автореферат диссертации по приборостроению, метрологии и информационно-измерительным приборам и системам, 05.11.05, диссертация на тему:Методы и средства измерения амплитудно-временных параметров наносекундных импульсных сигналов цифровых ИС

ВВЕДЕНИЕ

Глава I. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ И КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ

ЛОГИЧЕСКИХ УЗЛОВ

1.1. Краткая характеристика амплитудно-временных параметров современных ИС

1.2. Виды измерения и контроля параметров логических узлов

1.3. Методы измерения амплитудных параметров сигналов логических узлов

1.4. Методы измерения временных.параметров сигналов логических узлов

1.5. Выводы. Постановка задачи исследований.

Глава 2. ИЗМЕРЕНИЕ АМПЛИТУДЫ ПОВТОРЯЮЩИХСЯ НАНОСЕКУНД-НЫХ ИМПУЛЬСОВ В УСЛОВИЯХ ВОЗДЕЙСТВИЯ ПОМЕХ.

2.1. Алгоритмы измерения амплитуды импульсов на основе,процедуры стохастической аппроксимации

2.2. Алгоритмы измерения амплитуды импульсов на основе адаптивной процедуры Роббинса-Монро.

2.3. Микропроцессорная реализация стохастических алгоритмов измерения амплитуды импульсов.Анализ основных аппаратурных погрешностей

В основных направлениях экономического и социального развития СССР на I98I-I985 годы и на период до 1990 года ставится задача значительного увеличения масштабов создания, освоения и внедрения в производство новой высокоэффективной техники, в том числе, контрольно-измерительной аппаратуры, надлежащий уровень развития которой является одним из условий достижения высокого качества продукции и эффективности её производства / I /.

В работе / 2 / вице-президент АН СССР, академик Е.П.Велихов отметил, что "быстрое, опережающее развитие техники измерений и организации измерительных работ, постоянное повышение удельного веса измерений в общем объеме затрат на выпуск продукции представляет собой одну из основных тенденций развития современного производства".

В последнее время измерительная техника и метрологическое обслуживание производства прочно вошли в народное хозяйство и позволили добиться существенного повышения качества продукции и интенсификации технологических процессов / 2 /.

В полной мере отмеченные тенденции относятся к производству и использованию цифровых интегральных схем (ИС).

Все возрастающее применение цифровых ИС, необычайно разнообразных по выполняемым функциям, электрическим параметрам и областям использования, обусловливает массовый характер их производства. Одним из основных условий высокого качества выпускаемых ИС является правильная организация, высокие эффективность и точность измерения и контроля параметров ИС на всех этапах их производства и применения / 3 /.

Широкое распространение БИС потребовало перехода от контроля и измерения параметров ИС на простейших автоматических установках к созданию информационно-измерительных систем, управляемых ЭВМ или имеющих встроенные микропроцессорные средства.

В связи с этим возникает задача разработки методов измерения при минимальных затратах параметров цифровых ИС и логических узлов (ЛУ), построенных на их основе.

При измерении и контроле параметров ИС и ЛУ в общем случае необходимо проведение функционального контроля и измерения статических и динамических параметров /3/. В связи с постоянным увеличением степени интеграции ИС, созданием больших и сверхбольших ИС, определяющим видом их контроля становится функциональный контроль, обеспечивающий проверку работоспособности ИС иЛУ в заданных условиях эксплуатации. Разработка эффективных функциональных тестов при минимальных временных затратах определяется конкретной конструкцией (топологией) ИС и БИС и взаимодействием между ними в ЛУ /4-Д

Статические параметры ИС определяются совокупностью токов и напряжений, измеряемых при заданных логических значениях входных и выходных уровней и требуемом электрическом режиме ИС /5/. Динамические параметры ИС и ЛУ определяют реакцию узла во времени на воздействие входных сигналов, продолжительность изменения логических состояний ИС, предельные рабочие частоты исследуемого узла и др. /5/, и подразделяются на амплитудные и временные параметры /б/.

В настоящее время методы и средства измерения статических параметров цифровых ИС хорошо развиты и, в основном,удовлетворяют существующим задачам. Обусловлено это тем, что значение токов и напряжений измеряют на выходах ИС при логических нуле и единице /7/. Поэтому системы статических параметров и методы их измерения практических одинаковы для большинства типов цифровых ИС, независимо от степени их интеграции /3/.

Быстрый прогресс в области создания быстродействующих цифровых ИС предопределяет необходимость совершенствования методов и средств измерения динамических параметров ЛУ. При этом вопросы измерения амплитуды импульсных сигналов с точки зрения погрешностей, влияния форш сигналов на погрешность, диапазонов преобразования глубоко и достаточно полно рассмотрены в многочисленных работах. Однако вопросы измерения амплитуды коротких импульсов в условиях воздействия помех исследованы в значительно меньшей степени. Аналогично и состояние проблемы построения и анализа алгоритмов статистического измерения временных интервалов малой длительности.

Таким образом, возникает необходимость разработки новых эффективных алгоритмов измерения амплитуды и длительности наносе-кундных импульсных сигналов ЛУ в условиях воздействия помех и создания на их основе измерительных устройств.

В связи с этим целью настоящей диссертационной работы является разработка и исследование методов и устройств статистического измерения амплитудных и временных параметров импульсных наносекундных сигналов цифровых ИС и ЛУ, построенных на их основе. Для достижения поставленной цели решаются следующие основные задачи:

I. Теоретический анализ применимости процедур стохастической аппроксимации при измерении амплитуды и длительности наносекундных импульсов. Вывод аналитических соотношений для алгоритмов измерения, основанных на рекуррентной процедуре Роббинса-- Монро.

