафедре математического обеспечения ЭВМ факультета прикладной математики Белорусского ордена Тру. дового Красного Знамени государственного университета имени В.И.Ленина. - :

Научный руководитель: кандидат технических., наук, • . доцент. Н.А.КОРОТАЕВ

Официальные оппоненты: доктор технических наук, ,. профессор .В.А.МИЩЕНКО

■ • ■ ■■ кандидат технических наук,

доцент Е.В.КОНОВАЛОВ

Ведущая организация: научно-исследовательский

1 институт электронных вычисли-

тельных машин

Защита состоится " 28 я июня 1991 г. вЮ°°часов на заседании специализированного совета К 056.03.14 по присуждению ученой степени кандидата наук в Белорусском ордена Трудового Красного Знамени государственном университете имен] В.И.Ленина (адрес: 220080, г. Минск, Ленинский проспект, 4, главный корпус, ауд. 206).

С диссертацией можно ознакомиться в библиотеке Белорусского государственного университета имени В.И.Ленина.

Автореферат разослан "30 " мая 1991 года.

Ученый секретарь специализированного совета, доктор технических наук

WSEKgiSî ОБЩАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА ДИССЕРТАЦИИ

4'Ш

: и

;::¡¡ш' ктуальность темы.Проблема повышения эффективности '.¡ередс "в вычислительной техники (СВТ) путем быстрого и точного ткения неисправностей и восстановления работоспособности устройств имеет важное народнохозяйственное значение. Одним из действенных способов решения этой проблемы является разработка и применение методов и средств функционального и тестового диагностирования на этапах проектирования, изготовления и эксплуатации СВТ. Существенный вклад в разработку и применение теории диагностирования и надежности дискретных устройств внесли советские ученые Яблонский С.В., Пархоменко П.П.,Хетагу-ров Я.А., Широков A.M., Немолочнов О.Ф., Мищенко В.А., Горяш-ко A.U., Согомонян Е.С., Тоценко В.Г., Чипулис В.П. и другие. Большое внимание уделяется этой проблеме и за рубежом. Вместе с тем, проблему тестового диагностирования дискретных устройств на БИС(СБИС), содержащих более 5 ' Ï03 вентилей и элементов памяти, нельзя считать разрешенной.

Методы диагностирования таких объектов развиваются в направлениях тестового диагностирования и тестопригодного проектирования с использованием средств самодиагностнрованил и реконфигурации. При этом с увеличением степени интеграции БИС все большее предпочтение отдается последнему направлению. Анализ современных методов диагностирования и реальных разработок показывает, что наиболее эффективными оказываются методы и средства, ориентированные на сравнительно узкие классы дискретных устройств. Одним из таких классов являются комбинационные и последовательностные программируемые логические матрицы (ПЛМ), получившие широкое применение в современных дискретных устройствах на БИС(СБИС).

В последние годы предложены и исследованы методы построе-, ния и анализа проверяющих тестов и тестопригодных схем ШШ. Основные результаты в этой области получены Закревским А.Д., Удаловым В.И., Коротаевым H.A., Люлькиным А.Е., Новиковым Я.А. и другими. Однако практика применения этих методов к промышленным БИС(СБИС) ПЛМ показала необходимость дальнейшего совершенствования средств тестового диагностирования и тестопригодного проектирования ШШ, чему и посвящена данная работа.

Цель работы. Разработка и программная реализация на ППЭВМ алгоритмов генерации тестов диагностирования комбинационных и последовательностных БИС(СБИС) ПЛМ, синтез и тестирование тестопригодных ПЛМ, а также апробация работоспособности и эффективности средств диагностирования при их практическом использовании.

Методы исследования. В работе использованы теория и методы технической диагностики, математический аппарат'булевой ал-' гебры, методы теории кодирования, теории вероятностей и теории графов. Программные средства разработаны на базе современных методов системного и прикладного программирования.

Научная новизна работы. Основные научные результаты работы заключается в следующем:

1. Проведено сравнение эффективности методов тестового диагностирования комбинационных и последовательностных БИС (СБИС) ПЛМ при различных допущениях, соответствующих частным случаям их применения для реальных БИС(СБИС) ПЛМ с использованием ППЭБМ.

