автореферат диссертации по информатике, вычислительной технике и управлению, 05.13.13, диссертация на тему:Методы и аппаратура для функционального контроля ОЗУ на МОП-структурах

Введение.

Глава I. Современное состояние вопросов функционального контроля ЗУ. Постановка задачи исследования и пути ее решения.

1.1. Анализ и обобщение принципов существующих методов контроля ЗУ.

1.2. Обзор современного состояния контрольно-испытательной аппаратуры для ЗУ.

1.3. Выбор и обоснование пути решения задачи контроля МОП-ОЗУ.

1.4. Способы и условия решения задач функционального контроля МОП-ОЗУ.

Выводы.

Глава П. Исследование и разработка методов функционального контроля МОП-ОЗУ.

2.1. Метод оптимальной стратегии поиска неисправностей.

2.2. Метод контроля исправности адресной части ЗУ.

2.3. Испытательные тесты и режимы контроля МОП-ОЗУ. 58 Выводы.

Глава Ш. Исследование и разработка голографической памяти для целей функционального контроля МОП-ОЗУ.

3.1. СЦенка разрешавшей способности голограммы для схем записи с диффузным рассеивателем.

3.2. Анализ распределения интенсивноетей объектной и опорной волн в плоскости голограммы.

3.3. Восстановление изображения входного транспаранта.

3.4. Расчет числа элементов фотоприемной матрицы го-лографического ЗУ.

3.5. Выбор кодов адреса и слова, записываемых на голограмму.

Выводы.

Глава 1У. Исследование и разработка алгоритмов функционального контроля МОП-ОЗУ.

4.1. Алгоритм функционального контроля технического состояния МОП-ОЗУ.

4.2. Алгоритм контроля адресной части МОП-ОЗУ.

4.3. Алгоритм исследования влияния последовательности обращений к модулям МОП-ОЗУ на появление помех в шинах записи и считывания.

4.4. Алгоритмы передачи тестовой информации с фотоприемной матрицы голографического ЗУ.

4.5. Алгоритм индицирования мест неисправностей в условиях динамического контроля МОП-ОЗУ.

Выводы.

Глава У. Разработка аппаратуры для функционального контроля МОД-ОЗУ.

5.1. Структурная и функциональная схемы аппаратуры контроля МОП-ОЗУ.

5.2. Функциональная схема и особенности контроля адресной части МОП-ОЗУ.

5.3. Обращение к голографическому ЗУ при проведении контроля МОП-ОВУ.

5.4. Схемы передачи тестовой информации с фотоприемной матрицы голографического ЗУ.

5.5. Функциональная схема индицирования мест неисправностей при выполнении динамического контроля МОП

Выводы.

Выполнение программ космических исследований в настоящее время не мыслится без широкого использования средств вычислительной техники как в наземной аппаратуре, так и в пилотируемых и беспилотных космических станциях. Это обусловило колоссальное расширение возможностей и производительности вычислительных систем и породило целый ряд сложных проблем, связанных с контролем функционирования, диагностикой неисправностей, ремонтом вычислительных устройств и поиском путей адаптации к изменившимся условиям.

Как известно, Советская программа исследования и освоения космического пространства предусматривает в первую очередь использование автоматических средств. Доминирующее значение это направление получило при исследовании Луны и планет Солнечной системы,при котором предполагается самое широкое применение автоматических исследовательских аппаратов (АИА) [24, 83 ] . Именно такие аппараты явятся "ступенями" на пути дальнейшего проникновения человека в тайны космологии, морфологии Земли и Солнечной системы в целом.

Проблема оптимального управления АИА является одной из актуальных задач современной космической техники. Ее решение связано со значительными трудностями, главными из, которых являются сложность оперативной и достоверной оценки реальной обстановки, возникающей на пути движения АИА. Программа действий и характер перемещения АИА определяется на основе операции сравнения моделей поверхности, хранящихся в ЗУ бортовой ЭВМ, с изображениями, полученными непосредственно в ходе перемещения АИА [24 ] . Это позволит объективно оценить реальное состояние поверхности. Общее целевое поведение АИА, то есть программа действий такого аппарата, будет определяться бортовой вычислительной системой (ВС) с учетом реальной обстановки и состояния поверхности планеты.

В первую очередь необходимо решить проблему обеспечения высокой надежности и безотказности работы полупроводниковой памяти ВС АИА, построенной на основе МОП-структур, так как ее исправность и работоспособность непосредственно влияют на эффективность управления космическим аппаратом и выполнение запланированных научных экспериментов. Одной из важнейших задач обеспечения надежности памяти ВС АИА является задача оптимального выбора способов и средств проверки таких ЗУ. Необходимость контроля обусловлена также тем, что в ходе длительных космических экспериментов (несколько месяцев, лет) планируется периодически включать систему в режим контроля с целью локализации неисправностей или автоматической реконфигурации системы, а в пилотируемом полете и выполнение операций ремонта.

Анализ современного состояния разработок методов и аппаратуры для контроля ЗУ различных типов показал, что в настоящее время не существует общего подхода к задаче выбора структуры и характеристик системы контроля и испытаний ЗУ [9, 18, 20, 26, 28, 31, 57, 68, 70, 71, 81, 86 , 87].