2. Исследование и анализ точностных возможностей полученных алгоритмов измерения.

3. Разработка на основе полученных алгоритмов измерения структурных схем устройств измерения амплитуды и длительности коротких импульсов, а также функциональных схем конкретных устройств измерения динамических параметров сигналов ЛУ, предназначенных для микропроцессорной реализации. Анализ основных аппаратурных погрешностей последних.

4. Разработка рекомендаций к практическому применению и внедрению устройств стохастического измерения амплитуды и длительности наносекундных сигналов ЛУ.

Тематика диссертационной работы соответствует разделу "Целевые комплексные научно-технические программы по отраслям народного хозяйства" (пункт 40 - создание и производство приборов, измерительно-вычислительных комплексов и систем для научных исследований) перечня ГКНТ СМ СССР важнейших научно-технических проблем.

Основные исследования, выполненные по данной диссертационной работе, базируются на использовании методов теории вероятности и математической статистики и, в частности, на методах теории погрешностей и рекуррентного оценивания параметров, а также элементах теории случайных импульсных потоков. При анализе эффективности алгоритмов измерения широко использовались методы статистического моделирования, а при разработке устройств, использующих микропроцессоры - методы программирования на языке "Ассемблер".

На защиту выносятся следующие основные положения:

1. Доказательство сходимости алгоритмов измерения амплитуды и длительности коротких импульсов, построенных на процедуре Роббинса-Монро.

2. Алгоритмы статистического измерения амплитуды наносекундных импульсов в условиях воздействия аддитивных помех, основанные на процедуре стохастической аппроксимации.

3. Алгоритмы статистического измерения длительности наносекундных импульсных сигналов, основанные на подстройке периода квантования к длительности исследуемых интервалов времени при постоянном шаге перестройки периода квантования и при перестройке периода квантования на базе процедуры стохастической аппроксимации.

Алгоритм статистического измерения временных интервалов малой длительности, обеспечивающий инвариантность среднеквадра-тической погрешности измерения к виду закона распределения длительностей пауз между измеряемыми интервалами времени.

5. Результаты теоретического и экспериментального анализа метрологических возможностей разработанных алгоритмов измерения.

6. Структурные и функциональные схемы устройств стохастического измерения амплитуды и длительности наносекундных сигналов ЛУ.

В диссертационной работе получены следующие новые научные результаты:

1. На основе процедуры стохастической аппроксимации разработаны алгоритмы измерения амплитуды наносекундных импульсов в условиях помех.

2. Проведен анализ среднеквадратической погрешности полученных алгоритмов измерения с учетом вида закона распределения помех и параметров этого закона.

3. Проведен анализ влияния вида закона (и его параметров) распределения периодов следования измеряемых импульсов на погрешность при счетно-импульсном методе измерения. Установлен вид закона распределения периодов квантующих импульсов, при котором погрешность измерения не зависит от вида закона распределения пауз между квантующими импульсами.

4. Разработаны стохастические алгоритмы измерения длительности наносекундных интервалов времени, обеспечивающие постоянство в диапазоне измерения соответственно абсолютной и относительной среднеквадратической погрешности измерения. Для алгоритма измерения, обеспечивающего постоянную погрешность, предложен простой и эффективный критерий оценки достижения заданной точности измерения.

5. Проведен сравнительный анализ погрешностей полученных алгоритмов измерения временных интервалов.

6. Предложен спектральный способ измерения длительности коротких импульсов, для которого получены основные аналитические соотношения.

Практическая ценность работы состоит:

- в разработке структурных схем устройств стохастического измерения амплитуды и длительности коротких импульсных сигналов?

- в разработке конкретных функциональных схем устройств стохастического измерения амплитуды и длительности импульсных наносекундных сигналов ЛУ, предназначенных для микропроцессорной реализации;

- в выводе и анализе аналитических соотношений для среднеквадратической погрешности измерения амплитуды и длительности сигналов, учитывающих основные аппаратурные погрешности разработанных устройств;

- в разработке и обосновании рекомендаций по выбору числа и шага опорных уровней напряжений в устройствах, предназначенных для стохастического измерения амплитуды наносекундных импульсов в условиях воздействия помех;'

- в разработке для микропроцессора К580ИК80 блок-схем и программ реализации полученных алгоритмов измерения;

- в разработке малоинерционных устройств, позволяющих в процессе измерения амплитудно-временных параметров ЛУ имитировать требуемую величину электрической нагрузки ИС.

Реализация результатов работы.

Многие положения и результаты диссертационной работы были положены в основу разработки комплекса устройств, используемого в производстве в составе технологического процесса измерения параметров, контроля и настройки специализированных ЭЦВМ. Комплекс внедрен на одном из предприятий г. Ульяновска и включает в себя:

- устройство автоматизированного параметрического контроля УАПК, позволяющее в автоматическом режиме производить измерение и контроль аналоговых параметров ЛУ, а также задавать на ЛУ необходимые импульсные воздействия;

- ш§канальный стохастический микропроцессорный АЦП, служащий для измерения амплитуды импульсов ЛУ в условиях воздействия помех;

- анализатор параметров цифровых систем АПЦС-2У, являющийся универсальным измерительным прибором, позволяющим: измерять уровни напряжения, амплитуду и длительность импульсов, временные задержки, частоту следования, объем пачек импульсов; нагружать входы контролируемых ИС; запоминать и анализировать кодовые комбинации; задавать на ЛУ импульсные воздействия;

- сигнатурную приставку, работающую совместно с УАПК. Суммарный экономический эффект от внедрения разработанных устройств составляет 307,9 тыс.рублей в год.

