автореферат диссертации по машиностроению и машиноведению, 05.02.01, диссертация на тему:Разработка методов и интегрированной системы анализа рентгеновских дифракционных данных многофазных материалов для промышленных целей

Введение

1. Методы рентгенофазового и рентгеноструктурного анализа поликристаллов

1.1. Предварительная обработка дифракционных спектров

1.2. Рентгенофазовая идентификация

1.3. Рентгеноструктурный анализ поликристаллов

1.4. Количественный рентгенофазовый анализ

1.5. Банки рентгенофазовых и кристаллоструктурных данных

1.6. Интегрированные системы обработки дифракционных данных

1.7. Требования к интегрированной системе анализа дифракционных данных для промышленных целей

2. Разработка методического и математического обеспечения анализа рентгеновских дифракционных данных

2.1. Состав и организация интегрированной системы обработки дифракционных данных многофазных материалов

2.2. Автоматизированная предварительная обработка рентгеновских дифракционных спектров

2.3. Идентификация фазового состава

2.3.1. Язык запросов фазовой идентификации

2.3.2. Критерии фазовой идентификации

2.3.3. Стратегии фазовой идентификации

2.4. Полнопрофильный анализ поликристаллов

2.5. Программно-методическое обеспечение автоматизированного количественного рентгенофазового анализа

2.5.1. Метод обратной калибровки

2.5.2. Калибровочная и измерительные процедуры

3. Изучение соединений и промышленных продуктов металлов платиновой группы

3.1. Изучение кристаллической структуры и изомеризации диамино-дихлор-палладия (II)

3.2. Изучение цис-форм [Р1(КНз)2С12]

3.3. Изучение кристаллической структуры (ЫН4)2Ыа[Ме(Ж)2)6], Ме=1г,Ш1, и 1гап8-[Рё(КИЗ)2(М)2)2]

3.4. Изучение кристаллической структуры (КНЗ)2[Рс1(С204)2]*2Н20 и Ыа2 [Рё(С204)2] * 2Н

3.5. Подготовка рентгенофазовых эталонов соединений для дифрактометрического контроля продуктов

4. Оперативный дифрактометрический контроль состава промышленных алюминиевых электролитов

4.1. Постановка задачи оперативного рентгенофазового контроля

4.1.1. Электролит как физико-химическая среда процесса электролиза и как твердофазная фторидно-оксидная система

4.1.2. Влияние состава электролита на характеристики электролиза

4.1.3. Методы контроля состава электролита

4.1.4. Производственно-технологические требования к системе оперативного контроля состава электролита

4.1.5. Метод рентгенофазового контроля состава электролита

4.2. Изучение особенностей фазового состава по представительной выборке проб промышленных электролитов

4.2.1. Методика изучения и контроля фазового состава

4.2.2. Изучение фазового состава по представительной выборке проб

4.2.3. Определение интервалов совместной кристаллизации фаз

4.3. Изучение рентгенометрических особенностей фазового состава электролита и выбор аналитических линий фаз

4.3.1. Рентгенометрические характеристики фазовых эталонов

4.3.2. Рентгенометрические характеристики фаз в электролите

4.3.3. Влияние пробоотбора

4.4. Изучение электролита методом Ритвельда

4.5. Подготовка набора калибровочных стандартных образцов 5. Разработка методики выполнения измерений и внедрение системы дифрактометрического контроля состава электролита

5.1. Настройка и работа с системой

5.1.1. Настройка вычислительной процедуры

5.1.2. Калибровочная и измерительные программы

5.1.3. Процедура калибровки по стандартным образцам

5.1.4. Процедура измерения состава электролита

5.2. Опытная эксплуатация

5.2.1. Схема опытной эксплуатации

5.2.2. Результаты опытной эксплуатации

5.3. Метрологические характеристики метода

5.3.1. Оценка случайной составляющей

5.3.2. Оценка систематической составляющей

5.3.3. Оценка общей погрешности измерений

5.3.4. Оперативный контроль погрешности измерений

5.4. Обсуждение результатов и рекомендации по внедрению Выводы

Рентгеновский дифракционный спектр многофазного материала интегрирует в себе важнейшую информацию о качественном и количественном фазовом составе объекта, о решетках и кристаллических структурах фаз, о микроструктурных особенностях компонентов. Информация о фазовом составе и кристаллических структурах в ряде случаев может характеризовать качество и свойства конечных продуктов, например, керамических материалов, продуктов горнодобывающей и перерабатывающей промышленности, композиционных материалов и т.п. Существует серия производств, где состав и состояние многофазных кристаллических материалов используют как характеристики технологического процесса. Ярким примером этого может служить состав электролита в электролитическом производстве алюминия. Упомянутые выше информационные компоненты всегда находятся в определенных связях, не учет которых снижает качество данных, а иногда создает непреодолимые помехи в их использовании. Например, изменение структуры фазы, последовавшее при изоморфном замещении, влечет серьезные проблемы при количественном измерении состава материала.

В настоящее время развит ряд методов обработки дифракционных данных поликристаллических веществ, позволяющих извлекать по отдельности или в совокупности указанные выше сведения. При этом применяются подходы, основанные на использовании крупных информационных баз данных (дифракционных и кристаллоструктурных), определении и уточнении кристаллических структур, анализе формы линий.