2. Разработаны и исследованы на ППЭВМ алгоритмы генерации проверяющих тестов и тестов поиска места неисправности для комбинационных и последовательностных БИС(СБИС) ПЛМ и указаны границы (параметры схем) их эффективного применения.

3. Предложен алгоритм обнаружения и отыскания места дефекта в комбинационной БИС(СБИС) ПЛМ, удобный для реализации в специализированном программно-управляемом наладочном стенде, осуществляющем тестирование ПЛМ.

4. Дана классификация методов тестопригодного проектирования БИС(СБИС) ПЛМ, а также разработан и исследован алгоритм синтеза тестопригодной ПЛМ.

5. Разработаны и исследованы алгоритмы синтеза самопроверяемых и несамопроверяемых схем встроенного контроля для БИС (СБИС) ПЛМ. Доказана теорема обнаружения самопроверяемой ПЛМ всех одиночных и кратных дефектов, изменяющих кодовые слова.

6. Предложена структурная модель СБИС(ССИС) с самодиагностированием, реконфигурацией, самовосстановлением и с программируемой структурой, которая может быть использована (с помощью ЭВМ) для исследования надежностных характеристик отказоустойчивых СБИС(ССИС) ПЛМ и выбора наиболее эффективных структур.

2

->. . ' >

Практическая ценность. Разработанные алгоритмы и структурная модель предназначены для использования в области технической диагностики и автоматизации проектирования надежных программируемых БИС(СБИС) при создании тестового обеспечения промышленных САПР и специальной стендовой программно-управляемой аппаратуры, а также могут служить базой для дальнейшего развития методов тестопригодного проектирования БИС(СБИС) ШМ и создания методологии синтеза надежных и живучих кристаллов программируемых схем. Предложенные алгоритмы генерации тестов и синтеза тестопригодных ПЛМ программно реализованы на ППЭВМ EC-I84I и оформлены в виде комплекса программ с использованием операционной системы MS-DOS и системы программирования TURBO PASCAL . Данный комплекс программ используется для тестового диагностирования реальных ПЛМ, выпускаемых НПО "Интеграл", в научных исследованиях тестопригодного проектирования по республиканской программе "Информатика", а также в учебном процессе. Акт о внедрении и использовании результатов работы приведен в приложении к работе.

Апробация работы. Основные результаты диссертационной работы докладывались и обсуждались на республиканской научно-практической конференции творческой молодежи (г. Минск, 1988, 1990), на 1-й Всесоюзной конференции "Однородные вычислительные среды и систолические структуры" (г. Львов, 1990), на республиканской конференции молодых ученых и специалистов (г. Минск, 1988), на семинарах кафедры математического обеспечения ЭВМ факультета прикладной математики БГУ им. В.И.Ленина.

Публикации. Результаты диссертации опубликованы в 10 печатных работах (в 4 статьях и 6 тезисах докладов).

Основные результаты работы, выносимые на защиту:

1. Принципы тестового диагностирования БИС(СБИС) ПЛМ с расширенным классом дефектов, включающим дефекты неконстантного типа;

2. Алгоритмы построения проверяющих и диагностических тестов для комбинационных и последовательностных БИС(СБИС) ПЛЫ;

3. Классификация методов тестопригодного проектирования БИС(СБИС) ПЛМ;

4. Алгоритмы синтеза тестопригодных БИС(СБИС) ШИЛ комбинационной логики и построения для них проверяющих тестов;

5. Структурная модель СБИС(ССИС) с самодиагностированием, реконфигурацией, самовосстановлением и с программируемой структурой (типа ШШ) для исследования надежностных характеристик отказоустойчивых СБИС(ССИС) ШШ и выбора наиболее эффективных структур;

6. Комплекс программ на ППЭВЫ ЕС-1841, подтве^жающий ра-• ботоспособность предложенных алгоритмов;

7. Результаты экспериментального исследования предложенных и известных методов генерации тестов применительно к БИС (СБИС) ШШ.

Структура и объем работы. Диссертация состоит из введения, четырех глав и заключения. Её объем составляет 131 страницу машинописного текста, в том числе 37 рисунков, 21 таблицу, список литературы,включающий 56 наименований и приложение.