Апробация работы.

Основные положения и результаты диссертационной работы были доложены и обсуждены на Всесоюзном научно-техническом семинаре "Вопросы теории и проектирования аналоговых измерительных преобразователей параметров электрических сигналов и цепей" (г. Ульяновск, 1978 г.), на второй Всесоюзной научно-технической конференции "Методы и средства аналого-цифрового преобразования параметров электрических сигналов и цепей" (г.Пенза, 1981 г.), на У Всесоюзном симпозиуме по нано- и пикосекундной технике и её применению в радиоизмерениях (г.Горький, 1983 г.), на Всесоюзной конференции "Проблемы метрологического обеспечения систем обработки измерительной информации" (г.Суздаль, 1984 г.), на республиканских научно-технических конференциях: "Вопросы теории и проектирования преобразователей информации" (г.Киев, 1981 г.), "Автоматизация измерения частотных и импульсных характеристик радиоустройств" (г. Каунас, 1981 г.), "Структурные методы повышения точности средств и систем автоматизации экспериментальных исследований" (г. Киев, 1983 г.), на научно-практической конференции "Автоматизация проектирования, измерений и управления качеством" (г. Ульяновск, 1981 г.), на научно-техническом семинаре "Методы и средства быстродействующего аналого-цифрового преобразования" (г. Пенза, 1979 г.), на научно-технической конференции "Методы и устройства повышения качества приборов, систем и аппаратов" (г. Ульяновск, 1979 г.), на научно-технических конференциях профессорско-преподавательского состава Ульяновского политехнического института в 1979-1984 годах. Работа также получила апробацию на предприятии при выполнении хоздоговорных НИР.

Основные положения диссертационной работы опубликованы в 29 печатных работах, в том числе - 12 авторских свидетельствах, из которых б внедрены в производство. Результаты выполненных исследований отражены также в двух научно-технических отчетах по хоздоговорным НИР.

Объем и структура диссертации.

Диссертация состоит из введения, четырех глав, заключения,

4.5. Выводы

Рассмотрены принцип действия, результаты испытаний и технико-экономические характеристики комплекса измерительной аппаратуры, разработанного на основе теоретических положений, полученных в предыдущих главах и изготовленного при непосредственном участии автора. Комплекс включает в себя автоматизированное устройство наладки и контроля, устройство автоматизированного параметрического контроля, многоканальный микропроцессорный АЦП, анализатор параметров цифровых систем и сигнатурную приставку. Основное внимание уделено вопросам измерения амплитудно-временных параметров сигналов ЛУ.

Разработаны устройства, позволяющие во время измерения параметров ЛУ имитировать требуемую величину электрической нагрузки ИС. Намечены пути улучшения параметров таких устройств.

Внедрение комплекса измерительной аппаратуры в производство для измерения параметров, контроля и настройки блоков специализированных ЭЦВМ позволило увеличить полноту и достоверность контроля, повысить производительность труда операторов-регулировщиков, снизить капитальные и текущие затраты на контрольно-поверочные работы.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

1. Исследована возможность построения алгоритмов измерения амплитуды и длительности коротких импульсных сигналов на основе рекуррентных процедур стохастической аппроксимации. Выбран и обоснован вид функции измерения и показано выполнение условий сходимости процедуры измерения к величине искомой амплитуды (длительности). Показана также нецелесообразность построения алгоритмов измерения амплитуды и длительности на основе адаптивной процедуры стохастической аппроксимации.

2. На основе рекуррентной процедуры Роббинса-Монро разработаны алгоритмы измерения амплитуды наносекундных импульсов в условиях воздействия помех, для которых проведен анализ зависимости среднеквадратической погрешности измерения амплитуды от вида и параметров закона распределения помех. На основании полученных результатов и данных статистического моделирования выбраны и обоснованы рекомендации по выбору числа и шага опорных уровней напряжения в зависимости от интенсивности и параметров закона распределения помех. Разработаны также структурные схемы устройств стохастического измерения амплитуды импульсов, реализующие полученные алгоритмы.

3. Исследовано влияние вида и параметров закона распределения пауз между измеряемыми временными интервалами на средне-квадратическуга погрешность измерения при использовании метода усреднения. Показано, что при нарушении условий независимости измерений погрешность измерения резко возрастает, что обуславливает нецелесообразность использования при указанных условиях постоянного периода квантования. Установлен вид закона распределения периодов квантующих импульсов, при котором средне-квадратическая погрешность измерения инварианта к виду закона распределения пауз. Полученные аналитические соотношения подтверждены результатами статистического моделирования.

Разработаны стохастические алгоритмы измерения временных интервалов наносекундной длительности, основанные на подстройке периода квантования согласно рекуррентной процедуры Роббинса-Монро к длительности измеряемого временного интервала. Проведено исследование процесса измерения для случая неизменного шага перестройки периода квантования и для случая, когда величина шага перестройки зависит от номера этого шага и результатов предыдущих наблюдений. На основании полученных алгоритмов разработаны структурные схемы устройств стохастического измерения интервалов времени малой длительности.

5.Проведены исследование и сравнительный анализ точностных возможностей разработанных алгоритмов измерения. Показано, что полученные алгоритмы по сравнению с методом усреднения позволяют уменьшить среднекадратическую погрешность измерения временных интервалов. Определены условия и диапазон измерения, при которых достигается уменьшение погрешности. Показано также, что использование разработанных алгоритмов обеспечивает в диапазоне измерения при неизменном шаге перестройки периода квантования постоянную абсолютную, а при изменяющемся - постоянную относительную среднеквадратические погрешности измерения.

