автореферат диссертации по приборостроению, метрологии и информационно-измерительным приборам и системам, 05.11.05, диссертация на тему:Разработка алгоритмов и устройств для контроля электромагнитных и геометрических параметров изделий

ВВЕДЕНИЕ.

1. ОБЗОР МЕТОДОВ,АЛГОРИТМОВ И УСТРОЙСТВ ШРАЗРУШАЩЕГО КОНТРОЛЯ. ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ. И. ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ. ПАРАМЕТРОВ ИЗДЕЛИЙ . .Р

1.1. Обзор методов неразрушавдего контроля, вихрето-ковых приборов и устройств для измерения удельной электрической.проводимости изделий и.тол-. щинн покрытий .J

1.2. Обзор методов получения алгоритмов функционирования вихретоковых приборов для измерения электромагнитных и геометрических параметров. . изделий . .&

1.3. Выводы и постановка задачи .ЛЗ

2. ПОЛУЧЕНИЕ АЛГОРИТМОВ ФУНКЦГОНИГОВАНИЯ УСТРОЙСТВ НЕРАЗРУШАВДЕГО КОНТРОЛЯ С. ПОМОЩЬЮ МЕТОДА ПОДБОРА ЭМПИРИЧЕСКИХ ЗОШУЛ.

2.1. Метод получения.алгоритмов.подбором.эмпирических . формул.,

2.2. Измерение удельной электрической.проводимости. • неферромагнитных изделий

2.3. Измерение толщины диэлектрических покрытий и. . амплитуды вибраций

2.4. Измерение диаметра протяженных электропроводящих неферромагнитных изделий и глубины.дефектов. в них.7Q.

2.5. Выводы.

3. ПОЛУЧЕНИЕ АЛГОРИТМОВ ФУНКЦЖНИРОВАНИЯ: УСТРОЙСТВ ВИХРЕТОКОВОГО. КОНТРОЛЯ. С ПОМОЩЬЮ. АНАЛИТШЕСКОГО. . МЕТОДА. . 7$

3.1. Вихретоковый контроль электромагнитных и геометрических параметров.изделийэлектропроводящим . покрытием

3.2. Измерение толщины диэлектрических.покрытий.и. . амплитуды вибраций.

3.3. Сравнительный анализ алгоритмов функционирования вихретоковых. устройств.,

3.4. Выводы . .П

4. УСТРОЙСТВА И МАКЕТЫ ПРИБОРОВ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРО. . МАГНИТНЫХ И ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ИЗДЕЛИЙ.

4.1. Универсальные устройства для исследования и реализации алгоритмов.двухпараметрового.контроля,. изделий.

4.2. Устройства для измерения удельной электрической проводимости плоских изделий, диаметра протяженных электропроводящих нефврромагнитных.изделий.и. . . глубины дефектов в них.

4.3. Устройства для измерения толщины, диэлектрических . покрытий и амплитуды вибраций.Hi

4.4. Вихретоковый измеритель удельной электрической проводимости основы и. толщины.покрытия.плакиро-г . ванных листов ВИЭТ-3 . .Н