В промышленных целях современные методы обработки дифракционных данных практически не используются, несмотря на широкую распространенность дифракционного рентгеновского оборудования в производственных аналитических лабораториях. Представляется, что одной из основных причин этого является отсутствие интегрированного, ориентированного на промышленные задачи программно-методического 2 обеспечения дифрактометрических методов, обладающего различными градациями автоматической обработки данных. Дефицит таких разработок и определяет актуальность представляемой работы. Настоящая работа имеет целью восполнить в определенной мере этот пробел путем создания интегрированной системы автоматизированных методов анализа дифракционных данных от многофазных материалов и ее апробации для ряда актуальных промышленных применений.

Работа выполнялась в соответствии с планами НИР КГАЦМиЗ и ИХХТ СО РАН, программой работ с НТЦ «Легкие металлы», в рамках совместных работ с ОАО «КрАЗ», «ОКСА», «КЗЦМ» и «ЕОЦМ», а также при поддержке международного комитета по дифракционным данным ICDD.

Цель и задачи

Целью работы является создание интегрированной системы автоматизированного анализа рентгенодифрактометрической информации от многокомпонентных поликристаллических материалов и веществ промышленного происхождения, и ее применение для изучения производственных материалов и продуктов, и оперативного технологического контроля в промышленности. Для реализации этих целей потребовалось решение следующих задач.

• Разработать архитектуру системы, обеспечивающую программные интерфейсы и доступ к банкам рентгенометрических (PDF ICDD) и кристаллоструктурных (ICSD) данных.

• Автоматизировать процедуру предварительной обработки дифракционных спектров.

• Разработать проблемно ориентированные поисковые средства в виде языка программирования селективных запросов к PDF и, на его основе, информационно-поисковую систему фазовой идентификации (ИПС ФИ) многокомпонентных материалов. 3

• Включить в систему программные средства рентгеноструктурного анализа поликристаллов, в частности, для индицирования, уточнения параметров решетки и полнопрофильного анализа.

• Автоматизировать управление процедурами дифрактометрических измерений и количественного фазового анализа.

• Апробировать разработанную систему на подходящих реальных промышленных дифрактометрических задачах, в частности:

1) Изучить фазовый состав, кристаллические структуры и фазовые превращения в некоторых продуктах производства металлов платиновой группы и, на этой основе, создать рентгенофазовые стандарты, обеспечивающие оперативный дифрактометрический контроль производственных продуктов.

2) Изучить особенности фазового состава промышленных электролитов производства алюминия, синтезировать адекватные калибровочные стандартные образцы для количественного фазового анализа, разработать методы контроля точности их фазового состава и методику выполнения измерений проб электролита, провести опытно-промышленную эксплуатацию, провести статистическую обработку ее результатов для определения метрологических характеристик контроля и внедрить интегрированную систему для оперативного контроля состава промышленных электролитов на алюминиевых заводах.

Достоверность и обоснованность научных положений, выводов и методик обеспечена комплексным межметодическим контролем всех дифрактометрических результатов, проводимым параллельно независимыми методами анализа, в т.ч. рентгеноспектральным, кристаллооптическим, химическим и термогравиметрическим, а также проверкой в различных организациях в процессе опытно-промышленной эксплуатации и внедрении.

Практическая ценность и реализация результатов

Разработанная система внедрена на Красноярском заводе цветных металлов, Екатеринбургском заводе по обработке цветных металлов, на 4

Красноярском и Саянском алюминиевых заводах. Вариант системы используется в учебном процессе КГАЦМиЗ. Рентгенофазовые стандарты изученных соединений приняты Международным комитетом по дифракционным данным ICDD (USA).

На защиту выносятся

1. Интегрированная система анализа рентгеновских дифракционных данных многофазных материалов.

2. Поисковый язык фазовой идентификации и результаты изучения фазового состава синтетических и промышленных электролитов Красноярского и Саянского алюминиевых заводов.

3. Результаты изучения фазового состава, кристаллических структур и изомеризации соединений в продуктах производства платиновых металлов.

4. Метод обратной калибровки, основанный на совместном использовании дифрактометрических данных и данных о количественном элементном составе.

5. Методика безэталонного анализа состава алюминиевого электролита на основе данных о кристаллической структуре фаз электролита по методу полнопрофильного анализа Ритвельда.

6. Дифрактометрическая система оперативного технологического контроля состава промышленных алюминиевых электролитов и результаты ее опытно-промышленной эксплуатации и внедрения на Красноярском и Саянском алюминиевых заводах.

Структура, объем диссертации и публикации

Диссертационная работа состоит из введения, пяти глав, выводов, списка использованной литературы из 160 наименований и приложения с актами внедрения. По теме диссертации опубликовано более 50-ти печатных работ, в том числе 12 статей в центральных и зарубежных журналах и сборниках, и 10 статей в препринтах и материалах конференций.

183 Выводы

1. Сформулированы требования к программно-методическому обеспечению для изучения и контроля фазового состава и кристаллической атомной структуры промышленных материалов и технологических продуктов, ориентированного на специфику производственного применения, и, на этой основе, разработана оригинальная интегрированная система анализа рентгеновских дифракционных данных от многофазных поликристаллических материалов. Система обеспечена средствами подключения банков рентгенофазовых (PDF ICDD) и кристаллоструктурных (ICSD) данных и программного обеспечения полнопрофильного анализа.

2. Впервые предложен и разработан проблемно-ориентированный язык фазовой идентификации, позволяющий описывать стратегии и процедуры для автоматизированного качественного и количественного рентгенофазового анализа и контроля конкретных видов материалов и продуктов. Развит специализированный метод обратной калибровки для количественного рентгенофазового анализа, позволяющий использовать химические аналитические данные различной природы.