6. Разработаны конкретные функциональные схемы устройств стохастического измерения амплитуды и длительности импульсных наносекундных сигналов ЛУ, предназначенные для микропроцессорной реализации. Проведено исследование и получены аналитические выражения влияния основных аппаратурных погрешностей разработанных устройств на общую погрешность измерения.

7. Предложен спектральный способ измерения длительности коротких импульсов, основанный на анализе соотношения амплитуд гармонических составляющих, с частотами, кратным частоте следования исследуемых интервалов времени.

8. Разработанные технические решения защищены 12 авторскими свидетельствами, б из которых внедрены в производство.

Часть результатов работы была положена в основу создания комплекса устройств, используемого в производстве для измерения параметров, контроля и настройки ЛУ специализированных ЭЦВМ. Суммарный годовой экономический эффект от внедрения комплекса составляет 307,9 тыс. рублей.

1. Основные направления экономического и социального развития СССР на 1.8I-I985 годы и на период до 1990 года. Правда, 1981, 5 марта.

2. Велихов Е.П. Роль измерений в проблеме интенсификации экономики и повышения производительности труда. Измерительная техника, 1982, № 12, с. 3-5.

3. Измерение параметров цифровых интегральных микросхем/ Д.Ю. Эйдукас, Б.В. Орлов, Л.М. Попель и др.; Под ред. Эйдукаса, Б.В. Орлова. М.: Радио и связь, 1982. - 368 с.

4. Чжен Г., Мэннинг Е., Метц Г. Диагностика отказов цифровых вычислительных систем: Пер. с англ./ Под ред. И.Б. Михайлова. М.: Мир, 1972. - 232 с.

5. ГОСТ 19480-74. Микросхемы интегральные: Электрические параметры. Термины, определения и буквенные обозначения.

6. Измерение динамических параметров интегральных схем/ B.C. Сапрыкин, Н.И. Кузнецов, Н.И. Докучаев и др. М.: Сов. радио, 1979. - 104 с.

7. ГОСТ 18683-76. Микросхемы интегральные логические: Методы измерения электрических параметров.

8. ГОСТ 17021-75. Микросхемы интегральные. Термины и определения.

9. Аналоговые и цифровые интегральные схемы/ С.В. Якубовский, Н.А. Барканов, Б.П. Кудряшов и др.: Под ред. С.В. Якубовского. М.: Сов. радио, 1979. - 336 с.

10. Бендолт, Феррис, Гриффит. Высокочастотные Шотки ТТЛ ИС, изготовленные по технологии окисной изоляции. Электроника, 1979, № 5, с. 31-33.1.. Прангишвили И.В., Левентуев В.А., Сонин М.С. Элементы ЗУ на МДП структурах. М.: Энергия, 1978. - 176 с.4 * *

11. Nishizawa J., Wilamowslp. В.М. Integrated logic,static induction transistov logic, r IEEE Intern. Sol. St. circuits Conference, 1977, p. 222-223.

12. Прайост, Pao, Блад. Функциональная матрица, упрощающая проектирование специализированных ЭСЛ БИС. Электроника, 1979, № 4, с. 34-41.

13. Вальков В.М., Ильюшенко Ю.М. Цифровые интегральные схемы, микропроцессоры и микро-ЭВМ. М.: Сов. радио, 1977.- 101 с.

14. Лебос, Шакил. Проблемы испытаний БИС. Электроника1978, №.22, с- 98-100.

15. Henson G. Testing reguirements for 16 k RAMs. -Electron weehly, 1979, № 5, p. 22-27.

16. Смит. Достоверный контроль качества микропроцессоров путем функционального тестирования. Электроника, 1977, № 4, с. 56-62.

17. Биссе. Испытательная установка с использованием электронных БИС. Электроника, 1978, й II, т. 51, с; 51-58.

18. Скрупски. При^ны и способы тестирования микропроцессоров потребителями. Электроника, 1978, № 5, с. 25-36.

19. Данилин Н.Н., Попель Л.М. Установка для функционального контроля БИС ОЗУ "Элекон Ф-ЗУМ". -Электронная промышленность, 1980, вып. 10, с. 40-43.

20. Armstrong D.B. On finding a nearly minimal set of fault.detection* tests for combinational logic NETS. IEEE Trans., 1969,. v. EC-15, p. 66-73.

21. Селлерс Ф. Методы обнаружения ошибок в работе ЭЦВМ.

22. Пер. с англ./ Под ред. В.К. Левина. М.: Мир, 1972. - 310 с.

23. Березенко А.И., Тищенко 0.И* Получение контрольных тестов для микропроцессорных БИС. Электронная промышленность,1977, вып. 2, с. 30-34.

24. Макуильямс Ф.Д., Слоан Н.Д. Псевдослучайные последовательности и таблицы. ТИИЭР, т. 64, № 12, 1976, с. 80-95.

25. Frohwerk R.A. Signature analysis. A new digital field servise method. Hewlett Pachard J., 1977, P* 2-8,

26. Гордон и Надиг. Локализация неисправностей в микропроцессорных системах при помощи шестнадцатиричных ключевых кодов. Электроника, 1977, № 5, с. 23-33.

27. Schweber W., Pearce L. Software signature analysis identifies and checks PROMs. END, 1978, №20, p. 79-81.

28. Ташлинский А.Г., Борискин Л.П. Система автоматизированного параметрического контроля цифровых блоков. Приборы и техника эксперимента, 1983, № I, с. 205.

29. Скарлетт Д. Транзисторно-транзисторные логические интегральные схемы и их применение: Пер. с англ./Под ред. Б.И. Ермолаева. М.: Мир, 1974. - 288 с.