СОДЕРЖАНИЕ РАБОТЫ

Во введении дано краткое изложение рассматриваемой проблемы, обоснование актуальности выбранного направления работы, сформулирована цель и приведены основные результаты работы, выносимые на защиту, рассмотрены основные понятия и обозначения, показана значимость полученных результатов и дана аннотация содержания работы по главам.

Первая глава посвящена решению задач диагностирования комбинационных БИС(СБИС) ПЛМ путем разработки и применения алгоритмов синтеза тестов обнаружения и локализации неисправностей настройки (программирования) матриц.

Обнаруживающие и локализующие свойства 1> -го входного

набора Х^ ^ | , ... , Х^ ] , где Х^ е[0,1] определяются на основе соотношения:

{i. Ц -1 i - i. i.Ts,

i y . oc^ - значение входной переменной ь-го входного набора на у -ом входе ПЖ; '

1 J

ф - значение функции на р-ом выходе ГШ! при i-ои

^ Г

входном наборе;

S.t,^" соответственно входы, выходы и терш ПЛМ;

г>г[ = 0(1) - модель неисправностей (0 - исчезновение

нужного транзистора, I - появление лишнего транзистора) настройки матрицы конъюнкций (MI);

2.

m.-Lp = 0(1) - модель неисправностей настройки матрицы дизъюнкций (М2); д ' í L

Л t ha^ ocj = - конъюнкция, реализуемая на l -oit горизонтальной шине матрицы Ы1 ПЛМ при t -оы входном набора.

Входной набор X ^ обнаруживав? неисправность настройки по р -цу выходу ПЛМ, если данный набор является решенной логического уравнения:

V С Ч-р ® > -« ' <г>

oí t гн

где Г - множество выходов ПЛМ, на которых ^ f п на

входном наборе .

Входной набор X ^ локализует обнаруженную неисправность настройки, если он содержит информацию (перемонныз), указывающую место дефекта.

Предложены регулярные алгоритмы синтеза тестов обнаружения и отыскания места неисправности настройки типов 12. Wt; = 1(0), ht; 0 = 1(0) комбинационных ПЛМ,'а также

алгоритмы тестирования реальных БИС(СБИС) ПЛМ. Полученные результаты показывают, что отсутствие в алгоритме вложенных циклов с числом повторений, зависящим от числа вентилей (М ) в схеме кристалла ПЛМ, обусловливает линейную зависимость вычислительной сложности (W ) алгоритма от W .

Предложенные алгоритмы удобны для программной реализации

на 11ПЭВМ типа ЕС-1841 и достаточно эффективны для ПЛМ с параметрами: 15, 48 6(^72, '12^^18, в то время как в известных алгоритмах,широко применяемых для комбинационных интегральных схем,ресурсные характеристики значительно хуже. Так в сС -алгоритме Рота наблюдается квадратичная зависимость вычислительной сложности алгоритма от числа вентилей в схеме (что связано с наличием в алгоритме вложенных циклов, число повторений которых пропорционально N ). В Алгоритме булевых производных, вычислительная сложность которого линейно зависит от N , с ростом интеграции схемы (для БИС и СБИС) увеличивается число термов в булевых выражениях, что существенно повышает вычислительную сложность логических операций. В дедуктивном методе, основанном на переборе множества входных наборов объекта диагностирования, с увеличением степени интеграции и количества входов БИС(СБИС) такой перебор становится неэффективным. Результаты экспериментального сравнения предложенного регулярного алгоритма для комбинационных ПЛМ с классическим вероятностным алгоритмом на ряде реальных схем ПЛМ показали, что по основным параметрам (время построения теста, полнота теста) регулярный алгоритм предпочтительнее вероятностного.

Показано, что при дальнейшем росте степени интеграции БИС ПЛМ значительно увеличиваются затраты на разработку тестов и ухудшается качество проверки. Предлагается кардинальное изменение подходов к диагностированию дискретных устройств на БИС(СБИС) на основе применения методов тестопригодного проектирования (самодиагностирования, реконфигурации и самовосстановления) к БИС(СБИС) с целью обеспечения эффективности диагностирования устройств. Отмечаются простота, достаточная эффективность и удобство реализации в специализированных программно-управляемых наладочных стендах предложенных регулярных алгоритмов обнаружения и локализации дефектов в комбинационных ПЛМ.