3. Интегрированная система использована для контроля фазового состава ряда промышленных продуктов и полупродуктов производства благородных металлов. Для этих целей проведены исследования кристаллических структур ряда соединений и их изомерных форм, и на этой основе создано 24 рентгенофазовых эталона. Рентгенофазовые эталоны зарегистрированы международным комитетом по дифракционным данным.

4. Система применена для оперативного технологического контроля состава электролитов в электролитическом производстве алюминия. Достигнуты показатели по средней точности определения криолитового отношения не превышающие 0.03 ед., а по фторидам кальция и магния в пределах 10 отн. %, что значительно лучше ранее использовавшихся методик оперативного контроля.

5. Изучена и показана возможность применения полнопрофильного анализа рентгенограмм для безэталонного расчета криолитового модуля с использованием данных о кристаллической структуре фаз кальций-магниевого электролита.

ОТКРЫТОЕ АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО

КРАСНОЯРСКИЙ АЛЮМИНИЕВЫЙ ЗАВОД

Директор по производству и техническому развитию ОАО «Краснрярский алюминиевый

1.Jenkins. Profile data acquisition for JCPDS-JCDD data base. Austral.J.Phys.1988, 41, '2, p.145-1 53.

2. А.В.Чичагов, А.Б.Белоножко, А.Л.Лопатин и др. Информационно-вычислительная система по кристаллоструктурным данным минералов МИНКРИСТ. XI Всесоюзное совещание по рентгенографии минерального сырья. Тез/докл. Миасс, 1989, т.1, с.71.

3. Visser J.W. A fully automatic program for finding the unit cell from powder data. J.Apll.Cryst., 1969, v.2, p.89-95.

4. R.J.Sonneveld, J.W.Visser. Automatic Collection of Powder data from Photographs J.Apll. Cryst., 1975, 8.1, p.l

5. Hubbart C.R., Smith D.K. Experimental and calculated standards for quantitative analysis by powder diffraction. Adv.x-Ray Anal.- 1977, v.20.p27-39

6. Антошульский А.Г., Мошкина Т.И., Нахмансон М.С. Предварительная обработка дифрактограмм поликристаллических соединений. Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л.: Машиностроение, 1980, вып.23, с.99-106

7. Евграфов А.А., Левин В.А., Липницкая И.М. Лингвинистический алгоритм обнаружения пиков при анализе рентгеновских дифроактограмм. Заводская лаборатория. 1984, №10, с.44-46

8. Якимов И.С., Новоселов Ю.М., Махотоко С.П. Опфт создания и эксплуатации аналитического комплекса Дрон2-УВКСМТ. Сб. Аналитические методы в геологии. Якутск, 1987

9. J.Lauterjung, G.Will, E.Hinze A Fully automatic peak search program for the evaluation of Gauss-Shaped diffraction patterns. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A239 (1985), p.281-287

10. Ю.Соколов Ю.А. Математическое обеспечение сбора и анализа спектров и дифрактограмм при кинетических исследованиях механизма распада пересыщенных твердых растворов. Автореферат дис. к.ф.м.н., ОИХФ АН СССР, Черноголовка, 1983,16с.

11. Young R.A., Wiles D.B. Profile Shape Function in Rietveld Refinement. J.Appl.Cryst., 1982, v.15, p.430-433

12. The STOE powder software package. Modern fast automatic: X-ray powder diffractometry. Catalog STOE. GmbH. Darmstadt 1988, p.28-32

13. Software System for JDX 8000. JDX - 8000 Series X-ray difractometer system. Catalog JEOL Ltd., Japan, 1989, p.8-18

14. DIFFRAC AT and DIFFRACSOO Control and evaluation programs. X-ray spectrometers, catalog MP42 Siemens AG 1989, p.3/24-3/28.

15. Якимов И.С. Программа управления дифрактометром и предварительной обработки рентгенограмм. Республиканская конференция «Перспективы использования физико-химического анализа для разработки технологических процессов». Тезисы докл. Пермь, 1985.

16. Якимов И.С., Бондаренко А.А. Программа диалоговой обработки рентгенограмм поликристаллов. XI Всесоюзное совещание по рентгенографии минерального сырья. Тезисы докл. Миасс, 1989

17. Дж.Поллард. Справочник по вычислительным методам статистики. Москва, «Финансы и статистика», 1982, 344с.

18. Huang T.G. Precision peak determination in X-ray powder diffraction. Austral.J.Phys. 1988, >2, p.201-212.

19. Фиала Я. Рентгеноструктурный фазовый анализ. Завод.лаб., 1988, 54, №3, с.32-36.

20. Т.Щуп. Решение инженерных задач на ЭВМ. М., Мир. 1982, 236с.

21. Powder diffraction File. International Centre for Diffraction Data. Swarthmore, USA, 1998.

22. Camden R. Hubbord. PDF Work book: Use of X-ray Powder Diffraction File JCPDS-ICDD. NBS USA, 1980.

23. Нахмансон M.C., Черный Ю.А. Рентгенофазовый качественный анализ материалов с помощью ЭВМ и системы АРФА. Завод.лаб., 1 985, т.51, №5, с.23-29.

24. A.M.Wims, G.G.Johnson. Interactive dialog for Phase Identification by X-ray diffraction for the Johnson-Vand Program. Powd. Diffr., 1986,v.l, 4, p.16-19.