4.5. Вихретоковый.толщиномер.диэлектрических.покры . тий ВТД1-83.12*

4.6. Выводы.№

В В Е Д Е Н И Е Повышение качества промышленной продукции, снижение её материалоёмкости и себестоимости являются одними из важнейших задач народного хозяйства. Большую роль в решении этих задач играют методы и средства неразрушающего контроля электропроводящих материалов и изделий, имеющих широкое применение в различных отраслях народного хозяйства Важными показателями качества электропроводящих изделий являются их электромагнитные и геометрические характеристики и в том числе такие, как удельная электрическая проводимость неферромагнитных изделий и толщина диэлектрических и электропроводящих покрытий, нанесённых на электропроводящую основу. Определение этих параметров, а также амплитуды вибраций, позволяет судить о правильности технологии изготовления, коррозионной стойкости, механических свойствах и надёжности изделий, повысить сроки их эксплуатации и снизить материалоёмкость и себестоимость выпускаемой продукции /I-I9/. В настоящее время для контроля электромагнитных параметов, толщины покрытий, амплитуды вибраций электропроводящих изделий и глубины дефектов в них широко используются вихретоковый, акустический и другие методы неразрушающего контроля. В отличие от других методов вихретоковый метод позволяет получить информацив одновременно об электромагнитных и геометрических параметрах ферро- и неферромагнитных электропроводящих изделий различной формы. Кроме того, достоинствйми этого метода являются простота его реализации, безопасность, высокое быстродействие, слабая зависимость результатов контроля от изменений паралетров окружаюб- щей среды /7-19/. Основной проблемой, возникающей при контроле параметров изделий вихретоковым методом, является необходимость устраненияV" на результаты измерений вариаций неконтролируемых параметров изделия или зазора мелщу изделием и вихретоковым преобразователем. Для решения этой задачи в настоящее время используются главным образом приборы и устройства, реализующие традиционные амплитудный, фазовый, амплитудно-фазовый, частотный, амплитудночастотный алгоритмы обработки составлйцих выходного сигнала вихретокового преобразователя или методы стабилизации и вариации условий контроля /9,10,17-20/, Однако на практике известные методы обработки выходного сигнала преобразователя не обеспечивают высокой точности и простоты контроля, когда речь идёт о широких диапазонах вариаций контролируемого и неконтролируемого параметров изделия /18,20/, В связи с этим разработка новых методов, алгоритмов и реализующих их устройств, свободных от указанных выше недостатков, является актуальной задачей неразрушающего контроля электромагнитных и геометрических параметров изделий. Целью данной работы является разработка метода получения алгоритмов обработки составляющих выходного сигнала преобразователя применительно к решению задач двухпараметрового неразрушающего контроля качества изделий и решение на его основе некоторых важных задач структуроскопии, толщинометрии, дефектометрии и технической диагностики, Представлену«ая работа состоит из введения, четырёх глав, заключения и двух приложений. В первой главе диссертационное работы проведён анализ достоинств и недостатков известных методов неразрушающего контроля качества изделий применительно к решению двухпараметровых задач неразрушающего контроля электромагнитных параметров (главным образом удельной электрической проводимости), толщины покрытий и амплитуды вибраций электропроводящих изделий. На основе проведённого анализа был сделан вывод о том, что в отличие от других известных методов неразрушающего контроля вихретоковый метод обеспечивает производительный, одновременный и локальный контроль электромагнитных и геометрических параметров электропроводящих изделий и позволяет в некоторых весьма важных для практики случаях свести многопараметровый контроль электромагнитных и геометрических параметров изделий к двухпараметровому контролю. Отмечено, что вихретоковые приборы и устройства широко используются в различных отраслях промышленности для измерения электромагнитных и геометрических параметров электропроводящих изделий и, в частности, для контроля удельной электрической проводимости изделий и толщины покрытий. Проведённый в гл. I обзор различных источников отечественной и зарубежной информации показал, что серийно выпускаемые вихретоковые приборы не обеспечивают достаточную для практики точность измерений при вариациях в широких пределах контролируемого и неконтролируемого параметров изделия без разрушения готового изделия, а известные вихретоковые устройства не имеют существенных преимуществ перед серийно выпускаемьми приборами и/или сложны в реализации, Показано также, что известные методы обработки составляющих выходного сигнала преобразователя не позволяют получать алгоритмы, реализация которых приводила бы к решению задачи двухпараметрового контроля изделий с достаточной для практики точ

4.6. Выводы

I. Разработано универсальное устройство для исследования, реализации и получения алгоритмов, а также оригинальное универсальное устройство для измерения геометрических и электромагнит' ных параметров изделий.

2. Разработаны оригинальные специализированные вихретоковые устройства для измерения удельной электрической проводимости неферромагнитных плоских изделий, расстояния до неферромагнитных, а также ферро- и неферромагнитных электропроводящих изделий, амплитуды вибраций электропроводящих изделий, диаметра электропроводящих неферромагнитных изделий в виде цилиндра и глубины узких протяженных дефектов в них.