Известно, что основной вклад в решение задач контроля оперативных ЗУ и, в частности, полупроводниковых ОЗУ (ПОЗУ), внесен коллективами таких организаций, как НИИЦЭВТ, НИИВЕС, НИИЭУМ,предприятие п/я Г-4749 и др. Среди авторов работ по контролю ПОЗУ следует отметить Георгиева Н.В., 1усева В.А., «Пднилова В.В., Жаркову Л.Е., Крупского A.A., Савельева B.C., Седлова В.А., Сли-вицкого JD.A. Ч ряд других. Однако, следует считать недостаточно разработанными вопросы теории и формализованные методы контроля и диагностики устройств памяти [42 , 70, 71, 86 , 87, 93, 102 ]. Все это приводит к разобщенности в выборе способов контроля и режимов испытаний ОЗУ и, как следствие этого к отсутствию серийно выпускаемой аппаратуры подобного назначения с удовлетворительными техническими характеристиками.

Проведенный анализ показал, что если для широко используемых в настоящее время магнитных оперативных 37 (МОЗУ), а также для ЗУ, построенных на основе магнитных лент и дисков, имеются более или менее удовлетворительные устройства для их контроля и испытания, то для полупроводниковых ЗУ таковые отсутствуют. К тому же методика и устройства контроля МОЗУ хотя и являются наиболее разработанными, однако они приспособлены в основном только для контроля МОЗУ, которые на протяжении многих лет оставались основным типом ЗУ, а методологические основы контроля и испытаний их мало менялись независимо от целей.

Практика показывает, что вопросам обоснованного выбора систем контроля и контрольно-измерительной аппаратуры с учетом структурных и функциональных особенностей разрабатываемых ЗУ (как полупроводниковых, так и других типов) уделяется недостаточно внимания. Такой вывод является логическим следствием того, что задачи проверки исправности, работоспособности и поиска неисправностей в условиях производства и эксплуатации вынужденно решаются после того, как устройство уже спроектировано и даже изготовлено. Кроме того, отсутствие серийно выпускаемой контрольно-измерительной аппаратуры не позволяет своевременно учесть те изменения и дополнения, которые целесообразно внести в ЗУ, чтобы обеспечить простоту и удобство контроля его технического состояния.

Таким образом, одной из важнейших задач обеспечения надежности полупроводниковых ОЗУ ВС АЙА является задача выбора способов и средств проверки таких ЗУ. Используемые в работе термины и определения приведены в соответствие с ГОСТ 20911-75 (Техническая диагностика. Термины и определения), который не изменился и в новой редакции ГОСТа, введенного с 1.01.83г.

В связи с вышеизложенным целью работы является разработка методов, алгоритмов и аппаратуры для функционального контроля ОЗУ на ШП-структурах (МОП-ОЗУ), устанавливаемых на борту космических аппаратов. При этом учитываются факторы, влияющие на правильность функционирования МОП-ОЗУ, общие и частные требования, предъявляемые конкретными условиями эксплуатации, а также степень надежности и безотказности работы МОП-ОЗУ на борту АИА.

Поставленная цель достигается разработкой следующего:

- метода и алгоритма поиска неисправностей в МОП-ОЗУ;

- метода и алгоритма проверки исправности адресной части МОП

ОЗУ;

- голографического ЗУ со страничной организацией;

- алгоритмов и схемы передачи тестовой информации с фотоприемной матрицы голографического ЗУ;

- комплекса аппаратуры, электронная часть которого изготовлена в виде единого прибора.

Методы исследования. Цри решении поставленных задач в работе используются: методы теории ориентированных графов, теория и методы синтеза микропрограммных автоматов, теория множеств и методы оптической обработки информации. Основные теоретические положения подтверждены результатами экспериментальных исследований.

Научная новизна. В диссертационной работе получены следующие оригинальные результаты.

I. Предложена модель МОП-ОЗУ в виде графа, отражающего функциональные и информационные связи отдельных физических блоков. Разработан эвристический метод и алгоритм поиска неисправностей, позволяющий выбирать оптимальную (по времени поиска) последовательность проверок блоков МОП-ОЗУ. Введены понятия базисного и условно-базисного уравнений, описывающих модель. Дркацаны необходимые и достаточные условия существования оптимальной стратегии поиска неисправностей.

2. 1&зработан метод проверки исправности адресной части ЗУ для случая появления неисправностей типа "О" ("жесткий 0") или "Iй ("жесткая I") в разрядах регистра адреса ЗУ. Получены аналитические соотношения, описывающие выявленную закономерность в изменении кодов адреса для данного типа неисправностей.

3. Предложен новый способ аппаратной генерации тестов для проведения функционального контроля МОП-ОЗУ в статическом и динамическом режимах, соответствующих условиям его эксплуатации.

4. Р&зработан алгоритм исследования влияния последовательности обращений к модулям МОП-ОЗУ на появление помех в шинах записи и считывания.

5. Разработано голографическое ЗУ (ГЗУ) для хранения и генерации заданного множества испытательных тестов и тестовых последовательностей. При этом получены:

- аналитическая зависимость распределения интенсивности света в восстановленном изображении страницы ГЗУ для схемы записи с диффузным рассеивателем;

- аналитические соотношения для расчета числа элементов фотоприемной матрицы ГЗУ в зависимости от емкости контролируемого МОП-ОЗУ и его структурной организации.