25. Marguart R.S., Katsnelson I., Milne G.V. A Search-match system for X-ray diffraction data. J.Appl. Cryst., 1979, v.12, l6, p.629-634.

26. R.Jenkins. New technologies in search-match procedures. 14th Int.Congr. Crystallogr. Australia, 1987, Collected abstract, p.227.

27. Е.М.Бурова, Н.П. Жидков, В.В. Зубенко и др. Практика определения фазового состава поликристаллических смесей с помощью системы программ «ФАЗАН». СБ. Математические вопросы структурного анализа. Изд.МГУ, 1980, с.55-76

28. Якимов И.С., Бурова Е.М., Щедрин Б.М. Информационно-поисковая система рентгенофазного анализа. XI Всесоюзное совещание рентгенографии минерального сырья. Тезисы докл. Миасс, 1989, т.1, с.66.

29. Yakimov I.S. Chemical information retrieval language for powder diffraction and crystallographic data banks. XII European crystallographic meeting. Collected abstract, Moscow, 1989, v.3, p.195.

30. Бурова У.М., Жидков Н.П., Зубенко В.В. и др. Алгоритмизация процесса обработки данных рентгеновского фазового анализа. ДАН СССР, 197, т.232, №5, с.1066-1068

31. Якимов И.С., Райкова О.Ф. Апробация количественного анализа с использованием условных концентраций. XI Всесоюз. совещание по рентгенографии минерального сырья. Тез.докл. Миасс, 1989, т.1, с.47

32. Rietveld Н.М. A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. J.Appl.Cryst., 1969, v.2, 4, p.65-71

33. Hewat A.W. High-resolution Neutron and Synchrotron Powder Diffraction. Chemica Scripta 1986, 26A, p.119-130

34. Rietveld H.M. The Rietveld method a historical perspective. Austral.J.Phis., 1988, 41, '2, p.113-116

35. Taylor J.C. Technique and Performance of Powder Diffraction in Cristal Structure Stadies. Austral.J.Phiys., 1985, v.38, *3, p.519-538

36. Young R.A. Pressing the Limits of Rietveld refinement. Austral.J.Phiys., 1 988, 41, '2, p.297-3 10

37. Young R.A., Wiles D.R. The new computer program for Rietveld Analyses of X-ray powder diffraction patterns. J.Appl., Cryst., 1981, v. 14, '4, p.149-151

38. Loer D Some recent developments and applications of powder diffraction. Chem.scr., 1988, №1, 89-9541 .Ю.И.Сигаловская. Уточнение структур порошковым полнопрофильным методом. Журн.структ.хим., 1985, т.26, №4, с.132-143

39. Цыбуля С.В., Соловьева Л.П. Программа уточнения структур по полному профилю рентгенограммы. Аппарат. И мет. Рент. Анал., 1988, т.38, с.46-61, Л., Машиностроение

40. Maichle J.К., Prandle W. Simultaneous structure refinement of neutron, synchrotron and X-ray powder diffraction pattern. J.Appl., Cryst., 1988, 21, 4, p.22-27

41. Line profile Analyses: Structure Determination and pattern recognition. G.B.Mitra. Supplement 4: Proc. Indian Nath. Sci. Acad. 47.A.1981, p.47-55

42. Лисойван В.И., Громилов С.А. Аспекты точности в дифрактометрии поликристаллов. Новосибирск: Наука, 1989, с.253

43. Cline J.P. Sample characteristics affecting quantitative analyses by X-ray powder diffraction. Adv. Mater. Char. Vol.2: Proc. Symp. Alfred N.Y., July 30 Aug.3, 1984; New York; London, 1985

44. Hill R.J., Madsen I.C. The effect profile step width on the determination of the crystal structure parameters and estimated standard deviations by X-ray Rietveld analysis. J.Appl., Cryst., 1986, 19, 4, p.10-18

45. Hill R.J., Madsen I.C. The effect profile step Counting Time on the determination of the crystal structure parameters and estimated standard deviations by X-ray Rietveld analysis. J.Appl., Cryst., 1984, 17, '4, p.297-306

46. Stanisk G.J., Holender J.M., Soltys J. X-ray profile analyses. Z.Krystalogr., 1988, 1 85, №1-4, 705

47. О.Рентгено структурный анализ поликристаллов (Полнопрофильный анализ): Сб.науч.трудов/ Калм.ун-т Элиста, 1986, с.136

48. Weiss Z., Smrcor L., Fiala J. A computer X-ray quantitative phase analysis. J.Appl., Cryst., 1983, v.16, 15, p.65-71

49. D.L.Bish, S.A.Howard. Quantitative phase analysis using the Rietveld method. J.Appl., Cryst., 1 988, 21, p.86-91

50. Якимов И.С., Кирик С.Д. Метод полнопофильного анализа многофазных систем. 10-Всесоюзное совещание по рентгенографии минерального сырья. Тезисы докл.- Тбилиси, 1986, с.32

51. Якимов И.С., Кирик С.Д. Модификация метода Ритвельда для многофазных систем. В кн. Методы дифракционных исследований кристаллических материалов. Наука, Новосибирск, 1989, с.73-78

52. Christensen A., Norlund, Lehmann M.S., Nielsen M. Solving crystal structures from powder diffraction data. Austral. J.Phys., 1 985, 38, '3, p.497-505