30. ГОСТ 22565-77. Микросхемы интегральные: Запоминающие устройства и элементы запоминающих устройств. Термины, определения и буквенные обозначения электрических параметров.

31. Валиев К.А., Литвак В.Н., Минин Е.С., Орлов Б.А. Методы контроля полупроводниковых ОЗУ. Электронная промышленность, 1974, № 7, с. 48-53.

32. Диржис А.И., Эйдукас Д.Ю. Информационно-измерительные системы контроля динамических параметров цифровых интегральных схем. Изв. вузов Лит.ССР. Сер. Радиоэлектроника, 1979, т.15, № I, с. 5-73.

33. Диржис А.И. Вопросы оценки погрешностей измерения динамических параметров ЦИС, определяемой искажениями сигналов в измерительном тракте. Матер. У1 науч.-техн. конф. Сер. Радиоизмерения, 1975, т. 3, с. 15-28.

34. Мирский Г.Я. Радиоэлектронные измерения. Изд. 3 -е, перераб. и доп. М.: Энергия, 1975. - 600 с.

35. Дворяшин Б.В., Кузнецов Л.И. Радиотехнические измерения. М.: Сов. радио, 1978. - 360 с.

36. Валитов Р.А., Сретинский В.Н. Радиотехнические измерения. М.: Сов. радио, 1970. - 712 с.

37. Динамика осциллографических гальванометров/ М.И. Белый, В.А. Мишин, Ю.Н. Санкин и др. М.: Энергия, 1976. - 104 с.

38. Грязнов М.И., Гуревич М.Л., Маграчев Э.В. Измерение импульсных напряжений. М.: Сов. радио, 1969. - 334 с.

39. А.с. 703763 (СССР). Устройство для измерения амплитуды одиночных импульсов /А.А. Осьминин, Г.Н. Абрамов, А.Г. Таллинский и др. Опубл. в Б.И. 1979, № 46.

40. А.с. 694870 (СССР). Логарифмический преобразователь амплитуды одиночных импульсов/ А.А. Осьминин, Г.Н. Абрамов, А.Г. Ташлинский. Опубл. в Б.И. 1979, гё 40.

41. Ташлинский А.Г., Осьминин А.А. Об одной возможности повышения быстродействия аналого-цифрового преобразования. В межвуз. сб. Цифровая информационно-измерительная техника, Пенза: Пенз. политехи, ин-т, 1981, вып. II, с. 47-50.

42. Карпиловский Л.Н. Новый способ измерения амплитуд импульсов наносекундной длительности. В кн.: Материалы научно-техн. конф. ЛЭИС. вып. 2, 1970, с. 102-103.

43. Волченко Б.И. Логарифмический преобразователь амплитуды импульсов в код. Приборы и техника эксперимента, J& I, 1981, с. 101-104.

44. Ковтун А.К., Шкуро А.Н., Резник П.М. Цифровой измеритель импульсов наносекундной длительности. Приборы и техника эксперимента, й 4, 1971, с. 91-94.

45. Микроэлектронные цифро-аналоговые и аналого-цифровые преобразователи информации/ В.Б. Смолов, Е.П. Угрюмов, В.К. Шмидт и др.; под ред. В.Б. Смолова. Л.: Энергия, 1976. -336 с.

46. А.с. 1014138 (СССР). Преобразователь амплитуды импульсов в код/ А.Г. Ташлинский, Ф.Ф. Шнайдер. Опубл. в Б.И. 1983,5.

47. Грязнов М.И. Аналитическое определение амплитуды импульсов на основе данных, полученных интегральным методом. -Техника средств связи. Сер. Радиоизмерительная техника, 1980, вып. 7, с. 71-75.

48. Грязнов М.И. Интегральный метод измерения импульсов. -М.: Сов. Радио, 1975. 289 с.

49. Грязнов М.И., Шубин Е.А. Измерение основных параметров импульсов на основе интегрального метода. В сб.: Радиоэлектроника: научные тр. вузов Лит. ССР. Вильнюс, 1981, т. 17, № 2,с. 66-69.

50. Маграчев З.В. Вольтметры одиночных импульсов. М.: Энергия, 1967. - 112 с.

51. Волгин Л.И. Измерительные преобразователи переменного напряжения в постоянное. М.: Сов. радио, 1977. - 240 с.

52. Басалаев Г.В., Кметь А.Б. Быстродействующее аналоговое запоминающее устройство. Приборы и техника эксперимента, № 4, 1982, с. 94-96.

53. А.с. 809391 (СССР). Аналоговое запоминающее устройство/ А.А. Осьминин, А.Г. Ташлинский, Е.И. Курышов и др. Опубл. в Б.И. 1981, № 8.

54. Елин М.И., Курашов А.С., Цыганков Б.К. О погрешности дифференциально-интегрального метода расширения импульсов. -Вопросы радиоэлектроники. Сер. РТ, 1971, вып. 7, с. I27-I3I.

55. Карпов Н.Р. Рециркуляционный измерительный преобразователь коротких временных интервалов в код. Приборы и техника эксперимента, № 2, 1980, с. I0I-I03.

56. Fast Pulse Instrumentation Cataloge. - Le Croy Research Systeme Corporation, USA, New Vorh, 1977•

57. Басиладзе С.Г., Бубилов В.А., Маньяков П.К. Преобразователь заряд-цифра и амплитуда-цифра для многоканальных спектрометрических систем. Приборы и техника эксперимента, № 2; 1982, с. 57-61.

58. Левитас Б.Н., Найденова И.А. Преобразователи временного масштаба наносекундных импульсов. В кн.: Нано и пикосе-кундная импульсная техника и её применение в радиоизмерениях: тез. докл. Y Всесоюзного симпозиума. Горький, 1983. с. 28.