3. Один из алгоритмов функционирования специализированных устройств, полученный аналитическим путем, реализован в макете прибора ВИЭТ-3, отличающегося от приборов аналогичного назначения более высокими метрологическими характеристиками в широком диапазоне измеряемых толщин. Прибор ВИЭТ-3 удостоен бронзовой медали ВДНХ СССР и внедрен в производство с реальным экономическим эффектом 85,4 тыс.руб. в год.

4. Создан действующий макет прибора ВТДП-83 для измерения толщины диэлектрических покрытий на электропроводящих ферро- и неферромагнитных материалах с удельной электрической проводимостью не менее 0,5 МСм/м, отличающийся от аналогов простотой реализации и высокой достоверностью контроля изделия в широких диапазонах вариаций толщины покрытия и электромагнитных параметров основы. Он реализует алгоритм, полученный с помощью метода подбора эмпирических формул. Прибор ВТДП-83 удостоен бронзовой медали ВДНХ СССР. Экономический эффект от его внедрения составляет сумму не менее 55 тыс.руб. в год.

5. Достаточно высокие метрологические характеристики созданных макетов приборов являются экспериментальным подтверждением эффективности устройств, реализующих полученные в данной работе алгоритмы.

6. Реализация разработанных устройств не требует сложных схемных решений и может быть осуществлена средствами аналоговой и цифровой техники.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

1. Анализ источников отечественной и зарубежной информации показал, что актуальной задачей двухпараметрового контроля электромагнитных и геометрических параметров изделий является .задача повышения точности измерений и/или расширения диапазонов вариаций контролируемого и неконтролируемого параметров изделия или зазора.

2. Анализ алгоритмов работы известных вихретоковых устройств, предназначенных для измерения толщины защитных покрытий, удельной электрической проводимости неферромагнитных изделий и амплитуды вибраций, показал, что известные устройства или имеют высокую погрешность измерений при вариациях контролируемого и неконтролируемого параметров изделия в широких пределах, или сложны в реализации. Исходя из проведенных иссследований была сфор

- мулирована основная цель диссертационной работы: разработка метода получения алгоритмов обработки составляющих выходного сигнала измерительного преобразователя, алгоритмов и вихретоковых устройств для.двухпараметрового контроля изделий, обеспечивающих (по сравнению с известными устройствами аналогичного назначения) более высокую точность измерений и/или простоту реализации контроля в широком диапазоне вариаций контролируемого и неконтролируемого параметров изделия или зазора.

3. Исходя из анализа аналитических выражений и годографов выходного сигнала вихретокового преобразователя при изменении контролируемого и неконтролируемого параметров изделия был разработан простой и эффективный метод получения алгоритмов функционирования устройств неразрушающего контроля, основанный на подборе эмпирических формул для описания амплитудно-фазовых зависимостей выходного сигнала преобразователя.

4. С помощью разработанного метода получены оригинальные алгоритмы функционирования устройств для измерения удельной электрической проводимости неферромагнитных плоских изделий, расстояния между вихретоковым преобразователем и поверхностью электропроводящего изделия, амплитуды вибраций, диаметра неферромагнитных электропроводящих изделий в виде цилиндра и глубины узких протяженных дефектов в них.

5. С помощью аналитического метода определен вид функциональной зависимости между составляющими выходного сигнала вихретокового преобразователя и толщиной любого слоя электропроводящего контролируемого изделия, а также получены оригинальные алгоритмы функционирования вихретоковых устройств для измерения расстояния до электропроводящих изделий.

6. Проведен сравнительный анализ известных и полученных алгоритмов по точности и простоте реализации в широких диапазонах изменения контролируемого и неконтролируемого параметров. Анализ показал, что разработанные в диссертации алгоритмы функционирования вихретоковых устройств существенно превосходят известные алгоритмы и могут быть использованы также для одновременного и независимого контроля нескольких параметров изделия, а также для создания устройств воспроизведения амплитудно-фазовых характеристик (годографов) вихретокового преобразователя, например, в учебных целях и инженерной практики.