53. Cheetham A.K. Structure determination by powder diffraction. Mater.Sei. Forum, 1986, 9, p.103-112

54. Kirik S.D., Kovyazin S.A., Fedotov A.M. Acta Cryst., 1987, A40S, p.230

55. Magarill S.A., Borisov S.V., Ipatova E.N. Crystal structure data base of materials for electronics. 12 European crystallographic meeting. Moscow, 1989, Collected abstracts, Vol.13, p.176

56. М.С.Нахмансон. Современное состояние программного обеспечения рентгеновских порошковых дифрактометров. Аппаратура и методы рентгеновского анализа. JI.Машиностроение, 1989, вып.39, с.1-18

57. Якимов И.С., Кирик С.Д. Принципы реализации и возможности интерактивной системы рентгеноструктурного анализа многокомпонентных поликристаллов. Региональная конф. «Аналитика Сибири 86», тезисы докл., Красноярск, 1986

58. Хейкер Д.М., Зевин Л.С. Рентгеновская дифрактометрия. М.: ФИЗМАТГИЗ, 1963, 380с.

59. Klug Н.Р., Alexander L.E. X-ray diffraction procedure. N.Y. Yohn Wiley and Sons, 1974, 435p.

60. Suortti P., Jenning L.D. Effects of geometrical aberrations on intensities in powder diffractometry. J.Appl., Cryst., 1971, v.4, p.37-41

61. Suortti P. Accuracy of structure factors from X-ray powder intensity measurements. Acta Cryst., 1977, A33, p.1012-1027.

62. Зевин Л.С., Завьялова Л.Л. Количественный рентгенографический фазовый анализ. Москва, «Недра», 1974, 1 82с.

63. Иверонова В.И., Ревкевич Г.П. Теория рентгеновских лучей.71 .А. А.Евграфов, И.Г.Иванов, и др. Автоматизированный рентгеновский дифрактометр ДРОН4. XI Всесоюзное совещание по рентгенографии минерального сырья. Миасс. Тезисы докл., с.31.

64. Штремель М.А., Капуткина Л.М., Сабсай А.И. Погрешности измерения интенсивности в дифрактометрии. Заводская лаборатория. 1969, №8, 948-954.73.А.В.Франк-Каменецкий.

65. Стеновой Г.И., Чернер Я.Е., Очиров В.А. Комплекс программ предварительной обработки рентгенограмм. В кн. Рентгеноструктурный анализ поликристаллов. Элиста, 1986, с.59-66.

66. Чернер Я.Е., Стеновой Г.И., Филипьев B.C. Новые программные комплексы для обработки и моделирования порошковых рентгенограмм. XI Всесоюзное совещание по рентгенографии минерального сырья. Тезисы докл., т.1, с.61, Миасс, 1989.

67. Григорьев О.Н., Ночевкин С.А., Стельмашенко H.A. Определение профиля рентгеновских дифракционных кривых с использованиемметода наименьших квадратов. Заводская лаборатория, №3, 1987, с.31-33.

68. Уилкинсон Дж.Х. Алгебраическая проблема собственных значений. М.: Наука, 1970, 3 12с.

69. Метод Холецкого решения сист.уравнений МНК с расчетомпогрешностей ут-я.

70. Кучеров А.П. Вычисление величин, характеризующих перекрывающиеся линии в спектрах. Журнал прикладной спектроскопии. 1984, т.41, №1, с.79-82.

71. Кучеров А.П. Цифровое сглаживание спектров с минимальными искажениями. Журнал прикладной спектроскопии, №1, 1986, с.164-165.

72. Lauterjung J., Will G., Hinze E. A fully automatic peak-search program for the evaluation oa Gauss-shaped diffraction patterns. Nuclear instruments and methods in physics research,A239 (1985), 281287.

73. Savitzky A., Golay M.J.E. Anal. Chem. (1964), 36, 1627-1638.

74. М.Ф.Куприянов, Е.С.Гагарина, В.А.Коган и др. Метод порошкового профильного анализа в рентгенографии. В сб. Рентгеноструктурный анализ поликристаллов. Элиста, 1985, с.4-21.

75. Sakthivel A., Yong R.A. User's quid to programs DBWS-9006 and DBWS-9006PC for Rietveld analysis of X-ray and neutron powder diffraction patterns. Scholl of Physics, Georgia institute of Technology, Atlanta, USA. 1990.

76. Niepce J.C., Benabad-Sydky A. Dessumation of mixed diffraction lines preceding a profile analysis. Chemica Scripta, 19856, 26A, 11-15.

77. Yong R.A., Sakthivel A. Bimodal distributions of profile-broadening effect in Rietveld refinement. J.Appl.Cryst. (1988), 21, 416-425.

78. Евграфов А.А., Левин В.А. и др. О подходе к задаче разделения Ка-дуплета. Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Т.3 2, 1984, с.41-50.

79. Stanisz G.I., Holender J.M. X-ray profile analysis. Zeits. Krystallogr. 1 85(1988), 705.

80. Завгородний B.H., Крампит И.А. и др. Применение цифровой обработки для выделения и оценки интенсивностей пиков в аппаратурных спектрах. Заводская лаборатория. 1 980, №11, с.1013-1017.

81. Smitl D.K., Jonson G.G. The whole pattern database a new concept for powder diffraction. 14-th Jnt. Congr. Cryst., Perth, Collect. Abstr. Nedlands, 1988, 225.

82. Jenkins R. Profile data acquisition for the JCPDS-JCDD database. 1988, 41, '2, 145-1 53.

83. Alam S.O., Edmonds J.W., Нот Т., Nicolosi J.A., Scott B. A refrence data base retrieval system information as a tool to assist in XRD phase identification. Adv. X-ray Anal. 1989. V.32, p.545-550.