Практическая ценность работы состоит в том, что предложенные методы и разработанная аппаратура позволяют:

- проводить контроль МОП-ОЗУ в статическом и динамическом режимах, соответствующих условиям его эксплуатации;

- Выявлять наиболее сложный вид сбоев в работе МОП-ОЗУ, вызванных перекрестными емкостными и индуктивными по мехами, которые появляются на адресных и числовых шинах в зависимости от порядка обращений к группам ячеек и топологии схемы МОП-ОЗУ;

- осуществлять полную автоматизацию процесса поиска неисправностей;

- сократить в 2-3 раза затраты рабочего времени на настройку и контроль МОП-ОЗУ и в 3-4 раза время определения неисправности по сравнений с известными способами.

Опытная эксплуатация разработанной аппаратуры показала ее эффективность при проведении контроля полупроводниковых ОЗУ, построенных на различной элементной базе и имеющих различные схемы организации.

Проведенный расчет экономического эффекта внедрения в производство результатов работы позволил определить размер фактического экономического эффекта, который составил 187,4 тыс.рублей.

Значение полученных результатов для теории состоит в следующем:

- дальнейшем развитии ж расширении методов контроля устройств памяти;

- разработке эвристического метода поиска неисправностей в МОП-ОЗУ, фи этом сформулированы и доказаны леммы о существовании оптимальной стратегии поиска неисправностей с введением понятий базисного и условно базисного уравнений и условий для их выбора;

- получении аналитических соотношений, описывающих выявленную закономерность в изменении кодов адреса для случая появления неисправностей типа код "0й или код "I" в разрядах регистра адреса ЗУ;

- получении аналитической зависимости распределения интенсивности света в восстановленном изображении страницы ГЗУ для схемы записи с диффузным рассеивателем.

Реализация результатов работы. Разработанные в диссертации методы и аппаратура для функционального контроля ОЗУ на МОП-структурах использованы в Особом конструкторском бюро Института космических исследований (ОКБ ИКИ) АН СССР при проведении контроля и поиска неисправностей в экспериментальных образцах МОП-ОЗУ на стадии их изготовления, а также при испытании МОП-ОЗУ в условиях, заданных техническим заданием и оперативно-тактическим назначением МОП-ОЗУ,

Данная работа выполнялась в соответствии с комплексным планом научно-исследовательских работ АН СССР по проблеме "Голография" Отделения общей физики и астрономии ( раздел Ш, пункт 21« Научно-исследовательская работа: "Исследование возможностей использования методов и средств голографии для стендового контроля бортовой аппаратуры", выполняемая кафедрой ЭВМ Челябинского политехнического института совместно с СКВ ИКИ АН СССР). Полученные в работе результаты использованы при выполнении НИР: "Разработка на основе голо-графических принципов системы управления автономными космическими роботами для исследования поверхности планет". Работа выполнялась в соответствии с комплексным планом научно-исследовательских работ Научно-Координационного Совета Минвуза СССР по проблеме "Роботы, манипуляторы и шагающие машины" (научное направление "Элементы искусственного интелекта для роботов").

Публикации. Всего опубликовано 40 печатных работ из них по теме диссертации 34 работы. Без соавторов опубликовано 26 печатных работ, составляющих 260 печатных страниц. В соавторстве опубликовано 8 печатных работ, составляющих 75 печатных страниц.

Апробация работы. Основные результаты работы докладывались и Абсуждались на 7 Всесоюзных конференциях и семинарах в 1973-1984 годах и кроме того на Международном семинаре социалистических стран "Научное космическое приборостроение" в 1978 году.

Результаты работы использованы в Особом конструкторском бюро Института космических исследований АН СССР при проведении контроля и поиске неисправностей в экспериментальных образцах МОП-ОЗУ,а также при испытании их в условиях, заданных техническим заданием и оперативно-тактическим назначением МОП-ОЗУ. Работа выполнялась в соответствии с комплексным планом научно-исследовательских работ АН СССР по проблеме "Голография" Отделения общей физики и астрономии ( раздел Ш, пункт 21. Научно-исследовательская теш: "Исследование возможностей использования методов и средств голографии для стендового контроля бортовой аппаратуры").

Полученные в работе результаты использованы при выполнении НИР: "Разработка на основе голографических принципов системы управления автономными космическими роботами для исследования поверхности планет", проводимой в соответствии с комплексным планом научно-исследовательских работ Научно-координационного Совета Минвуза СССР по проблеме "Роботы, манипуляторы и шагающие машины" (научное направление "Элементы искусственного интеллекта для роботов") .

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

В качестве основных результатов работы можно указать следующее:

I. Разработан эвристический метод и алгоритм поиска неисправностей, позволяющий выбирать оптимальную (по времени поиска) последовательность проверок блоков МОП-ОЗУ. Сформулированы условия для выбора оптимальной стратегии поиска неисправностей. Введены понятия базисного и условно базисного уравнений, описывающих модель.

2. Получены аналитические соотношения, описывающие выявленную закономерность в изменении кодов адреса для неисправностей типа "О" или "1" в разрядах регистра адреса ЗУ.

3. Предложено и разработано ГЗУ со страничной организацией, использование которого в составе комплекса аппаратуры позволяет хранить и генерировать заданное множество испытательных тестов и проводить контроль МОП-ОЗУ в режиме, соответствующем его быстродействию. В процессе разработки ГЗУ получены следующие результаты:

- аналитическая зависимость, определяющая распределение интенсивности света в восстановленном изображении страницы ГЗУ для схемы записи голограмм с диффузным рассеивателем;

- аналитические соотношения для расчета числа элементов фотоприемной матрицы ГЗУ в зависимости от емкости контролируемого МОП-ОЗУ и его структурной организации.