59. Справочник по радиоизмерительным приборам. Под ред. B.C. Насонова. М.: Сов. радио, т.З, 1979. - 370 с.

60. Agouridis D.S. Self Sampling system for Measurement of picosecond pulse characteristics. - Rev. Scient.1.str, 1962, № 12, v. 33.

61. Randon -sampling valtmeter HP 3406 A. Electronic Desing, 1965, № 13, v. 13.

62. Грязнов М.й. Автоматическое измерение параметров сигналов стробоскопическим вольтметром. В сб.: Нано и пикосекунд-ная импульсная техника и её применение в радиоизмерениях: тез. докл. Y Всесоюзного симпозиума. Горький, 1983, с. 75-76.

63. Шило В.Л. Линейные интегральные схемы в радиоэлектронной аппаратуре: Под ред. Е.И. Гальперина. М.: Сов. радио, 1974. - 312 с.

64. Денбновецкий С.В., Орлов И.И., Шкуро А.Н. Анализаторы сигналов на ЭЛТ с внутренним и внешним считыванием. В сб.: Нано- и пикосекундная импульсная техника и её применение в радиоизмерениях: Матер. V Всесоюзного симпозиума. Горький, 1983, с. 36-37.

65. Береснев В.А., Хаустов Ю.И., Антонова В.М. Аналого-цифровой преобразователь импульсных сигналов на запоминающей электронно-лучевой трубке. Приборы и техника эксперимента, № 4, 1980, с. 224.

66. Гитис Э.И., Пискулов Е.А. Аналого-цифровые преобразователи. М.: Энергоиздат, 1981 - 360 с.

67. Гитис Э.И. Преобразователи информации для электронных цифровых вычислительных устройств. Изд. 3-е, перераб. М.: Энергия, 1975, - 448 с.

68. Бахтиаров Г.Д., Дзарданов П.А. Состояние техники и перспективы развития быстродействующих аналого-цифровых преобразователей. Приборы и техника эксперимента, № 6, 1982, с.5-20.

69. Сафронов В.П. Новые методы построения быстродействующих АЦП. Приборы и системы управления, Ш 8, 1979, с. 15-17.

70. Мирский Г.Я. Измерение временных интервалов. M.-JI.: Энергия, 1964. - 72 с.

71. А.с. I0I8I04 (СССР). Устройство для измерения временных интервалов/ А.Г. Ташлинский, Й.Ф. Юрин, A.M. Иванов. Опубл. в Б.И. 1983, N2 18.

72. Корн Г., Корн Т. Справочник по математике для научных работников и инженеров. Пер. с англ. М.: Наука. Главная редакция физико-математической литературы, 1974. - 832 с.

73. А.с. 809033 (СССР). Устройство для измерения временных интервалов/ А.Г. Ташлинский. Опубл. в Б.И. 1981, № 8.

74. Автоматизация радиоизмерений/ В.П. Балашов, Р.А. Ва-литов, Г.П. Вихров и др.: Под ред. В.П. Балашова. М.: Сов. радио, 1966. - 527 с.

75. А.с. 400876 (СССР). Способ контроля временных интервалов между импульсами двухимпульсной последовательности, а также длительности фронтов и длительности импульсов одноим-пульсной последовательности/ M.JI. Гонкас. Опубл. в Б.И. 1973, № 40.

76. Ташлинский А.Г. Спектральный способ измерения длительности коротких импульсов. В сб.: Нано- и пикосекундная импульсная техника и её применение в радиоизмерениях: матер, у Всесоюзного симпозиума. Горький, 1983, с. 73-74.

77. А.с. 834664 (СССР). Способ измерения коротких временных интервалов/ А.А. Осьминин, В.П. Балашов, А.Г. Ташлинскийи др. Опубл. в Б.И. 1981, № 20.

78. Ташлинский А.Г. Оценка погрешности спектрального метода измерения временных интервалов. В межвуз. сб.: Автоматизация измерений, Рязань: РРТИ, 1981, с. 99-104.

79. Радиоизмерительные приборы 81. Каталог-проспект, 18-е издание исправленное и дополненное. - М.: Центральный отраслевой орган научно-технической информации "Экое", 1981. -- 234 с.

80. Рябинин Ю.А. Состояние и перспективы развития стробоскопической осциллографии. В сб.: Нано- и пикосекундная импульсная техника и её применение в радиоизмерениях: матер, у Всесоюзного симпозиума. Горький, 1983, с. 5.

81. Радиоизмерительные приборы 82. Дополнение к каталогу -проспекту "Радиоизмерительные приборы - 81". - М.: Центральный отраслевой орган научно-технической информации "Экое", 1982. - 36 с.

82. Воробьев В.П., Костенков А.А. Измеритель временных параметров интегральных логических схем (ИБП I). - Электронная техника. Сер. 6 Микроэлектроника, 1969, вып. 2, с. 91-93.

83. Комплект универсальных ИИС для измерения параметрови контроля динамического функционирования ИС и БИС/ А.З. Барзах, В.И. Горин, Б.Д. Гудкович и др. Научные труды вузов Лит. ССР. Сер. Радиоэлектроника, 1981, т. 17, № 2, с. 74-77.

84. Caddy O.L. A simple method of measuring fractional millimicrosecond pulse characteristics. IEE Trans, 1960, №3, v. 1-9.

85. Маграчев 3.B., Тишенко H.H. Линейный преобразователь интервалов времени. Вопросы радиоэлектроники. Сер. РТ, 1970, вып. 8, с. 81-83.