84. Нахамсон M.C., Фекличев В.Г. Диагностика состава материалов рентгендифракционными и спектральными методами. Ленинград, Машиностроение, 1990, 357с.

85. Е.М.Бурова, Б.М.Щедрин. О некорректности математической постановки задачи определения фазового состава поликристаллической смеси. В сб. Математические вопросы структурного анализа. Изд. МГУ, 1979, с.39-44.

86. Johnson G/G/ The Johnson-Vand search/match algoritm. Norelio Reporter, 1979, v.26, 4, 15-18.

87. Caussin P., Nusinovici J., Beard D.W. Using digitized X-ray powder diffractioin scans as input for a new PC-AT search/match program. Adv. X-ray Anal., 1988, v.3 1, 423-430.

88. Бурова E.M., Жидков Н.П., Зильберман А.Г. и др. Информационно-поисковая система рентгеновского фазового анализа. Кристаллография, 1977, т.22, №6, 1 1 82-1 1 90.

89. Консон Е.Д., Нахамсон М.С., Степанова Н.В. Система качественного рентгенофазового анализа на основе алгоритмов линейного программирования. Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л.: Машиностроение, 1 983, №34, с. 54-61.

90. Caussin P., Nusinovici J., Beard D.W. Specific data handling techniques and new enhancement in a search/match program. Adv. X-ray Anal., 1989, v.32, 53 1-538.

91. MPDSM The State-of-the-Art in Phase Identification. Fein-Mar-quart Associates, Inc. 7215 York Road, Baltimore, 1991.

92. Analitical Software for Philips X-ray diffractometers Pc-APD. PHILIPS, 1990.

93. Якимов И.С., Райкова О.Ф. Опыт использования и сравнительная оценка программ качественного и рентгенофазного анализа. 10-я Всесоюзная конференция по рентгенографии минерального сырья. Тезисы доклада. Тбилиси, 1986.

94. Johnson G.G., Wims М. Interactive dialog for phase identification by X-ray diffraction for the Johnson-Vand Program. Powder Diffraction, vol.1, 4, 1986, 16-19.

95. McCarthy G.J., Johnson G.G. Identification of multi-phase unknowns by Computer methods: role of chemical information, the quality of X-ray powder data and subfiles. X-ray Anal. 1979, v.22, p.109-1 30.

96. Frevel L.K. Computational aids for identifying crystalline phases by powder diffraction. Anal. Chem. 1965, v.37, '4, p.471-482.

97. Snyder R. A Hanavald type phase identification procedure for a microcomputer. X-ray Anal. 1981, v.24, 83-90.

98. Бурова E.M. Система алгоритмов т и программ для рентгеновского качественного фазового анализа. Диссертация на сосикание ученой степени к.-ф.-м.-н. По специальности ФТТ. МГУ, физический фак-т, 1981.

99. Статистическая оценка достоверности фазового анализа. В кн. Библиотека программ для изучения структуры и состава вещества дифракционными методами. Щедрин Б.М., Жидков Н.П., МГУ, 1 989, с.35-46.

100. Определение фазового состава поликристаллических смесей. В кн. Библиотека программ для изучения структуры и состававещества дифракционными методами. Щедрин Б.М., Жидков Н.П., МГУ, 1987, с.64-71.

101. Тихонов А.Н. О некорректных задачах линейной алгебры и устойчивом методе их решения. ДАН СССР, 1965, т.163, №3, с.59 1 -594.

102. Jones Е. Using the dBASE III PLUS. N.Y.: McGraw Hill Books, 1986, 200p.

103. Кирик С.Д. Разработка и применение новых методов порошковой рентгенографии к исследованию строения поликристаллических веществ. Диссертация на соискание ученой степени к.-х.-н. Новосибирск, ИНХ СО СССР, 1981, 169с.

104. Кирик С.Д, , Якимов И.С. Принципы и конструкция вычислительной программы для обработки порошковых ренгенограмм по методу Ритвельда. Рукопись деп. В ВИНИТИ, №501 0-85, 1 985, 69с.

105. Кирик С.Д., Борисов С.В., Федотов В.Е. Программа для уточнения кристаллических структур по профилю порошковых рентгенограмм. Ж.Структурн. химии, 1981, т.22,2, с.130-134.

106. Sakhivel A., Young R.A. User's guide to programs DBWS-9006 and DBWS-9006PC for Rietveld analysis of X-ray and neutron powder diffraction patterns/ Scholl of Physics Georgia institute of technology, Atlanta, GA 30332 USA, 1 990, 3 lp.

107. A.J.Wilson, J.Sei.Instr., vol.27, p.321, 1950; E.R.Pike, J.Sei. Instr., vol.34, p.355, 1957.

108. T.Hom, R.Jenkins, J.Ladell. INDEX: a programm to reconcile powder diffractograms. Adv. X-ray Anal., 1989, v.97, !7, p.75 1-753.119.

109. Y/Takaki, T.Taniguchi, K.Nakata, H.Yamaguchi. Program for find the unit-cell constant and the space groups from X-ray powder diffraction data; the case where approximate unit-cell constants are known. J.Ceram. Jpn. Inter. Ed. 1989, vol.97, p.75 1-753.