4. Предложен новый способ аппаратной генерации тестов для контроля МОП-ОЗУ, позволяющий в 3-4 раза сократить время тестирования.

5. Разработан комплекс аппаратуры, изготовленный в виде прибора, что обеспечивает проведение функционального контроля МОП-ОЗУ в различных условиях испытаний, в том числе и полевых. Практическое использование аппаратуры позволяет:

- осуществлять полную автоматизацию процесса поиска неисправностей;

- сократить в 2-3 раза затраты рабочего времени на настройку и контроль МОП-ОЗУ и в 3-4 раза время определения неисправности по сравнению с известными способами.

Опытная эксплуатация разработанной аппаратуры показала её эффективность при проведении контроля полупроводниковых ОЗУ, построенных на различной элементной базе и имеющих различные схемные организации.

Экономический эффект от внедрения результатов работы в Особом конструкторском бюро Института космических исследований АН СССР составляет 187,4 тыс.рублей.

1. Автоматизированная система контроля и диагностики логических узлов и блоков на этапе производства (В.ЛЗ.Лидак., Г.А.Подунаев, В.В.Кожевников и др. - Автоматика и вычислительная техника, 1983, Л» 3, с.57-63.

2. Акаев A.A., Майоров С.А. Когерентные оптические вычислительные машины. Л.: Машиностроение. Ленингр.отд-ие, 1977. - 440с.,ил.

3. Акаев A.A., Майоров O.A. О записи матрицы фурье-голограмм »исключающей взаимные помехи. Квантовая электроника, 1975, т.2,1. А? 5, с.955-962.

4. Акаев A.A., Майоров С .А. Оптимальные соотношения между геометрическими параметрами голографического запоминающего устройства большой емкости. Квантовая электроника, 1975, т.2, й 4, с.693-700.

5. Акаев A.A., Майоров O.A., Смирнов H.A. К теории и организации ГЗУ. В кн.: Однородные вычислительные системы и среды: Материалы 1У Всесоюз.конф.по однородн.вычислит.сист.и средам. -Киев: Наук.думка, 1975, с.164-167.

6. Борисов B.C. Количественные характеристики повышения надежностиполупроводниковых ЗУ при обнаружении и исправлении ошибок.-Микроэлектроника, 1982, т.II, вып.2, с.109-112.

7. Б>утт В.Е., Панков Б.Н. Быстродействующая фотоприемная матрица.- Автометрия, 1976, $ 6, с.88-92.

8. Васильев A.A., Компанеец И.Н., Никитин В.В. Управляемый транспарант в голографических системах обработки информации. В кн.: Оптические методы обработки информации: Сб.статей /Под ред.проф.С.Б.1Уревича. - Л.: Наука. Ленингр.отд-ие, 1974,с.III-117.

9. Введение в техническую диагностику /Г.Ф.Верзаков, Н.В.Киншт,

10. B.М.Рабинович, Л.С.Тимонен. М.: Энергия, 1968. - 224,е., ил.

11. Волков А.Ф., Ведешенков В.А., Зенкин В.Д. Автоматический поиск неисправностей в ЦВМ. М.: Сов.радио, 1968. - 151 е.,ил.

12. Володин Е.Б., Свидзинский К.К. Возможность построения интегральных управляемых транспарантов для оптической цифровой техники и связи. Автометрия, 1977, ^ 4, с.68-76.

13. Восстановление голограмм с помощью инжекционных лазеров /Н.Г. Басов, В.В.Никитин, В.Д.Самойлов, Г.И.Семенов. В кн.: Оптические методы обработки информации: Сб.статей /Под ред.проф.

14. C.Б.1Уревича. Л.: Наука. Ленингр.отд-ие, 1974, с.94-111.

15. Восстановление голографического изображения излучением полупроводникового лазерного экрана. /Б.И.Васильев, В.И.Козловский, А.С.Насибов, А.Н.Печёнов. Квантовая электроника, 1974, № I, с. 81-90.

16. Встроенный контроль как метод ускоренной проверки БИС-ОЗУ

17. А.С.Березин, С.Е.Галкин, В.А.Ладшинский, Е.М.Онищенко. Электронная техника. Сер.З. Микроэлектроника, 1983, вып.К103), с.104-108.

18. Георгиев Н.В. Перекрестные помехи в субсистеме полупроводникового ОЗУ. Вопросы радиоэлектроники, серия ЭВТ, 1970, вып. 9, с.112-118.

19. Георгиев Н.В., Орлов Б.В. Функциональный контроль полупроводниковых запоминающих устройств. Электронная промышленность, 1982, № б, с.3-21.

20. Гибин И.С., Твердохлеб П.Е. Обработка информации в оптических системах голограммных ЗУ. В кн.: Голография и обработка информации: Сб.статей /Под ред.проф.С.Б.1Уревича. - Л.: Наука. Ленингр.отд-ие, 1976, с.5-23.

21. Голограммное запоминающее устройство, взаимодействующее с ЭВМ /Л.В.Выдрин, И.С.Гибин, Э.Л.Кощеев и др. Автометрия, 1974, № I, с.3-9.

22. Голографические запоминающие устройства /В.И.Ерошин, Г.П.Новиков, А.М.Марипов, Ш.А.Абдуллин. Труды /Фрунзенский политехнический ин-т, 1973, të 66. Техническая кибернетика, с.109--118.

23. Голография и управление космическими самоходными аппаратами. /В.И.Ерошин, Г.П.Новиков, В.М.Бусаргин, Т.И.Курманалиев.