7. Разработаны оригинальные универсальное и специализированные устройства для реализации полученных алгоритмов, обеспечивающие высокую точность и простоту осуществления измерений электромагнитных и геометрических параметров изделий в широком диапазоне вариаций контролируемого и неконтролируемого параметров.

8. Один из алгоритмов, полученных аналитическим путем, реализован в макете прибора ВИЭТ-3, предназначенного для одновременного и независимого измерения толщины алюминиевой плакировки и удельной электрической проводимости дюралюминиевой основы плакированных листов. Макет прибора ВИЭТ-3 отличается от приборов аналогичного назначения более высокими метрологическими характеристиками. Прибор ВИЭТ-3 удостоен бронзовой медали ВДНХ СССР и внедрен в производство с реальным экономическим эффектом 85,4 тыс.руб. в год.

9. Создан действующий макет прибора ВТДП-83 для измерения толщины диэлектрических покрытий на электропроводящих ферро- и неферромагнитных материалах с удельной электрической проводимостью не менее 0,5 МСм/м, отличающийся простотой реализации и высокой точностью измерений в широком диапазоне вариаций толщины покрытия и электромагнитных параметров основы изделия. Макет прибора реализует алгоритм, полученный с помощью метода подбора эмпирических формул. Прибор ВТДП-83 удостоен бронзовой медали ВДНХ СССР. Экономический эффект от его внедрения составляет сумму не менее 55 тысяч рублей в год.

10. Достаточно высокие метрологические характеристики созданных макетов приборов являются экспериментальным подтверждением эффективности метода получения алгоритмов подбором эмпирических формул и результатов, полученных аналитическим методом.

11. Реализация разработанных в данной работе алгоритмов не требует сложных схемных решений и может быть осуществлена средствами аналоговой и цифровой техники.

1. Денкер И.И., Гольдберг М.М, Защита изделий из алюминия и его сплавов лакокрасочными покрытиями. М»: Хшлия, 1975. 176 с.

2. Чеботаревский В.В., Кондратов Э.К. Технология лакокрасочных покрытий в машиностроении. М Машиностроение, 1978. 295 с.

3. Гимельфарб Ш.А., Шварцман Л. Современные методы контроля композиционных материалов, М.: Металлургия, 1979. 247 с.

4. Тюхтин П.С. Применение электромагнитных методов и средств неразрушающего контроля при серийном производстве самолетов. Дефектоскопия, 1980, }Р I, с. 48-55.

5. Шяугер М.А., Ажогин Ф.Ф., Ефимов Е.А. Коррозия и защита металлов. М.: Металлургия, I98I. 216 с.

6. Гелашвили Н.В., Муджири Я.Н., Бабаднанов Л.С. Роль толщинометрии покрытий в экономии материальных ресурсов. Измерительная техника, 1982, 12, с. 35-37.

7. Соболев B.C., Шкарлет Ю.М. Накладные и экранные датчики. Новосибирск, Наука, 1967. 144 с.

8. Зацепин Н.Н., Малько И.И. О состоянии и развитии методов и средств толщинометрии. В кн.: Шизика неразрушающего контроля. Шнек, 1974, с, II5-I36.

9. Дорофеев А.Л., Никитин А.И., Рубин А.Л. Индукционная толщинометрия, М.: Энергия, 1978, 184 с.

10. Дорофеев А.Л. Индукционная структуроскопия. М.: Энергия, 1973. 176 с.

11. Декель А.К. Дефектоскопия металлов. М: Металлургия, 1972. 304 с.

12. Дорофеев А.Л. Применение электромагнитного метода контроля качества изделий в машиностроении: Обзор Дефектоскопия, 1979, 3, с. 5-19.

13. Наумов Н.В. Вихретоковый контроль структуры и свойств полуфабрикатов из алюминиевых и магниевых сплавов. Заводская лаборатория, 1983, 49, II, с. 6-9.