Вторая глава посвящена решению задачи диагностирования "последовательностных БИС(СБИС) ПЛМ путем разработки программ для экспериментальной проверки применимости известных широко распространенных методов к последовательностным ПЛМ.

Слокность задачи состоит в следующем: I) тест для схемы

с памятью имеет большую длину, что резко увеличивает объем вычислений при отыскании теста; 2) необходимо учитывать возможность состязаний сигналов как в исправной, так и в неисправной схемах; 3) иногда невозможно найти установочную последовательность входных сигналов для неисправной схемы с памятью из-за неоднозначности её состояния. Поэтому алгоритмы синтеза тестов для последовательностных схем должны гарантировать построение теста, различающего исправную схему от неисправной по выходным реакциям не на одном, а на нескольких^ наборах входных сигналов и/или на нескольких выходах схемы. Эти причины усложняют разработку и практическое применение методов гарантированного построения теста (если он существует) для любых последовательностных схем.

Рассмотрены алгоритмы синтеза проверяющих тестов для БИС (СБИС) ПЛЫ с памятью, разработанные на основе метода преобразования последовательностной ПЛМ к комбинационному виду с последующим нахождением установочной последовательности, метода таблиц переходов-выходов и модифицированного метода о1 -кубов (эвристического алгоритма Рота).

Алгоритмы ориентированы на обнаружение дефектов настройки матриц, которые описываются троичной (М1) и двоичной (М2) матрицами, где строки матрицы М1 представляют собой термы, а столбцы матрицы М2 задают распределение этих териов по ДНФ системы булевых функций, реализуемой ПЛЫ, Регистр в цепи обратной связи (память ШИЛ) реализован на Т или 1) -триггерах. ПЛМ с памятью имеет схемы синхронизации и установки регистра в начальное состоят-" (отсутствует возможность возникновения состязаний), которые предполагаются исправными. Неисправности настройки могут изменять не только функции выходов, но и функции переходов, что может исказить диагностическую информацию. Матрицы М1 и Ы2 могут быть реализованы на биполярных (логика И-ИЛИ) или МОП-элементах (логика ИЛИ-НЕ).

Результаты, полученные с помощью разработанных алгоритмов и программ применительно к промышленный ПМ с параметрами: 10-^5 — 30 , 50^150, Ъ 4 13, показывают следующее: метод преобразования последовательностной ПЛМ к комбинационному виду с последующим нахождением установочных последовательностей теряет свою эффективность (большие длина и время

лоотроешш теста) на Ш1ЭБМ ЕС-1841, начиная с ПЛМ с иарамегра-■XI: 5 > У, су &0, t 3, ^ }~> 4; метод таблиц переходов-выходов применим в том случае, когда функционирование ПЛМ с -памятью выражено в виде таблицы переходов, а параметры ПЛЫ огра-гашены следующими значениями: Ь<7,<^<15,1< 3, *£< 2; эвристический алгоритм Рота, использующий модифицированный сС -алгоритм, модификация которого заключается во введении следующего с1 -пересечения:

. ( Л- , если = Р: ] .

*Ч К } <р , если с/^Д ( 1 3

ТОв .....^¿-кубы, ^/^{ОДхДД},

- , для последовательностных 1Ш с параметром Ч > ¡5 встречает затруднения в обработке большого числа копий, что понижает его эффективность, а также в некоторых случаях не позволяет построить тест, который существует, и не учитывает возможности возникновения состязаний сигналов иа наборах теста.

Отмечается отсутствие эффективных методов генерации тестов для последовательностных БИС(СБИС) ПЛМ, что приводит к необходимости перехода к проектированию тестопригодных интегральных схем.

Глава третья посвящена задачам синтеза и диагностирования тестопригодных БИС(СБИС) ПЛМ.

Предложена классификация методов тестопригодного проектирования БИС(СБИС), которая может быть использована при синтезе тестопригодных ПЛМ.