86. Евграфов Г.Н., Канцеров В.А. Преобразователь "старт-стоп" временных интервалов широкого диапазона. Приборы и техника эксперимента, № 2, 1983, с. 88-89.

87. Семенихин А.Н., Свирида С.В., Клопиков Е.Б. Стабильный время-амплитудный преобразователь с высокой загрузочной способностью. Приборы и техника эксперимента, № 4, 1982, с. 92-94.

88. Баламатов Н.Н., Заливако В.Ю. Время-амплитудный преобразователь наносекундного диапазона. Приборы и техника эксперимента, 1980, № 3, с. I09-III.

89. А.с. 785796 (СССР). Цифровой измеритель длительности одиночных электрических импульсов/ А.А. Осьминин, А.Г.Ташлинский, Е.И. Курышов и др. Опубл. в Б.И. 1980, № 45.

90. Дегтярев А.П., Махрический Т.В., Шевченко В.А. Старт-стопный преобразователь время-амплитуда с высокой допустимой скоростью счета. Приборы и техника эксперимента, N° 3, 1981, с. 104-105.

91. Цифровой измеритель динамических характеристик микросхем/ Г.А. Ведерникова, А.И. Ильенков, И.Я. Корчагин и др.-Автометрия, № I, 1970, с. 71-79.

92. Валитов Р.А., Вихров Г.П. Погрешность цифровых измерителей интервалов времени и повышение их точности методом усреднения. Измерительная техника, 1963, № 4, с. 44-47.

93. Осьминин А.А. Измерительные устройства с функциональной избыточностью. Изд-во Сарат. ун-та, 1981. - 105 с.

94. А.с. 310269 (СССР). Способ статистического многоканального измерения временных интервалов/ А.А. Осьминин, Г.А. Подунаев. Опубл. в Б.И. 1971, № 23.

95. Эйдукас Д.Ю. Принципы построения измерительных информационных систем. Изв. вузов Лит. ССР. Сер. Радиоэлектроника, 1977, с. 5-10.

96. Эйдукас Д.Ю. Современная тенденция развития ИИС для контроля параметров ПП и ИС. Материалы У1 научно-техн. конф. Сер. Радиоизмерения, 1975. т. 3, с. 5-14.

97. Бахвалов Н.С. Численные методы. М.: Наука, 1973, т. I. - 621 с.

98. Срагович В.Г. Адаптивное управление. М.: Наука. Главная редакция физико-математической литературы, 1981. -384с.

99. Билинский И.Я., Микельсон А.К. Стохастическая цифровая обработка непрерывных сигналов. Рига: Зинатие, 1983. -295 с.

100. Bobbins Н., Monro S. A stochastic approximation method. Ann. Math. Statist., 22, 1 (1951), p. 400-407.

101. Невельсон М.Б. , Хасьминский Р.З. Стохастическая аппроксимация и рекуррентное оценивание. М.: Наука, 1972. --304 с.

102. Гладышев Е.Г. О стохастической аппроксимации. Теор. вероятн. и её применен., 10, 2(1965), с. 297-300.

103. Ташлинский А.Г. Применение стохастической аппроксимации ции при измерении амплитуды коротких импульсов при наличии помех. В межвуз. сб.: Автоматизация измерений, Рязань:1. РРТИ, 1983, с. 61-66.

104. Chung K.L. On a stochastic approximation method. -Ann. Math. Statist. 25, J ( 1954), p. 463-4-83.

105. Blum J. R. Multidimensional stochastic approximation.-Ann. Math. Statist. 25, 4- (1954), p. 737-7^4.

106. Sachs I. Asymptotic dictributions of stochastic approximation. Ann. Math. Statist, 29, 2 (1958), p. 373-405.

107. Fabian V., On asymptotic normality in stochastic approcimation. Ann. Math. Statist. 39, 4 (1968-) ,p. 1927 1932.

108. Albert A., Gardner L. Stochastic Approximation and Monlinear Regression. M.I.I. - Press, Combridge, Massachusetts, 1967.

109. А.А. Осьминин, НИР № 40/82, гос. per. Ш 0X82.5725058. Инв. Ш 0283. 0036416, Ульяновск, т.Х, 1982, с. 15-37.

110. Степеян C.O., Папаян Г.Г. Методы и средства автоматизированного контроля и диагностики современных цифровых схем. -Зарубежная радиоэлектроника, 1983, № II, с. 29-44.

111. Разработка и исследование методов и технических средств комплексного автоматизированного измерения и контроля информативных параметров специализированных ЭВМ. Отчет/Ульяновский политехнический институт, рук. работы к.т.н., доцент А.А.Осьминин,

112. НИР Ш 40/77, гос. per. № 79014066, Инв. № 0282. 40I738I, Ульяновск, 1981. 102 с.

113. Гришин Ю.П., Казаринов Ю.М., Катиков В.М. Микропроцессоры в радиотехнических системах/Под ред. Ю.М. Казаринова. -М.: Радио и связь, 1982.- 280 с.

114. Микропроцессоры и микро-ЭВМ. Специальный тематический выпуск. -Радиотехника, 1983, № I. 96 с.

115. А.с. 843216 (СССР). Аналого-цифровой преобразователь/ А.А. Осьминин, А.Г. Ташлинский. Опубл. в Б.И. 1981, № 24.

116. Кавалеров Г.И., Мандельштам С.М. Введение в информационную теорию измерений. М.: Энергия, 1974. - 376 с.

117. Седякин Н.М. Элементы теории случайных импульсных потоков. М.: Советское радио, 1965. - 261 с.