14. Испытательная техника Справочник. Кн. I /Под ред. В.В.Клюева. М,: Машиностроение, 1983. 528 с.

15. Вибрации в технике: Справочник. Т.5 /Под ред. М.Д, Генкина. М: Машиностроение, I98I. 496 с.

16. Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий: Справочник. Кн..1Л1од ред. В.В.Клюева. М.: Машиностроение, 1976. 391 с.

17. Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий: Справочник. Кн. 2/Под ред. В.Б.Клюева,-М,: Машиностроение, 1976. 396 с.

18. Неразрушающий контроль качества изделий электромагнитными методами Герасимов В.Г., Останин Ю.Я., Покровский А.Д., и др. М.: Энергия, 1978. 216 с.

19. Герасимов В.Г., Клюев В.В.,Шатерников В.Е. Методы и приборы электромагнитного контроля промышленных изделий.-М.: Энергоатомиздат, 1980. 272 с.

20. Шедосенко Ю.Н. Основы нелинейной теории многопараметрового вихретокового контроля металлических объектов. Дефектоскопия, I98I, 6, с. 38-45.

21. Преображенский А.А., Шамрай Б.В. Электромагнитные устройства информационно-измерительной техники: Учебник для

22. Рыбачук В.Г. Сравнительный анализ методов и средств измерения электропроводности проводящих материалов. В кн.: Мат. 9-й конф. мол.уч.физ.-мех.ин-та АН УССР. Секц.отбора и перад.инф. Львов, 1979. с. 133-143 Рук.деп.в ВИШГО1 17.07. 80 J 3160-80 Деп. f

23. Любашев Г.А. Неразрушающий контроль плакированного слоя на листах из сплава ВДЦ 23-АМ. В кн.: Электромагнитные методы неразрушающего контроля металлов и сплавов. Труды научнотехнической конференции, ОНТИ, I97I, с. 42-47.

24. Дорофеев А.Л.,Любашев Г.А.,Останин Ю.Я. Измерение толщины покрытий с помощью вихревых токов.-М. Машиностроение, 1975. 65 с.

25. Электромагнитный контроль плакированньк листов /Бакунов А С Беликов Е.Г.,Герасимов В.Г. и др. Тр./Моск.энерг. ин-т, 1980, вып.453, с.5-8.

26. Хофманн Д. Техника измерений и обеспечение качества: Справочная книга Д1ер.с нем.под ред. Л.М.Закса,С,С.Кивилиса. М.: Энергоатомиздат, 1983. 472 с.

28. Останин Ю.Я.,Рубин А.Л. Неразрушающий контроль толщины покрытий. М.: Машиностроение, I98I. 50 с.

29. Матис Й.Г. Электроемкостные преобразователи для неразрушающего контроля. Рига: Зинатна, 1982. 302 с.

30. Беликов Е.Г. Тычинин А,П. Современное состояние практики неразрушающего контроля толщины диэлектрических покрытий на электропроводящей основе. В кн.: Современные физические методы неразрушающего контроля.-М.: 1УЩНТП,1984, 35-40.

31. Бакунов A.C.,Беликов Е.Г. Электромагнитный контроль расстояния до поверхности электропроводящего изделия. Тр./Моск. энерг.ин-т, 1980, вып. 453, с. 8-1I.

32. Косовский Д.И.,Конжуков Ф.И. Учет воздействия влияющих факторов при измерении толщины покрытия электромагнитными приборахли типа МТ, В кн.: Контроль толщины покрытия и его метрологическое обеспечение. Тез.докл. 2-го Всесоюзн.Научн.-техн. совещ. Рига, Зинатне, 1979, с.52-54. 33. О метрологическом обеспечении электромагнитных толщиномеров покрытий /Леонов И.Г.,Логачева Л.Н.,Матюков Г.Ф. и др. Дефектоскопия, 1975, 4, с. I0I-I03,

33. Игнатов В.М.,Суменкова И.Н.,Альметьева Э.Н. Опыт работы с электромагнитными приборами для измерения толщины теплозащитных покрытий и тонких пленок. В кн.: Контроль толщины покрытия и его метрологическое обеспечение. Тез.докл. 3-го Всесоюзн. научн.техн.совещ. Рига: Зинатне, 1979, с. II6-II8.