Разработана программная модель процесса самотестирования ШС(СБИС) ПЛМ с использованием метода ВХЬВО . Модель позволяет определить условия (выбрать полиномы, описывающие функционирование генератора псевдослучайных последовательностей и сигнатурного анализатора) эффективного применения метода ЫI В О для организации самотестирования БИС(СБИС) ПЛМ. Для самотестируемой ШШ полнота ( Р) обнаружения дефектов настройки определяется по формуле

где - число столбцов в ПЛМ, - число точек коммутации

в j. -ом столбце, j. = Гс^ .

Результаты, получе!шые с помощью программой модели, показывают, что с увеличением степени полиноиа применение ыето-да BILBO для ПЛМ становится малоэффективным.

Предложены и исследованы алгоритмы синтеза несаз.юпроворя-емых (СБК) и саыопроверяемых схем (CCEli) встроенного контроля на ПЛМ и на их основе получен алгоритм синтеза саиопроверяе-мой ПЛМ.

Теорема. Самопроверяемая ПЛМ ( S , Су , t ), использующая в режиме контроля двухпроводные -коды, равновесные -

коды и коды с проверкой на четность (нечетность), при соблюдении условия несовместности обнаруживает все одиночные, а также кратные неисправности, изменяющие соответствующие кодовые слова.

Результаты программной реализации на ППЭВМ предложенных на основе данной теорему алгоритмов, а также проведенное тестирование самопроверяемой ПЛМ показывают, что построение сано-проверяемой ПЛМ с помощью ССВК, обнаруживающей неисправности одного из трех видов (константные, дефекты настройки, пороткиэ замыкания шин), является простым и перспективнш направленном. Преобразование ПЛМ в несовместную является также несложной процедурой.

Предложена структурная модель программируемой СБИС(ССИС) с самодиагностированием, реконфигурацией и самовосстановлением (рис. I), в которой значения функций потенциальной живучести F (l,t ) и занятости VJ (I ) средств самовосстановления определяются по формулам:

F(it)= Nt(l,i)/M , VJ (L,t) - M3 Ci-Д)/^ ,

где M L ( L,t ) - математическое ожидание числа рабочих блоков (РБ), реализующих при Ь 0 одаптируеииа программные сродства; N - ix.1(l,t) + vlz_(i.,t) ^-M^t^j + общее число бло-

F

Вход

управления

Входы =01

СУ

ПП.ОЗУ ПЗУ1

ш

Кристалл

ОБ

РБ

П2

СР

СС

1ОД.-I ■

ПЗУ2

Рис. I. Структурная модель БИС(СБИС) с самодиагностированием, реконфигурацей, самовосстановлением

ков ПЛМ; ю-, ) - среднее число отказавших блоков (ОБ),

учитываемых средствами реконфигурации (СР) в момент I О ; И.^'^) - среднее число восстановленных блоков и учитываемых СР; ) - математическое ожидание числа ОБ, учитываемых

средствами самовосстановления (СС); М, (ц! ) - математическое ожидание числа ОБ, занятых самовосстановлением СС; Уп, -число ОБ.

Функции $ (1,1). \/ч1 (с,-Ь >. а также вероятности безотказной работы 1?. (1 ), восстановления I) (1 ) и функция готовности О ( ) определяют качество функционирования вычислительной системы, реализованной в виде СБИС с самодиагностировани-зм и реконфигурацией.

Предложенная модель может быть использована для исследования надежностных характеристик отказоустойчивых СБИС ПМ и зибора наиболее эффективной структуры.

Четвертая глава посвящена разработке и реализации на ШЭВМ ЕС-1841 комплекса программ с целью экспериментальной фоверки предложенных алгоритмов синтеза тестов для комбинаци-1нных ШШ, количественной оценки предложенных и известных ал-'оритмов, а также исследования свойств известных методов для юследовательностных схем при использовании их для тестировали ПЛМ с памятью.

Приводится структура комплекса с описанием отдельных её одулей (рис. 2).

Для предложенного регулярного и классического вероятност-ого методов синтеза тестов для комбинационных ПЛМ, а также ля перечисленных во второй главе методов диагностирования по-ледовательностных схем исследованы зависимости параметров астов ПЛМ (времени синтеза теста, длины и полноты таста) от ледующих характеристик ПЛМ: тестируемости и характеристик раз-зрности (В , ± , ^ , 2 ) .