24. В кн.: Технология производства космической аппаратуры. -М.: Наука, 1974, с.99-128.

25. Горбатов В.А. Схемы управления ЦВМ и графы. М.: Энергия, 1971. - 152 е., ил.

26. Гусев В.А. Физические основы некоторых испытательных программ для магнитных оперативных запоминающих устройств.- В кн.: Цифровая вычислительная техника и программирование: Сб.статей /Под ред.А.Китова. М.: Сов.радио, 1966, вып.1,с.74-86.

27. Данилов В.В., Клюев И.Н. Из сты с заданными свойствами для БЖ 037. Электронная техника. Сер.8. Управление качеством, стандартизация, метрология, испытание, 1983, вып.3(102), с.30-37.

28. Двухкоординатный акустооптический дефлектор. /С.В.Богданов, В.Н.Вьюхин, И.С.Гибин и др.- Автометрия, 1975, № 3, с.12-18#

29. Ерошин В.И. Анализ и оценка перекрестных помех в системе ОЗУ на МОП-структурах. Челябинск, 1975. 8с. - Рукопись представлена Челяб.политехн.ин-том. Деп. в ЦНИШЭИПриборостроения 26 января 1976, № 485.

30. Ерошин В.И. Анализ распределения интенсивностей объектной и опорной волн в плоскости голограммы. Тематич.сб.науч.трудов/ Челяб.политехн.ин-т, 1980, № 250. Информационные и управляющие элементы и системы, с.97-99.

31. Ерошин В.И. Выбор последовательности проверок блоков вычислительного устройства при поиске неисправностей в нем. Тема-тич.сб.науч.трудов /Челяб.политехн.ин-т, 1979, № 231. Информационные и управляющие элементы и системы, с.154-156.

32. Ерошин В.И. Графы алгоритмов передачи информации с фотоприемной матрицы голографической памяти. Челябинск, 1975. - 17 с. - Накопись представлена Челяб.политехн.ин-том. Деп. в ЦНИИТЭИприборос троения 26 янв. 1976, Л 486.

33. Ерошин В.И. Использование голографической памяти для функционального контроля полупроводникового оперативного ЗУ. Челябинск, 1977. - Юс. - Рукопись представлена Челяб.политехн. ин-том. Деп. в ЦНИИТЭШриборостроения 29 апр. 1977, Л 730.

34. Ерошин В.И. Использование ЭВМ для цифрового восстановления изображений с акустических голограмм. Челябинск, 1984. -II с. - Рукопись представлена Челяб.политехи.ин-том. Деп. в ЦНИИТЭИприборос троения 15 мая 1984, й 2466.

35. Ерошин В.И. Комплекс электронной и голографической аппаратуры для функционального контроля МОП-ОЗУ. Челябинск, 1977.16 е.- ^копись представлена Челяб.политехи.ин-том. Деп. в

36. ЦНИШЭИприборостроения, 29 апр. 1977, № 731.

37. Ерошин В.И. Метод выбора оптимальной стратегии поиска неисправностей в устройствах вычислительных систем. Челябинск,1977.- 15 с. ^копись представлена Челяб.политехн.ин-том. Деп.в ЦНШШИприборостроения 22 июня 1977, В 757.

38. Ерошин В.И. Методы, методика и аппаратура для функционального контроля ОЗУ на МОП-структурах. Челябинск, 1977.- 22 с. -Рукопись представлена Челяб.политехн.ин-том. Деп. в ЦНИИТЭИ-приборостроения 29 апр. 1977, № 728.

39. Ерошин В.И. Обращение к голографической памяти при проведении функционального контроля МОП-ОЗУ. Челябинск, 1976. -8с.-Рукопись представлена Челяб.политехн.ин-том. Деп. в ЦШИТЭИ -приборостроения 29 апр. 1977, IE 732.

40. Ерошин В.И. Оценка разрешающей способности голограммы при записи двоичной информации по схеме с диффузным рассеивателем.-Тэматич.сб.науч.трудов /Челяб.политехн.ин-т, 1983. Проектирование автоматических систем и элементов, с.127-130.

41. Ерошин В.И. Построение алгоритма диагноза технического состояния МОП-ОЗУ. Челябинск, 1977. - 18 с. - Рукопись представлена Челяб.политехн.ин-том. Деп. в ЦНИИТЭИприборостроения 29 апр. 1977, В 729.

42. Ерошин В.И. Построение алгоритма функционального контроля запоминающего устройства при проведении диагноза его технического состояния. Тематич.сб.науч.трудов /Челяб.политехн.ин-т,1978, Л 216. Информационно-управляющие системы и устройства, с.65-69.

43. Ерошин'В.И. Реализация алгоритма исследования влияния перекрестных помех на последовательность обращений к модулям ОЗУ на МОП структурах. - Труды /Фрунзенский политехи.ин-т, 1973, № 66. Техническая кибернетика, с.55-62.

44. Ерошин В.И. Синтез счетчиков импульсов с обратными связями.-Сб.науч.трудов /Челяб.политехи.ин-т, 1969, № 81. Вычислительная техника, с.104-111.

45. Ерошин В.И. Способ проверки исправности адресной и числовой частей запоминающего устройства. Челябинск, 1978. - 13 с.-Рукопись представлена Челяб. поли те хн.ин-том. Деп. в 1ЩИИ1ЭИ-приборостроения 15 мая 1978, № 942.