34. Леонов И.Г, Некоторые особенности метрологических характеристик средств и методов неразрушающего контроля. Измерительная техника, 1983, 7, с. 15-17.

35. Курозаев В.П. Разработка и исследование электромагнитных преобразователей и приборов неразрушающего контроля: Автореферат канд.дисс. -М.: Моск.энерг.ин-т, 1974. 19 с. 37. ekowefii i bCcenm-eiSSung оапиФг !Bec/iLch 38. ABT.CB. ?Я020775(СССР). Устройство для измерения удельной электрической проводимости /Авт.изобрет.Бакунов А.С.- -Заявл. 28.12.81, №3371299;Опубл. в БИ, 1983, №20, М Ш 601/1/27/90.

36. Шатерников В,Е.,Быховский И.Ю. Направление вектора напршкенности магнитного поля вихревых токов как информаттвный па37. Сухоруков В.В., Торгоненко Ю.М., Родин А.А. Применение микропроцессоров для автоматизации токовихревых приборов неразрушающего контроля. Тр./ Моск.энерг.ин-т, 1980, вьш. 451, с. 3-5.

38. Вопросы построения универсальных многопараметровых цифровых структуроскопов на базе микро-ЭВМ и микрокалькуляторов /Дрейзин В.Э.,Куликов А.Н.,Колосков В.А.,Бондарь О.Г. В кн.: Методы и приборы автоматического неразрушающего контроля.- Рига: РПИ,1981, вып. 4, с. 38-49.

39. Лехтцинд В,В.,Остапенко В.Д. Применение программируемой электронной клавишной машиньйихретоковых средствах нераз40. Дьяконов В.П. Расчет нелинейных и импульсных устройств на программируемых микрокалькуляторах: Справ.пособие. М.: Радио и связь, 1984. 176 с.

41. Федосенко Ю.К. Теория вихретокового контроля преобразователей с неравномерной плотностью намотки обмотки, Дефектоскопия, 1980, f» 3, с. 82-90. f

42. Дякин В.В.,Сацдовский В.А. Теория и расчет накладных вихретоковых преобразователей. М.: Наука, I98I. 136 с.

43. Измерение .удельной электрической проводимости листов из алюминиевых сплавов без снятия плакирующего слоя методом вихревых токов Бшкенов М.Н.,Бердников В.Н.,Дорофеев А.Л. и др. В кн.: 8-я Всесоюзн. научн.техн.конф. по неразруш. физ.методам и средствам контроля. Доклады, ч. 26, Кишинев, 1977, с. 559-560.

44. Буров В.Н,,Шатерников В.Е. Влияние конструктивных параметров накладных трансформаторных вихретоковых преобразователей на выбор структуры и метрологические характеристики электромагнитных измерительных средств. Дефектоскопия, 1980, 4, с. 8085.

45. Косовский В.Д.,Никитин А.И.,Шкарлет Ю.М, Подавление влияния зазора при вихретоковом измерении удельной электрической проводимости. Дефектоскопия, 1982, 9, с. 56-62.

46. Заявка 2923066 (ФРГ). Vehj-Clfintl ZUt iScScMcltC eie-HhciSc гCi€лclJn loitt-iciS nae/i clem WChSeMhomi/ ym. Авт.изобрет. Beeei R. Bttzoc/ K. йепегс, L-jRoclner С Заявл. 07.06.79 Опубл. 18.12.80 ;МКИ 60IB7/06.

47. Журавель i.A. Теоретические и экспериментальные исследования путей повышения точности бесконтактного измерения элек48. Вяхорев В.Г. Разработка способов селективного вихретокового контроля толщины изоляционного покрытия и электропроводности основания накладным преобразователем. Дефектоскопия, 1982, 5, с. 95-96.