Установлено, что время синтеза тестов для комбинационных Ш на основе предложенного регулярного метода меньше, чем это 5 время для вероятностного метода, но длины полученных тес->в находятся в обратном отношении, при этой полнота и время »строения теста улучшаются с повышением тестируемости ПЛМ.

Сравнение метода преобразования последовательностей схэ-I в комбинационную, эвристического алгоритма Рота и кетода

Ввод данных

I

Управляющая программа

Синтез

гестов для комй

ПЛМ

¡ПГ

Вер. метод

PROß/lBl

PSEVDOTEST

BIETEST

Регуляр.метод

TESTARRAY

EEiULAR

CT

со ш н и

я О

о

TESTPLAMVST

L

т

И

в

§

5 а

Л

TEJTPLAK

ROTH

MODEL

Синтез и тестиров. secTonpj _i_

Самопроверяемые ПЛМ

Вер. метод

SBLF2

SSVKi

SiVK2.

SSVK3

BUILD

В

Регуллр.

¡уято.тт

SELFTESTPLA

SSVKi

SSVK2

BUILD

±

Вывод данных

1Г0ДПЫХ ПЛМ t

Самотестируемые ПЛМ

SILBO

£1Ш?ип

REG-

rESTMOD

Рис.2. Структура комплекса программ

таблиц переходов-выходов применительно к ПЛМ с памятью показа-чо, что время синтеза и полнота теста ухудшаются в порядке перечисления этих методов, что по длине теста наилучшим является 1лгоритм Рота, а наихудшим - метод таблиц переходов-выходов, «•о для всех перечисленных методов длина, время построения и юлнота теста не зависят от среднего ранга терма ПЛМ.

Особенности применения регулярного и вероятностного методов к тестопригодным комбинационным ПЛМ заключаются в следую-цем: с увеличением тестируемости тестопригодной ПЛМ уненыпает-зя время построения теста на основе регулярного метода и улуч-пается полнота теста, полученного с применением вероятностного метода; длина теста в обоих методах не зависит от тестируемости схемы; при увеличении среднего ранга терма тестопригодной ПМ уменьшаются длина (для вероятностного метода) и полнота [для регулярного метода) теста.

Экспериментальная проверка программного комплекса подтворила его достаточную эффективность и возможность использования <ак в промышленности, так и в учебных целях при подготовке специалистов.

В заключении сформулированы основные результаты работы:

1. Проведен анализ состояния исследований в области автоматизации диагностирования БИС(СБИС) и выделены основные зада-«I тестового диагностирования БИС(СБИС) ПЛМ.

2. Разработаны регулярные алгоритмы построения тостов, которые одновременно обнаруживают и локализуют дефекты расширенно класса константных и неконстантных неисправностей комбинационных ПЛМ. Проведен сравнительный анализ регулярных и вероятностных алгоритмов построения тестов для реальных ПЛМ и по результатам анализа сделан вывод об их эффективности: регулярные алгоритмы позволяют в 2-4 раза сократить время построения геста в сравнении с вероятностными алгоритмами при их целесо-збразном применении к реальнш ШЛА с параметрами: 12^6 ^ 15, [2« Ь $ 18, « 72.

3. Разработаны и исследованы алгоритмы построения проверяющих тестов на основе метода преобразования последовательно-:тной ПЛМ к комбинационному виду с последующим нахождением установочных последовательностей, метода таблиц переходов-выходов и модифицированного метода с/, -кубов. Получены количест-

венные оценки эффективности данных методов при их применении для различных ПЛЫ с памятью. Показаны целесообразность использования при генерации тестов для IUIU с памятью метода преобразования данной схемы к комбинационному виду с последующим построением установочной последовательности и модифицированного метода cL -кубов. Получены зависимости качества тестов, построенных на основе этих и других методов, от роста сложности схем (числа вентилей в ИС).

4. Рассмотрены принципы тестопригодного проектирования БИС(СБИС) ПЛМ и на их основе разработаны алгоритмы синтеза тестопригодных ПЛЫ комбинационной логики и построения для них проверяющих тестов. Приведено количественное сравнение вероятностного и регулярного алгоритмов синтеза тестов для тестопри-годной ПЛМ, откуда следует, что регулярный алгоритм выполняется в 1,5-2 раза быстрее вероятностного алгоритма при их допустимом применении к реальным тестопригодным ПЛМ с параметрами:

17, 12^ « 24, 48« <2 $ 96.