46. Ерошин В.И. Сравнительный анализ вариантов построения фотоприемной матрицы топографической памяти. Челябинск, 1984.10 с. - рукопись представлена Челяб.политехн.ин-том. Деп. в ЦНИИТЭИпри бо ро с троения 15 мая 1984, Л 2467.

47. Ерошин В.И. Устройство для индицирования мест неисправностей ОЗУ на МОП-структурах. Челябинск, 1976. - 13 с. - рукопись представлена Челяб.политехн.ин-том. Деп. в ЦНЖСЭИприборост-роения 18 мая 1977, £ 733.

48. Ерошин В.И. Устройство для контроля адресной и числовой частей МОП-ОЗУ. Челябинск, 1978. - 19 с. - Ь^копись представлена Челяб.политехн.ин-том. Деп. в ЦНИИТЭИприборостроения10 окт. 1978, £ 1008.

49. Ерошин В.И., Новиков Г.П. Вопросы поиска информации в ассоциативной памяти на тонкослойных голограммах. Сб.науч.трудов /Челяб.политехи.ин-т, 1973, Л 136. Вычислительная техника, с.74-81.

50. Ерошин В.И., Новиков Г.П. Контроль блока управления, записии считывания информации при испытании полупроводниковой памяти с помощью голографического ЗУ. Сб.науч.трудов /Челяб. политехи.ин-т, 1973, № 136. Вычислительная техника, с.88-93.

51. Жаркова Л.Е., Савельев В.С., Сливицкий Ю.А. Контроль полупроводниковых ЗУ. Электронная промышленность, 1975, Л? 8, с.78-82.

52. Запись голограмм электронно-лучевой трубкой с лазерным экраном. /В.И.Кэзловский, Н.А.Костров, А.С.Насибов, А.Н.Печёнов.-Квантовая электроника, 1974, JIE I, с. 158-159.

53. Игнатьев П.А. Алгоритм диагностики неисправностей запоминающих устройств с произвольной выборкой. Вопросы радиоэлектроники, серия ЭВТ, 1982, вып.З, с.28-38.

54. Интегрально-гибридная фотоматрица для оптических ЗУ. /Р.Е.Каш-латый, А.М.Кожевникова, С.В.Кругликов и др.- Автометрия, 1977, J5 2, с.50-53.

55. Казначеев В.И. Аналитический метод построения контрольных тестов больших интегральных микросхем с памятью и обратными связями. Электронная техника, серия Ш, 1972, вып.1, с.3-12.

56. Карибский В.В., Пархоменко П.П., Согомонян Е.С. Техническая диагностика комбинационных устройств. В кн.: Абстрактнаяи структурная теория релейных устройств; Сб.статей /Отв.ред. чл.-кор. АН СССР М.А.Гаврилов. М.: Наука, 1969, с.189^224.

57. Катович В.В. Магнитные и магнитооптические оперативные запоминающие устройства. 2-е изд., перераб. и доп. - М.: Энергия, 1975. - 431 е., ил.

58. Кольер Р., Беркхарт К., Лин Л. Оптическая голография /Пер.сангл. Под ред. Ю.И.Островского. М.: Мир, 1973. - 686 е.,ил.

59. Коммутируемые матрицы фотодиодов /В.А. 1Усев, А.А.Новиков, М.Д.Рослова и др. Вопросы радиоэлектроники, серия ЭВТ,1975, вып.З, с.73-78.

60. Контроль интегральных полупроводниковых ЗУ ЦВМ высокой производительности /С.Н.Васин, Н.В.Георгиев, А.А.Крупский и др. -Вопросы радиоэлектроники, серия ЭВТ, 1976, Л 8, с.94-98.

61. Кориневский Л.А. Тёнденции развития автоматического контроля радиоэлектронного оборудования за рубежом. Межвуз.тематич. науч.сборник /Таганрог.радиотехн.ин-т, 1975. Вопросы технической диагностики, с.7-9.

62. Корытная Л.А., Александров В.Я. Принципы организации систем проверки технического состояния ЦВМ. Управляющие системы и машины, 1973, В 5, с.109-118.

63. Корытная Л.А., Александров В.Я. Принципы построения устройств технической диагностики цифровых машин. Управляющие системы и машины, 1975, 2, с.59-65.

64. Косарев А.И., Соколов В.К. Пространственно-временные модуляторы света. Зарубежная радио электроника; 1974, 1з 8, с. 59-80.

65. Крупский A.A., Лесников A.A. ТЬст автономной проверки ЗУ на магнитных сердечниках. Вопросы радиоэлектроники, серия ЭВТ, 1970, вып.9, с.87-92.

66. Ломан Р.Д., Мезрих P.C., Стюарт В.Г. Большие голографические ЗУ с высокими скоростями выборки. Электроника, 1972, 2, с.17-23.

67. Мантуш Т.Н., Тарасов A.B. Управляющая система для экспериментальных исследований ГЗУ. Автометрия, 1976, $ 6, с. 5459.

68. Матиенко В.Г. Основные характеристики и структуры больших гибридно-интегральных фотоматриц голограммных запоминающихустройств. Автометрия, 1977, J$ 2, с.39-50.

69. Микаэлян А.Л,, Бобринев В.И. Голографические системы памяти. -В кн.: Оптические методы обработки информации: Сб.с татей /Под ред. С.Б.1Уревича. Л.: Наука. Ленингр.отд-ие, 1974, с.55-77.