110. Кирик С.Д. Борисов С.В., Федоров В.Е. Алгоритм индицирования порошковых рентгенограмм произвольной сингонии методом варьирования угла. Ж. Структурной химии, 1979, т.20, №2, с.359-362.

111. Klug Н.Р., Alexander L., Kummer E. X-ray diffraction analysis of crystalline dusts. J.Ind. Hygien and Toxic., 1947, v.30, p.166-171.

112. Завьялова Jl.JI. Исследование и разработка способов количественного рентгеновского фазового анализа. Канд.дис. Иркутск, Иргиредмет, 1970г.

113. M.Ermrich, H.Hermann. Application of microabsorption in quantitative phase analysis. Advanced method in X-ray and neutron structure analysis of materials. Int. Conf. Praha, Czechoslovakia, collect. Abstr., august 1990, p.137.

114. J.Ruis. A Standardless X-ray diffraction method for quantitative analysis of multiphase mixtures. J.Appl. Cryst., 1987, 20, 457-460.

115. Smith D.K. Acta Cryst., 1984, A.40, 0364.

116. Valdova Y. Heights of overlapping X-ray reflections and phase analysis. Cryst. Res. Technol., 1981, v.21, '7, p.873-879.

117. Scott A.Howard. SHADOW: a system for X-ray powder diffraction pattern analysis. X-ray Anal., 1989, v.32, 523-530.

118. Yong R.A., Desai P. Crystallite size and microstrain indicators in Rietveld refinement. Arch. Nanki mater., 1989, v.10, 4-2, 71-90.

119. Hill R.J. Use of the Rietveld method for determine component phase abundance and particle size/strain characteristics. XII international congress of crystallography. Australia, 1987, collect abstr., c-227, 12.X.7

120. Toraya H. Whole-Powder-Pattern fitting without reference to a structural model: application to X-ray powder diffractometer data. J.Appl. Cryst., 1986, 19, 440-447.

121. Бремерс И.Г. Обработка сложных рентгенограмм для последующего полного определения структуры. 14 конференция молодых научных работников инст. Неорг. Химии. Рига, 1989, тез. Докл., с.4-5.

122. Berti G., Guglielmo G., Marzoni Fecia Di Cossato Y. The interpretation of Powder diffraction patterns by numerical and computer-graphics systems. J.Appl. Cryst., 1990, 23, 6-10.

123. Software product identification for APD1700 program package. PHILIPS, 1986.

124. APD1700, Crystalography, version 4.0. PHILIPS, 1989.

125. Нахамсон M.C. Система программ для обработки на персональных компьютерах IBM PC результатов рентгенографических исследований поликристаллических материалов. Рекламный проспект лаборатории компьютерной физики. Ленинград, 1990.

126. R.L.Snyder. The use of intensity ration in quatitative analysis. Advanced methods in X-ray and neutron structure analysis of materials. International conf. Praha. 1990. Collect. Abstr., p.184.

127. Мошкина Т.Н., Нахамсон M.C. Система программ исследования тонкой структуры поликристаллов методом гармонического анализа. Деп. В ВИНИТИ, №1092-84, 54с.

128. Нахамсон М.С. Методика расчета параметров ячейки по рентгенограммам порошков на ЭВМ. В сб. Аппаратура и методы рентгеновского анализа, вып. 33, 1984, с.27-35.

129. Антошульский A.F., Нахамсон М.С. Индуцирование порошковых рентгенограмм в режиме диалога с ЭВМ. В сб. Аппаратура и методы рентгеновского анализа, вып. 33, 1984, с.35-42.

130. Бузунов В.Ю. // Статья в сб-ке материалов международной конференции «Алюминий Сибири-2000». Красноярск,2000, 8с.

131. Якимов И.С., Кирик С.Д. Эффективность и проблемы внедрения рентгенографического контроля состава электролита. Статья в сб-ке материалов международной конференции «Алюминий Сибири-98». Красноярск. 1998, 14с.

132. На западных заводах для контроля КО в кислых электролитах давно используется

133. Поляков П.В. Принципы электролиза. // Статья в сб-ке лекций «Вторые высшие Российские алюминиевые курсы». Красноярск -1999, Лекция N1, 46с.

134. Справочник металлурга по цветным металлам. Производство алюминия. М.Металлургия, 197 1,560с.

135. Grjotheim К., Krohn С., Malinovsky M., Matiasovsky К., Thonstad J. Aluminium Electrolysis. Fundametals of the Hall-Heroult Process. 2nd Editon. Aluminium-Verlag, Dusseldorf, 1982, 443p.

136. Foster P.A. // J.Electrochem.Soc. 1959. V.106. P.971.

137. Foster P.A. // J.Chem.Eng.Data. 1964. V.9(2), P.200.

138. Foster P.A. // J.Ceram.Soc. 1975. V.58(7-9), P.288.

139. Соколов O.K., Беляев А.И. // Изв. ВУЗов., Цветн.металлы. 1960. N3(1). с.108.

140. Михалев Ю.Г. Криолитовое отношение, свойства электролита и показатели электролиза. // Статья в сб-ке лекций «Вторые высшие Российские алюминиевые курсы». Красноярск -1999, Лекция N15, 33с.

141. Поляков П.В. Выход по току. // Статья в сб-ке лекций «Вторые высшие Российские алюминиевые курсы». Красноярск -1999, Лекция N17, 24с.1 53. Berg, Grjotheim К. Light Metals, 1976, v.1, pp. 23-47.

142. Методы определения криолитового отношения электролита алюминиевых электролизеров. Методические рекомендации ВАМИ., Ленинград, 1974, 37с.