5. Предложена структурная модель СБИС с самодиагностированием, реконфигурацией и самовосстановлением, позволяющая описывать практически различные стратегии организации живучести, анализировать надежностные характеристики и выбирать наиболее эффективнее структуры.

6. Разработан и реализован на ППЭВМ EC-I84I с использованием системы программирования TURSO PASCAL комплекс программ построения тестов на основе вероятностных и регулярных методов диагностирования комбинационных и последовательностных ПЛМ,

синтеза тестопригодных ПЛМ и генерации для них тестов.

ф

Основные результаты диссертации изложены в работах:

1. Алыпаэр Фахед, Мирончикова С.К. К вопросу о диагностировании микропрограммируемых структур на БИС ПЛМ Ц Актуальные проблемы информатики: математическое, программное и информационное обеспечение: Материалы респ. науч.-практ. конф. творческой молодежи, 3-6 мая 1988. - Минск, 1988. - С. 154.

2. Альшаэр Фахед. Построение тестов для ПЛМ с памятью И Применение информатики и вычислительной техники при решении народнохозяйственных задач: Тезисы докл. респ. науч.-практ. конф. молодых ученых и специалистов, 5-7 мая 1989. - Минск,

[989. - С. 201.

3. Коротаев H.A., Алылаэр Фахед. Диагностирование программируемых БИС(СБИС) Ц Вестн. Белорус, ун-та. Сер. I: физ., мат., мех. - Минск, 1989. - 24 с. - Деп. в ВИНИТИ 12.04.89,

» 2372-В89.

4. Алылаэр Фахед. Синтез тестов для тестопригодных БИС (СБИС) ПЛМ Ц Актуальные проблемы информатики: математическое, программное и информационное обеспечение: Материалы меж-респ. науч.-практ. конф. творческой молодежи, 2-6 апреля [990. - Минск, 1990. - С. 144-145.

5. Алылаэр Фахед. Алгоритмы синтеза проверяющих тестов Vi я ПЛМ с памятью Ц Актуальные проблемы информатики: математическое, программное и информационное обеспечение: Материалы лежресп. науч.-практ. конф. творческой молодежи, 2-6 апреля [990. - Минск, 1990. - С. 166-167. •

6. Коваль В.Н., Коновалов Е.В., Альшаэр Фахед. К вопросу )рганизации автоматизированных систем диагностирования программируемых логических матриц на ППЭВМ EC-I84I // Актуальные фоблемы информатики: математическое, программное и инфорыаци->нное обеспечение: Материалы межресп. науч.-практ. конф. твор-геской молодежи, 2-6 апреля 1990. - Минск, 1990. - С. 157-158.

7. Коротаев H.A., Коваль В.Н., Альшаэр Фахед. Синтез тестов для БИС(СБИС) ПЛМ с памятью // Вестн. Белорус, ун-та.

)ер. I: физ., мат., мех. - Минск, 1990. - 18 с. - Деп. в МНИТИ 13.12.90, » 6245-В90.

8. Коротаев H.A., Коваль В.Н., Альшаэр Фахед. Синтез тес-•ов для тестопригодных БИС(СБИС, ССИС) ПМ )/ Вестн. Белорус, гн-та. Сер. I: физ., мат., мех. - Минск, 1990. - 17 с. - Деп.

1 ВИНИТИ 13.12.90, » 6244-В90.

9. Коротаев H.A., Коваль В.Н., Альшаэр Фахед. Встроенные шпаратурные средства для самотестирования программируемых югических матриц Ц Вестн. Белорус, ун-та. Сер. I: физ., [ат., мех. - Минск, 1990. - 17 с. - Деп. в ВИНИТИ 13.12.90,

» 6246-В90.

10. Коротаев H.A., Коваль В.Н., Альшаэр Фахед. Построе-[ие надежных и живучих программируемых СБИС // Однородные выделительные среды и систолические структуры: Тез. докл. 1-й ¡сесоюзной конф., 17-20 апреля 1990. - Львов, I990.-C.II4-II8.