70. Микаэлян А.Л., Бобринев В;И. Голографические системы памяти. -Радиотехника и электроника, 1974, т.19, $ 5, с.898-926.

71. Миронов Г.А. Испытательные программы для контроля электронных цифровых машин /Под ред.Н.А.Криницкого. М.: Наука, 1964, -267 е., ил.

72. Новик Г.Х. Сигнатурный функциональный контроль интегральных микросхем оперативных запоминающих устройств методом перемещения информации (тест "Марш"). Микроэлектроника, 1982, т.II, вып.1, с.54-63.

73. Новик ГЛ., Сташин В.В. Алгоритм полного перебора тестовых наборов при диагностировании цифровых интегральных схем и сигнатурный анализ. Автоматика и телемеханика, 1982, JS 8, с.162--163.

74. Новиков Г.П., Ерошин В.И., ПЬршеналиев Ж.Ш. К вопросу о применении голографии при построении автономных исследовательских аппаратов. Труды /Фрунзенский политехн.ин-т, 1973, 16 66. Техническая кибернетика, с.98-108.

75. Пархоменко П.П. Задачи технической диагностики и принципы проектирования систем диагноза. Всесоюзное совещание по технической диагностике. 2-е.Ленинград, 1972: Сб.трудов. 4.1. -Л., 1972, с.3-12 (изв.Ленингр.электротехн.ин-та, Вып.118).

76. Пархоменко П.П. Основные задачи технической диагностики. -Техническая диагностика: Труды 1-го Всесоюз.совещ.по техн. диагностике. Москва, 1969 /Отв.ред.докт.техн.наук П.П.Пархоменко. М.: Наука, 1972, с.7-21.

77. Полупроводниковое быстродействующее запоминающее устройство /J0.H.Дьяконов., В.Н.Струков., Д.О.Чутуев и др. Электронная промышленность, 1972, i 4, с.69-71.

78. Полянский В.К., Ковальский Л.В. К вопросу о полном измерении в голографии. Оптика и спектроскопия, 1971, т.31, вып.5, с.840-841.

79. Попова JO,С. Разделение неисправностей электронно-вычислительных машин программным путем. Б кн.: Диагностика неисправностей вычислительных машин: Сб.статей /Отв.ред.Н.В.Паутин. -М.: Наука, 1965, с.95-107.

80. Программируемое голограммное ЗУ с записью и считыванием информации /И.С.Гибин, Т.Н.Мантуш, Ю.Е.Нестерихин и др. Автометрия, 1975, А 3, с.3-И.

81. Пятошин Ю.П., ТУзиков В.А. Применение кодов с байтовой структурой для исправления ошибок запоминающих устройств. Микроэлектроника, 1982, т.II, вып.З, с.277-279.

82. Рыбников О.Н., Федотова Д.Э. Возможности программной диагностики типовых функциональных узлов ЦВМ. Техническая диагностика: Труды I Всесоюз.совещ.по техн.диагностике. Москва, 1969 /Отв.ред.докт.техн.наук П.П.Пархоменко, - М.: Наука, 1972,с.239-245.

83. Селезнев И.П. Составление проверяющих тестов для одного вида логических схем с памятью. Электронная техника, серия Ш, 1972, вып.I, с.13-20.

84. Селлерс Ф. Методы обнаружения ошибок в работе ЭЦВМ / Пер.с англ.В.И.Бабия, И.А.Поповой. Под ред. В.К.Левина. М.: Мир, 1972. - 310 с., ил.

85. Согомонян Е.С. О диагностике неисправностей в дискретных блочных объектах. Автоматика и телемеханика, 1969, № 10, с.156-167.

86. Татур В.Е. Универсальный алгоритм локализации неисправностей ЦВМ с использованием модели диагностического оборудования. -Вопросы радиоэлектроники, серия ЭВТ, 1971, вып.9, с.95-104.

87. Тесты для функционального контроля интегральных субсистем памяти /Н.В.Георгиев, А.А.Крупский, В.А.Седлов и др. Вопросы радиоэлектроники, серия ЭВТ, 1974, вып.7, с.65-76.

88. Харари Ф. Теория графов /Пер.с англ. В.П.Козырева. Под ред. Г.П.Гаврилова. М.: Мир, 1973. - 300 е., ил.

89. Чжен Г., Мэннинг Е., Метц Г. Диагностика отказов цифровыхвычислительных систем /Пэр. с англ. Под ред. И.Б.Михайлова.-М.: Мир, 1972. 232 е., ил.

90. Чипулис В.П. 0 построении полных контролирующих тестов. -Автоматика и телемеханика, 1971, № II, с.159-163.

91. Шзрклифф У. Поляризованный свет. Получение и использование /Пер.с англ. Ш.Д.Хан-Магометовой. Под ред. Н.Д.!евандова. -М.: Мир, 1965. 264 е., ил.

92. Akahori Н. Comparison of deterministic phase coding with random phase coding in terms of dynamic range a Appl. Opt., 1973, vol.12, N 10, p.2236-2343.

93. Allen D.P., Lyons N.P. Selecting inputs to test digital circuits on complex 1С boards. Electronics, 1972, vol. 45, N 15, p.88-92.

94. Auria L., Huignard J.P., Spitz E. Holographic read-write memory and capacity enhancement by 3-D storage. IEEE Trans. Magn., 1973» vol. MAG-9, N 2, p.82-94.