143. Компонеец М.Ф. Кристаллооптический анализ в алюминиевом производстве. Металлургиздат, Москва, 1959.

144. Feret, F.R. Light Metals, 1988, 697-702.

145. Mennweiler, U., Schmidt-Hatting,W., Koutny,M., Erzmetall, 1 983, 36(6), 274-277.

146. Baggio,S., Foresio,C., Aluminum, 1980, 56(4), 276-278.

147. Terrell, M., Metall Producting, 1982, 33, 68-69.

148. Дифрактометрическое определение криолитового модуля закаленных и медленноохлажденных электролитов алюминиевых ванн с добавками фторидов кальция и магния. Временная инструкция. ВАМИ. Ленинград. 1 982.

149. IPD-POTFLUX. User's Guide. Philips Analytical.2nd edition.,911030

150. С.Д.Кирик, И.С.Якимов, С.Г.Ружников. Соотношение рентгеновского дифрактометрического и спектрального анализов в контроле химического состава ванны. // Статья в сб-ке материалов международной конференции «Алюминий Сибири-2000». Красноярск,2000, 8с.

151. СТП (СаАЗ) «Стандарт предприятия. Отбор проб электролита.»

152. Кирик С .Д.,Куликова H.H., Якимов И.С. , Клюева Т.И., Баранов И.А., Бузунов В.Ю., Голощапов В.Г. Промышленное внедрениедифрактометрического контроля электролита в отечественном производстве алюминия. // Цветные металлы., 1996, №9, с.75-77.

153. ГОСТ 8.531 «Однородность стандартных образцов состава дисперсных материалов. Методика выполнения измерений»

154. ГОСТ 8.3 1 5 1997 Стандартные образцы. Основные положения, порядок разработки, аттестации, утверждения, регистрации и применения введён 01.07.98

155. Характеристики погрешности результатов количественного химического анализа. Алгоритмы оценивания. МИ 23 3 5-95. Екатеринбург 1998, 44с.

156. Armel le Bail. SDPD-D: Structure Détermination from Powder Diffraction Database. 1997.

157. Смирнов И.И., Волков Г.В., Чумаков В.Г. // Журн. Неорган, химии, 1981,N10,с.2859.

158. Кирик С.Д., Голощапов В.Г., Якимов И.С. Применение метода полнопрофильного уточнения рентгенограмм для определения криолитового отношения. Международная научная конференция «Алюминий сибири-98», Тезисы докладов, Красноярск, 1998.

159. Якимов И.С.,Бондаренко А.А.,Кирик С.Д.,Круглик А.И. Рентгеноструктурное изучение порошков некоторых аминных комплексных соединений благородных металлов. Препринт N673®, ИФ СО АН СССР. Красноярск,1990, 26с.

160. Кирик С.Д.Друглик А.И.,Якимов И.С. Определение кристаллической структуры beta-trans-Pd(NH3)2C12 методом полнопрофильного анализа. Кристаллография. 1991.1. Т.36,N6. с.1563-1566.

161. Блохин А.И., Соловьев JI.A., Якимов И.С., Кирик С.Д. Синтез, структура и термические свойства Na2Pd(C204)2.*2H20. Журн. Неорг. Химии, 1995, т.40, N.8, с.1291-1296.

162. Kirik S.D., Solovyev L.A., Blokhin A.I., Yakimov I.S. Structures and Isomerization in Diamminedichloropalladium(II). Acta Crystallographica, 1 996, B52 (6), p. 909-916.

163. Соловьев Л.A., Блохин A.И., Якимов И.С., Кирик С.Д. Порошковое рентгеноструктурное исследование 4nc-Pd(NH3 )2С12 Журн. Структ. Химии, 1996, т.37, N.2, с.401-405

164. Solovyov L.A., Kirik S.D., Yakimov I.S., Blochina M.L., Blokhin A.I. Structure Transformation in Diammine Dichloro-Palladium(II) Studied by X-ray Powder Diffraction. // Materials Science Forum, 1996, V.228-23 1, p.705-710.

165. Блохин A.И.,Соловьев Л.А.,Блохина M.Л., Якимов И.С., Кирик С.Д. Кристаллическая структура TpaHC-Pd(NH3)2(N02)2. по данным порошковой рентгенографии. Координационная химия, 1996, т.22, N. 3, с.198-202.

166. Соловьев Л.А., Блохин А.И.,Блохина М.Л.,Якимов И.С.,Кирик С.Д. Кристаллическая структура TpaHc-Pd(NH3)2Cl2 по данным порошковой дифракции. Журнал Структурной Химии, 1997, т.38, № 1, с. 148-154.

167. Yakimov I.S., Gritsenko E.M. XRD phase identification with using of PDF2 and ICSD databases. XVIII European Crystallografic meeting. Abstracts, F7-P2. Praha, 1998.

168. Блохин А.И., Соловьев JI.А., Блохина М.Л., Якимов И.С., Кирик С.Д. Синтез, кристаллическая структура и термические свойства 4HC-Pd(NH3)2Br2. // Журн. неорг. Химии . 1 998. Т.43,N2. С.258-262.

169. S.D. Kirik, L.A. Solovyov, A.I. Blokhin, I.S. Yakimov. CRYSTAL STRUCTURES AND cis^trans TRANSFORMATION in Pd(NH3)2Hal2. // Materials Science Forum. 1998. Vols. 278-281. P.642-647.