49. Вяхорев В,Г.,Денискин В.Л.,Трактенберг Л.И. Прибор для измерения толщины диэлектрических покрытий. В кн.: Электромагнитные методы неразрушающего контроля. Минск: Наука и техника, 1971 с. 218-221.

50. Петров В.В, Об одном подходе к задаче косвенных измерений. -Измерительная техника, 1980, 10, с. 22-23.

51. Орнатский П.П. Теоретические основы информационно-измерительной техники. Киев: Вища школа, 1983. 455 с,

52. Федосенко Ю.К. Алгоритмы определения параметра объекта нелинейной теории многопараметрового вихретокового контроля Дефектоскопия, I98I, 6, с. 45-52.

53. Стеблев Ю.И, Синтез вихретоковых преобразователей с заданными характеристиками, В кн.: Электромагнитные методы контроля качества материалов и изделий. Тез.докл. 4-й Всесоюзн. межвуз. конф. Омск, ОМПИ, 1983 ч. I, с. 80-82.

54. Герасимов В.Г.,Терехов Ю.Н.,Лантратов В.Н. Возможность отстройки от изменения сильновлияющего мешащего параметра, В кн.: 8-я Всесоюзн.научн,-техн.конф.по неразруш.физ.методам и средствам контроля. Доклады, ч, 2(6), Кишинев, 1977, с. 421-424.

55. Березин И.С,Жидков Н.П. Методы вычислений, т.1. М.: Наука, 1966. 632 с.

56. Математическая обработка результатов эксперимента:Справочное руководство, -М,:Наука, I97I. 192 с.

57. Яковлев К,П. Математическая обработка результатов измерений. М.: Гостехиздат, 1953. 364 с.

58. Бронштейн И.Н.,Семендяев К.Н. Справочник по математике для инженеров и учащихся втузов. М.: Наука, 1965. 608 с.

59. Мурашов И.И. О подобии импедансных характеристик накладных датчиков вихревых токов. Дефектоскопия, 1969, 1с, 19-23.

60. Градштейн И.С.,Рьжик И.М. Таблицы интегралов,сумм, рядов и произведений. М.: Наука, I97I, II08 с. 73. Авт.св. №824016 (СССР). Устройство для электромагнитного контроля электропроводящих покрытий на электропроводящем основании /Авт.изобрет. Бакунов А.С.,Беликов Е,Г.,Герасимев В.Г. и др. -Заявл.27.07.79, №2802924; Опубл. в БИ,1981,№|5; МКИ 01 Л/27/86, <01 В7/06.

61. Тычинин A,П. Вихретоковый контроль плакированных материалов: Деп.рукопись. М.: ВИНИТИ, 1984, 5026-84 Деп. 7 с.

62. Герасимов В.Г.,Мурашов И.И. К теории контроля многослойных изделий с помощью накладных датчиков. Дефектоскопия, 1969, I, с. 43-48. 76. Ott Я» А/Ш SgSnCrSe с/г /геА/i/it 3)Штт-е5ипд аетпШе dcAufitsde/rre /nCt WifSi£sthoni6onclen,-Me<56€n4-pdjn 1979, 15Дз, p. 134-138. 77. Авт.св. Ш28062 (СССР). Способ электромагнитного контроля и устройство для его осуществления /Авт.изобрет. Бакунов А С Беликов Е.Г.,Останин Ю.Я.-Заявл. 22.06»79, 2784589; Опубл. в БИ, I98I, 17; МКИ 01Л/27/90.

63. Типовая методика аттестащи толщиномеров покрытий МИ 158-78. М.:Изд-во станд., 1979. 7 с.

64. Методические указания по проведению метрологической аттестации нестандартизированных средств измерений. М.: ГосНИТИ, I98I. 13 с.

65. Точность и производительный контроль в машиностроении: Справочник /Под ред. А.К.Кутая и Б.М.Сорочкина. Л,: Машино66. Кошкин Н,И,, Ширкевич М.Г, Справочник по элементарной физике, М.: Наука, 1980. 208 с,