95. Bairistow J.W. Billion bit holographic memories. - Electron. Design, 1967, vol.15, N 23, P*38.

96. Blatchley W.E. Computers for core test. Electronics, 1969, vol. 42, N 18, p.90-92.

97. Bouricius W.G., Hsich E.P., Roth J.P. Algorithms for detec- 187 tion of faults in logic circuits. JEEE Trans, on Comput, 1971i vol.C-20, N11, p. 1258-1264.

98. Breuer M.A. A random and algorithmic technique for fault detection for sequential circuits. JEEE Trans, on Comput., 1971» vol. C - 20, p. 1364-1570.

99. Cosentino L.S., Stewart W.C. A membrane page composer -further developments. RCA Review, 1974, vol. 35, N 4, p.539-566.

100. Crijp A,, Holtwijk T., Wijnhoven R.M. SATAN: a versatile memory array tester. IEEE Trans. Magn., 1969, vol. 5* N 3, p.656-661.

101. Gault I.W., Robinson I.P., Reddy S.M. Multiple fault detection in combinational networks. IEEE Trans, on Comput., 1972, vol. C - 21, N 1.

102. Gerritsen H.J., Hannan W.I., Ramberg E.G. Elimination of speckle noise in holograms with redundancy. Appl. Opt., 1968, vol. 7, N 11, p.2301-2311.

103. Green C.W. Computer controlled test system for IC memory. IEEE Int. Conf. Dig,, N.Y., 1970. - Sinop. Pap., 1970.

104. Heinz R.A., Artman 1.0., Lee S.H. Matrix multiplication by optical methods. Appl. Opt., 1970, vol. 9, N 9,p.2161-2168.

105. Hill B. Some aspects of a large capacity holographic memory. Appl. Opt., 1972, vol. 11, N 1, p.182-196.

106. Iantsch 0., Hundelshausen U.V., Feigt I. Detector matrix for a holographic memory. Siemens Forsch. und Entwickl., 1973, vol. 2, N 1, p.34-38.

107. Kiemle H. Considerations on holographic memoriesin the gigabyte region. Appl. Opt., 1974, vol. 13, N 4,p. 805 80?.

108. Labrunie G., Robert I., Borel I. Nematic liquid crystal 1024 bits page composer. Appl. Opt., 1974, vol. 13, N 6, p.1335 - 1338.

109. Lee H.P., Davidson E.S. A transform for NAND network design. IEEE Trans, on Comput., 1972, vol. C - 21, N 1, p.12-20.

110. Leith. E.N., Upatnieks I. Imagery with, pseudo randomly diffused coherent illumination. - Appl. Opt., vol. 7, 1968, N 10, p.2085-2089.

111. Lohman R.D., Mezrich R.S., Stewart W.C. Holographic mass memory*s promise: megabits accessible in microseconds. Electronics, 1971» vol. 44, N 2, p. 61-68.

112. McCluskey E.I., Clegg C.R. Eault equivalence in combinational logic networks. IEEE Trans, on Comput., 1971» vol. C - 20, N 11, p. 1286-1293.

113. Putzolu G.R., Roth I.P. A heuristic algorithm for the testing of asynchronous circuits. IEEE Trans, on Comput., 1971» vol. C - 20, N 6, p.639-647.

114. Ramamoorthy C.V. A structural theory of machine diagnosis. 1967 Spring Joint Computer Conf. Proc., Montvale, N.Y., 1976, p.743-756.

115. Rice R., Sander W.B., Green F.S. Design considerations leading to the ILLIAC IV LSI process element memories. IEEE J. Solid - State Circuits, 1970, vol. SC - 5,1. N 5.

116. Richardson W.S. Diagnostic testing of MOS random access memories. Symp. Semicond. Nem. Test. Cherry Hill., N.7., 1973. - New York, 1973, p. 7-20.

117. Schmidt U.I., Schroder E., Thust W. Optimisations procedtare for digital light beam deflectors. Appl. Opt., 1975» vol. 12, N 5, p.460-466.

118. Sing H., Lee S.M. Mathematical operations by optical processing. Optical Engineering, 1974, vol. 15,1. N 5.

119. Stewart W.C., Mezrich R.S., Cosentino L.S. An experimental read write holographic memory. - RCA Review, 1975» vol. 54, N 5, P. 5-44.

120. Stoushton A.M., Merkert R.I. Computer controlled testing for improving ferrite core memory design.- IEEE Trans. Magn., 1969» vol. 5, N 5, p. 651 656.

121. Takeda Y. Digital spatial modulators. Appl. Opt., 1974, vol. 15, N 4, p. 825-851.

122. Trible C.R. Digital testing an instrumentation viewpoint. - ASSO'70 Rec., St Louis, Mo. 1970. -New York, 1970, p. 158-141.157^ Upatnieks J., Lewis R.W. Noise suppression in coherent imaging. Appl. Opt., 1975» vol. 12, N 9, p. 2161 - 2166.

123. Weiss C.D. Bounds on the length of terminal stuck -fault tests. IEEE Trans, on Comput., 1972, vol. C - 21, N 5, P.505-509.

124. Wolff H. LSI testing: a three way street. -Electronics, 1974, vol. 47, N 12, p. 84-85.

125. Yamaoka T., Fujmara T., Nishi H. Photodetector array for a holographic optical memory system. FUIITSU Sci. and Techn. Journ., 1972, vol. 8, N 5, p. 157 - 151.

126. Zook J.D. Light beam deflector performance: a comparative analysis. Appl. Opt., 1974, vol. 12, N 4, p.875 - 887.