118. Коваленко И.Н., Филиппова А.А. Теория вероятностейи математическая статистика: Учеб. пособие. 2-е изд., перераб. и доп.- М.: Высш. школа, - 256 с.

119. А.с. 647858 (СССР). Генератор случайных импульсов/ А.А. Осьминин, А.Г. Ташлинский. Опубл. в Б.И. 1979, N5 6.

120. А.с. 678654 (СССР). Устройство для получения случайной импульсной последовательности/ А.А. Осьминин, А.Г. Ташлинский. Опубл. в Б.И. 1979, № 29.

121. Осьминин А.А., Ташлинский А.Г. Устройство автоматизированного контроля и измерения параметров сложных логических блоков с использованием ЭВМ. Научные труды вузов Лит. ССР. Сер. Радиоэлектроника, 1981, т. 17, № 3, с. 78-80.

122. Системы автоматизированного контроля радиоэлектронной аппаратуры/ Е.Т. Володарский, В.И. Губарь, Л.А. Никифоров и др. К.: Техника, 1983. 252 с.

123. Справочник по специальным функциям: Пер. с англ./ под ред. М. Абрамовича и И. Стиган. М.: Наука, 1979. - 832 с.

124. Применение теории графов связи в технике: Пер. с англ./ Под ред. Д. Кэрнопа и Р. Розенберга. М.: Мир, 1974. - 94 с.

125. А.с. 656018 (СССР). Устройство для измерения длительности импульсов со случайным периодом следования /А.А. Осьминин, А.Д. Горбоконенко, А.Г. Ташлинский. Опубл. в Б.И. 1979, № 13.

126. Цифровые электроизмерительные приборы / В.В.Богданов, А.А. Богородицкий, Д.И. Леонтьев и др.: Под ред. В.М. Шляндина. -М.: Энергия, 1972. 400 с.

127. Автоматизированная система наладки и контроля логических узлов ЭВМ/ М.Г. Галеев, Л.К. Голубинский, В.П. Краснови др. Ульяновск, ЦНТИ, 1976. - 4 с. (информ.листок/ Ульяновский межотр. террит. центр НТИ и пропаганды, № 148-76).

128. Система автоматизированного параметрического контроля (САПК)/ А.Г. Ташлинский, А.Д. Горбоконенко, А.Г. Каменский и др. М.: ВИМИ, 1983. - 4 с. (информ. листок № 83-0152).

129. Сигнатурная приставка к автоматизированной системе наладки и контроля логических узлов / Г.А. Подунаев, Ф.Ф. Шнайдер, А.Г. Ташлинский и др. Вопросы судостроения. Сер. Вычислительная техника, вып. 42, 1983, с. 88-91.

130. Диагностическая приставка к автоматизированным системам наладки и контроля (АСНК) логических узлов/ В.П. Краснов, В.А. Нерубацкий, Ф.Ф. Шнайдер, А.Г. Ташлинский. М.: ВИМИ, 1982.- 3 с. (информ. листок № 82 2459).

131. Ташлинский А.Г., Борискин Л.П., Кадеев Д.Н. Анализатор параметров цифровых систем. Приборы и техника эксперимента, 1983, № б, с. 205.

132. Анализатор параметров цифровых систем/ А.Г. Ташлинский, Л.П. Борискин, Д.Н. Кадеев и др. Ульяновск, ЦНТИ, 1982. - 4с. (информ. листок/ Ульяновский межотр. террит. центр НТИ и пропаганды, № 425-83).

133. А.с. 796860 (СССР). Устройство для контроля логических узлов /Ф.Ф. Шнайдер, А.Г. Ташлинский, В.П. Туробов. Опубл. в Б.И. 1981, № 45.

134. А.с. 890393 (СССР). Сумматор по модулю три/ Ф.Ф. Шнайдер, А.Г. Ташлинский. Опубл. в Б.И. 1981, № 46.

135. Ташлинский А.Г., Шнайдер Ф.Ф., Каменский А.Г. Устройство сопряжения измерительной аппаратуры с автоматической системой наладки и контроля (АСНК)/. М.: ВИМИ, 1983. - 3 с. (информ. листок № 83-1860).

136. Аналого-цифровой преобразователь / А.Г.Ташлинский, Ф.Ф. Шнайдер, А.Д. Горбоконенко и др. М.: ВИМИ, 1983. - 3 с. (информ. листок № 83-1861).

137. Измеритель временных интервалов/ А.Г. Ташлинский,

138. А.Д. Горбоконенко, А.Г. Каменский и др. М.: ВИМИ, 1983.-.3 с. (информ. листок № 83-1861).

139. А.с. 824337 (СССР). Устройство для моделирования цепей электрических нагрузок /А.А. Осьминин, А.Г. Ташлинский,

140. В.А. Нерубацкий и др. Опубл. в Б.И. 1981, № 15.

141. Микросхемы интегральные полупроводниковые. Группа 6231. Справочник, т. 2, РМ II 070.013.2. М.: Всесоюзный НИИ "Электростандарт", 1976.

142. Степаненко И.П. Основы теории транзисторов и транзисторных схем. Изд. 4-е, перераб. М.: Энергия, 1977. - 672 с.

143. А.с. 1023352 (СССР). Устройство для моделирования цепей электрических нагрузок/ А.Г. Ташлинский, Ф.Ф. Шнайдер, Л.П. Борискин. Опубл. в Б.-И. 1983, № 22.

144. Купе Б. Сверхэффективные программы умножения для микропроцессоров 8080 HZ80. Электроника, 1983, № 6, с. 74-76.

145. Гольдман Р.С., Чипулис В.П. Техническая диагностика цифровых устройств. М.: Энергия, 1976. - 224 с.